傾斜檢查裝置及其方法
2023-09-23 05:47:35 2
傾斜檢查裝置及其方法
【專利摘要】提供一種傾斜檢查裝置和傾斜檢查方法。所述傾斜檢查裝置檢查包括傳感器和透鏡的透鏡模塊，並且該傾斜檢查裝置包括：發光部件，其擴散並輸出光以檢查透鏡模塊的傾斜；反射器，其反射擴散的光；接口，如果反射的光由透鏡模塊的傳感器檢測到，則該接口從傳感器接收檢測的結果；以及檢測器，其通過使用通過接口接收到的檢測結果來檢測深度信息，並且基於深度信息檢測透鏡和傳感器之間的傾斜狀態。因此，提高了傾斜檢查處理的效率。
【專利說明】傾斜檢查裝置及其方法
[0001]相關申請的交叉引用
[0002]此申請要求於2012年9月17日向韓國知識產權局提交的韓國專利申請第10-2012-102987號的優先權，其公開通過引用全部包括於此。
【技術領域】
[0003]本發明總構思一般涉及一種傾斜檢查裝置及其方法，更具體地，涉及一種當組裝透鏡和傳感器時用於估計傾斜過程的傾斜檢查裝置及其方法。
【背景技術】
[0004]數位照相機是通過透鏡接收外界光並且使用接收到的光通過傳感器提取圖像數據的裝置。因此，透鏡和傳感器是數位照相機的重要元件。
[0005]如果當數位照相機生產時透鏡和傳感器沒有組裝好，則透鏡和傳感器之間的水平(level)被傾斜。傾斜影響圖像品質。因此，估計傾斜度以確定透鏡和傳感器是否正常地組裝。
[0006]檢驗器在即時顯示模式(live view mode)中操作並估計透鏡和傳感器組裝在其中的透鏡模塊。換句話說，在即時顯示模式中，檢驗器在角區域和中心區域測量自動聚焦(AF)數據，並且測量AF數據的峰值的位置來估計傾斜度。根據此方法，如果傳感器在即時顯示模式中操作，則分辨度更低，並且該AF數據與真實AF數據有差別。此外，即使通過使用AF數據的峰值調整了傾斜，也會發生誤差。此外，在全尺寸靜止捕捉模式中，很難通過連續地驅動傳感器來精確地找到AF數據的峰值的位置。因此，不存在通過使用AF數據的峰值來校正誤差的方法。
[0007]因此，需要容易地檢查傾斜並獲得精確的傾斜校正值的技術。
【發明內容】
[0008]示範性實施例解決至少上述問題和/或缺點及上面沒有描述的其它缺點。此外，示範性實施例不局限於克服上述缺點，並且示範性實施例可以提供除克服上面描述的任一問題以外的其他用途。
[0009]本發明總構思的附加特徵和/或用途將在下面的描述中被部分地闡明，以及從該描述中將部分地明顯，或者可以通過實踐本發明總構思而學習到。
[0010]示範性實施例提供一種用於容易地檢查傾斜並獲得精確的傾斜校正值的傾斜檢查裝置及其方法。
[0011]本發明構思的示範性實施例提供一種檢查包括傳感器和透鏡的透鏡模塊的傾斜檢查裝置。所述傾斜檢查裝置可以包括:發光部件，其擴散並輸出光以檢查透鏡模塊的傾斜；反射器，其反射擴散的光；接口，如果反射的光由透鏡模塊的傳感器感測，則該接口從傳感器接收檢測的結果；以及檢測器，其通過使用通過接口接收到的檢測結果來檢測深度信息，並且基於深度信息檢測透鏡和傳感器之間的傾斜狀態。[0012]所述檢測器可以檢測深度信息當中的傳感器的中心區域的深度和傳感器的角區域的深度。
[0013]所述檢測器可以計算檢測到的深度的平均值、計算平均值和深度之間的差、以及比較所計算的值以檢測傾斜狀態。
[0014]所述傾斜檢查裝置還可以包括:存儲器，其存儲深度信息和傾斜狀態；以及輸出部件，其輸出深度信息和傾斜狀態。
[0015]所述發光部件可以多次輸出具有90°的相位差的光。
[0016]本發明構思的示範性實施例還提供一種檢查包括傳感器和透鏡的透鏡模塊的傾斜檢查方法。所述傾斜檢查方法可以包括:擴散並輸出光以檢查透鏡模塊的傾斜；反射擴散的光；如果反射的光由透鏡模塊的傳感器感測到，則從傳感器接收檢測的結果；以及通過使用接收到的檢測結果來檢測深度信息，並且基於深度信息檢測透鏡和傳感器之間的傾斜狀態。
[0017]可以檢測深度信息當中的傳感器的中心區域的深度和傳感器的角區域的深度。
[0018]可以計算檢測到的深度的平均值、可以計算平均值和深度之間的差、以及可以比較所計算的值以檢測傾斜狀態。
[0019]所述傾斜檢查方法還可以包括:存儲深度信息和傾斜狀態；以及顯示深度信息和傾斜狀態。
[0020]可以多次輸出具有90°的相位差的光。
[0021]如上所述，根據本發明總構思的多個示範性實施例，可以在組合透鏡和傳感器的過程中容易地檢查傾斜。此外，可以獲得精確的校正值以提高組合透鏡和傳感器的過程的效率。
[0022]本發明構思的示範性實施例還提供一種傾斜檢查裝置，包括:發光部件，用於輸出擴散的光以檢查透鏡模塊的傾斜；反射器，用於反射擴散的光；透鏡模塊，用於接收反射的光並確定反射光的光線的深度差；以及檢測器，用於計算確定的深度差的平均值，計算深度差的平均值和深度差之間的差，以及比較所計算的值以檢測傾斜狀態。
[0023]在示範性實施例中，確定用於反射光的中心區域的深度差和反射光的角區域的深度差的光線。
[0024]在示範性實施例中，所述透鏡模塊包括:透鏡，用於接收反射光；以及傳感器，用於感測穿過透鏡的反射光的中心區域和角區域。
[0025]在示範性實施例中，所述傾斜檢查裝置還包括:存儲器，其存儲深度差信息和傾斜狀態；以及輸出部件，其輸出深度差信息和傾斜狀態。
[0026]本發明構思的示範性實施例還提供一種檢查透鏡模塊的傾斜的方法，包括:輸出擴散的光；反射擴散的光；接收反射的光並確定反射的光的光線的深度差；以及計算確定的深度差的平均值，計算深度差的平均值和深度差之間的差，以及比較所計算的值以檢測傾斜狀態。
[0027]在示範性實施例中，利用透鏡和傳感器執行確定反射光的光線的深度差。
[0028]在示範性實施例中，確定用於反射光的中心區域中的深度差和反射光的角區域的深度差的光線。【專利附圖】
【附圖說明】
[0029]通過下面結合附圖對該實施例的描述，本發明總構思的這些和/或其它特徵和用途將變得明顯且更易理解，其中:
[0030]圖1和圖2是示出根據本發明總構思的示範性實施例的傾斜檢查裝置的結構的框圖；
[0031]圖3是示出根據本發明總構思的示範性實施例的傾斜檢查裝置的結構的視圖；
[0032]圖4是示出根據本發明總構思的示範性實施例的、通過使用光的相位計算深度的方法的視圖；
[0033]圖5是示出根據本發明總構思的示範性實施例的傾斜檢查方法的流程圖；以及
[0034]圖6是示出根據本發明總構思的示範性實施例的檢測深度的方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0035]參考附圖更詳細地描述示範性實施例。
[0036]在下面的描述中，相同的附圖標記即使在不同的附圖中也用於相同的元件。在描述中定義的事項，諸如詳細結構和元件，是為了幫助全面理解示範性實施例而提供的。因而，顯然示範性實施例可以在沒有那些具體定義的事項的情況下執行。此外，由於公知的功能或結構將以不必要的細節混淆示範性實施例，因此不會詳細描述公知的功能或結構。
[0037]圖1和圖2是示出根據本發明總構思的示範性實施例的傾斜檢查裝置100的結構的框圖。
[0038]參照圖1，傾斜檢查裝置100包括發光部件110、反射器120、接口 130和檢測器140。發光部件110擴散並輸出光以檢查包括透鏡和傳感器的透鏡模塊10的傾斜。發光部件110可以包括輸出光的光源，以及收集和擴散光的透鏡與擴散器。反射器120將擴散光反射在透鏡模塊10上。透鏡模塊10被連接到傾斜檢查裝置100的接口 130。
[0039]從反射器120反射的光被輸入到透鏡模塊10中。透鏡模塊10的深度傳感器感測輸入的光並向傾斜檢查裝置100發送感測結果。接口 130接收透鏡模塊10的深度傳感器的感測結果並向檢測器140發送感測結果。
[0040]檢測器140使用通過接口接收到的感測結果來檢測深度信息。檢測器140還基於深度信息檢測透鏡和傳感器之間的傾斜狀態。檢測器140還可以從五個區域，S卩，從傳感器的中心區域和角區域檢測深度信息的深度。檢測器140可以計算從五個區域檢測到的深度的平均值，以計算所計算的平均值和檢測到的深度之間的差，以及比較所計算的值以檢測傾斜狀態。從其檢測深度的區域不局限於上述區域。因此，可以從其他區域檢測深度，並且其他區域可以添加到所述五個區域以從六個或更多區域檢測深度。參照圖2，傾斜檢查裝置100還可以包括存儲器150和輸出部件160。
[0041]存儲器150存儲檢測到的深度信息和傾斜狀態。存儲器150還可以存儲用於驅動傾斜檢查裝置100的程序。例如，存儲器150可以包括只讀存儲器(ROM)、隨機存取存儲器(RAM)或可從傾斜檢查裝置100移除的存儲卡(例如，安全數字(SD)卡或記憶棒)。存儲器150還可以包括非易失性存儲器、易失性存儲器、硬碟驅動器(HDD)、或者固態存儲器(SSD)。
[0042]輸出部件160輸出檢測到的深度信息和傾斜狀態。顯示的深度信息可以是傳感器的中心區域和角區域與反射器120之間的距離。傾斜狀態可以是中心區域和角區域的深度的平均值與中心區域和角區域的深度之間的差。輸出部件160可以實現為各種類型的顯示單元，諸如液晶顯示器(IXD)面板、等離子體顯示板(PDP)、有機發光二極體(OLED)、真空螢光顯示(VFD)、場致發射顯示器(FED)、電致發光顯示器(ELD)等等。可替換地，輸出部件160可以是印表機。
[0043]現在將詳細描述透鏡模塊10的傾斜檢查裝置100的結構。
[0044]圖3是示出根據本發明總構思的示範性實施例的傾斜檢查裝置的結構的視圖。
[0045]參照圖3的圖示⑴，發光部件110包括擴散器111、透鏡112和光源113。光源113可以是發光二極體。發光二極體也被稱為光電二極體並且可以輸出具有紅外範圍的特定頻率的光。透鏡112積聚從發光二極體輸出的光。擴散器111擴散通過透鏡112積聚的光。例如，擴散器111可以是由玻璃纖維或金屬網構成的板的形式。相對於反射器120，發光部件110布置在與透鏡模塊10相同側以被傾斜檢查裝置100檢查，即，布置在反射器120的相對側，以用於向反射器120輸出光。
[0046]與發光部件110和透鏡模塊10相反地布置反射器120以將從發光部件110輸出的光反射到透鏡模塊10。例如，反射器120可以是白牆(white wall)。從反射器120反射的光可以均勻地入射在透鏡模塊10上。
[0047]將要檢查的透鏡模塊10包括透鏡11和傳感器12並且可以被連接到將被安裝在檢查板(未示出)上的照相機主板20。照相機主板20提供用於控制透鏡模塊10的控制模式並驅動透鏡模塊10。照相機主板20還可以包括連接到傾斜檢查裝置100的接口 130的端子或連接器，以向傾斜檢查裝置100發送感測的數據。
[0048]透鏡模塊10可以僅包括深度傳感器或者可以包括感測深度和顏色的傳感器。深度傳感器可以感測具有特定頻率的光，例如，具有紅外範圍的850nm的波長的光。從反射器120反射的光穿過透鏡11然後由傳感器12感測到。
[0049]如圖3的圖示(I)所示，如果傳感器12相對於透鏡11傾斜，則在傳感器12的區域a和e感測的光的量和相位不同。
[0050]將首先描述使用光的量來檢測深度和傾斜狀態的過程，然後將描述使用相位來檢測深度和傾斜狀態的過程。圖3的圖示(2)示出傳感器12的正面。參照圖3的圖示(2)，區域a和b相距反射器120最遠，因此從區域a和b感測的光的量最小。區域d和e最接近反射器120，因此從區域d和e感測的光的量最大。由傳感器120感測的結果通過接口130被發送到檢測器140。檢測器140通過使用從預定區域感測的光的量檢測深度信息來檢測區域a、b、d和e的深度信息，並檢測傳感器12是否傾斜。檢測器140檢測區域a、b、d和e的深度信息並計算區域a、b、d和e的深度的平均值。檢測器140可以計算平均值和深度之間的差以檢測傾斜狀態。
[0051]例如，區域a和b的深度是每個1002mm (毫米)，區域c的深度是1000mm，並且區域d和e的深度是每個998mm。五個區域的深度的平均值是1000mm。因此，區域a和b的傾斜狀態是每個+2mm，區域c的傾斜狀態是0mm，並且區域d和e的傾斜狀態是每個_2mm。檢測到的傾斜狀態是傾斜校正。因此，根據本發明總構思的示範性實施例，可以定量地檢測到傾斜校正。可以基於檢測到的傾斜校正調整透鏡模塊10的調整裝置(例如，調整螺旋)以校正傾斜。例如，工作人員知道如何對調整裝置進行調整以調整1_的傾斜，因此可以提高傾斜調整工作的效率。
[0052]圖3中示出當透鏡11垂直於地面時檢查傳感器12的傾斜狀態的方法。通常，透鏡模塊10的透鏡11與鏡筒(barrel)組合。鏡筒可以放置在傾斜檢查裝置100的檢查板上。
[0053]當開發成像設備時，執行若干處理以組合模塊或調整設置值。因此，可以檢測鏡筒和透鏡之間是否發生組合誤差並在另一過程中進行調整。此外，如果鏡筒放置在檢查板上，則傾斜檢查裝置100可以在檢查板上包括定平設備(level device)，並且檢查員可以調整檢查板的水平狀態以保持鏡筒或透鏡模塊10的水平狀態。
[0054]因為當鏡筒和透鏡11之間不發生組合誤差時可以調整檢查板以保證水平狀態，所以透鏡11可以保持垂直於地面。透鏡11可以保持垂直於地面，因此可以檢測傳感器12的傾斜狀態。因此，可以通過使用檢測到的傾斜校正來調整透鏡11和傳感器12的傾斜狀態。
[0055]現在將描述通過使用光的相位來檢測深度和傾斜狀態的過程。
[0056]圖4是示出根據本發明總構思示範性實施例的、通過使用光的相位計算深度的方法的視圖。
[0057]光源113在每個預定時段輸出光。光源113輸出光的時段與傳感器112執行感測的時段同步。在圖4中示出從光源113輸出的光的波形以及被反射並由傳感器12感測的光的波形。由於距離，輸出光與反射光有時間T的相位差。例如,光源113輸出具有相位變化0°、90°、180°和270°的光。在圖4中，當從光源113輸出的光具有0°的相位時，光具有波形31。當光具有180°的相位時，光具有波形32。當光具有90°的相位時，光具有波形33。當光具有270°的相位時，光具有波形34。如果計算以所述相位輸出的光的波形的區域並且使用區域之間的關係，則可以計算由於相位差而發生的延遲時間T。可以計算反射器120和傳感器12之間的距離和時間，因此可以檢測深度。換句話說，發光部件110可以四次輸出具有90°的相位差的光以檢測深度。
[0058]輸出光的90°相位差僅是示範性實施例。因此，可以根據用於計算深度的算法、檢查方法、檢查裝置等等不同地設置光的相位。輸出光的次數不局限於四次，因此可以根據光的相位差適當地設置。
[0059]在以上描述的處理中，透鏡12或擴散器111的效果可以被預先測量和預先計算以計算校正值，並且所計算的校正值可以存儲在檢測器140中。檢測器140可以應用存儲的校正值以檢測深度。以上描述的通過使用相位檢測深度的方法僅是示範性實施例，因此可以根據不同方法通過使用相位來檢測深度。
[0060]此外，如上所述，檢測深度的方法被分類為使用光量的方法和使用相位的方法。然而，當檢測器140實際上檢測深度時，兩個方法都可以應用於檢測深度。
[0061]圖5是示出根據本發明總構思示範性實施例的傾斜檢查方法的流程圖。
[0062]包括透鏡11和傳感器12的透鏡模塊10被安裝在檢查板20上，並且傳感器12被設置為接收深度信息。在操作S510中，發光部件110擴散並輸出光以檢測透鏡模塊10的傾斜。從發光部件Iio輸出的光具有紅外範圍的特定頻率。在操作S520中，反射器120反射擴散的光。
[0063]從反射器120反射的光入射在透鏡模塊10的傳感器12上，並且傳感器12感測光並輸出感測結果。在操作S530中，如果通過透鏡模塊10的傳感器12感測反射的光，則接口 130 (圖1)接收感測的結果。
[0064]在操作S540中，檢測器140通過使用包括接收到的光的量和光的相位信息的感測結果來檢測深度信息，並且基於深度信息檢測透鏡11和傳感器12之間的傾斜狀態。上面描述了詳細的傾斜檢查方法，因此此處將省略。
[0065]圖6是示出根據本發明總構思示範性實施例的檢測深度的方法的流程圖。
[0066]參照圖6，在操作S610中，檢測器140檢測傳感器12的中心區域的深度和傳感器12的角區域的深度。例如，可以以毫米為單位檢測深度信息。
[0067]在操作S620中，檢測器140計算檢測到的深度的平均值，計算平均值和深度之間的差，以及比較所計算的值以檢測傾斜狀態。例如，可以通過使用從區域計算的平均值與從區域計算的深度之間的毫米差值來檢測傾斜狀態。檢測到的差值可以是傾斜校正。傾斜校正可以存儲在存儲器150中或可以輸出到輸出部件160。
[0068]根據以上描述的多個示範性實施例的傾斜檢查方法可以具體實現為程序並且提供到傾斜檢查裝置。
[0069]例如，提供一種存儲執行以下操作的程序的非臨時的計算機可讀介質:如果通過透鏡模塊的傳感器感測到反射光，則從傳感器接收感測的結果；通過使用接收到的感測結果檢測深度信息，並且基於深度信息檢測透鏡和傳感器之間的傾斜狀態或執行操作:檢測深度信息當中的、傳感器的中心區域的深度與傳感器的角區域的深度；以及計算深度的平均值以計算平均值與深度之間的差並比較所計算的值以檢測傾斜狀態。
[0070]非臨時的計算機可讀介質是指這樣的介質，其不僅短時存儲數據(諸如寄存器、高速緩存存儲器、存儲器等等)而且還半永久地存儲數據，而且該介質可由設備讀取。詳細地，以上描述的應用或程序可以存儲並提供在諸如CD、DVD、硬碟、藍光碟、通用串行總線(USB)、存儲器卡、ROM等等之類的非臨時的計算機可讀介質上。
[0071]前述示範性實施例和優點僅僅是示範性的，並且不應被理解為限制。本教導可以容易地應用於其它類型的裝置。此外，示範性實施例的描述預期是說明性的，而不是限制權利要求的範圍，並且許多替換、修改和變化將對本領域技術人員是顯而易見的。
【權利要求】
1.一種檢查包括傳感器和透鏡的透鏡模塊的傾斜檢查裝置，所述傾斜檢查裝置包括: 發光部件，其擴散並輸出光以檢查透鏡模塊的傾斜； 反射器，其反射擴散的光； 接口，如果由透鏡模塊的傳感器感測到反射的光，則該接口從傳感器接收感測結果；以及 檢測器，其使用通過接口接收到的感測結果來檢測深度信息，並且基於深度信息檢測透鏡和傳感器之間的傾斜狀態。
2.如權利要求1所述的傾斜檢查裝置，其中所述檢測器檢測深度信息當中的、傳感器的中心區域的深度和傳感器的角區域的深度。
3.如權利要求2所述的傾斜檢查裝置，其中所述檢測器計算檢測到的深度的平均值，計算平均值和深度之間的差值，以及比較所計算的差值以檢測傾斜狀態。
4.如權利要求1所述的傾斜檢查裝置，還包括: 存儲器，其存儲深度信息和傾斜狀態；以及 輸出部件，其輸出深度信息和傾斜狀態。
5.如權利要求1所述的傾斜檢查裝置，其中所述發光部件多次輸出具有預置相位差的光。
6.一種檢查包括傳感器和透鏡的透鏡模塊的傾斜檢查方法,所述傾斜檢查方法包括: 擴散並輸出光以檢查透鏡模塊的傾斜； 反射擴散的光； 如果由透鏡模塊的傳感器感測到反射的光，則從傳感器接收感測結果；以及使用接收到的感測結果來檢測深度信息，並且基於深度信息檢測透鏡和傳感器之間的傾斜狀態。
7.如權利要求6所述的傾斜檢查方法，其中檢測深度信息當中的、傳感器的中心區域的深度和傳感器的角區域的深度。
8.如權利要求7所述的傾斜檢查方法，其中計算檢測到的深度的平均值，計算平均值和深度之間的差值，以及比較所計算的差值以檢測傾斜狀態。
9.如權利要求6所述的傾斜檢查方法，還包括: 存儲深度信息和傾斜狀態；以及 顯示深度信息和傾斜狀態。
10.如權利要求6所述的傾斜檢查方法，其中多次輸出具有預置相位差的光。
【文檔編號】H04N5/225GK103685873SQ201310291246
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年7月11日 優先權日:2012年9月17日
【發明者】全真阿 申請人:三星電子株式會社