數據隊列裝置與數據隊列測試方法
2023-05-25 16:36:26
專利名稱：數據隊列裝置與數據隊列測試方法
技術領域：
本發明有關於 一 種數據隊列(data queue)測試方法以及得
以實現該種數據隊列測試方法的數據隊列裝置。
背景技術：
傳統的晶片測試技術在測試一晶片之前，必須以計算機先 模擬該晶片的動作，求取對應 一 組須'j試輸入數據的 一 組理想輸 出數據。之後，此待測晶片必須安裝於一測試機臺上。該測試 機臺將把該組測試輸入數據輸入該晶片，並且提供一時脈讀取 該晶片的輸出端。此測試機臺將把讀取到的輸出數據與上述理 想輸出數據逐一比較，以判斷該晶片是否正常運作。
然而，隨著微處理器速度發展、系統所使用的時脈愈來愈 快，時脈不同步(asynchronous)對傳統晶片測試技術的影響將愈 來愈嚴重。測試機臺所提供的時脈必須額外進行一 同步調整步 驟，方能令讀取到的輸出數據得以與模擬所得的理想輸出數據 進行比對。此同步調整步驟將造成測試過程的負擔。
甚至，以更高頻的系統為例，測試機臺根本無法提供如此 高頻的時脈。此時，該測試機臺僅能以較低頻率讀取該待測芯 片的輸出端，將導致某些錯誤的輸出數據被略過沒有讀取到。 上述狀況將大大降低測試結果的可信度。
因此，本發明領域需要一種新的技術克服高頻系統所面臨 的上述測試問題。
發明內容
本發明提供晶片中的一種數據隊列裝置，其中包括一偵錯
碼產生器、 一數據隊列以及一偵錯碼比對器。該偵錯碼產生器 將根據一輸入數據產生一輸入偵錯碼。該輸入數據與該輸入偵 錯碼將暫存於該數據隊列。該偵錯碼比對器將讀取該數據隊列， 所讀取到的數據為 一輸出數據與 一輸出偵錯碼。該偵錯碼比對 器將根據該輸出數據產生 一驗證偵錯碼，並且比較該輸出偵錯
碼與該-瞼i正偵4昔碼以產生一4昔誤標誌。該4普誤標誌於該輸出偵 錯碼不等於該驗證偵錯碼時為 一 第 一狀態，代表有該數據隊列 錯誤發生。
本發明更提供一種測試一數據隊列的方法，其中包括根 據 一輸入數據產生 一輸入偵錯碼；暫存該輸入數據與該輸入偵 錯碼於該數據隊列；讀取該數據隊列以獲得 一 輸出數據與 一 輸
出偵錯碼；根據該輸出數據產生一驗證偵錯碼；以及比較該輸 出偵錯碼與該驗證偵錯碼，以產生一錯誤標誌。其中，該錯誤 標誌於該輸出偵錯碼不等於該驗證偵錯碼時為 一 第 一狀態，代 表該測試過程有錯誤發生。
本發明所述的數據隊列裝置與數據隊列測試方法，可提升 高頻系統中晶片測試結果的可信度。
圖1為本發明數據隊列裝置的 一種實施方式； 圖2為本發明數據隊列裝置的另 一種實施方式； .圖3以本發明的數據隊列裝置內各信號的波形，舉例說明本 發明的運作；
圖4以本發明的數據隊列裝置內各信號的波形，舉例說明本 發明的運作；
圖5為本發明測試一數據隊列的方法的 一種實施方式的流程圖。
具體實施例方式
為讓本發明的上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，
下文特舉出多個實施例，並配合所附圖式作詳細i兌明。
圖l為本發明的數據隊列裝置的一種實施方式，其中包括 一偵錯碼產生器102、 一數據隊列104以及一偵^"碼比對器106。 該偵錯碼產生器102將接收一 輸入數據mi[],並且產生該輸入數 據mi[]的 一輸入偵4晉碼p一in。該輸入數據mi[]與該輸入偵錯碼 p—in將暫存於該數據隊列104,然後由該偵錯碼比對器106讀出。 該偵錯碼比對器10 6所讀取到的數據稱為 一 輸出數據M O []與一 輸出偵錯碼p一out。該偵錯碼比對器106更將根據該輸出數據 MO[]產生 一 驗證偵錯碼p—MO ，並且比較該輸出偵錯碼p—out與 該驗證偵錯碼p—MO以產生 一 錯誤標誌WARN 。 該錯誤標誌 WARN於該輸出偵錯碼p—out不等於該驗證偵錯碼p—MO時為一 第一狀態。
在圖l所示的實施方式中，該偵錯碼產生器102包括一第一 異或(XOR)電路108 ,用以對該輸入數據mi[]的所有位 (mi
mi [N])進行異或運算，以產生該輸入偵錯碼pjn;其數 學表示方式如下
p—in=mi
mi[l] ... mi[N],
其中，該輸入數據mi[]的所有位數為N+l。
此外，參閱圖l的實施方式，該偵錯碼比對器106包括一第 二異或電路110 ，用以對該輸出數據MO[]的所有位 (MO
MO[N])進行異或運算，以產生該驗證偵錯碼p—MO;其 數學表示方式如下
p—MO=MO
@MO[l] ... MO[N]。
此外，參閱圖l的實施方式，該偵錯碼比對器106更包括一 第三異或電路112,用以對該輸出偵錯碼p—out與該驗證偵錯碼
p—MO進行異或運算，以產生該錯誤標誌WARN。在此實施方式 中，更採用一D型緩衝器114擷取該第三異或電路112所輸出的 結果。在該第三異或電路112的運算下，該4晉誤標誌WARN於該 輸出偵錯碼p—out不等於該驗證偵錯碼p_MO時為'1，(上述第一 狀態)。若該輸出偵錯碼p—out等於該驗證偵錯碼p—MO，則該錯 誤標誌WARN為'O'。因此，得以通過該4昔-i吳標誌WARN判斷該 數據隊列104是否有錯誤發生。當該錯誤標誌WARN為該第 一 狀 態時，代表該輸出偵錯碼p—out不等於該驗證偵錯碼p—MO—即 該輸出數據MO[]不同於該輸入數據mi [],該數據隊列104有錯誤 發生。
圖2為本發明的另 一種實施方式，其中該偵錯碼比對器202 以 一 第四異或電路204取代圖1的第二異或電路110與第三異或 電路112。該第四異或電路204與該第二異或電^各110、第三異或 電路112等效，並且將對該輸出偵錯碼p—o u t與該輸出數據M O [] 的所有位(MO
MO[N])進行異或運算，以產生該錯誤標誌 WARN。當該錯誤標誌WARN為上述第一狀態"1"時，代表該輸 出數據MO[]不等於該輸入數據mi[],該數據隊列206有錯誤發 生。
以圖l、圖2所示的實施方式為例，數據隊列104與206為一 先進先出緩衝器(FIFO)。在上述實施例中，上述先進先出緩沖 器(104或206)內的儲存格數量為4，標號為R1、 R2、 R3與R4。 一儲存信號PUSH負責將不同時序上的輸入數據mi[]與輸入偵 錯碼p—in暫存至所述儲存格Rl、 R2、 R3與R4。 一讀取信號POP 負責將所述儲存格R1、 R2、 R3與R4內所儲存的信息依照先進 先出規則讀出。
在本發明的一種實施方式中，該輸入數據mi[]於不同時序 上為不同值；並且該數據隊列裝置更包括 一 輸出鎖定電路(未以
圖例顯示)，用以於該^"誤標誌WARN為該第一狀態時，鎖定該 輸出數據MO[]。上述實施方式將可通過該輸出數據MO[]最後鎖 定的值判斷是否有錯誤發生。圖3、圖4以本發明的數據隊列裝 置內各信號的波形，舉例說明此實施方式的運作。參閱圖3，輸
入數據mi[]在不同時序上依序為d0、 dl..... d6,其所對應的
輸入偵錯碼如信號p—in所示。輸出數據MO[]與輸出偵錯碼p—out 為由該數據隊列所讀取出的數據。對應該輸出數據MO[]的驗證 偵錯碼如信號p—MO所示。由於該輸出數據MO[]的值與該輸入 數據mi[]相同，故該驗證偵錯碼p—MO與該輸出偵錯碼p—out相 等，該錯誤標誌WARN保持在'O，電平，輸出鎖定電路不會鎖定 該輸出數據MO[]。因此，該輸出數據MO[]最後的值為d6。信號 ref—MO為該輸出數據MO[]的理想輸出值，如圖所示，其最後的 值為d6。本實施方式^又需於測試流程結束時，比較該理想輸出 值ref—MO與該輸出數據MO[],即可判斷是否有錯誤發生鎖定該 輸出數據MO[]的輸出。以圖3為例，該輸出數據MO[]最後的值 等於該理想輸出值r e f — M O最後的值，故可判定測試過程中沒有 錯誤發生。
參閱圖4的輸出數據MO[],數據d3的傳送發生錯誤(標示為
於該輸出偵錯碼p—out 。該錯誤標誌WARN因此提升至"1"(上述 第一狀態)，並且令該輸出鎖定電路鎖定該輸出數據MO[]。如 圖所示，該輸出數據MO[]的值鎖定為Er值。比較該輸出數據 MO[]的最末值(Er)與該理想輸出值的最末值d6,可發現兩者並 不相等，故可判定此數據隊列有錯誤發生。
在某些實施方式中，該輸出鎖定電將於該誤標誌 WA RN提升至該第 一 狀態時，將該輸出數據M O []鎖定在錯誤發 生前的值。使用者可根據該輸出數據MO[]鎖定的值推斷出該數
據隊列的錯誤發生處。
本發明更提出測試一數據隊列的方法。圖5為本方法的 一種
實施方式的流程圖。步驟S502根據一輸入數據mi[]產生一輸入 偵錯碼p—in 。步驟S504將該輸入數據mi[]與該輸入偵錯碼p—in 暫存至待測的數據隊列。步驟S506讀取該數據隊列，讀取到的 數據稱為 一輸出數據MO[]與 一輸出偵錯碼p—out。步驟S508根 據該輸出數據MO[]產生一驗證偵錯碼p—MO。步驟S510比較該 輸出偵錯碼p—out與該驗證偵錯碼p—MO ,以產生 一 錯誤標誌 WARN。其中，該錯誤標誌WARN於該輸出偵錯碼p—out不等於 該驗證偵錯碼p—MO時為 一第 一狀態，代表該輸出數據MO[]不 等於該輸入數據mi[],該數據隊列有錯誤發生。
在本方法的某些實施方式中，步驟S502包括對該輸入數據 mi[]的所有位(mi
mi[N])進行異或(XOR)運算，以產生該輸入 偵錯碼p—in。此時，在某些實施方式中，步驟S508包括對該輸 出數據MO[]的所有位(MO
MO[N])進行異或運算，以產生該 驗證偵錯碼p—MO;步驟S510包括對該輸出偵錯碼p—out與該驗 證偵錯碼p—MO進行異或運算，以產生該錯誤標誌WARN。
在某些實施方式中，本測試方法更包括令該輸入數據mi[] 於不同時序上為不同值；並且於該錯誤標誌WARN為該第一狀 態時鎖定該輸出數據MO[]。使用者可通過該輸出數據MO[]最後 鎖定的值判斷該數據隊列是否有錯誤發生以及判斷該數據隊列 的錯誤狀況。
以上所述僅為本發明較佳實施例，然其並非用以限定本發 明的範圍，任何熟悉本項技術的人員，在不脫離本發明的精神 和範圍內，可在此基礎上做進一步的改進和變化，因此本發明 的保護範圍當以本申請的權利要求書所界定的範圍為準。
附圖中符號的簡單說明如下
102:偵錯碼產生器
104:數據隊列
106:偵錯碼比對器
108、 110、 112:異或電^各
114: D型緩衝器
202:偵錯碼比對器
204:異或電路
206:數據隊列
mi[]:輸入悽t據
MO[]:輸出數據
p一in:輸入偵錯碼
p一MO:驗證偵錯碼
p一out:輸出偵4普碼
POP:讀取信號
PUSH:儲存信號
Rl、 R2、 R3以及R4: 4諸存才各
S502:根據mi[]產生p一in
S504:將mi[]與p—in暫存至待測的數據隊列
S506:讀取該數據隊列，讀取到的數據為MO[]與p—out
S508:根據MO[]產生p—MO
S510'.比較p—MO與p—out，以得WARN
WARN:錯-i吳標誌。
權利要求
1.一種數據隊列裝置，其特徵在於，包括一偵錯碼產生器，接收一輸入數據，並且產生該輸入數據的一輸入偵錯碼；一數據隊列，暫存該輸入數據與該輸入偵錯碼；以及一偵錯碼比對器，讀取該數據隊列以獲得一輸出數據與一輸出偵錯碼，根據該輸出數據產生一驗證偵錯碼，並且比較該輸出偵錯碼與該驗證偵錯碼以產生一錯誤標誌，其中，該錯誤標誌於該輸出偵錯碼不等於該驗證偵錯碼時為一第一狀態。
2. 根據權利要求l所述的數據隊列裝置，其特徵在於，該 偵錯碼產生器包括一第一異或電路，用以對該輸入數據的所有 位進行異或運算，以產生該輸入偵錯碼。
3. 根據權利要求2所述的數據隊列裝置，其特徵在於，該 偵錯碼比對器包括一第二異或電路，用以對該輸出數據的所有 位進行異或運算，以產生該驗證偵錯碼。
4. 根據權利要求3所述的數據隊列裝置，其特徵在於，該 偵錯碼比對器更包括一第三異或電路，用以對該輸出偵錯碼與 該驗證偵錯碼進行異或運算，以產生該錯誤標誌。
5. 根據權利要求2所述的數據隊列裝置，其特徵在於，該 偵錯碼比對器包括一第四異或電路，用以對該輸出偵錯碼與該 輸出數據的所有位進行異或運算，以產生該錯誤標誌。
6. 根據權利要求l所述的數據隊列裝置，其特徵在於，該 輸入數據於不同時序上為不同值。
7. 根據權利要求6所述的數據隊列裝置，其特徵在於，更 包括一輸出鎖定電路，用以於該錯誤標誌為該第一狀態時，鎖 定該輸出凝:據。
8. 根據權利要求l所述的數據隊列裝置，其特徵在於，該 數據隊列為 一先進先出緩衝器。
9. 一種數據隊列測試方法，其特徵在於，包括 根據一輸入數據產生一輸入偵錯碼；暫存該輸入數據與該輸入偵錯碼於 一 數據隊列；讀取該數據隊列以獲得 一輸出數據與 一輸出偵錯碼；根據該輸出數據產生一驗證偵錯碼；以及比較該輸出偵錯碼與該驗證偵錯碼，以產生 一錯誤標誌，其中，該錯誤標誌於該輸出偵錯碼不等於該驗證偵錯碼時為一第一狀態。
10. 根據權利要求9所述的數據隊列測試方法，其特徵在於， 產生該輸入偵錯碼的步驟包括對該輸入數據的所有位進行異或運算。
11. 根據權利要求10所述的數據隊列測試方法，其特徵在 於，產生該驗證偵錯碼的步驟包括對該輸出數據的所有位進行 異或運算。
12. 根據權利要求ll所述的數據隊列測試方法，其特徵在 於，產生該錯誤標誌的步驟包括對該輸出偵錯碼與該驗證偵錯 碼進行異或運算。
13. 根據權利要求9所述的數據隊列測試方法，其特徵在於， 更包括令該輸入數據於不同時序上為不同值。
14. 根據權利要求13所述的數據隊列測試方法，其特徵在 於，更包括於該錯誤標誌為該第 一狀態時鎖定該輸出數據。
15. 根據權利要求14所述的數據隊列測試方法，其特徵在 於，更包括根據鎖定的上述輸出數據判斷該數據隊列的錯誤狀 況。
全文摘要
本發明提供一種數據隊列裝置與數據隊列測試方法，特別涉及晶片中的一種數據隊列裝置，其中包括一偵錯碼產生器、一數據隊列以及一偵錯碼比對器。該偵錯碼產生器將根據一輸入數據產生一輸入偵錯碼。該輸入數據與該輸入偵錯碼將暫存於該數據隊列。該偵錯碼比對器將讀取該數據隊列，所讀取到的數據為一輸出數據與一輸出偵錯碼。該偵錯碼比對器將根據該輸出數據產生一驗證偵錯碼，並且比較該輸出偵錯碼與該驗證偵錯碼以產生一錯誤標誌。該錯誤標誌於該輸出偵錯碼不等於該驗證偵錯碼時為一第一狀態，代表有錯誤發生。本發明所述的數據隊列裝置與數據隊列測試方法，可提升高頻系統中晶片測試結果的可信度。
文檔編號G01R31/28GK101178430SQ20071019907
公開日2008年5月14日 申請日期2007年12月12日 優先權日2007年12月12日
發明者洪偉翔 申請人:威盛電子股份有限公司