晶片測試載架的製作方法

2023-09-19 19:25:45

專利名稱：晶片測試載架的製作方法
專利說明 本實用新型涉及一種晶片測試載架。如

圖1和圖2所示，傳統晶片測試載架結構100是至少包含一上蓋101、一基座102、數個探針103。上蓋101是樞接於基座102。數個探針103則對應待測晶片104的接腳105精確插於基座102的底板106上。當上蓋101壓合時，待測晶片104是卡入基座102特別量身訂做符合待測晶片104的卡槽109當中，以避免待測晶片104的晃動。此外，在基座102上的底板106也需依待測晶片104的每一接腳105的間距或接腳105數量，特別量身訂做其對應的插孔，以使待測晶片104的每一接腳105也需精準接觸插於基座102的底板106上的每一探針103。再者，由一測試電路板107置於基座102下，由基座102的底板106下的數個探針103接觸測試電路板107上的接腳108，再由測試電路板107來完成待測晶片104的每一接腳105的功能測試。
在上述晶片測試載架結構100中，隨著待測晶片104的尺寸大小改變或是待測晶片104的接腳105間距或接腳105數量的改變，在現有技術中，也即以其待測晶片104的尺寸大小改變或是待測晶片104的接腳105間距或接腳105數量的改變來加以量身訂做，以滿足對應的晶片測試所需，因而造成成本及資源的浪費。本實用新型旨在於提供一種晶片測試載架，其具有適用於任何尺寸大小的待測晶片，及適用於任何尺寸大小的待測晶片的接腳間距或接腳數量的改變。
本實用新型所採取的技術方案是一種晶片測試載架，其特徵在於它包含有一基座，該基座中央處開設一空間，且該空間側邊至少設有一定位凹槽；一基架，其套於所述基座中央處開設空間的側邊，且該基架的側邊至少設有一定位凸槽，以銜接於所述的定位凹槽，該基架底部至少一側邊向中央處延伸一基板；以及一上蓋，蓋合於該基座的上端。
本實用新型的進一步特徵還在於它還包含一底板，其設於基座的下端，且該底板中央也設一開口。
它還包含一具有軟性且導電的接觸面板，由該底板的下端蓋合於該開口。
它還包含一T型鎖鈕，其由該上蓋的上端貫穿至該上蓋的下端，且於該上蓋的下端連接一主壓板。
它還包含一輔助壓板，其設於該主壓板及該基架上端，以壓合一測試的晶片。
本實用新型由於基架底部側邊所延伸的基板的程度不同，因而可以載架不同大小尺寸的測試晶片，同時，還依常用測試晶片的尺寸大小不同，設計數個相同基架，而每一基架給予不同程度的延伸的基板，以利晶片測試載架結構方便替換；本實用新型通過以上的技術方案捨棄現有技術中基座上的底板需依待測晶片的每一接腳的間距或接腳數量所特別量身訂做的插孔，同時捨棄一一插於基座的底板上的每一探針；而採用一軟性且導電的接觸面板設於本實用新型中的底板的下端蓋合於開口，因為此軟性且導電的接觸面板的表面上下皆兼具有數個電性連接點，因此，達到了待測晶片的每一接腳可以輕易由此軟性且導電的接觸面板，電性連接於接觸面板下的測試電路板的每一接腳的效果。
以下結合附圖及實施例進一步說明本實用新型。圖1為現有技術中的晶片測試載架結構的立體圖。
圖2為現有技術中的晶片測試載架結構的示意圖。
圖3為本實用新型的系統圖。
圖4為本實用新型的組合圖。請參閱圖3和圖4所示，本實用新型至少包含一具有軟性且導電的接觸面板201、一底板202、一基座203、一基架204、輔助壓板205、及一上蓋206。上蓋206是由兩側的栓扣216扣於基座203兩側對應的扣槽217，以用緊密蓋合基座203的上端，另由一T型鎖鈕207由上蓋206的上端貫穿至上蓋206的下端後並連接一主壓板215，因此，以緊壓如圖1中所示的測試晶片104於基架204及基座203當中。基座203的中央處則開設一空間208，且此空間208的側邊209至少設有一定位凹槽210。基架204則套於此空間208的側邊209，且此基架204的側邊211至少設有一定位凸槽212，以銜接於上述的定位凹槽210，另外，基架204底部至少一側邊向中央處延伸一基板213，可以由此基板213的延伸程度不同，以載架不同大小尺寸的測試晶片104。換言之，當基板213延伸程度越大，則基座203中央處的空間208越小，也即所測試的晶片104體積越小。底板202則設於基座203之下端，且底板202中央也設一開口，軟性且導電的接觸面板201，則由底板202的下端蓋合於開口。輔助壓板205，則可以設於主壓板215及基架204上端，以再強化壓合其測試晶片104。
綜上所述，僅為本實用新型的一較佳實施例而已，而本實用新型的構造特徵並不局限於此；任何熟悉該項技術者在本創作領域內所做的可輕易思及的變化或修飾，皆可涵蓋於本實用新型的上述技術方案範圍之內。
權利要求1.一種晶片測試載架，其特徵在於它包含有一基座(203)，該基座(203)中央處開設一空間(208)，且該空間(208)側邊(209)至少設有一定位凹槽(210)；一基架(204)，其套於所述基座(203)中央處開設的空間(208)的側邊(209)，且該基架(204)的側邊(211)至少設有一定位凸槽(212)，銜接於所述的定位凹槽(210)，該基架(204)底部至少一側邊向中央處延伸一基板(213)；以及一上蓋(206)，蓋合於該基座(203)的上端。
2.根據權利要求1所述的晶片測試載架，其特徵在於它還包含一底板(202)設於基座(203)的下端，且該底板(202)中央也設一開口。
3.根據權利要求2所述的晶片測試載架，其特徵在於它還包含一軟性且導電的接觸面板(201)由該底板(202)的下端蓋合於該開口。
4.根據權利要求1所述的晶片測試載架，其特徵在於它還包含一T型鎖鈕(207)由該上蓋(206)的上端貫穿至該上蓋(206)的下端，且於該上蓋(206)的下端連接一主壓板(215)。
5.根據權利要求4所述的晶片測試載架，其特徵在於它還包含一輔助壓板(205)，其設於主壓板(215)及基架(204)上端。
專利摘要一種晶片測試載架，其至少包含有一基座、一基架及一上蓋；該基座中央處開設一空間，且該空間側邊至少設有一定位凹槽；該基架套於所述基座中央處開設空間的側邊，且該基架的側邊至少設有一定位凸槽，以銜接於所述的定位凹槽，該基架底部至少一側邊向中央處延伸一基板；該上蓋蓋合於該基座的上端；因此，由於基架底部側邊所延伸的基板的程度不同，因而可以載架不同大小尺寸的測試晶片，同時，還依常用測試晶片的尺寸大小不同，設計數個相同基架，而每一基架給予不同程度的延伸的基板，以利晶片測試載架結構方便替換，達到了待測晶片的每一接腳可以輕易由此軟性且導電的接觸面板，電性連接於接觸面板下的測試電路板的每一接腳的效果。
文檔編號G01R31/26GK2560954SQ0223932
公開日2003年7月16日 申請日期2002年6月20日 優先權日2002年6月20日
發明者陳建智 申請人:崇越科技股份有限公司