一種智慧型數字集成電路故障檢測系統的製作方法

2023-09-22 08:05:55

一種智慧型數字集成電路故障檢測系統的製作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種智慧型數字集成電路故障檢測系統，該檢測系統由英飛凌XC2238N單片機、可編程輸入/輸出口、E2PROM、RAM、LED顯示器和鍵盤等組成。該系統的E2PROM中存有各種集成電路晶片的最小測試集和標準結果，在電路中採用多個可編程I/O接口晶片與測試插座相連，監控測試程序分時分組送出被測晶片的測試集,並對測試結果數據進行分析處理之後通過LED顯示出來。該數字集成電路故障檢測系統結構簡單、成本低廉，能夠實現對TTL74、54系列晶片的故障測試,並能達到提高測試效率,減少測試時間的目的,具有良好的移植擴展性。
【專利說明】一種智慧型數字集成電路故障檢測系統

【技術領域】
[0001]本實用新型屬於電力電子【技術領域】，尤其涉及一種智慧型數字集成電路故障檢測系統。

【背景技術】
[0002]數字集成電路在電路中的應用非常普及，常用的有T T L74、T T L54系列，CM0S4000.CM0S4500系列等。在調試和維修電路過程中常需要對晶片進行測試，以判別其好壞。在數字電路系統中，集成電路的錯誤通常分為兩類:一類是邏輯錯，一類是參數錯。集成電路的任何輸入或輸出端可被「恆置O」或「恆置1」，這就是邏輯錯。另外，短路和開路也被認為是邏輯錯。在數字系統中檢測這些錯誤通常使用靜態測試和動態測試的方法。靜態測試(在線功能測試)對小規模集成電路和許多中規模集成電路晶片的測試非常重要。這種對數字集成電路晶片進行在線功能測試的基本方法是從輸入端加上所需的激勵信號，檢測其相應的輸出響應，並將輸出響應與預期的正確結果進行比較，由此來判斷其是否存在故障。本實用新型專利利用單片機來測試數字集成電路，該測試儀可以對TT L74、T T L54系列，CM0S4000、CM0S4500系列集成電路晶片進行功能性故障檢測。


【發明內容】

[0003]針對上述現有技術存在的缺陷和不足，本實用新型的目的在於，提供一種智慧型數字集成電路故障檢測系統，本實用新型的能夠實現對T T L74、54系列晶片的故障測試，並能達到提高測試效率，減少測試時間的目的，具有良好的移植擴展性。
[0004]為了實現上述任務，本實用新型採用如下的技術解決方案:
[0005]一種智慧型數字集成電路故障檢測系統，其特徵在於，由英飛凌XC2238N單片機、可編程輸入/輸出口、被測晶片插座、電源控制、儲存空間分配單元、8279晶片單元組成；所述的英飛凌XC2238N單片機同時與儲存空間分配單元、可編程輸入/輸出口以及8279晶片單元相連；所述的可編程輸入/輸出口與被測晶片插座相連；所述的電源控制同時與被測晶片插座和英飛凌XC2238N單片機相連；所述的儲存空間分配單元包括E2PR0M和RAM兩種存儲器；所述的8279晶片單元包括LED顯示器與鍵盤兩種輸入輸出設備。
[0006]本實用新型的有益效果是:
[0007]該IC測試系統是以單片機為核心，配合控制程序和外圍擴展電路來全面模擬被測器件的綜合功能，通過程序生成所需的激勵信號送給待測晶片，並將待測晶片的輸出響應與單片機中的標準結果進行比較，從而判斷被測IC晶片的好壞。集成電路晶片的故障可以用固定性故障模型來確定對應關係。針對本次設計的測試對象主要為集成數字組合電路晶片，應用固定型單邏輯故障假設推導出來的測試集就能覆蓋絕大部分故障。所謂固定型單邏輯故障，即假定僅有一個輸入或輸出存在S -a- O或S -a-1的故障。選擇布爾差分算法來作為本次設計的測試集算法。
[0008]該測試系統由89c51單片機、可編程輸入/輸出口、E2 PR0M、RAM、LED顯示器和鍵盤等組成。該系統的E2 PROM中存有各種集成電路晶片的最小測試集和標準結果。在電路中採用多個可編程I/ O接口晶片與測試插座相連，原因在於在測試各種IC晶片時不盡相同，電路設計時的插座引腳一經接好就不能更動。為了保證CPU輸出的信息能更有效地傳送到被測IC晶片的輸入端，還要保證CPU能有效地從被測IC晶片的輸出端讀入響應值，就希望不更改硬體的連接，而又能根據IC晶片的不同而更改輸入輸出引腳的位置，這隻有使用可編程接口晶片才能完成。測試時，先將待測晶片插好並通過鍵盤輸入被測晶片的型號，然後啟動測試運行鍵。由監控測試程序分時分組送出被測晶片的測試集，並對測試結果數據進行分析處理之後通過LED顯示出來。
[0009]該數字集成電路故障檢測系統結構簡單、成本低廉，能夠實現對T T L74、54系列晶片的故障測試，並能達到提高測試效率，減少測試時間的目的，具有良好的移植擴展性。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]以下結合附圖和【具體實施方式】對本實用新型作進一步的解釋說明。
[0011]圖1是數字集成電路故障檢測系統的框架圖。

【具體實施方式】
[0012]如圖1是一種智慧型數字集成電路故障檢測系統的結構框圖，該測試系統由89c51單片機、可編程輸入/輸出口、E2 PR0M、RAM、LED顯示器和鍵盤等組成，數字集成電路故障檢測儀的E2PR0M中存有各種集成電路晶片的最小測試集和標準結果，所述的英飛凌XC2238N單片機同時與儲存空間分配單元、可編程輸入/輸出口以及8279晶片單元相連，所述的可編程輸入/輸出口與被測晶片插座相連，所述的電源控制同時與被測晶片插座和英飛凌XC2238N單片機相連，所述的儲存空間分配單元包括E2PR0M和RAM兩種存儲器，所述的8279晶片單元包括LED顯示器與鍵盤兩種輸入輸出設備。
[0013]本實用新型專利提供的數字集成電路故障檢測儀能夠實現對TTL74、54系列晶片的故障測試，並能達到提高測試效率，減少測試時間的目的，具有良好的移植擴展性。
【權利要求】
1.一種智慧型數字集成電路故障檢測系統，其特徵在於，由英飛凌XC2238N單片機、可編程輸入/輸出口、被測晶片插座、電源控制、儲存空間分配單元、8279晶片單元組成；所述的英飛凌XC2238N單片機同時與儲存空間分配單元、可編程輸入/輸出口以及8279晶片單元相連；所述的可編程輸入/輸出口與被測晶片插座相連；所述的電源控制同時與被測晶片插座和英飛凌XC2238N單片機相連。
2.如權利要求1所述的一種智慧型數字集成電路故障檢測系統，其特徵在於，所述的儲存空間分配單元包括E2PR0M和RAM兩種存儲器。
3.如權利要求1所述的一種智慧型數字集成電路故障檢測系統，其特徵在於，所述的8279晶片單元包括LED顯示器與鍵盤兩種輸入輸出設備。
【文檔編號】G01R31/02GK203930004SQ201420275013
【公開日】2014年11月5日 申請日期:2014年5月27日 優先權日:2014年5月27日
【發明者】徐雲鵬 申請人:徐雲鵬