一種相位檢測電路的製作方法

2023-08-07 17:43:26

專利名稱：一種相位檢測電路的製作方法
技術領域：
本發 明涉及一種應用電路，具體的涉及一種相位檢測電路。
背景技術：
現有的相位檢測電路形形色色種類繁多，但大多結構複雜，功能複雜，而在一 些只需要功能單一的應用場合下，往往是採用複雜電路結構的相位檢測電路來完成單一 功能的相位檢測功能，這樣一方面成本會有所提高，另外一方面，電路結構一旦複雜化 後，其背後的不穩定因素也在增加，如此便在無形之中降低了產品合格率。

發明內容
為克服現有技術中的不足，本發明的目的在於提供一種結構簡單的相位檢測電路。為了解決上述技術問題，實現上述目的，本發明採用了如下技術方案一種相位檢測電路，包括一檢測晶片，所述檢測晶片的檢測埠 A/D連接在一 光耦Ul的集電極輸出端，光耦Ul的集電極輸出端連接一上拉電阻R3，所述光耦Ul的 發射極輸出端接地，所述光耦Ul的第一輸入端連接電阻R2，所述電阻R2連接電阻R1， 所述電阻Rl連接二極體D1，所述二極體Dl連接檢測端N，所述光耦Ul的第二輸入端 接地。進一步的，所述光耦Ul的集電極輸出端與發射極輸出端之間跨接有一濾波電容 C2。進一步的，所述光耦Ul的第一輸入端與第二輸入端之間跨接有一濾波電容 Cl。進一步的，所述光耦Ul的第一輸入端與第二輸入端之間跨接有一隧道二極體 D2。本發明的相位檢測電路的工作過程如下當檢測端N有電壓時，電壓通過二極體Dl和電阻Rl、R2使光耦Ul的集電極 輸出端與發射極輸出端導通，那麼檢測晶片的檢測埠 A/D的電壓就低於3V。相位檢 測，正常時電壓為高，當電壓低於3V時判為相位接錯。本發明具有以下優點本發明的相位檢測電路結構簡單，使用方便。上述說明僅是本發明技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本發明的技術手 段，並可依照說明書的內容予以實施，以下以本發明的較佳實施例並配合附圖詳細說明 如後。本發明的具體實施方式
由以下實施例及其附圖詳細給出。


圖1為本發明的相位檢測電路的電路原理圖。
圖中標號說明1、光耦Ul的第一輸入端，2、光耦Ul的第二輸入端，3、光耦 Ul的發射極輸出端，4、光耦Ul的集電極輸出端，5、檢測晶片。
具體實施例方式下面結合附圖和實施 例對本發明的技術實施過程做進一步說明。參見圖1所示，一種相位檢測電路，包括一檢測晶片5，所述檢測晶片5的檢測 埠 A/D連接在一光耦Ul的集電極輸出端4，光耦Ul的集電極輸出端4連接一上拉電 阻R3，所述光耦Ul的發射極輸出端3接地，所述光耦Ul的第一輸入端1連接電阻R2， 所述電阻R2連接電阻R1，所述電阻Rl連接二極體D1，所述二極體Dl連接檢測端N， 所述光耦Ul的第二輸入端2接地。進一步的，所述光耦Ul的集電極輸出端4與發射極輸出端3之間跨接有一濾波 電容C2。進一步的，所述光耦Ul的第一輸入端1與第二輸入端2之間跨接有一濾波電容 Cl。進一步的，所述光耦Ul的第一輸入端1與第二輸入端2之間跨接有一隧道二極
管D2。上述實施例只是為了說明本發明的技術構思及特點，其目的是在於讓本領域內 的普通技術人員能夠了解本發明的內容並據以實施，並不能以此限制本發明的保護範 圍。凡是根據本發明內容的實質所作出的等效的變化或修飾，都應涵蓋在本發明的保護 範圍內。
權利要求
1.一種相位檢測電路，包括一檢測晶片(5)，其特徵在於所述檢測晶片(5)的檢測 埠 A/D連接在一光耦Ul的集電極輸出端(4)，光耦Ul的集電極輸出端⑷連接一上 拉電阻R3，所述光耦Ul的發射極輸出端(3)接地，所述光耦Ul的第一輸入端(1)連接 電阻R2，所述電阻R2連接電阻R1，所述電阻Rl連接二極體D1，所述二極體Dl連接 檢測端N，所述光耦Ul的第二輸入端(2)接地。
2.根據權利要求1所述的相位檢測電路，其特徵在於所述光耦Ul的集電極輸出端 ⑷與發射極輸出端⑶之間跨接有一濾波電容C2。
3.根據權利要求1所述的相位檢測電路，其特徵在於所述光耦Ul的第一輸入端 (1)與第二輸入端(2)之間跨接有一濾波電容Cl。
4.根據權利要求3所述的相位檢測電路，其特徵在於所述光耦Ul的第一輸入端 (1)與第二輸入端(2)之間跨接有一隧道二極體D2。
全文摘要
本發明公開了一種相位檢測電路，包括一檢測晶片，所述檢測晶片的檢測埠A/D連接在一光耦U1的集電極輸出端，光耦U1的集電極輸出端連接一上拉電阻R3，所述光耦U1的發射極輸出端接地，所述光耦U1的第一輸入端連接電阻R2，所述電阻R2連接電阻R1，所述電阻R1連接二極體D1，所述二極體D1連接檢測端N，所述光耦U1的第二輸入端接地。本發明的電路結構簡單，使用方便。
文檔編號G01R25/00GK102012459SQ20101053077
公開日2011年4月13日 申請日期2010年11月3日 優先權日2010年11月3日
發明者胡國良, 魏王江 申請人:蘇州合欣美電子科技有限公司