一種脈衝渦流定位檢測器的製作方法
2023-11-03 03:36:22 1
本發明屬於脈衝渦流檢測設備領域，尤其是涉及一種脈衝渦流定位檢測器。
背景技術：
無損檢測技術是在不損傷被檢測對象的條件下，利用材料內部結構異常或缺陷存在所引起的對熱、聲、光、電、磁等反應的變化，來探測各種工程材料、零部件、結構件等內部和表面缺陷，並對缺陷的類型、性質、數量、形狀、形狀、位置、尺寸、分布及其變化做出判斷和評價。無損檢測技術主要包含了射線檢測、超聲檢測、磁粉檢測、滲透檢測和渦流檢測這五種檢測方法，而脈衝渦流檢測技術作為無損檢測中渦流檢測中的一個分支，具有其特有的優勢，主要包含了無需耦合劑、頻譜豐富、響應速度快、滲透深度強等優點。但是，脈衝渦流檢測進行B掃時無法精確定位移動軌跡，給管道的腐蝕分析帶來困難。
技術實現要素：
有鑑於此，本發明旨在提出一種脈衝渦流定位檢測器，以解決現有的檢測線圈無法精確定位移動軌跡的問題。
為達到上述目的，本發明的技術方案是這樣實現的：
一種脈衝渦流定位檢測器，包括盒體及位於所述盒體上端的盒蓋，盒體內頂部設有定位儀；
定位儀包括定位儀殼體、位於定位儀殼體內的光源、位於光源照射範圍內的第一平面鏡、能夠接收第一平面鏡反射光的第二平面鏡、位於定位儀殼體底部的能夠透過第二平面鏡反射光的第一開口、第二開口及位於定位儀殼體內部的光學傳感器，光學傳感器內部設有圖像處理晶片；
盒體底部設有能夠透過第二平面鏡反射光的第三開口；第三開口、第二開口及光學傳感器位於同一直線上；
盒體內還設有檢測探頭；
盒體側面分別設有檢測探頭數據接口及定位儀數據接口。
進一步的，所述第二開口處設有凸透鏡。
進一步的，所述第三開口、第二開口及光學傳感器位於同一豎直線上；
進一步的，所述盒蓋與盒體可拆卸連接。
進一步的，所述光源底端與第一平面鏡底端在同一水平面上。
進一步的，所述第二平面鏡與所述第一平面鏡位於同一豎直線上。
進一步的，所述光源與光學傳感器分別位於定位儀的左右兩側。
進一步的，所述第三開口位於定位儀下方。
進一步的，所述檢測探頭包括線圈固定柱及盤繞在線圈固定柱上的檢測線圈。
進一步的，所述光源為發光二極體。
相對於現有技術，本發明所述的一種脈衝渦流定位檢測器具有以下優勢：
本發明所述的一種脈衝渦流定位檢測器，通過在脈衝渦流檢測設備中添加定位儀，實現了對檢測設備移動軌跡的精確定位，為管道腐蝕評價提供了極大的方便；該設備設計合理，具有適用範圍廣，精度高等優點。
附圖說明
構成本發明的一部分的附圖用來提供對本發明的進一步理解，本發明的示意性實施例及其說明用於解釋本發明，並不構成對本發明的不當限定。在附圖中：
圖1為本發明實施例所述的一種脈衝渦流定位檢測器示意圖；
附圖標記說明：
1-盒蓋；2-盒體；3-定位儀；31-光源；32-第一平面鏡；33-第二平面鏡；34-第一開口；35-第二開口；36-光學傳感器；37-定位儀殼體；38-凸透鏡；4-線圈固定柱；5-檢測線圈；6-檢測探頭數據接口；7-定位儀數據接口；8-第三開口。
具體實施方式
需要說明的是，在不衝突的情況下，本發明中的實施例及實施例中的特徵可以相互組合。
在本發明的描述中，需要理解的是，術語「中心」、「縱向」、「橫向」、「上」、「下」、「前」、「後」、「左」、「右」、「豎直」、「水平」、「頂」、「底」、「內」、「外」等指示的方位或位置關係為基於附圖所示的方位或位置關係，僅是為了便於描述本發明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本發明的限制。此外，術語「第一」、「第二」等僅用於描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術特徵的數量。由此，限定有「第一」、「第二」等的特徵可以明示或者隱含地包括一個或者更多個該特徵。在本發明的描述中，除非另有說明，「多個」的含義是兩個或兩個以上。
在本發明的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規定和限定，術語「安裝」、「相連」、「連接」應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接；可以是機械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內部的連通。對於本領域的普通技術人員而言，可以通過具體情況理解上述術語在本發明中的具體含義。
下面將參考附圖並結合實施例來詳細說明本發明。
一種脈衝渦流定位檢測器，如圖1所示，包括盒體2及位於盒體2上端的盒蓋1，盒體2內頂部設有定位儀3；
定位儀3包括定位儀殼體37、位於定位儀殼體37內的光源31、位於光源31照射範圍內的第一平面鏡32、能夠接收第一平面鏡32反射光的第二平面鏡33、位於定位儀殼體37底部的能夠透過第二平面鏡33反射光的第一開口34、第二開口35及位於定位儀殼體37內部的光學傳感器36，光學傳感器36內部設有圖像處理晶片；
盒體2底部設有能夠透過第二平面鏡33反射光的第三開口8；第三開口8、第二開口35及光學傳感器36位於同一直線上；保證管道漫反射回來的光線經凸透鏡38聚攏後，能夠依次透過第三開口8及第二開口35，到達光學傳感器36成像。
盒體2內還設有檢測探頭；
盒體2側面分別設有檢測探頭數據接口6及定位儀數據接口7。
第二開口35處設有凸透鏡38。能夠將光線聚攏起來，使得達光學傳感器36處成像更加清晰。
第三開口8、第二開口35及光學傳感器36位於同一豎直線上。保證大部分透過第三開口8的光線，經過第二開口35到達光學傳感器36。
盒蓋1與所述盒體2可拆卸連接。可以打開盒蓋1，對盒體2內的部件進行檢修。
光源31底端與第一平面鏡32底端在同一水平面上。
第二平面鏡33與第一平面鏡32位於同一豎直線上。可以保證大部分經過第一平面鏡32反射的光線到達第二平面鏡33。
光源31與光學傳感器36分別位於定位儀3的左右兩側。
第三開口8位於所述定位儀3下方。
檢測探頭包括線圈固定柱4及盤繞在線圈固定柱4上的檢測線圈5。
光源31為發光二極體。
本實例的具體工作過程如下：
將本發明所述的一種脈衝渦流定位檢測器，放置在管道表面，通過檢測探頭獲得管道的脈衝渦流檢測信號，並由檢測探頭數據接口6將信號導出；同時發光二極體發出光線，光線依次經過第一平面鏡32、第二平面鏡33、第一開口34、第三開口8照亮管道表面。此後，經管道表面漫反射回的一部分光線穿過第三開口8，經凸透鏡38的聚攏，傳輸到光學傳感器36成像。這樣，當檢測器移動時，其移動軌跡便會被記錄為一組高速拍攝的連貫圖像，被光學傳感器36內部的一塊專用圖像分析晶片(DSP，即數字微處理器)分析處理，該晶片通過對這些圖像上特徵點位置的變化進行分析，來判斷定位儀的移動方向和移動距離，從而完成線圈移動軌跡的定位，同時線圈移動軌跡數據通過定位儀數據接口7導出。
以上所述僅為本發明的較佳實施例而已，並不用以限制本發明，凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護範圍之內。