一種巖礦石標本真電參數測試方法及裝置製造方法
2023-12-10 21:39:42
一種巖礦石標本真電參數測試方法及裝置製造方法
【專利摘要】本發明涉及巖礦石測量【技術領域】，具體的講是一種巖礦石標本真電參數測試方法及裝置。將測試裝置夾持巖礦石標本兩端的測試電極盒對接測試，得出該測試裝置的本底極化率ηb和本底電阻率ρb；測試待測巖礦石標本，得到所述待測巖礦石標本的視極化率ηs和所述待測巖礦石標本的視電阻率ρs；根據上述得到的測試參數，通過本發明特定公式來計算所述待測巖礦石標本的真極化率η0和真電阻率ρ0。通過上述實施例的方法和裝置，可以大幅度提高了巖礦石電參數測試精度，對電（磁）法金屬礦找礦提供了基礎電性信息。
【專利說明】一種巖礦石標本真電參數測試方法及裝置
【技術領域】
[0001]本發明涉及巖礦石測量【技術領域】，具體的講是一種巖礦石標本真電參數測試方法及裝置。
【背景技術】
[0002]測試巖礦石標本的電參數。了解礦體與圍巖電性的差異，是決定電(磁)法能否有效找礦的物性前提。也是正演計算與反演解釋的客觀依據。對地球物理找礦來說，具有基礎性的重要意義。
[0003]現有國內外巖礦石標本電參數測試系統種類繁多，國內「激電規範」推薦有蠟封法、物性架、麵團法等，國外有俄(BMTP)、美(Zonge)、加(⑶D)等國的產品。
[0004]巖礦石標本電參數的測試，一般都是仿效野外找礦測試裝置與方法。測試系統由測試標本架、小功率發送機與接收機(或借用找礦接收機)等組成。加拿大GDD公司SCIP測試系統採用了 二極裝置(已有文獻指出其測試原理有誤)。
[0005]測試巖礦石標本的電參數，應該是標本的真電參數，但現有的國內外巖礦石標本電參數測試系統，所測的電參數不是真電參數，而是一種錯誤很大的視電參數。
[0006]造成錯誤原因是，標本的測試條件與技術要求，都缺乏原位的規範化，以及測試系統存在本底電參數的幹擾。主要有:
[0007]①為了提高測試精度，通常在測試中加大電流密度，該電流密度大大超過電(磁)法勘查時巖礦石經受的電流密度，對於良導礦石受電流非線性幹擾，使所測標本電參數不是原位電參數。
[0008]②在標本電參數測試中，供電源都採用電壓源，導致所測電參數受電流電極的極化幹擾。所測參數不是標本真實的參數。
[0009]③測試標本的所用接收機，不同時具備高精度與高輸入阻抗的技術要求，導致低阻標本電位測試精度不夠，高阻標本分流MN迴路導致不極化電極產生極化，所測電參數受到雙重幹擾。
[0010]④測試中未能消除測試系統存在的本底電參數幹擾，導致所測良導礦石的電參數，與其真值有數量級的差別。不少找礦資料中還把所測錯誤參數當作真電參數在應用。
[0011]造成電參數測試錯誤的原因，主要是對電參數的測試條件與技術要求認識不足。缺乏對測試巖礦標本真電參數的研究。另一個重要原因是「激電法技術規定」中對測試精度要求以重複相對誤差來衡量。相對誤差反映的是測試中的偶然誤差，而精度是指測試值與真值接近的程度，精度誤差不僅反映偶然誤差，同時反映系統誤差。在巖礦石標本電參數測試中，兩種誤差都存在。但是如果只注意重複相對誤差，忽略系統誤差，對於良導塊狀礦石所測電參數將出現重大錯誤。
【發明內容】
[0012]本發明的目的在於正確測試巖礦石標本的真電參數，本發明規範了測試條件與技術要求，並在測試中消除由本發明發現的測試系統存在的本底電參數幹擾，據此本發明實施例提供了一種巖礦石標本真電參數的測試方法，包括，
[0013]規範測試條件與技術要求，以及每塊待測巖礦石標本必須經過兩次測試結果，經發明公式計算得到每塊巖礦石標本的真電參數。第一次測試是測試的待測巖礦石標本，得到所述待測巖礦石標本的視極化率Hs和所述待測巖礦石標本的視電阻率Ps，及供電電流脈衝寬度T時刻電位值Λ Umn⑴，所述測試電位電極之間的距離Lmn ；
[0014]第二次測試是測試系統存在的本底電參數幹擾，即取下已測試視電參數的巖礦石標本，將兩測試盒對接測試，得出該系統裝置的本底極化率Jlb和本底電阻率Pb，及供電電流脈衝寬度T時刻的測試本底電位值AUb(T)，對接測試時所述電位電極間的距離Lb ；
[0015]根據上述得到的測得參數，通過發明的公式:
【權利要求】
1.一種巖礦石標本真電參數測試方法，其特徵在於包括， 將測試裝置夾持巖礦石標本兩端的測試電極盒對接測試，得出該測試裝置的本底極化率Hb和本底電阻率Pb，及供電電流脈衝寬度T時刻的測試的本底電位值AUb(T),對接測試時所述測試電極兩極間的距離Lb ； 測試待測巖礦石標本，得到所述待測巖礦石標本的視極化率Hs和所述待測巖礦石標本的視電阻率Ps，及供電電流脈衝寬度T時刻的測試電極間的電位值AUw(T),所述測試電極之間的距離Lmn ； 根據上述得到的測試參數，通過本發明的公式:
2.根據權利要求1所述的一種巖礦石標本真電參數測試方法，其特徵在於，採用恆流源進行供電。
3.根據權利要求1所述的一種巖礦石標本真電參數測試方法，其特徵在於，接收所述測試參數的接收機具有UV級測試精度與IO9 Ω以上的輸入阻抗。
4.根據權利要求1所述的一種巖礦石標本真電參數測試方法，其特徵在於，所述測試裝置具有4個電極，分別為2個不極化電極的電位電極和2個不極化電極的電流電極。
5.根據權利要求4所述的一種巖礦石標本真電參數測試方法，其特徵在於，所述2個不極化電極的電位電極和2個不極化電極的電流電極均採用相同的銅一硫酸銅溶液的不極化電極，或者採用鉛-氯化鉛的不極化電極。
6.一種巖礦石標本真電參數測試裝置，其特徵在於包括， 本底電參數獲取單元，視電參數獲取單元，真電參數計算單元； 所述本底電參數獲取單元，用於對測試裝置夾持巖礦石標本兩端的測試電極盒對接測試，得到測試裝置的本底極化率Ilb和本底電阻率Pb，及供電電流脈衝寬度T時刻的測試電極的本底電位值AUb(T)，對接測試時所述測試電極兩極間的距離Lb ； 所述視電參數獲取單元，根據測試待測巖礦石標本的結果，得到所述待測巖礦石標本的視極化率Hs和所述待測巖礦石標本的視電阻率Ps，及供電電流脈衝寬度T時刻的測試電極間的電位AUmn(T)，所述測試電極之間的距離Lmn ； 所述真電參數計算單元，用於根據上述得到的測試參數，通過
7.根據權利要求6所述的一種巖礦石標本真電參數測試裝置，其特徵在於，採用恆流源進行供電。
8.根據權利要求6所述的一種巖礦石標本真電參數測試裝置，其特徵在於，接收所述檢測參數的接收機具有uV級測試精度與IO9 Ω以上的輸入阻抗。
9.根據權利要求6所述的一種巖礦石標本真電參數測試裝置，其特徵在於，所述檢測裝置包括4個電極，分別為2個不極化電極的電位電極和2個不極化電極的電流電極，所述2個電位電極和2個電流電極均分別位於巖礦石標本兩端。
10.根據權利要求9所述的一種巖礦石標本真電參數測試裝置，其特徵在於，所述2個電位電極和所述2個電流電極均採用相同的銅一硫酸銅溶液的不極化電極，或者採用鉛-氯化鉛的不極化電極。
【文檔編號】G01R29/00GK103913634SQ201410133117
【公開日】2014年7月9日 申請日期:2014年4月3日 優先權日:2014年4月3日
【發明者】王慶乙, 王生, 邱鋼, 代麗, 張楠 申請人:中色地科礦產勘查股份有限公司