金屬檢測探頭的製作方法
2024-03-21 15:13:05 1
金屬檢測探頭的製作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種金屬檢測探頭，包括弧面反射板，弧面反射板一側安裝有探頭，探頭穿過弧面反射板與一阻尼板連接，探頭採用可伸縮結構，弧面反射板靠近頂部設有金屬納米微粒層，金屬納米微粒層下表面設有吸聲材料層，吸聲材料層與金屬納米微粒層通過粘接劑連接，還包括信號連接口，信號連接口開在金屬納米微粒層、吸聲材料層及阻尼板之間，阻尼板上安裝有壓電晶片，壓電晶片為三個，壓電晶片通過電纜線與信號連接口連接，壓電晶片頂部穿過吸聲材料層及金屬納米微粒層設置。本金屬檢測探頭採用可伸縮結構，可自由延長探頭長度至一定距離，提高了檢測的準確性和操作人員的安全性，同時在檢測時可進行吸聲，可通過雷射的作用更好的進行檢測。
【專利說明】 金屬檢測探頭
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種檢測探頭，特別涉及一種金屬檢測探頭。
【背景技術】
[0002]常規的金屬檢測探頭結構主要採用兩種結構，一種是採用單凸透鏡聚焦方式，檢測目標的靶點為固定圓形。而對於帶形目標的檢測局限於局部有效區域，不適用於進行跟蹤定位；另一種是採用單凸透鏡聚焦方式，其內部焦點拾取部位的光纖採用矩形窗口，檢測目標的靶點為矩形，但長寬比例固定不能調整。這兩種檢測探頭雖然還是能達到一定的檢測效率，但檢測準確度不夠，且在檢測時操作繁瑣，同時探頭無法進行伸縮檢測，有可能影響檢測人員的安全狀況，且影響了檢測準確度，不能根據實際需求進行更好的調整檢測。
實用新型內容
[0003]本實用新型要解決的技術問題是:克服上述問題，提供一種金屬檢測探頭採用可伸縮結構，可自由延長探頭長度至一定距離，提高了檢測的準確性和操作人員的安全性的金屬檢測探頭。
[0004]為了實現上述目的，本實用新型採用的技術方案是這樣的:本實用新型的金屬檢測探頭，包括弧面反射板，弧面反射板一側安裝有探頭，探頭穿過弧面反射板與一阻尼板連接，探頭採用可伸縮結構，弧面反射板靠近頂部設有金屬納米微粒層，金屬納米微粒層下表面設有吸聲材料層，吸聲材料層與金屬納米微粒層通過粘接劑連接，還包括信號連接口，信號連接口開在金屬納米微粒層、吸聲材料層及阻尼板之間，阻尼板上安裝有壓電晶片，壓電晶片為三個，壓電晶片通過電纜線與信號連接口連接，壓電晶片頂部穿過吸聲材料層及金屬納米微粒層設置，其底部固定在阻尼板上，且兩兩壓電晶片之間通過雷射條連接。
[0005]進一步的，作為一種具體的結構形式，本實用新型所述金屬納米微粒層設置在弧面反射板的凹面上。
[0006]進一步的，作為一種具體的結構形式，本實用新型所述信號連接口至少為兩個。
[0007]進一步的，作為一種具體的結構形式，本實用新型所述調節裝置可調節弧面反射板反射出的實物距離。
[0008]與現有技術相比，本實用新型的優點在於:本金屬檢測探頭採用可伸縮結構，可自由延長探頭長度至一定距離，提高了檢測的準確性和操作人員的安全性，同時在檢測時可進行吸聲，可通過雷射的作用更好的進行檢測。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0009]下面結合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。
[0010]圖1為本實用新型的結構示意圖；
[0011]圖中:1.弧面反射板；2.探頭；3.金屬納米微粒層；4.吸聲材料層；5.阻尼板；
6.壓電晶片；7.信號連接口 ；8.雷射條；9.調節裝置。【具體實施方式】
[0012]現在結合附圖對本實用新型作進一步詳細的說明。這些附圖均為簡化的示意圖，僅以示意方式說明本實用新型的基本結構，因此其僅顯示與本實用新型有關的構成。
[0013]如圖1所示的本實用新型金屬檢測探頭的優選實施例，包括弧面反射板1，弧面反射板I 一側安裝有探頭2，探頭2穿過弧面反射板I與一阻尼板5連接，探頭2採用可伸縮結構，弧面反射板I靠近頂部設有金屬納米微粒層3，金屬納米微粒層3下表面設有吸聲材料層4，吸聲材料層4與金屬納米微粒層3通過粘接劑連接，還包括信號連接口 7，信號連接口 7開在金屬納米微粒層3、吸聲材料層4及阻尼板5之間，阻尼板5上安裝有壓電晶片6，壓電晶片6為三個，壓電晶片6通過電纜線與信號連接口 7連接，壓電晶片6頂部穿過吸聲材料層4及金屬納米微粒層3設置，其底部固定在阻尼板5上，且兩兩壓電晶片6之間通過雷射條8連接，所述金屬納米微粒層3設置在弧面反射板I的凹面上，所述信號連接口 7至少為兩個，所述調節裝置9可調節弧面反射板I反射出的實物距離。
[0014]本實用新型的金屬檢測探頭採用可伸縮結構，可自由延長探頭2長度至一定距離，提高了檢測的準確性和操作人員的安全性，同時在檢測時可進行吸聲，可通過雷射的作用更好的進行檢測。
[0015]以上述依據本實用新型的理想實施例為啟示，通過上述的說明內容，相關工作人員完全可以在不偏離本項實用新型技術思想的範圍內，進行多樣的變更以及修改。本項實用新型的技術性範圍並不局限於說明書上的內容，必須要根據權利要求範圍來確定其技術性範圍。
【權利要求】
1.一種金屬檢測探頭，包括弧面反射板，其特徵在於:弧面反射板一側安裝有探頭，探頭穿過弧面反射板與一阻尼板連接，探頭採用可伸縮結構，弧面反射板靠近頂部設有金屬納米微粒層，金屬納米微粒層下表面設有吸聲材料層，吸聲材料層與金屬納米微粒層通過粘接劑連接，還包括信號連接口，信號連接口開在金屬納米微粒層、吸聲材料層及阻尼板之間，阻尼板上安裝有壓電晶片，壓電晶片為三個，壓電晶片通過電纜線與信號連接口連接，壓電晶片頂部穿過吸聲材料層及金屬納米微粒層設置，其底部固定在阻尼板上，且兩兩壓電晶片之間通過雷射條連接。
2.根據權利要求1所述的金屬檢測探頭，其特徵在於:所述金屬納米微粒層設置在弧面反射板的凹面上。
3.根據權利要求1所述的金屬檢測探頭，其特徵在於:所述信號連接口至少為兩個。
4.根據權利要求1所述的金屬檢測探頭，其特徵在於:調節裝置可調節弧面反射板反射出的實物距離。
【文檔編號】G01D21/00GK203758540SQ201420100185
【公開日】2014年8月6日 申請日期:2014年3月6日 優先權日:2014年3月6日
【發明者】王治民 申請人:王治民