串聯型中值標準電阻的製作方法

2024-01-24 01:46:15 2

串聯型中值標準電阻的製作方法
【專利摘要】本發明公開了串聯型中值標準電阻，包括筒裝外殼，在外殼的面板上固定有電流接線柱C1和C2以及電位接線柱P1和P2通過導線與外殼內的線繞電阻R連接，線繞電阻R是由溫度係數相反的繞制電阻R1和電阻R2串聯組成，根據溫度係數的大小，截取相應長度的卡瑪絲，分別繞制在電阻骨架上，兩隻電阻中間串接點以及線繞電阻R與瓷絕緣套連接點均採用銀焊接，通過科學配對有效串聯使得線繞電阻R的溫度係數α趨於零，電阻骨架的上、下端面分別與外殼之間由錫密封焊層隔絕。採用本發明的技術方案，串聯型中值標準電阻性能可靠，穩定性好，精度高，能在寬溫度範圍和寬溼度範圍內保持±0.005%高精度技術特性，可在現場開展高精度檢定和校準工作，大大降低了檢測成本。
【專利說明】串聯型中值標準電阻

【技術領域】
[0001] 本發明屬於電子元件，具體設及串聯型中值標準電阻。

【背景技術】
[0002] 目前國內外生產的中值標準電阻的阻值一般是在1 Q-100000 Q，主要是單電阻結 構，溫度係數大，溫度範圍窄，儘管精度很高，但保證精度的環境條件要求很高，在室外時由 於溫差的變化無法保證電阻的阻值精度，需要在恆溫室內恆溫油槽或空氣槽條件下測量， 不便於到現場開展高精度檢定和校準工作。


【發明內容】

[0003] 本發明的目的在於提供一種阻值為1Q-100000Q的中值標準電阻，該電阻穩定 性好，精度高，能在（20 + 10) °C寬溫度範圍、（25%?75%) RH寬溼度範圍內保持±0. 005%高 精度技術特性，可在現場開展高精度檢定和校準工作，從而大大降低檢測成本。
[0004] 為達到上述目的，本發明串聯型中值標準電阻包括筒狀外殼，在外殼的面板上固 定有電流接線柱C1和C2、電位接線柱P1和P2,其特徵是；在外殼內固定設有電阻骨架和瓷 絕緣套，在電阻骨架上設置有線繞電阻R，在電阻骨架的周圍包有絕緣材料；所述線繞電阻 R是由溫度係數相反的繞制電阻R1和繞制電阻R2串聯組成，所述電阻R1和R2是根據溫度 係數的大小，截取相應長度的卡瑪絲，分別繞制在電阻骨架上，兩隻電阻中間的串接點採用 銀焊接；所述電流接線柱C1和C2及電位接線柱P1和P2由紫銅辮子線通過瓷絕緣套與線 繞電阻R採用銀焊連接；所述電阻骨架的上、下端面分別與外殼之間由錫密封焊層隔絕。
[0005] 所述線繞電阻R是由正溫度係數的繞制電阻R1和負溫度係數的繞制電阻R2串聯 組成。
[0006] 所述線繞電阻R是由負溫度係數的繞制電阻R1和正溫度係數的繞制電阻R2串聯 組成。
[0007] 所述電流接線柱C1和C2、電位接線柱P1和P2及導電片均由紫銅椿加工而成，並 在接觸面鍛銀；電流、電位連接導線是由多股紫銅絲製成的辮子線。
[000引所述瓷絕緣套是陶瓷材料製成。
[0009] 所述外殼是黃銅製成，外殼的圓筒外表面鍛有一層銘。
[0010] 所述電阻骨架是黃銅製成，在電阻骨架的周圍包有絕緣材料。
[0011] 在上述技術方案中，是採用兩隻正、負溫度係數的電阻串聯製作串聯型中值標準 電阻。系選用正溫度係數或負溫度係數的卡瑪絲繞制在電阻骨架上形成R1電阻，再根據科 學配對，採用負溫度係數或正溫度係數的卡瑪絲繞制在電阻骨架上形成R2電阻，兩隻電阻 中間串接點W及線繞電阻R兩端與瓷絕緣套連接點均採用銀焊接。本發明的技術方案具有 W下有益效果；第一，採用兩隻電阻串聯，電阻穩定性好，精度高；第二，採用兩隻正負溫度 係數的電阻串聯配對，總溫度係數a趨於零，加上電阻絲為卡瑪絲其0值很小，從而有效 保證串聯型中值標準電阻在寬溫度範圍（20 + 10) °C和寬溼度範圍（25%?75%)RH內保持 ±0. 005%高精度技術特性；第S，採用精磨電阻絲增大阻值的方法，可對R1和R2做到精細 調整，保證串聯型中值標準電阻精度控制在±0.005% W內；第四，將電阻骨架與外殼採用 錫密封焊層隔絕，確保電阻絲與外界空氣、水份隔絕，保證串聯型中值標準電阻年穩定性小 於lOppm，確保電阻阻值穩定可靠.。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012] 圖1是本發明串聯型中值標準電阻的結構示意圖； 圖2是本發明串聯型中值標準電阻的面板結構示意圖； 圖3是本發明串聯型中值標準電阻的電路原理圖。

【具體實施方式】
[0013] 下面結合附圖和實施例對本發明串聯型中值標準電阻作進一步詳細說明。構成本 申請的附圖用來提供對本發明的進一步理解，本發明的示意性實施例及其說明用於解釋本 發明，並不構成對本發明的不當限定。
[0014] 由圖1、圖2可見，本實施例的串聯型中值標準電阻，包括筒狀外殼1，在外殼1的 面板5上固定有電流接線柱C1和C2、電位接線柱P1和P2,在外殼1內固定安裝有電阻骨 架2和瓷絕緣套3,在電阻骨架2上設置有線繞電阻R，在電阻骨架2的周圍包有絕緣材料。 線繞電阻R是由溫度係數相反的繞制電阻R1和繞制電阻R2串聯組成，電阻R1和R2是根 據溫度係數的大小，截取相應長度的卡瑪絲，分別繞制在電阻骨架2上，兩隻電阻中間的串 接點採用銀焊接；電流接線柱C1和C2及電位接線柱P1和P2由紫銅辮子線通過瓷絕緣套 3與線繞電阻R採用銀焊連接。電阻骨架2的上、下端面分別與外殼1之間由錫密封焊層4 隔絕。在本實施例中，線繞電阻R由R1和R2分別根據溫度係數的大小截取相應長度的卡 瑪絲先後繞制在電阻骨架2上，兩隻電阻中間串接點採用銀焊接，線繞電阻R兩端與瓷絕緣 套銀焊接，通過紫銅辮子線從瓷絕緣套上分別引出電流、電位端到C1、P1和C2、P2接線柱 上。在本實施例中，外殼1是黃銅製成，外殼1的圓筒外表面鍛有一層銘。電阻骨架2是是 黃銅製成，在電阻骨架2的外表面周圍包有一層絕緣材料。電流接線柱C1和C2、電位接線 柱P1和P2及導電片均由紫銅椿加工而成，並在接觸面鍛銀；電流、電位連接導線是由多股 紫銅絲製成的辮子線。瓷絕緣套3是陶瓷材料製成。
[0015] 圖3是本實施例串聯型中值標準電阻的電路原理圖。電 路由電阻R1和R2串聯組成電阻R，串聯電阻R的溫度係數應為 漢=魯巧+馬巧，療=4角為U1為繞制電阻R1的溫度係數，曰2為繞制電阻R2的 K K K K 溫度係數)。在本實施例中，通過測量一組卡瑪絲的溫度係數，分別選取正、負溫度係數的卡 瑪絲各1根，其長度取決於溫度係數a的大小，保證串聯電阻R溫度係數a趨於零，然後 將選取好的卡瑪絲分別先後繞制在電阻骨架上，中間串接點W及電阻R兩端與瓷絕緣套連 接點均採用銀焊。本實施例中，線繞電阻R是由正溫度係數的繞制電阻R1和負溫度係數的 繞制電阻R2串聯組成，也可W是由負溫度係數的繞制電阻R1和正溫度係數的繞制電阻R2 串聯組成。
[0016] 在本實施例中，通過對裸電阻R值及溫度係數的測量，在溫度係數a趨於零的同 時控制電阻R的精度在±0. 005% W內，採用精磨電阻絲增大阻值的方法，達到精細調整的 目的，精磨的電阻絲部分採用絕緣處理。
[0017] 在本實施例中，通過對裸電阻R的測量和精細調整後，電阻骨架2的上、下端面分 別與電阻外殼密合併採用錫密封焊層4隔絕，確保電阻絲與外界空氣、水份隔絕，從而保證 電阻的年穩定性小於lOppm。採用本實施例的技術方案，電阻精度非常高，其精度可控制在 ±0.005%^內，由於電阻R的溫度係數a、0很小，串聯型中值標準電阻可在寬溫度範圍 (20 + 10) °C和寬溼度範圍（25%?75%)RH保持±0. 005%高精度技術特性，便於現場開展高 精度檢定和校準工作。本實施例中的串聯型中值標準電阻廣泛應用於電磁類量值傳遞，儀 器儀表檢測等計量領域。
[0018] W上所述，僅是本發明的實施例，並非對本發明作任何限制，凡是根據本發明技術 實質對W上實施例所作的任何簡單修改、變更W及等效方法的變化，均仍屬於本發明技術 方案的保護範圍內。
【權利要求】
1. 一種串聯型中值標準電阻，包括筒狀外殼（1)，在外殼（1)的面板（5)上固定有電流 接線柱C1和C2、電位接線柱P1和P2,其特徵是：在外殼（1)內固定設有電阻骨架（2)和瓷 絕緣套（3)，在電阻骨架（2)上設置有線繞電阻R，在電阻骨架（2)的周圍包有絕緣材料；所 述線繞電阻R是由溫度係數相反的繞制電阻R1和繞制電阻R2串聯組成，所述電阻R1和 R2是根據溫度係數的大小，截取相應長度的卡瑪絲，分別繞制在電阻骨架（2)上，兩隻電阻 中間的串接點採用銀焊接；所述電流接線柱C1和C2及電位接線柱P1和P2由紫銅辮子線 通過瓷絕緣套（3)與線繞電阻R採用銀焊連接；所述電阻骨架（2)的上、下端面分別與外殼 (1)之間由錫密封焊層（4)隔絕。
2. 根據權利要求1所述的一種串聯型中值標準電阻，其特徵是：所述線繞電阻R是由 正溫度係數的繞制電阻R1和負溫度係數的繞制電阻R2串聯組成。
3. 根據權利要求1所述的一種串聯型中值標準電阻，其特徵是：所述線繞電阻R是由 負溫度係數的繞制電阻R1和正溫度係數的繞制電阻R2串聯組成。
4. 根據權利要求1所述的一種串聯型中值標準電阻，其特徵是：所述電流接線柱C1和 C2、電位接線柱P1和P2及導電片均由紫銅棒加工而成，並在接觸面鍍銀；電流、電位連接導 線是由多股紫銅絲製成的辮子線。
5. 根據權利要求1所述的一種串聯型中值標準電阻，其特徵是：所述瓷絕緣套（3)是陶 瓷材料製成。
6. 根據權利要求1所述的一種串聯型中值標準電阻，其特徵是：所述外殼（1)是黃銅製 成，外殼（1)的圓筒外表面鍍有一層絡。
7. 根據權利要求1所述的一種串聯型中值標準電阻，其特徵是：所述電阻骨架（2)是黃 銅製成，在電阻骨架（2)的周圍包有絕緣材料。
【文檔編號】H01C1/16GK104485187SQ201410771623
【公開日】2015年4月1日 申請日期:2014年12月15日 優先權日:2014年12月15日
【發明者】朱立無, 程旺苗, 方聯歐, 程方斌 申請人:安慶市計量測試所