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三坐標測輪廓的檢測方法

2023-11-30 10:49:31 2

三坐標測輪廓的檢測方法
【專利摘要】本發明公開了一種三坐標測輪廓的檢測方法,該方法包括:測量步驟,固定待測零件以通過三坐標測量所述待測零件的輪廓;繪製步驟,繪製所述輪廓的上偏差和下偏差以得到輪廓標準區間;比較步驟,判斷所述輪廓是否在所述輪廓標準區間之內,當所述輪廓在所述輪廓標準區間之內時,則判斷所述輪廓正確;當所述輪廓在所述輪廓標準區間之外,則判斷所測輪廓失效。該三坐標測輪廓的檢測方法克服了現有技術中輪廓檢測精度不高和難以檢測轉換的問題,實現了高精度三坐標輪廓的檢測。
【專利說明】三坐標測輪廓的檢測方法

【技術領域】
[0001]本發明涉及檢測方法,具體地,涉及一種三坐標測輪廓的檢測方法。

【背景技術】
[0002]三坐標測量機,它是指在一個六面體的空間範圍內,能夠表現幾何形狀、長度及圓周分度等測量能力的儀器,又稱為三坐標測量儀或三坐標量床。三坐標測量儀可定義為「一種具有可作三個方向移動的探測器,可在三個相互垂直的導軌上移動,此探測器以接觸或非接觸等方式傳送訊號,三個軸的位移測量系統(如光學尺)經數據處理器或計算機等計算出工件的各點坐標(x、Y、z)及各項功能測量的儀器」。三坐標測量儀的測量功能應包括尺寸精度、定位精度、幾何精度及輪廓精度等。
[0003]現有的三坐標測量機的測量方法是預先在測量機中輸入待測零件的數模,再通過測量判斷實際值是否在預設數模之內,當在內部時,則判斷輪廓正確,否則判斷失效,這樣的方法具有如下問題,1、在進行檢測時,需要預先輸入數模,該數模的尺寸可能與待測的尺寸有差別,這樣造成的誤差往往需要測量者的經驗進行判斷,2、檢測需要三坐標進行再次轉換,一般三坐標無再次轉換功能。


【發明內容】

[0004]本發明的目的是提供一種三坐標測輪廓的檢測方法,該三坐標測輪廓的檢測方法克服了現有技術中輪廓檢測精度不高和難以檢測轉換的問題,實現了高精度三坐標輪廓的檢測。
[0005]為了實現上述目的,本發明提供了一種三坐標測輪廓的檢測方法,該方法包括:
[0006]測量步驟,固定待測零件以測量所述待測零件的輪廓;
[0007]繪製步驟,繪製所述輪廓的上偏差和下偏差以得到輪廓標準區間;
[0008]比較步驟,判斷所述輪廓是否在所述輪廓標準區間之內,當所述輪廓在所述輪廓標準區間之內時,則判斷所述輪廓正確;當所述輪廓在所述輪廓標準區間之外,則判斷所測輪廓失效。
[0009]優選地,所述測量步驟還包括:
[0010]S101,將所述待測零件沿所述三坐標的第一方向或第二方向固定在三坐標測量臺上;
[0011]S102,所述三坐標的探頭檢測待測零件的輪廓;
[0012]S103,將所述輪廓分別存儲為三坐標內部格式(MITUT0Y0)和DXF格式。
[0013]優選地,所述三坐標的探頭與所述待測零件之間設置有預設距離,所述預設距離的範圍為:0.0lmm-Q.2mm。
[0014]優選地,所述繪製步驟還包括:
[0015]S201,將所述DXF格式的輪廓通過計算機輔助設計(CAD)軟體打開;
[0016]S202,根據預設的上偏差值與下偏差值繪製所述上偏差和所述下偏差以得到輪廓標準區間。
[0017]優選地,所述上偏差值範圍為:0.0lmm-0.2mm。
[0018]優選地,所述下偏差值範圍為:0.0lmm-0.2mm。
[0019]優選地,所述測量步驟還包括:
[0020]測量所述待測零件的線性輪廓。
[0021]通過上述實施方式,本發明的一種三坐標測輪廓的檢測方法克服了現有技術中的缺陷,針對數模對照模擬得出結論的不合理之處,直接用三坐標檢測輪廓和分析輪廓,再根據檢測和分析的輪廓繪製輪廓標準區間,最後進行比較,不用預先設置數模。
[0022]本發明的其他特徵和優點將在隨後的【具體實施方式】部分予以詳細說明。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0023]附圖是用來提供對本發明的進一步理解,並且構成說明書的一部分,與下面的【具體實施方式】一起用於解釋本發明,但並不構成對本發明的限制。在附圖中:
[0024]圖1是說明本發明的一種三坐標測輪廓的檢測方法的流程圖;
[0025]圖2是說明本發明的一種三坐標測輪廓的檢測方法的比較步驟的效果圖;以及
[0026]圖3是說明本發明的一種三坐標測輪廓的檢測方法的繪製步驟的效果圖。

【具體實施方式】
[0027]以下結合附圖對本發明的【具體實施方式】進行詳細說明。應當理解的是,此處所描述的【具體實施方式】僅用於說明和解釋本發明,並不用於限制本發明。
[0028]在本發明中,在未作相反說明的情況下,使用的方位詞如「上、下」通常是指數值上區分大小的上下。
[0029]本發明提供一種三坐標測輪廓的檢測方法,該方法包括:
[0030]測量步驟,固定待測零件以測量所述待測零件的輪廓;
[0031]繪製步驟,繪製所述輪廓的上偏差和下偏差以得到輪廓標準區間;
[0032]比較步驟,判斷所述輪廓是否在所述輪廓標準區間之內,當所述輪廓在所述輪廓標準區間之內時,則判斷所述輪廓正確;當所述輪廓在所述輪廓標準區間之外,則判斷所測輪廓失效。
[0033]通過上述實施方式,本發明的一種三坐標測輪廓的檢測方法克服了現有技術中的缺陷,針對數模對照模擬得出結論的不合理之處,直接用三坐標檢測輪廓和分析輪廓,再根據檢測和分析的輪廓繪製輪廓標準區間,最後進行比較,不用預先設置數模。
[0034]以下結合附圖1、附圖2和附圖3對本發明進行進一步的說明,在本發明的一種最優選的實施方式中,用三坐標(CMM)檢測輪廓和分析輪廓由三坐標原始計算格式轉DXF格式存檔,由CAD(DWG)格式分析得出合理的結論。
[0035]在本發明的【具體實施方式】中,所述測量步驟還包括:
[0036]S101,將所述待測零件沿所述三坐標的第一方向或第二方向固定在三坐標測量臺上;
[0037]S102,所述三坐標的探頭檢測待測零件的輪廓;
[0038]S103,將所述輪廓分別存儲為三坐標內部格式和DXF格式。
[0039]通過上述實施方式可以實現對待測零件的測量,並存儲兩種格式,方便後面對再對輪廓數據的比較處理。
[0040]在該種實施方式中,為了實現待測零件的測量,三坐標的探頭與待測零件之間設置有預設距離,所述預設距離的範圍為:0.0lmm-0.2mm。
[0041]在該種優選實施方式中,繪製步驟還包括:
[0042]S201,將所述DXF格式的輪廓通過計算機輔助設計(CAD)軟體打開;
[0043]S202,根據預設的上偏差值與下偏差值繪製所述上偏差和所述下偏差以得到輪廓標準區間。
[0044]通過上述實施方式,由CAD (DffG)格式分析得出合理的結論。
[0045]在該種優選實施方式中,為了讓檢測的效果更加好,上偏差值範圍為:0.0lmm-0.2_,優選地,下偏差值範圍為:0.0lmm-0.2_。
[0046]在該種實施方式中,測量步驟還包括:
[0047]測量待測零件的線性輪廓。
[0048]在本發明的三坐標測輪廓的檢測方法的一種最優選的實施方式中:
[0049]S401,固定零件在三坐標檢測臺上,並延X或Y方向放置需要檢測的輪廓(線性);
[0050]S402,三坐標寶石探頭設置0.0lmm?0.2mm距離延箭頭方向「點擊」零件輪廓;
[0051]S403,存儲在三坐標內部格式(MITUT0Y0),再另存為DXF格式:
[0052]S404,用CAD (DffG)打開,並在CAD (DffG)中確定和繪畫上偏差和下偏差範圍;
[0053]S405,插入原始三坐標(CMM)存檔的DXF在輪廓標準內部,如果沒有出輪廓標準即可判斷輪廓正確,反之判斷失效。
[0054]本發明的三坐標測輪廓的檢測方法可以在一般三坐標(CMM)上檢測輪廓,該種方式精度非常高,方便了操作者的操作且方便操作者學習。
[0055]以上結合附圖詳細描述了本發明的優選實施方式,但是,本發明並不限於上述實施方式中的具體細節,在本發明的技術構思範圍內,可以對本發明的技術方案進行多種簡單變型,這些簡單變型均屬於本發明的保護範圍。
[0056]另外需要說明的是,在上述【具體實施方式】中所描述的各個具體技術特徵,在不矛盾的情況下,可以通過任何合適的方式進行組合,為了避免不必要的重複,本發明對各種可能的組合方式不再另行說明。
[0057]此外,本發明的各種不同的實施方式之間也可以進行任意組合,只要其不違背本發明的思想,其同樣應當視為本發明所公開的內容。
【權利要求】
1.一種三坐標測輪廓的檢測方法,其特徵在於,該方法包括: 測量步驟,固定待測零件以通過三坐標測量所述待測零件的輪廓; 繪製步驟,繪製所述輪廓的上偏差和下偏差以得到輪廓標準區間; 比較步驟,判斷所述輪廓是否在所述輪廓標準區間之內,當所述輪廓在所述輪廓標準區間之內時,則判斷所述輪廓正確;當所述輪廓在所述輪廓標準區間之外,則判斷所測輪廓失效。
2.根據權利要求1所述的三坐標測輪廓的檢測方法,其特徵在於,所述測量步驟還包括: S101,將所述待測零件沿所述三坐標的第一方向或第二方向固定在三坐標測量臺上; S102,所述三坐標的探頭檢測待測零件的輪廓; S103,將所述輪廓分別存儲為三坐標內部格式(MITUTOYO)和DXF格式。
3.根據權利要求2所述的三坐標測輪廓的檢測方法,其特徵在於,所述三坐標的探頭與所述待測零件之間設置有預設距離,所述預設距離的範圍為:0.0lmm-0.2mm。
4.根據權利要求2所述的三坐標測輪廓的檢測方法,其特徵在於,所述繪製步驟還包括: S201,將所述DXF格式的輪廓通過計算機輔助設計(CAD)軟體打開; S202,根據預設的上偏差值與下偏差值繪製所述上偏差和所述下偏差以得到輪廓標準區間。
5.根據權利要求4所述的三坐標測輪廓的檢測方法,其特徵在於,所述上偏差值範圍為:0.0lmm-Q.2mm。
6.根據權利要求4所述的三坐標測輪廓的檢測方法,其特徵在於,所述下偏差值範圍為:0.0lmm-Q.2mm。
7.根據權利要求1所述的三坐標測輪廓的檢測方法,其特徵在於,所述測量步驟還包括: 測量所述待測零件的線性輪廓。
【文檔編號】G01B21/20GK104344801SQ201410549088
【公開日】2015年2月11日 申請日期:2014年10月16日 優先權日:2014年10月16日
【發明者】張建軍, 李昕, 婁慧, 林玉麟 申請人:鎂聯科技(蕪湖)有限公司

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