雷射粒度儀測試粉料處理裝置的製作方法
2023-05-16 10:09:16 1
專利名稱:雷射粒度儀測試粉料處理裝置的製作方法
技術領域:
雷射粒度儀測試粉料處理裝置技術領域[0001 ] 本實用新型涉及一種雷射粒度儀測試粉料處理裝置。
技術背景[0002]目前超細粉末的粒度分布一般使用雷射粒度儀進行測試,被測試完的粉末可由 吸塵器清除,也可直接排放空氣中,但是對於燒結釹鐵硼粉末的測試,釹鐵硼粉末如果 直接排放空氣中或者通過吸塵器清除,均易引發粉末燃燒而引起安全事故。實用新型內容[0003]本實用新型所要解決的技術問題是針對上述現有技術提供一種測試完的粉末不 用直接排放空氣中或者直接用吸塵器清除的雷射粒度儀測試粉料處理裝置。[0004]本實用新型解決上述技術問題所採用的技術方案為該雷射粒度儀測試粉料處 理裝置,其特徵在於包括一過濾裝置和一吸氣裝置,所述過濾裝置的進氣口與雷射粒 度儀的輸出口相連,所述過濾裝置的出氣口與所述吸氣裝置相連。[0005]所述過濾裝置包括一中空殼體,所述中空殼體內設置有間隔設置的第一篩網和 第二篩網,第一篩網和第二篩網之間設置有磁性過濾器,所述進氣口設置在中空殼體與 第一篩網圍成的空間相對應的中空殼體上,所述出氣口設置在中空殼體與所述第二篩網 圍成的空間相對應的中空殼體上。[0006]所述第一篩網和第二篩網為上下間隔設置,所述磁性過濾器豎直設置在所述第 一篩網和第二篩網之間。[0007]所述吸氣裝置為吸塵器。[0008]與現有技術相比,本實用新型的優點在於通過將雷射粒度儀的輸出口後連接 過濾裝置及吸氣裝置,粉料經過過濾裝置過濾後,吸附在過濾裝置中,乾淨的氣體從過 濾裝置的出氣口進入吸氣裝置,能完全避免雷射粒度儀測試粉料過程中引發粉料燃燒而 產生火災的危險。
[0009]圖1為本實用新型實施例中雷射粒度儀測試粉料處理裝置的各部件連接結構示 意圖。[0010]圖2為本實施例中過濾裝置的結構示意圖。
具體實施方式
[0011]
以下結合附圖實施例對本實用新型作進一步詳細描述。[0012]請參見圖1所示的雷射粒度儀測試粉料處理裝置,其包括一過濾裝置1和一吸氣 裝置2,所述過濾裝置1的進氣口 11與雷射粒度儀3的輸出口相連,所述過濾裝置1的出 氣口 12與所述吸氣裝置2相連。[0013]其中,所述過濾裝置1包括一中空殼體13,所述中空殼體13內設置有上下間隔 設置的第一篩網14和第二篩網15,第一篩網14和第二篩網15之間豎直設置磁性過濾器 16,所述進氣口 11設置在中空殼體13與第一篩網14圍成的空間相對應的中空殼體上, 所述出氣口 12設置在中空殼體13與所述第二篩網15圍成的空間相對應的中空殼體上。[0014]所述吸氣裝置3為吸塵器。
權利要求1.雷射粒度儀測試粉料處理裝置,其特徵在於包括一過濾裝置和一吸氣裝置,所 述過濾裝置的進氣口與雷射粒度儀的輸出口相連,所述過濾裝置的出氣口與所述吸氣裝 置相連。
2.根據權利要求1所述的雷射粒度儀測試粉料處理裝置,其特徵在於所述過濾裝 置包括一中空殼體,所述中空殼體內設置有間隔設置的第一篩網和第二篩網,第一篩網 和第二篩網之間設置有磁性過濾器,所述進氣口設置在中空殼體與第一篩網圍成的空間 相對應的中空殼體上,所述出氣口設置在中空殼體與所述第二篩網圍成的空間相對應的 中空殼體上。
3.根據權利要求2所述的雷射粒度儀測試粉料處理裝置,其特徵在於所述第一篩 網和第二篩網為上下間隔設置,所述磁性過濾器豎直設置在所述第一篩網和第二篩網之 間。
4.根據權利要求1、2或3所述的雷射粒度儀測試粉料處理裝置,其特徵在於所述 吸氣裝置為吸塵器。
專利摘要本實用新型涉及一種雷射粒度儀測試粉料處理裝置,其特徵在於包括一過濾裝置和一吸氣裝置,所述過濾裝置的進氣口與雷射粒度儀的輸出口相連,所述過濾裝置的出氣口與所述吸氣裝置相連。與現有技術相比,本實用新型的優點在於通過將雷射粒度儀的輸出口後連接過濾裝置及吸氣裝置,粉料經過過濾裝置過濾後,吸附在過濾裝置中,乾淨的氣體從過濾裝置的出氣口進入吸氣裝置,能有效避免雷射粒度儀測試粉料過程中引發粉料燃燒而產生火災的危險。
文檔編號G01N15/02GK201811905SQ20102050621
公開日2011年4月27日 申請日期2010年8月23日 優先權日2010年8月23日
發明者徐文正, 歐陽習科 申請人:包頭韻升強磁材料有限公司, 寧波韻升磁體元件技術有限公司, 寧波韻升股份有限公司, 寧波韻升高科磁業有限公司