一種測試電源的保護電路的製作方法

2023-05-01 03:36:56 1

專利名稱：一種測試電源的保護電路的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種保護電路，特別是涉及應用於以低電壓供電的電子裝置的生
產測試場合中，對供電電源和供電電子裝置進行保護的電路。
背景技術：
在以低電壓供電的電子裝置的生產測試中，為了提高生產效率，供電電源通常處於 常開狀態，電源通過測試器具或插件直接連接電子裝置進行供電測試，在實際測試過程中，一 般不會在測試治具或插件與被測試裝置連接正常後才打開電源測試，因此就要求保護電路不 但實現對電源的保護，還要同時保護被測試裝置不會出現新的故障，以免擴大故障範圍。 在現有技術中，傳統測試電源的保護電路的工作過程如下如果檢測到過流則切 斷電源，待過流狀態解除後，被測試裝置重新通電，而後又重新檢測過流，形成一個不斷循 環的通電、斷電的保護電路，但是，現有保護電路存在的缺陷是電路處於保護狀態時，工作 電流比較大，以致易於對電源或被測試裝置造成損壞。

實用新型內容本實用新型的目的是提供一種能夠在保護狀態時有效保護供電電源和被測試裝 置不受損壞的測試電源的保護電路。 本實用新型的目的可以通過以下的技術措施來實現，一種測試電源的保護電路， 包括電源的輸入端Pl和電源的輸出端P2，其特徵在於還包括PNP電晶體Ql及Q4、 NPN晶 體管Q2及Q3、電阻Rl、 R2、 R3、 R4、 R5、 R6及R7， PNP電晶體Ql的發射極與電源輸入端Pl 的正極連接，其基極通過電阻R1與電源輸出端P2的正極連接，PNP電晶體Q1的集電極通 過電阻R2接地並通過旁路電阻R3與NPN電晶體Q2的基極連接，NPN電晶體Q2的發射極 接地，其集電極分別與NPN電晶體Q3的基極、電阻R4連接，電阻R4的另一端與電源輸入端 Pl的正極連接，NPN電晶體Q3的發射極接地，其集電極通過電阻R5與PNP電晶體Q4的基 極連接，PNP電晶體Q4的發射極連接電源輸入端P1的正極，其集電極通過電阻R6與電源 輸出端P2的正極連接，電阻R7串聯在電源輸入端P1的正極與電源輸出端P2的正極之間。 本實用新型可以做以下改進，在PNP電晶體Q1的發射極與基極之間連接有電容 Cl。電容C1可用於防止誤保護動作的發生。 與現有技術相比，本實用新型的優點是必須在空載狀態下才能恢復正常的連通 供電，而在保護狀態下一直保持斷開電源供給負載，只有移除負載後才能自動恢復連通供 電而等待其它負載使用，可有效保護供電電源和負載裝置，與現有電源保護電路相比，在處 於保護狀態時，不會產生工作電流大的問題，從而避免了由於工作電流大而損壞電源或被 測試裝置的現象發生。
以下結合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步的詳細說明。[0009]

圖1為本實用新型的電路組成圖。
具體實施方式
如圖1所示，本實用新型一種測試電源的保護電路，包括電源的輸入端P1和電源 的輸出端P2，還包括PNP電晶體Ql及Q4、 NPN電晶體Q2及Q3、電阻Rl、 R2、 R3、 R4、 R5、 R6 及R7， PNP電晶體Q1的發射極與電源輸入端P1的正極連接，其基極通過電阻R1與電源輸 出端P2的正極連接，PNP電晶體Ql的集電極通過電阻R2接地並通過旁路電阻R3與NPN晶 體管Q2的基極連接，NPN電晶體Q2的發射極接地，其集電極分別與NPN電晶體Q3的基極、 電阻R4連接，電阻R4的另一端與電源輸入端Pl的正極連接，NPN電晶體Q3的發射極接地， 其集電極通過電阻R5與PNP電晶體Q4的基極連接，PNP電晶體Q4的發射極連接電源輸入 端Pl的正極，其集電極通過電阻R6與電源輸出端P2的正極連接，電阻R7串聯在電源輸入 端P1的正極與電源輸出端P2的正極之間。 在正常工作時，電源由電源輸入端P1的正極輸入，通過阻值比較大的電阻R7以小 電流輸入至電源輸出端P2的正極，此時，只要電源輸出端P2沒有連接負載，電源輸出端P2 的電壓與電源輸入端Pl的電壓相同，電源輸出端P2的電壓通過電阻Rl提供至PNP電晶體 Ql的基極，PNP電晶體Ql的基極的電壓和連接到電源輸入端Pl的發射極的電壓相同，PNP 電晶體Ql的集電極與發射極被置於非工作狀態(截止狀態)，PNP電晶體Ql的集電極通過 接地電阻R2使集電極的電壓為0伏，通過連接於PNP電晶體Ql的集電極與NPN電晶體Q2 的基極之間的電阻R3使NPN電晶體Q2的基極的電壓為0伏，NPN電晶體Q2的集電極與發 射極處於截止狀態，連接到電源輸入端P1的電阻R4提供到NPN電晶體Q3的基極的電壓不 受NPN電晶體Q2的影B向，由電阻R4提供的NPN電晶體Q3基極電流控制NPN電晶體Q3的 集電極和發射極導通，通過電阻R5提供作為開關管的PNP電晶體Q4的基極電流，PNP晶體 管Q4的集電極與發射極完全導通後，輸入到電源輸入端P1的電源通過PNP電晶體Q4的發 射極連通到集電極，再通過大功率小阻值的電阻R6輸入到電源輸出端P2輸出電源。 當負載出現異常時，例如負載短路或者負載過重時，由於電源輸出端P2的電源由 電阻R6和電阻R7提供的電流不能使電源輸入端Pl和電源輸出端P2的電壓基本相同，此 時電源輸入端Pl和電源輸出端P2的電壓差超過PNP電晶體Ql的導通值，由電阻Rl提供 的PNP電晶體Ql的基極電流促使PNP電晶體Ql導通，由於電阻R2的阻值比較大，PNP晶體 管Q1的集電極與發射極導通而被拉高電壓，通過電阻R3提供NPN電晶體Q2的基極電流， NPN電晶體Q2的集電極與發射極導通，電阻R4提供給NPN電晶體Q3基極的電壓被NPN晶 體管Q2拉低，NPN電晶體Q3截止，PNP電晶體Q4的基極電流被切斷，PNP電晶體Q4的集電 極與發射極截止，由電源輸入端Pl通過PNP電晶體Q4和電阻R6連通到電源輸出端P2的 電源被切斷，由電阻R7流到電源輸出端P2的電流非常小，電源輸出端P2的電壓被負載完 成拉低，更加促使PNP電晶體Q4在負載沒有移除之前一直不會導通，此時電源的負載電流 和負載設備的電流非常小，從而達到保護電源和負載設備的作用。 由於負載會帶有電解電容等瞬間充電電流很大的器件，電源輸出端P2在空載到 加負載的一瞬間會造成電源輸出端P2的電壓下降，PNP電晶體Q1—旦被導通就會切斷電源 輸出端P2的供電，此時就會產生誤保護動作，為了防止誤保護動作的發生，在本實施例中， 在PNP電晶體Q1的基極與發射極之間連接了一電容C1，因為電容C1與電阻R1的充電延時，電源輸出端P2的電壓瞬間下降不會被保護，只有電壓下降時間超過電阻Rl對電容Cl 的充電延時時間才會發生保護，這樣就有效防止了產生誤保護動作。 在本實用新型電源保護電路中，可以通過調整電阻R6的阻值實現需要的過流保 護電流值。
權利要求一種測試電源的保護電路，包括電源的輸入端(P1)和電源的輸出端(P2)，其特徵在於還包括PNP電晶體(Q1、Q4)、NPN電晶體(Q2、Q3)、電阻(R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7)，PNP電晶體(Q1)的發射極與電源輸入端(P1)的正極連接，其基極通過電阻(R1)與電源輸出端(P2)的正極連接，PNP電晶體(Q1)的集電極通過電阻(R2)接地並通過旁路電阻(R3)與NPN電晶體(Q2)的基極連接，NPN電晶體(Q2)的發射極接地，其集電極分別與NPN電晶體(Q3)的基極、電阻(R4)連接，電阻(R4)的另一端與電源輸入端(P1)的正極連接，NPN電晶體(Q3)的發射極接地，其集電極通過電阻(R5)與PNP電晶體(Q4)的基極連接，PNP電晶體(Q4)的發射極連接電源輸入端(P1)的正極，集電極通過電阻(R6)與電源輸出端(P2)的正極連接，電阻(R7)串聯在電源輸入端(P1)的正極與電源輸出端(P2)的正極之間。
2. 根據權利要求1所述的測試電源的保護電路，其特徵在於在PNP電晶體(Ql)的發 射極與基極之間連接有電容(Cl)。
專利摘要一種測試電源的保護電路，電晶體(Q1)發射極連接電源輸入端(P1)，基極通過電阻(R1)連接電源輸出端(P2)，電晶體(Q1)集電極通過電阻(R2)接地並通過電阻(R3)與電晶體(Q2)基極連接，電晶體(Q2)發射極接地，集電極分別與電晶體(Q3)的基極、電阻(R4)連接，電阻(R4)的另一端連接電源輸入端(P1)，電晶體(Q3)的發射極接地，其集電極通過電阻(R5)與電晶體(Q4)的基極連接，電晶體(Q4)的發射極連接電源輸入端(P1)，集電極通過電阻(R6)連接電源輸出端(P2)，電阻(R7)串聯在電源輸入輸出端(P1、P2)之間。移除負載後才能自動恢復供電可有效保護電源和負載裝置。
文檔編號H02H3/08GK201450307SQ20092005807
公開日2010年5月5日 申請日期2009年6月9日 優先權日2009年6月9日
發明者李錦靈 申請人:廣州易邇達電子有限公司