一種永磁體磁通密度溫度係數的測試系統的製作方法

2023-04-25 18:07:56 2

一種永磁體磁通密度溫度係數的測試系統的製作方法
【專利摘要】本發明公開了一種永磁體磁通密度溫度係數的測試系統，該測試系統包括樣品室，內置於樣品室的樣品臺，以及用於檢測樣品的探測裝置，所述樣品臺帶有至少兩個樣品盛放區，所述測試系統還包括調節探測裝置工作位置的調節機構。該測試系統的樣品臺上具有多個樣品盛放區，一次高低溫循環過程可以同時對樣品臺上所有樣品盛放區內的樣品進行高低溫循環，然後依次測量每個樣品盛放區內的樣品。本發明的永磁體磁通溫度係數的測試系統有利於縮短多個樣品的測試時間，提高測試效率。
【專利說明】一種永磁體磁通密度溫度係數的測試系統
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種磁性材料的測試領域，尤其涉及一種永磁體磁通密度溫度係數的測試系統。
【背景技術】
[0002]永磁材料作為重要的電子元器件，廣泛的用於先進武器裝備中，永磁材料本身的溫度穩定性直接決定了整個武器裝備的穩定性和可靠性。磁通量(即磁通)為穿過某一面積的磁力線數目，磁通溫度係數是衡量一種永磁材料溫度穩定性的一個重要指標，所以檢測永磁體磁通溫度係數具有重要意義。磁通密度(即磁通量密度)從數量上反映磁力線的疏密程度，為單位面積的磁通量，因此，可以採用磁通密度溫度係數來衡量一種永磁材料溫度穩定性。
[0003]
【發明者】孫穎莉 申請人:中國科學院寧波材料技術與工程研究所