恆溫晶體振蕩器拐點電阻測試系統的製作方法

2023-04-22 18:33:06

專利名稱：恆溫晶體振蕩器拐點電阻測試系統的製作方法
技術領域：
恆溫晶體振蕩器拐點電阻測試系統技術領域[0001]本實用新型涉及恆溫晶體振蕩器，特別是一種恆溫晶體振蕩器拐點電阻測試系統。
背景技術：
[0002]目前，在恆溫晶體振蕩器傳統生產製造工藝中，人們常常需要採用手動調整拐點電阻值的方法來尋找晶體的拐點溫度，以期達到最好的頻率穩定度指標，尤其是溫度穩定度，因為在晶體振蕩器恆溫溫度下的頻率穩定度最高。而現有對恆溫晶體振蕩器的拐點調試和測試過程較為複雜，為達到標稱的頻率穩定度和精度，在恆溫晶體振蕩器生產中須針對元器件的離散性，進行多項繁瑣而又嚴格的調試和測試，批量生產時較繁瑣。手工調測效率低，精度差，難以滿足要求。實用新型內容[0003]為實現恆溫晶體振蕩器生產中調試的精確化、測試的自動化及成品檢驗的計算機化，本實用新型提供一種利用計算機實現恆溫晶體振蕩器拐點電阻的自動批量化調試，以找到恆溫晶體振蕩器恆溫溫度的恆溫晶體振蕩器拐點電阻測試系統。[0004]本實用新型採用的技術方案是:[0005]一種恆溫晶體振蕩器拐點電阻測試系統，包括電源、測試控制板、頻率測量儀、計算機，所述測試控制板上允許有多個通過選通開關控制接通的測試單元，每個測試單元均由待測試的恆溫晶體振蕩器和與恆溫晶體振蕩器連接的橋路電阻組成，所述橋路電阻是兩個並聯的數字電位器；所述計算機與測試控制板上的選通開關並口連接，與橋路電阻中的數字電位器串口連接，計算機通過PIC-D10-96卡自動採集數據；所述頻率測量儀與恆溫晶體振蕩器連接，並通過GPIB接口總線與所述計算機連接。[0006]更進一步:[0007]所述數字電位器是MAX5477-79，其中一個阻值為10K，另一個阻值為100K，數字電位器MAX5477-79的阻值變化由計算機利用VB編程程序控制。[0008]所述計算機VB編程程序的編寫採用單片機VB + Access資料庫模式，資料庫驅動弓I擎採用ODBC模式，通過編程程序控制數字電位器MAX5477-79的電阻值，並對不同電阻值下的產品頻率進行記錄，存放在資料庫內。[0009]本系統中，計算機向測試控制板發送唯一的地址碼，測試控制板中的選通開關根據接收到的地址編碼選通待測恆溫產品位置。頻率測量儀讀取每一個晶體振蕩器的頻率，計算機根據頻率測量儀測得的數據擬合晶體振蕩器溫頻特性曲線，並計算得出振蕩器拐點時的電阻值。[0010]另外，本系統中所述的測試控制板可以設置多個，系統通過多組數碼器和多路開關可以同時選通不同測試控制板上的晶體振蕩器，實現多個晶體振蕩器的頻率數據同時採集，並對採集到的頻率數據進行分析比較，擬合計算最佳拐點電阻值。[0011]與現有技術相比，本實用新型的優勢在於:拐點電阻的自動調整、頻率曲線的測量全部由計算機進行處理，快速、高效、自動，實現了恆溫晶體振蕩器拐點電阻的自動批量化調試，可以縮短恆溫晶體振蕩器的開發周期，降低恆溫晶體振蕩器的製作成本，更有利於恆溫晶體振蕩器產品的大批量生產。


[0012]圖1是本實用新型系統框圖。[0013]圖2是圖1中橋路電阻連接示意圖。[0014]圖3是本實用新型系統工作流程圖。
具體實施方式
[0015]下面結合實施例對本實用新型作進一步說明，目的僅在於更好地理解本實用新型內容。因此，所舉實施例並不限制本實用新型的保護範圍。[0016]參見圖1，這種恆溫晶體振蕩器拐點電阻測試系統由電源、頻率測量儀、計算機和測試控制板組成，測試控制板設置有多個測試單元，每個測試單元均由待測試的恆溫晶體振蕩器和與恆溫晶體振蕩器連接的橋路電阻組成。[0017]參見圖2，橋路電阻是兩個並聯的數字電位器MAX5477-79，其中一個阻值為10K，另一個阻值為100K，IOK阻值電位器粗略調節拐點阻值大小，100K阻值電位器精細調節拐點阻值大小。[0018]仍參見圖1、圖2，測試控制板上有與待測試的恆溫晶體振蕩器連接的選通開關，計算機與所述選通開關並口連接，與橋路電阻中的數字電位器串口連接，計算機通過PIC-DIO卡自動採集數據；頻率測量儀與恆溫晶體振蕩器連接，並通過GPIB接口總線與計算機的RS232串行接口連接；電源與測試控制板中的恆溫晶體振蕩器連接，為恆溫晶體振蕩器提供工作電壓。[0019]本系統中，計算機通過PIC-DIO卡向測試控制板發送唯一的地址碼，測試控制板中的選通開關根據接收到的地址碼，選通待測恆溫晶體振蕩器的位置，通過串口 I2C數據總線向橋路電阻中的數字電位器MAX5477-79發送數據指令。當待測恆溫晶體振蕩器選通、橋路電阻確定後，頻率測量儀自動讀取恆溫晶體振蕩器的頻率，由GPIB接口總線傳遞給計算機，計算機根據測量得到的數據擬合晶體振蕩器溫頻特性曲線，並計算得出振蕩器拐點時的電阻值。[0020]本系統中，數字電位器MAX5477-79的阻值變化是由計算機利用VB編程程序控制的，計算機VB編程程序的編寫採用單片機VB + Access資料庫模式，資料庫驅動引擎採用ODBC模式，通過編程程序控制數字電位器MAX5477-79的阻值變化，並對不同電阻值下的產品頻率進行記錄，存放在資料庫內。[0021]參見圖3，本系統工作流程是:[0022]首先計算機對系統進行初始化，然後向測試控制板發送地址碼，測試控制板上的選通開關選擇具體的待測恆溫產品，並控制頻率測量儀進行測試，頻率測量儀將測試的頻率通過GPIB接口總線傳輸到計算機，並把測試結果保存在VB + Access資料庫模式內，計算機根據測的的頻率數據多項式擬合計算出拐點阻值。[0023]具體而言，主要包括:[0024]①測試過程開始，包括放好待測恆溫產品，啟動電源，所有部件處於啟動狀態；[0025]②啟動設置程序，進入用戶測試界面；[0026]③用戶設置初始參數，即設定初始橋路電阻的大小及數字電位器的步進值；[0027][④設定測試需要的浸泡時間及狀態；[0028]⑤開始測試；[0029]⑥循環測試，直至過程結束；[0030]⑦數據分析，程序根據數據表中的數據進行最小二乘法擬合，計算出最佳的拐點電阻值；[0031]⑧測試完成。
權利要求1.一種恆溫晶體振蕩器拐點電阻測試系統，包括電源、測試控制板、頻率測量儀、計算機，其特徵在於，所述測試控制板上允許有多個通過選通開關控制接通的測試單元，每個測試單元均由待測試的恆溫晶體振蕩器和與恆溫晶體振蕩器連接的橋路電阻組成，所述橋路電阻是兩個並聯的數字電位器；所述計算機與測試控制板上的選通開關並口連接，與橋路電阻中的數字電位器串口連接，計算機通過PIC-D10-96卡自動採集數據；所述頻率測量儀與恆溫晶體振蕩器連接，並通過GPIB接口總線與所述計算機連接。
2.根據權利要求1所述的恆溫晶體振 蕩器拐點電阻測試系統，其特徵在於，所述數字電位器是MAX5477-79，其中一個阻值為10K，另一個阻值為100K。
專利摘要本實用新型涉及恆溫晶體振蕩器，特別是一種恆溫晶體振蕩器拐點電阻測試系統。包括電源、測試控制板、頻率測量儀、計算機，所述測試控制板上允許有多個通過選通開關控制接通的測試單元，每個測試單元均由待測試的恆溫晶體振蕩器和與恆溫晶體振蕩器連接的橋路電阻組成，所述橋路電阻是兩個並聯的數字電位器；所述計算機與測試控制板上的選通開關並口連接，與橋路電阻中的數字電位器串口連接，計算機通過PIC-DIO-96卡自動採集數據；所述頻率測量儀與恆溫晶體振蕩器連接，並通過GPIB接口總線與所述計算機連接。本實用新型實現了恆溫晶體振蕩器拐點電阻的自動批量化調試，提高了調試精度，節省人工成本，提高生產效率。
文檔編號G01R27/02GK202975165SQ20122070841
公開日2013年6月5日 申請日期2012年12月19日 優先權日2012年12月19日
發明者陳建松, 王一民, 張貽海, 呂振興, 崔立志 申請人:同方國芯電子股份有限公司