多路igbt模塊測試夾具的製作方法

2023-09-23 20:23:50 2

多路igbt模塊測試夾具的製作方法
【專利摘要】本實用新型涉及多路IGBT模塊測試夾具，包括平臺、左定位板、右定位板、後定位板、左側壁和右側壁，其特徵是左定位板、右定位板和後定位板分別設置在平臺上表面的左、右和後端，左定位板、右定位板可以沿平臺的上表面左右移動，後定位板可以沿平臺的上表面前後移動，左側壁和右側壁分別垂直固定在平臺的兩端，導軌固定板的兩端分別與左側壁和右側壁連接，導軌固定板上設置有導軌和支架，支架上設置有升降機構，探針座的底板上設置有探針槽口，探針槽口與IGBT模塊探針相應布置，探針座的頂板上設置有導柱和導杆，導柱與導軌滑動配合，導杆與升降機構連接。本實用新型結構簡單、使用方便、操作容易並且能同時進行多路測試。
【專利說明】
多路IGBT模塊測試夾具
技術領域
[0001]本實用新型涉及測試工裝，具體而言是多路IGBT模塊測試夾具。
【背景技術】
[0002]IGBT模塊(Insulated Gate Bipolar Transistor)，又稱絕緣棚.雙極型電晶體，廣泛地被應用於實踐。為了判斷其可靠性，必須進行參數檢測。現有的測試過程通常採用測試夾子連接引腳單路測試，其弊端如下:一是測試夾子為了保證接觸性通常都做得比較緊湊，而IGBT模塊的引腳又比較脆弱，操作時容易傷害引腳；二是夾子接觸面較小，影響測試精度;三是多路IGBT模塊分別進行測試時，因為引腳很多，存在極性測錯的隱患；四是每個單路分別測試，耗費大量人工成本，工作效率低下。因此，設計出結構簡單、使用方便、操作容易並且能同時進行多路測試的多路IGBT模塊測試夾具十分必要。

【發明內容】

[0003]本實用新型的目的是提供一種結構簡單、使用方便、操作容易並且能同時進行多路測試的多路IGBT模塊測試夾具。
[0004]為實現上述目的，本實用新型採用如下技術方案:一種多路IGBT模塊測試夾具，包括平臺、左定位板、右定位板、後定位板、左側壁和右側壁，其特徵是左定位板、右定位板和後定位板分別設置在平臺上表面的左、右和後端，左定位板、右定位板可以沿平臺的上表面左右移動，後定位板可以沿平臺的上表面前後移動，左側壁和右側壁分別垂直固定在平臺的兩端，導軌固定板的兩端分別與左側壁和右側壁連接，導軌固定板上設置有導軌和支架，支架上設置有升降機構，探針座的底板上設置有探針槽口，探針槽口與IGBT模塊探針相應布置，探針座的頂板上設置有導柱和導杆，導柱與導軌滑動配合，導杆與升降機構連接。
[0005]進一步地:所述探針槽口的數量為30個。
[0006]採用本實用新型，可以使被測IGBT模塊準確定位和探針座垂直升降，從而有效保證了探針槽口與被測IGBT模塊的引腳順利接插和拔出。本實用新型結構簡單、使用方便、操作容易並且能同時進行多路測試。
【附圖說明】

[0007]圖1是本實用新型結構不意圖；
[0008]圖2是圖1的A-A向視圖；
[0009]圖3是圖2的俯視圖；
[0010]圖4是圖2的左視圖；
[0011 ]圖5是本實用新型的探針座的仰視圖。
[0012]圖中:1-平臺；2.1-左定位板;2.2-右定位板;2.3-後定位板;3.1-左側壁;3.2-右側壁;4-導軌固定板;5-導軌;6-支架;7-升降機構;8-探針座;9-探針槽口 ； 10-導柱；11-導杆。
【具體實施方式】
[0013]以下結合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步的詳細描述，但該實施例不應理解為對本實用新型的限制。
[0014]圖中所示的多路IGBT模塊測試夾具，包括平臺1、左定位板2.1、右定位板2.2、後定位板2.3、左側壁3.1和右側壁3.2，左定位板2.1、右定位板2.2和後定位板2.3分別設置在平臺I上表面的左、右和後端，左定位板2.1、右定位板2.2可以沿平臺I的上表面左右移動，後定位板2.3可以沿平臺I的上表面前後移動，左側壁3.1和右側壁3.2分別垂直固定在平臺I的兩端，導軌固定板4的兩端分別與左側壁3.1和右側壁3.2連接，導軌固定板4上設置有導軌5和支架6，支架6上設置有升降機構7，探針座8的底板上設置有探針槽口 9，探針槽口 9與IGBT模塊探針相應布置，探針座8的頂板上設置有導柱10和導杆11，導柱10與導軌5滑動配合，導杆11與升降機構7連接。
[0015]優選的實施例是:在上述方案中，所述探針槽口9的數量為30個。
[0016]本實用新型工作時，先將升降機構7升起，再將IGBT模塊引腳向上放置在平臺I的上表面上，調節左定位板2.1、右定位板2.2和後定位板2.3使IGBT模塊定位，緩慢地放下升降機構7，各探針槽口與對應的被測IGBT模塊弓I腳順利接插，進行IGBT模塊的測試。測試完成後，先將升降機構7升起，再移動左定位板2.1或者右定位板2.2，退出被測IGBT模塊。
[0017]本實用新型可以一次完成IGBT模塊的6路測試。
[0018]本說明書中未作詳細描述的內容，屬於本專業技術人員公知的現有技術。
【主權項】
1.一種多路IGBT模塊測試夾具，包括平臺(I)、左定位板(2.1)、右定位板(2.2)、後定位板(2.3)、左側壁(3.1)和右側壁(3.2)，其特徵在於:左定位板(2.1)、右定位板(2.2)和後定位板(2.3)分別設置在平臺(I)上表面的左、右和後端，左定位板(2.1)、右定位板(2.2)可以沿平臺(I)的上表面左右移動，後定位板(2.3)可以沿平臺(I)的上表面前後移動，左側壁(3.1)和右側壁(3.2)分別垂直固定在平臺(I)的兩端，導軌固定板(4)的兩端分別與左側壁(3.1)和右側壁(3.2)連接，導軌固定板(4)上設置有導軌(5)和支架(6)，支架(6)上設置有升降機構(7)，探針座(8)的底板上設置有探針槽口(9)，探針槽口(9)與IGBT模塊探針相應布置，探針座(8)的頂板上設置有導柱(10)和導杆(11)，導柱(10)與導軌(5)滑動配合，導杆(11)與升降機構(7)連接。2.根據權利要求1所述的多路IGBT模塊測試夾具，其特徵在於:所述探針槽口(9)的數量為30個。
【文檔編號】G01R31/26GK205720314SQ201620532118
【公開日】2016年11月23日
【申請日】2016年6月2日
【發明人】何丹, 陳錦勇, 張建宏, 薛淑秀, 潘兆雲, 郭曉麗
【申請人】湖北航天技術研究院計量測試技術研究所