一種pcie總線傳輸測試方法

2023-12-05 09:04:21

一種pcie總線傳輸測試方法
【專利摘要】本發明涉及一種PCIE總線傳輸測試方法，包括將採集板卡插在根據PCI-SIG設計規範製作的標準治具上，然後用SpeedToggleButton切換PCIE接口的數據速率測試目標值。採用本發明對總線傳輸質量進行驗證更加可靠，每次傳輸數據包傳輸量更大。
【專利說明】一種PC IE總線傳輸測試方法

【技術領域】
[0001] 本發明涉及一種PCIE總線傳輸測試方法。

【背景技術】
[0002] PCI Express總線傳輸質量和速率是本課題設計的最主要的性能指標，是使系統 適用於大面陣紅外焦平面探測器圖像採集與測試應用的關鍵，因此，對PCIE總線傳輸性能 進行全面的測試驗證非常重要。


【發明內容】

[0003] 針對上述問題，本發明的目的是提供一種採用了美國Tektronix公司高帶寬示波 器TEK DSA71254對設計實現的PCIE傳輸鏈路的性能測試。
[0004] 為實現上述目的，本發明採取以下技術方案：包括將採集板卡插在根據PCI-SIG 設計規範製作的標準治具上，然後用Speed Toggle Button切換PCIE接口的數據速率測試 目標值。
[0005] 進一步地，所述"用Speed Toggle Button切換PCIE接口的數據速率測試目標值" 具體包括：給TEK DSA71254設定以下參數：偽隨機數據速率為5. 0GT/s，單元間隔為200ps， 最小允許交叉時間為120ps，根據PCI-SIG規範要求，測試Π 數為1000000個，最大允許峰 峰抖動為8ps，參數設置完成後進行多次測量，在示波器內置軟體系統中。
[0006] 本發明由於採取以上技術方案，其具有以下優點： 1.採用眼圖測試對總線傳輸質量進行驗證更加可靠。
[0007] 2.每次傳輸數據包傳輸量更大。
[0008] 3.眼圖整體形態比較端正，這表明鏈路整體傳輸性能較好。
[0009] 4.完全滿足了大面陣甚至是超大面陣紅外焦平面陣列的圖像採集和測試需求。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010] 圖1是本發明的鏈路眼圖實際測試圖； 圖2是本發明總線傳輸測試統計數據關係曲線中數據包大小與傳輸速率的關係曲線； 圖3是本發明總線傳輸測試統計數據關係曲線中每次傳輸數據包數與傳輸速率的關 系曲線。

【具體實施方式】
[0011] 下面結合附圖和實施例對本發明的進行詳細的描述。
[0012] 如圖1所示，本發明包括將採集板卡插在根據PCI-SIG設計規範製作的標準治具 上，然後用Speed Toggle Button切換PCIE接口的數據速率測試目標值。給TEK DSA71254 設定以下參數：偽隨機數據速率為5. 0 GT/s，單元間隔（UI)為200ps，最小允許交叉時間為 120ps，根據PCI-SIG規範要求，測試Π 數為1000000個，最大允許峰峰抖動（RMS)為8ps。 參數設置完成後進行多次測量，在示波器內置軟體系統中，得到如圖1所示的實際測試眼 圖。從實測結果中可以看到，在最高速率的測試比特流傳輸過程中，眼圖張開幅度較大，信 號有一定程度的變形，表示信號存在傳輸和信號偏斜，但"眼線"清晰，眼圖整體形態比較端 正，這表明鏈路整體傳輸性能較好。分析示波器導出的實測數據報表，可以看到眼圖測試的 具體結果參數列表，如表1所示。表1

【權利要求】
1. 一種PCIE總線傳輸測試方法，其特徵在於，包括將採集板卡插在根據PCI-SIG設計 規範製作的標準治具上，然後用Speed Toggle Button切換PCIE接口的數據速率測試目標 值。
2. 根據權利要求1所述的PCIE總線傳輸測試方法，其特徵在於，所述"用Speed Toggle Button切換PCIE接口的數據速率測試目標值"具體包括：給TEK DSA71254設定以下參數： 偽隨機數據速率為5. OGT/s，單元間隔為200ps，最小允許交叉時間為120ps，根據PCI-SIG 規範要求，測試Π 數為1000000個，最大允許峰峰抖動為8ps，參數設置完成後進行多次測 量，在示波器內置軟體系統中。
【文檔編號】G06F11/26GK104268048SQ201410482067
【公開日】2015年1月7日 申請日期:2014年9月19日 優先權日:2014年9月19日
【發明者】黎威志, 楊光金, 李寧亮, 王健波 申請人:電子科技大學