一種基板宏觀檢測的製造方法
2023-06-01 00:31:56 2
一種基板宏觀檢測的製造方法
【專利摘要】本實用新型提供一種基板宏觀檢測機，屬於顯示裝置製造【技術領域】，其可解決現有的基板宏觀檢測機容易造成視覺盲點進而影響操作人員正常判斷宏觀缺陷的問題。本實用新型的基板宏觀檢測機包括兩個相對設置的邊框和多個支撐杆，每個支撐杆的兩端分別設於兩個相對設置的邊框上，支撐杆上設有多個用於吸附基板的吸附單元，其中，兩邊框的多個相對位置設有多個用於固定支撐杆的固定結構，所述基板宏觀檢測機還包括用於驅動支撐杆在不同位置的固定結構間運動的支撐杆運動單元。本實用新型可用於對基板上的缺陷進行檢測。
【專利說明】一種基板宏觀檢測機
【技術領域】
[0001]本實用新型屬於顯示裝置製造【技術領域】，具體涉及一種基板宏觀檢測機。
【背景技術】
[0002]在薄膜電晶體液晶顯不器(ThinFilm Transistor Liquid Crystal Display,簡稱TFT-LCD)生產過程中，需要使用宏觀檢測機對玻璃基板上的mura (顯示器亮度不均)類缺陷進行檢測。宏觀檢測機的機臺為長方形的框架結構，框架結構的邊框上設有用於承重的支撐杆，支撐杆上設有用於吸附玻璃基板的吸附墊。當玻璃基板的尺寸較大(比如8.5代線的玻璃基板)以及重量較重時，相應地，支撐杆與吸附墊的尺寸和數量也要相應增加。目前，對玻璃基板(比如彩膜基板)進行檢測是由操作人員操作宏觀檢測機進行人眼檢測。當操作人員發現缺陷時，將宏觀檢測機機臺調成與地面垂直的狀態，利用與玻璃基板垂直的光源照射玻璃基板，從而判斷該缺陷是否引起漏光。
[0003]發明人發現現有技術中至少存在如下問題:當操作員在檢測大尺寸玻璃基板時，由於支撐杆尺寸大以及吸附墊數量多，缺陷有很大的概率出現在吸附墊或支撐杆的位置上。此時，吸附墊或支撐杆對光源的光線形成遮擋，光線無法垂直照射到缺陷上，從而造成了視覺盲點的出現，導致操作員無法觀察、判斷此缺陷是否漏光，影響了操作人員對宏觀缺陷的正常判斷。
實用新型內容
[0004]本實用新型所要解決的技術問題包括，針對現有的宏觀檢測機容易造成視覺盲點進而影響操作人員正常判斷宏觀缺陷的問題，提供一種消除視覺盲點的基板宏觀檢測機。
[0005]解決本實用新型技術問題所採用的技術方案一種基板宏觀檢測機，包括兩個相對設置的邊框和多個支撐杆，每個支撐杆的兩端分別設於兩個相對設置的邊框上，支撐杆上設有多個用於吸附基板的吸附單元，其中，
[0006]兩邊框的多個相對位置設有多個用於固定支撐杆的固定結構，所述基板宏觀檢測機還包括用於驅動支撐杆在不同位置的固定結構間運動的支撐杆運動單元。
[0007]本實用新型的基板宏觀檢測機包括支撐杆運動單元，當基板上的宏觀缺陷被支撐杆遮住時，支撐杆運動單元驅動該支撐杆改變位置，從而操作人員能夠對上述宏觀缺陷進行正常判斷，確定該宏觀缺陷是否會引起漏光，進而降低了操作員出現錯檢與漏檢的可能，提升了宏觀缺陷檢測的準確率，保證了產品的質量。
[0008]優選的是，兩個所述邊框相互平行。
[0009]優選的是，所述邊框長度方向上具有槽型結構，所述固定結構為沿邊框長度方向分布的卡接結構，所述卡接結構設於所述槽型結構上，所述槽型結構由彈性材料製成。
[0010]進一步優選的是，所述卡接結構為相對的凹陷部，所述支撐杆的端部設有與凹陷部相配合的凸起，所述凹陷部用於固定支撐杆。
[0011]更進一步優選的是,所述運動單元包括驅動單元和對位元件,所述對位元件設有用於和所述凹陷部配合的對位凸起，所述對位元件與所述支撐杆連接，所述驅動單元用於驅動對位元件在所述不同位置的凹陷部之間運動。
[0012]再優選的是，所述驅動單元包括汽缸，所述汽缸設於所述邊框內。
[0013]優選的是，多個所述吸附單元在支撐杆的長度方向上均勻間隔設置。
[0014]優選的是，所述支撐杆的一側表面設有滑槽，滑槽中設有移動板，移動板表面設有所述吸附單元，且移動板能沿所述滑槽移動。
[0015]進一步優選的是，所述基板宏觀檢測機還包括移動板運動單元，所述移動板運動單元與所述移動板連接，用於驅動移動板沿所述滑槽移動。
[0016]優選的是，所述吸附單元包括吸附盤或吸附墊。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0017]圖1為本實用新型的實施例1的宏觀檢測機的邊框和支撐杆的結構示意圖；
[0018]圖2為本實用新型的實施例1的邊框和支撐杆的組裝的結構示意圖；
[0019]圖3為本實用新型的實施例1的支撐杆和支撐杆運動單元的結構示意圖；
[0020]圖4為本實用新型的實施例1的邊框的結構示意圖；
[0021]圖5和圖6為本實用新型的實施例1的通過改變吸附單元位置檢測粒狀缺陷的示意圖；
[0022]圖7和圖8為本實用新型的實施例1的通過改變支撐杆位置檢測線性缺陷的示意圖。
[0023]其中附圖標記為:1、邊框；2、支撐杆；3、對位元件；31、對位凸起；4、汽缸；5、凹陷部；6、吸附單元；7、粒狀缺陷；8、線性缺陷；9、移動板。
【具體實施方式】
[0024]為使本領域技術人員更好地理解本實用新型的技術方案，下面結合附圖和【具體實施方式】對本實用新型作進一步詳細描述。
[0025]實施例1:
[0026]本實施例提供一種基板宏觀檢測機，可用於液晶顯示器製造過程中對玻璃基板(比如彩膜基板)上的宏觀缺陷進行檢測。如圖1至圖4所示，基板宏觀檢測機包括兩個相對設置的邊框I和多個支撐杆2，每個支撐杆2的兩端分別設於兩個相對設置的邊框I上，支撐杆2上設有多個用於吸附基板的吸附單元6，其中，
[0027]兩邊框I的多個相對位置設有多個用於固定支撐杆2的固定結構，也就是說，每個支撐杆2的兩端均設有上述固定結構，所述基板宏觀檢測機還包括用於驅動支撐杆2在不同位置的固定結構間運動的運動單元，從而能夠改變支撐杆2在邊框I上的位置。當支撐杆2或吸附單元6遮擋住宏觀缺陷的位置時，通過改變支撐杆2在邊框I上的位置，可以使操作人員準確地對宏觀缺陷進行檢測。
[0028]本實施例中，兩個邊框I和多個支撐杆2共同用於承載基板。當然還可以增加兩個邊框，從而形成四邊形的框架結構。
[0029]優選的，兩個邊框I相互平行設置。這樣更容易實現支撐杆2在邊框I上的固定，工藝較為簡單。[0030]優選的，所述邊框I長度方向上具有槽型結構，所述固定結構為沿邊框長度方向分布的卡接結構，所述卡接結構設於所述槽型結構上，所述槽型結構由彈性材料製成，也即利用彈性材料的形變既可以使支撐杆2能夠在槽型結構中運動，又可以實現對支撐杆2的
夾持固定。
[0031]進一步優選的，所述卡接結構包括多組相對的凹陷部51，所述支撐杆2的端部設有與凹陷部5相配合的凸起(附圖中未示出)，所述凹陷部5用於固定支撐杆2，即通過凸起與凹陷部5的配合實現對支撐杆2的固定。容易理解的是，彈性材料製成的槽型結構的形變使得支撐杆2 (包括凸起)能夠在槽型結構中運動，當凸起與凹陷部5的位置對應時，凸起與凹陷部5的配合實現對支撐杆2的固定。
[0032]更進一步優選的，所述運動單元包括驅動單元和對位元件3，所述驅動單元再進一步優選包括汽缸4，汽缸4設於邊框I內，當然汽缸4也可以設於邊框I外，顯然汽缸4設於邊框I內時會使結構更為緊湊，節省空間。所述對位元件3設有用於和所述凹陷部5配合的對位凸起31，所述對位元件3與所述支撐杆2連接，所述驅動單元用於驅動對位元件3在所述槽型結構上的不同位置的凹陷部5之間運動。同樣容易理解的是，彈性材料製成的槽型結構的形變使得對位元件3 (包括對位凸起31)能夠在槽型結構中運動，當對位凸起31與凹陷部5的位置對應時，對位凸起31與凹陷部5的配合實現對支撐杆2的固定。
[0033]當吸附單元6遮擋住宏觀缺陷的位置時，還可以通過在支撐杆2的長度方向上改變吸附單元6的吸附基板的位置，從而確保操作人員準確檢測缺陷。
[0034]具體地，如圖5和圖6所示，所述支撐杆2的一側表面優選設有滑槽(附圖中未示出)，滑槽中設有移動板9，移動板9表面設有吸附單元6，且移動板9能沿所述滑槽移動。也即是通過改變移動板9的位置，從而可以改變移動板9上的吸附單元6的吸附基板的位置。
[0035]進一步優選的，所述基板宏觀檢測機還包括移動板運動單元，所述移動板運動單元與移動板9連接，用於驅動移動板9沿所述滑槽移動。這樣，通過移動板運動單元可以很方便地改變移動板9的位置。
[0036]在本實施例中，優選的，所述吸附單元6包括吸附盤或吸附墊。進一步優選的，多個所述吸附單元6在支撐杆2的長度方向上均勻間隔設置。間隔設置吸附單元6能夠使吸附力更為均勻，吸附效果更好。
[0037]下面以檢測彩膜基板為例，說明如何對通過改變支撐杆2的位置或吸附單元6的位置，從而實現對宏觀缺陷的準確檢測。
[0038]薄膜電晶體液晶顯示器製造過程中，操作人員操作基板宏觀檢測機對彩膜基板進行人眼檢測。兩個邊框I和多個支撐杆2共同形成機臺，彩膜基板通過吸附單元6與支撐杆2固定在一起。當操作人員發現缺陷時，旋轉機臺，使機臺與地面垂直，利用垂直於機臺的背部光源垂直照射機臺，從而判斷此缺陷是否引起漏光。
[0039]如圖5和圖6所示，宏觀缺陷為粒狀缺陷7，當吸附單元6遮住粒狀缺陷7時，通過改變移動板9的位置，從而改變移動板9上的被吸附單元6的位置，從而使得光線能直射在粒狀缺陷7上，不影響對粒狀缺陷7的正常判定。
[0040]顯然可以理解的是，此種情形也可以通過改變支撐杆2在邊框I上的位置來改變吸附單元6的位置，從而實現對粒狀缺陷6的正常判定。
[0041]如圖7和圖8所示，宏觀缺陷為線性缺陷8，當支撐杆2遮住線性缺陷8時，通過支撐杆運動單元改變支撐杆2在邊框I上的位置，從而使得光線能夠直射到線性缺陷8上，不影響對線性缺陷8的正常判定。
[0042]本實用新型的基板宏觀檢測機包括支撐杆運動單元，當基板上的宏觀缺陷被支撐杆2遮住時，支撐杆運動單元驅動支撐杆2改變位置，從而操作人員能夠對上述宏觀缺陷進行正常判斷，確定該宏觀缺陷是否會引起漏光，進而降低了操作員出現錯檢與漏檢的可能，提升了宏觀缺陷檢測的準確率，保證了產品的質量。
[0043]可以理解的是，以上實施方式僅僅是為了說明本實用新型的原理而採用的示例性實施方式，然而本實用新型並不局限於此。對於本領域內的普通技術人員而言，在不脫離本實用新型的精神和實質的情況下，可以做出各種變型和改進，這些變型和改進也視為本實用新型的保護範圍。
【權利要求】
1.一種基板宏觀檢測機，包括兩個相對設置的邊框和多個支撐杆，每個支撐杆的兩端分別設於兩個相對設置的邊框上，支撐杆上設有多個用於吸附基板的吸附單元，其特徵在於， 兩邊框的多個相對位置設有多個用於固定支撐杆的固定結構，所述基板宏觀檢測機還包括用於驅動支撐杆在不同位置的固定結構間運動的支撐杆運動單元。
2.根據權利要求1所述的基板宏觀檢測機，其特徵在於，兩個所述邊框相互平行。
3.根據權利要求1所述的基板宏觀檢測機，其特徵在於，所述邊框長度方向上具有槽型結構，所述固定結構為沿邊框長度方向分布的卡接結構，所述卡接結構設於所述槽型結構上，所述槽型結構由彈性材料製成。
4.根據權利要求3所述的基板宏觀檢測機，其特徵在於，所述卡接結構為相對設置的凹陷部，所述支撐杆的端部設有與凹陷部相配合的凸起，所述凹陷部用於固定支撐杆。
5.根據權利要求4所述的基板宏觀檢測機，其特徵在於，所述運動單元包括驅動單元和對位元件，所述對位元件設有用於和所述凹陷部配合的對位凸起，所述對位元件與所述支撐杆連接，所述驅動單元用於驅動對位元件在所述不同位置的凹陷部之間運動。
6.根據權利要求5所述的基板宏觀檢測機，其特徵在於，所述驅動單元包括汽缸，所述汽缸設於所述邊框內。
7.根據權利要求1所述的基板宏觀檢測機，其特徵在於，多個所述吸附單元在支撐杆的長度方向上均勻間隔設置。
8.根據權利要求1所述的基板宏觀檢測機，其特徵在於，所述支撐杆的一側表面設有滑槽，滑槽中設有移動板，移動板表面設有所述吸附單元，且移動板能沿所述滑槽移動。
9.根據權利要求8所述的基板宏觀檢測機，其特徵在於，所述基板宏觀檢測機還包括移動板運動單元，所述移動板運動單元與所述移動板連接，用於驅動移動板沿所述滑槽移動。
10.根據權利要求1至9任意一項所述的基板宏觀檢測機，其特徵在於，所述吸附單元包括吸附盤或吸附墊。
【文檔編號】G02F1/13GK203799148SQ201420040338
【公開日】2014年8月27日 申請日期:2014年1月22日 優先權日:2014年1月22日
【發明者】毛繼禹, 張然 申請人:北京京東方顯示技術有限公司, 京東方科技集團股份有限公司