一種通用型測試固定夾具的製作方法

2023-05-30 20:40:26

專利名稱：一種通用型測試固定夾具的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種固定夾具，尤其是一種通用型測試固定夾具。
背景技術：
現有的用於晶片測試的插座一般是固定引腳數目的，兩排引腳間距為一般也是固定的，由於插座與晶片引腳連接的是固定在某個點上，因此只能兼容插座引腳數目以下，引腳橫向間距與插座引腳間距相同的陶瓷基座。
但是現在常用的晶片引腳橫向間距有多種規格，如最常用的 . 87mm, 10. 41mm, 15. 49mm 等，而現有的插座只能使用一種橫向間距的晶片，需使用多種橫向間距的晶片時不得不配備多個插座反覆替換使用，對測試工作帶來很大的限制和不便。

發明內容
針對現有的晶片測試插座所存在的上述問題，本發明提供一種通用型測試固定夾具。本發明解決技術問題所採用的技術方案為
一種通用型測試固定夾具，包括用於連接固定待測試晶片的插座和用於連接測試設備的插頭，所述插座上包括多個用於連接待測試晶片引腳的導電部件，多個所述導電部件以預定縱向間隔呈兩排縱向隊列平行排列，其中，每個所述導電部件為條形，所述條形導電部件橫置於所述縱向隊列內且相互平行排列，所述條形導電部件供待測試晶片引腳於所述條形導電部件中橫向移動。上述通用型測試固定夾具，其中，所述插座與所述插頭設於所述固定夾具相背向的兩個面上。上述通用型測試固定夾具，其中，所述預定縱向間隔大於2. 41mm且小於2. 67mm。上述通用型測試固定夾具，其中，所述條形導電部件不少於28個。上述通用型測試固定夾具，其中，所述條形導電部件排列形成的兩平行縱向隊列寬 20mm。上述通用型測試固定夾具，其中，所述插座包括鎖定裝置，所述鎖定裝置用以鎖定插入多個所述條形導電部件的待測試晶片引腳。本發明的有益效果是
兼容多種引腳橫向間距的晶片，不用再對各種不同引腳橫向間距的晶片訂做相應的插座，不但節省了更換插座的時間，而且大大節省了訂做不同插座的費用。


圖I是本發明一種通用型測試固定夾具的正面結構示意圖2是本發明一種通用型測試固定夾具的背面結構示意圖。
具體實施例方式下面結合附圖和具體實施例對本發明作進一步說明，但不作為本發明的限定。如圖I和圖2所示，本發明一種通用型測試固定夾具，包括用於連接固定待測試晶片的插座I和用於連接測試設備的插頭2，插座I上包括多個用於連接待測試晶片引腳的導電部件10，多個導電部件10以預定縱向間隔呈兩排縱向隊列平行排列，其中，每個導電部件10為條形，條形導電部件10橫置於縱向隊列內且相互平行排列，條形導電部件10供待測試晶片引腳於條形導電部件中橫向移動。本發明的原理是在保持導電部件10縱向間距符合標準晶片引腳縱向間距的情況下，通過橫向條形的導電部件10使晶片引腳與導電部件10的接觸由一個點變成一個可以橫向活動的範圍，使晶片引腳的橫向間距不再被限制在一個固定值，以實現兼容不同引腳橫向寬度晶片的目的。進一步的，其中，插座I與插頭2設於固定夾具相背向的兩個面上，使本發明固定夾具插裝方便。進一步的，其中，條形導電部件10的預定縱向間隔大於2. 41mm且小於2. 67mm,以符合標準晶片弓I腳縱向間距。進一步的，其中，條形導電部件10不少於28個，較多的條形導電部件10可以提供較多引腳的晶片使用，以提高本發明的兼容性。進一步的，其中，條形導電部件10排列形成的兩平行縱向隊列寬20mm，較寬的橫向間距使得本發明可兼容弓I腳橫向間距較大的晶片。進一步的，其中，插座I包括鎖定裝置11，鎖定裝置11用以鎖定插入多個條形導電部件10的待測試晶片引腳，通過鎖定裝置11可以使晶片在測試時被牢固的固定在插座I 上，測試完畢後可通過解除鎖定裝置11的鎖定釋放晶片，避免了現有的插座需要採用起拔器才能拔出晶片的缺陷，防止了起拔器對晶片引腳的損壞，同時提高了測試效率。鎖定裝置11具體的可以有兩個模具形成，所有條形導電部件10可以由上下兩個部分組成，上下兩個部分之間的空隙用以夾持晶片的引腳，鎖定裝置11的一個模具固定所有條形導電部件10的上半部分，另一個模具固定所有條形導電部件10的下半部分，鎖定時通過一個操縱杆使兩個模具移動帶動條形導電部件10的上半部分和下半部分相向移動實現對晶片引腳的夾緊，釋放時使條形導電部件10的上半部分和下半部分背向移動實現對晶片引腳的放鬆。以上所述僅為本發明較佳的實施例，並非因此限制本發明的申請專利範圍，所以凡運用本發明說明書及圖示內容所作出的等效結構變化，均包含在本發明的保護範圍內。
權利要求
1.一種通用型測試固定夾具，包括用於連接固定待測試晶片的插座和用於連接測試設備的插頭，所述插座上包括多個用於連接待測試晶片引腳的導電部件，多個所述導電部件以預定縱向間隔呈兩排縱向隊列平行排列，其特徵在於，每個所述導電部件為條形，所述條形導電部件橫置於所述縱向隊列內且相互平行排列，所述條形導電部件供待測試晶片引腳於所述條形導電部件中橫向移動。
2.如權利要求I所述通用型測試固定夾具，其特徵在於，所述插座與所述插頭設於所述固定夾具相背向的兩個面上。
3.如權利要求2所述通用型測試固定夾具，其特徵在於，所述預定縱向間隔大於2.41mm 且小於 2. 67mm。
4.如權利要求3所述通用型測試固定夾具，其特徵在於，所述條形導電部件不少於28個。
5.如權利要求3所述通用型測試固定夾具，其特徵在於，所述條形導電部件排列形成的兩平行縱向隊列寬20mm。
6.如權利要求1-5中任一所述通用型測試固定夾具，其特徵在於，所述插座包括鎖定裝置，所述鎖定裝置用以鎖定插入多個所述條形導電部件的待測試晶片引腳。
全文摘要
本發明公開了一種通用型測試固定夾具，包括用於連接固定待測試晶片的插座和用於連接測試設備的插頭，所述插座上包括多個用於連接待測試晶片引腳的導電部件，多個所述導電部件以預定縱向間隔呈兩排縱向隊列平行排列，其中，每個所述導電部件為條形，所述條形導電部件橫置於所述縱向隊列內且相互平行排列，所述條形導電部件供待測試晶片引腳於所述條形導電部件中橫向移動。本發明的有益效果是兼容多種引腳橫向間距的晶片，不用再對各種不同引腳橫向間距的晶片訂做相應的插座，不但節省了更換插座的時間，而且大大節省了訂做不同插座的費用。
文檔編號G01R1/04GK102608362SQ20121006652
公開日2012年7月25日 申請日期2012年3月14日 優先權日2012年3月14日
發明者周柯, 王炯, 趙敏 申請人:上海華力微電子有限公司