一種探針部件、探針塊和檢測裝置的製作方法

2023-05-28 08:13:16 1

本實用新型涉及顯示、檢測技術領域，尤其涉及一種探針部件、探針塊和檢測裝置。

背景技術：

目前，在液晶面板製造過程中，需要多道檢測工序來及時檢查出工程中產生的不良，為降低成本，多數廠家選擇在成盒後、貼偏光膜前對面板進行點燈檢測。現有的探針塊的結構由柔性電路、驅動集成電路、以及薄膜探針部件組成；在點燈測試過程中，需要將前端薄膜探針部件與顯示面板上每個信號輸入端子精確接觸，以便能夠將每一個數據線和柵線信號單獨傳到顯示面板上對應的信號輸入端子上，實現信號的傳輸。

如圖1所示，為現有的探針部件的結構側視圖，包括多個探針01，與每個探針對應的連接線02，以及絕緣層03。在日常生產過程中，探針塊上的探針需要與不同顯示面板接觸進行重複性測試，因而很容易造成探針磨損，而探針的高度較低會影響探針塊的使用壽命。另外，前工序生產的顯示面板表面時常會殘留玻璃碎屑，玻璃碎屑很容易劃斷探針塊的連接線，造成探針塊損壞。例如，型號為55的探針塊每測試10000片顯示面板，就會有3-5個探針發生損壞，生產過程中也經常出現絕緣層和連接線局部燒壞現象。

綜上所述，目前探針部件在點燈檢測過程中，不僅探針會因為接觸磨損而造成耐用性差，而且顯示面板信號輸入端子上殘留的玻璃碎屑等異物會劃斷連接線，進而降低了探針部件的使用壽命。

技術實現要素：

本實用新型實施例提供的一種探針部件、探針塊和檢測裝置，用以解決目前探針部件在點燈檢測過程中，不僅探針會因為接觸磨損而造成耐用性差，而且顯示面板信號輸入端子上殘留的玻璃碎屑等異物會劃斷連接線，進而降低了探針部件的使用壽命，同時，絕緣層的耐熱性能較差，容易導致局部燒壞的問題。

基於上述問題，本實用新型實施例提供了一種探針部件，包括：絕緣層，探針，以及連接線；其中，

所述絕緣層設置有過孔；所述連接線設置於所述絕緣層的一表面；所述探針設置在所述過孔中，且一端凸出於所述過孔、另一端與所述連接線相連。

較佳的，所述絕緣層的材料為聚醯亞胺。

較佳的，所述探針凸出於所述過孔的高度為0.015mm-0.03mm。

較佳的，所述探針在垂直於所述絕緣層表面方向上的截面形狀為矩形，或梯形。

較佳的，若包括多個過孔，所述多個過孔在所述絕緣層上按照第一間隔平行排列。

較佳的，所述探針部件包括多個過孔，所述多個過孔在所述絕緣層上按照第二間隔排列，且所述多個過孔中每連續的兩個或多個過孔之間錯位排列。

較佳的，所述過孔的輪廓形狀為矩形，圓形或橢圓形。

較佳的，每個連接線完全覆蓋與該連接線對應的過孔。

本實用新型實施例提供了一種探針塊，包括：柔性電路，驅動集成電路，以及本實用新型實施例提供的上述探針部件。

本實用新型實施例提供了一種檢測裝置，包括信號轉換裝置，所述檢測裝置還包括本實用新型實施例提供的上述探針塊。

本實用新型的有益效果：

本實用新型實施例提供的探針部件，將探針設置到絕緣層上的過孔中，因而過孔處的絕緣層可以對探針的側面起到一定支撐作用，緩解探針正面的壓力，提高探針受力強度，進而提高製作探針的高度；同時，將連接線設置在絕緣層上遠離探針凸出於過孔的一側，可以避免顯示面板信號輸入端子上殘留的玻璃碎屑等異物劃斷連接線，從而提高了探針部件的使用壽命。同時，本實用新型實施例提供的探針部件，將絕緣層的材料變為耐高溫的聚醯亞胺，可以有效防止絕緣層和連接線由於局部過熱而出現燒壞的現象。

附圖說明

圖1為現有技術中探針部件的側視結構示意圖；

圖2為本實用新型實施例提供的探針部件的側視結構示意圖；

圖3A為本實用新型實施例提供的過孔平行排列的俯視結構示意圖；

圖3B為本實用新型實施例提供的過孔錯位排列的俯視結構示意圖；

圖4為本實用新型實施例提供的探針部件底端的俯視結構示意圖。

具體實施方式

下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅是本實用新型一部分實施例，並不是全部的實施例。基於本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬於本實用新型保護的範圍。

其中，附圖中各個結構的大小和形狀不反映其真實比例，目的只是示意說明本實用新型的內容。

本實用新型實施例涉及到的探針部件中的探針是指的需要與待檢測顯示面板上的信號輸入端子直接接觸，為其提供檢測信號的針體部分；連接線是指的在點燈檢測過程中，能夠為待檢測顯示面板傳輸檢測信號、且與探針相連的信號導線；絕緣層是指的用於承載探針和連接線、且起到一定絕緣作用的薄膜；上述探針、連接線和絕緣層只是根據其作用所起的名稱，也可以改成其它的名稱。

本實用新型實施例提供的一種探針部件，主要是針對薄膜型的探針部件，是在現有的探針部件的基礎上，對其結構進行重新設計優化，進而可以增加探針部件中探針的高度，本實用新型中的結構適用於設置有絕緣層的任意探針部件。下面對其具體結構進行詳細的說明。

如圖2所示，為本實用新型實施例提供的探針部件的側視結構示意圖；該探針部件包括：絕緣層201，探針202，以及連接線203；其中，絕緣層201設置有過孔204；連接線203設置於絕緣層201的一表面；探針202設置在過孔204中，且一端凸出於過孔204、另一端與連接線203相連。

在具體實施時，由於現有技術中探針部件的探針和連接線均設置在絕緣層上靠近待檢測顯示面板的一側，因此探針能夠設置的高度有限，影響了探針部件使用壽命。因而本實用新型實施例提供的探針部件，將探針設置到絕緣層上的過孔中，過孔處的絕緣層可以對探針的側面起到一定支撐作用，緩解探針正面的壓力，提高探針受力強度，進而提高製作探針的高度；同時，將連接線設置在絕緣層上遠離探針凸出於過孔的一側，可以避免顯示面板信號輸入端子上殘留的玻璃碎屑等異物劃斷連接線，從而提高了探針部件的使用壽命。

其中，設置在絕緣層上的過孔數量和位置，都可以根據待檢測顯示面板所需要的探針數量和位置進行調整和設置。

在具體實施時，本實用新型實施例提供的探針部件，將探針設置在了絕緣層201的過孔204中，如圖2所示，探針202凸出於過孔204的一側，即需要與待檢測顯示面板直接接觸的一端a，其結構凸出於圖2中絕緣層201的上表面；探針202的底端，即需要與連接線連接的一端b，其結構與絕緣層201的下表面齊平，並與設置在絕緣層201下表面的連接線203相連。

由於現有技術中，探針的高度一般設置在0.006mm-0.012mm，因此在與不同顯示面板接觸進行重複性測試的過程中，因而很容易造成探針磨損，進而影響探針部件的使用壽命。

進一步的，為了提高探針部件的使用壽命，本實用新型實施例提供的探針部件的結構，可以增加探針設置的高度。較佳的，探針凸出於過孔的高度為0.015mm-0.03mm。因而在使用過程中，即便有探針磨損的情況，高度較高的探針也可以測試更多的次數，進而延長探針部件的使用壽命。

另外，本實用新型實施例提供的探針部件中探針和連接線的結構雖然有所改進，但其製作所用的材料並沒有特殊要求。

然而，現有技術中絕緣層的材料一般為聚對苯二甲酸乙二醇酯PET，其耐熱性能為80℃，為了提高絕緣層的耐熱性能，較佳的，絕緣層的材料為聚醯亞胺。其可以具有300℃的耐熱性能，可以有效防止絕緣層和連接線由於局部過熱而出現燒壞的現象。

在具體實施時，探針的高度變高了，其具體的截面形狀可以根據需要進行設置。較佳的，探針在垂直於絕緣層表面方向上的截面形狀為矩形，或梯形。如圖2所示，探針202的形狀即為垂直於絕緣層表面方向上的截面形狀，可以為如圖所示的矩形，也可以設置為探針凸出於過孔的較窄、低端較寬的梯形，當然也可以根據需要設置為其它任意的形狀。

在具體實施時，一般在每個探針部件上會設置多個探針，相應的，本實用新型實施例提供的探針部件可以包括多個用於設置探針的過孔。由於過孔是用來設置探針的，因而過孔的位置以及排列方式，可以根據待檢測顯示面板上信號輸入的引線之間的間距和引線的線寬等參數進行設置。

例如，兩個探針之間的間距又取決於兩條引線之間的間距。為了防止由於探針過寬，而導致一個探針同時觸碰到兩條待檢測顯示面板上信號輸入的引線，探針的寬度(即過孔的寬度)必須小於兩條引線之間的間距。

下面介紹兩種過孔的排列方式，但本實用新型中的過孔並不僅限於這兩種排列方式，也可以根據需要設置為其它的排列方式。

第一種，平行排列。

較佳的，探針部件包括多個過孔，多個過孔在絕緣層上按照第一預設間隔平行排列。

具體的，為了製作方便，在兩個探針之間的間距滿足要求的前提下，如圖3A所示，為本實用新型實施例提供的過孔平行排列的俯視結構示意圖；該圖從探針部件凸出於過孔一側(即在點燈檢測時靠近待檢測顯示面板的一端)俯視時的結構示意圖，可以將多個過孔按照第一預設間隔d1均勻排列，且多個過孔互相平行，則相應的設置在過孔中的探針也平行排列。

然而圖3A中所示的過孔平行排列的方式，由於受到過孔對應的連接線的寬度限制，因而過孔之間需要保持一定間距，一般至少要與過孔的寬度相等。因而過孔之間可以製作的最小間距(即第一預設間隔d1)一般能夠達到9-11μm，相應的，過孔平行排列的探針部件，也只能檢測待信號輸入的引線之間的最小間距在9-11μm之間的顯示面板。

若想實現信號輸入的引線更小間距的顯示面板的檢測，可以適當調整過孔的排列方式。

第二種，錯位排列。

較佳的，探針部件包括多個過孔，多個過孔在絕緣層上按照第二預設間隔d2排列，且多個過孔中每連續的兩個或多個過孔之間錯位排列。

具體的，為了實現信號輸入的引線更小間距的顯示面板的檢測，需要減小兩個探針之間的間距，即需要減小兩個過孔之間的間距。

如圖3B所示，為本實用新型實施例提供的過孔錯位排列的俯視結構示意圖；該圖也是從探針部件凸出於過孔一側(即在點燈檢測時靠近待檢測顯示面板的一端)俯視時的結構示意圖，可以將連續的兩個過孔按照第二預設間隔d2錯位排列，此時的第二預設間隔d2可以設置的小於第一預設間隔d1，相應的，設置在過孔中的探針也錯位排列。同時，錯位之後的過孔之間平行排列，即形成圖3中平行的兩排過孔。

如圖3B所示的過孔錯位排列的方式，過孔之間可以製作的水平間距(即第二預設間隔d2)一般可以小於9μm，甚至可以達到4.5μm，相應的，過孔錯位排列的探針部件，也可以用來檢測待信號輸入的引線之間的間距小於9μm的顯示面板。

進一步的，也可以根據需要設置為連續的三個或者多個過孔之間進行錯位排列，而錯位以後的過孔可以像圖3B一樣平行排列，也可以不平行排列，具體的錯位排列的方式可以有很多種形式，在此並不做限定。

進一步的，過孔的輪廓形狀，即圖3A和圖3B中看到的過孔的形狀，可以根據需要設置的探針形狀進行設置。較佳的，過孔的輪廓形狀為矩形，圓形或橢圓形。

如圖4所示，為本實用新型實施例提供的探針部件底端的俯視結構示意圖；從探針部件底端(即在點燈檢測時遠離待檢測顯示面板的一端)俯視時的結構示意圖，圖中203為連接線的圖形，連接線設置在絕緣層201的一側表面上，圖中所示包括多條連接線，其中連接線下端對應的虛線框表示過孔204的位置。

一般在每個探針部件上會設置多個探針，相應的，每個探針都對應設置有一條連接線。為了使連接線能夠更好的為探針傳輸檢測信號，較佳的，每個連接線完全覆蓋與該連接線對應的過孔。即如圖4所示，連接線完全遮蓋住過孔204的輪廓，進而使探針的底端可以與連接線完全接觸。

基於同一構思，本實用新型實施例中還提供了一種探針塊，包括：柔性電路，驅動集成電路，以及本實用新型實施例提供的上述探針部件。由於該探針塊解決問題的原理與本實用新型實施例提供的上述任一探針部件相似，因此，該探針塊的實施可以參見上述任一探針部件的實施，重複之處不再贅述。

基於同一構思，本實用新型實施例中還提供了一種檢測裝置，包括信號轉換裝置，檢測裝置還包括本實用新型實施例提供的上述探針塊。由於該檢測裝置解決問題的原理與本實用新型實施例提供的上述任一探針塊相似，因此，該檢測裝置的實施可以參見上述任一探針塊的實施，重複之處不再贅述。

綜上所述，本實用新型實施例提供的探針部件，將探針設置到絕緣層上的過孔中，因而過孔處的絕緣層可以對探針的側面起到一定支撐作用，緩解探針正面的壓力，提高探針受力強度，進而提高製作探針的高度；同時，將連接線設置在絕緣層上遠離探針凸出於過孔的一側，可以避免顯示面板信號輸入端子上殘留的玻璃碎屑等異物劃斷連接線，從而提高了探針部件的使用壽命。同時，本實用新型實施例提供的探針部件，將絕緣層的材料變為耐高溫的聚醯亞胺，可以有效防止絕緣層和連接線由於局部過熱而出現燒壞的現象。

顯然，本領域的技術人員可以對本實用新型進行各種改動和變型而不脫離本實用新型的精神和範圍。這樣，倘若本實用新型的這些修改和變型屬於本實用新型權利要求及其等同技術的範圍之內，則本實用新型也意圖包含這些改動和變型在內。