顆粒六面檢查的製造方法
2023-07-05 17:05:26
顆粒六面檢查的製造方法
【專利摘要】本發明公開了一種顆粒六面檢查機，包括機架，控制系統，其特徵在於，所述控制系統固定安裝在機架上，在所述機架上固定安裝有輸料裝置、導料裝置和檢測裝置，所述輸料裝置與所述控制系統電連接，所述輸料裝置與導料裝置通過導軌相連通，所述檢測裝置與控制系統電連接，所述檢測裝置包括位置檢測部件、檢測器，所述位置檢測部件安裝在導料裝置的一端，在所述導料裝置的另一端設置有分選裝置，所述分選裝置固定安裝在機架上，所述分選裝置與控制系統電連接，在所述導料裝置兩端之間設置有檢測器。本發明功能齊備、結構緊湊合理，能高效、精確地給出產品的質量是否合格的判定，並予以分離。
【專利說明】顆粒六面檢查機
【技術領域】
[0001]本發明涉及規則六面體類產品檢測，尤其是一種用於檢測基板上貼片電阻的顆粒六面檢查機。
【背景技術】
[0002]目前，生產貼片電子元件，比如貼片電阻的生產工藝大都為絲網印刷方式，將幾個相關層通過絲印的方式印刷出來，故通過該方式生產出來的貼片電阻就有其特定的結構，相關結構必須保證在很精確的位置上才能成為合格的貼片電阻，而判定質量是否合格的方式之一工序為「位置檢測」，即對相關結構的位置及其之間的位置關係進行檢測，以此對生產出的貼片電阻質量進行判定。目前該檢測方法往往是人工地用肉眼或者放大鏡進行檢查，這樣精度低、誤差大、效率低，不能滿足工業生產的要求。此外也有相關專利中提到採用機械方法進行檢測，但該檢測設備結構較複雜、功能單一化、檢查效率低，不足以滿足現代工業生產對設備的高集成化、高自動化、高效率化的要求。
【發明內容】
[0003]為了解決上述現有問題，本發明提供了一種結構緊湊合理、功能齊備、檢測效率高、檢測精度高的顆粒六面檢查機。
[0004]實現上述目的，本發明採用的技術方案是一種顆粒六面檢查機，包括機架，控制系統，其特徵在於，所述控制系統固定安裝在機架上，在所述機架上固定安裝有輸料裝置、導料裝置和檢測裝置，所述輸料裝置與所述控制系統電連接，所述輸料裝置與導料裝置通過導軌相連通，所述檢測裝置與控制系統電連接，所述檢測裝置包括位置檢測部件、檢測器，所述位置檢測部件安裝在導料裝置的一端，在所述導料裝置的另一端設置有分選裝置，所述分選裝置固定安裝在機架上，所述分選裝置與控制系統電連接，在所述導料裝置兩端之間設置有檢測器。上述各個裝置及部件以特別的布置緊湊合理地設置在機架的平臺上，控制系統集成在平臺下方，對平臺上的各個部件進行自動化控制，實現各個檢測信號的收集、轉換、分析、反饋等相關功效。
[0005]作為優選,所述輸料裝置包括震動盤,所述震動盤固定安裝在機架上,所述震動盤一側安裝有導軌，所述導軌一端與震動盤固定連接，所述導軌的另一端與導料裝置連通。待檢測產品通過震動盤、通過導軌進行初步整理，並輸導至相關位置。
[0006]作為優選，所述導料裝置包括導料盤、支撐架，所述支撐架固定在所述機架上，所述導料盤安裝在支撐架頂端平面上，所述導料盤為圓形，所述導料盤與支撐架活動連接。導料盤的旋轉速度設定為勻速，這樣保證待檢測產品能較勻速地排列在導料盤上，有利於快速進行檢測的開始，並保證檢測過程的穩定、誤差小，實現檢測的高效率。
[0007]作為優選，所述位置檢測部件包括導正架、位置確認傳感器，沿遠離所述導軌處依次安裝有導正架、位置確認傳感器，所述導正架包括第一導正架、第二導正架，所述第一導正架與第二導正架分別沿所述導料盤周向固定安裝在機架上，所述位置確認傳感器與控制系統電連接。通過導正架對待檢產品的位置進行進一步精確調整，保證了所獲得的產品初始位置的精確度。
[0008]作為優選，所述檢測器有若干個，所述若干個檢測器沿所述導料盤周向分布。根據設備使用者的不同需求，對檢測工藝的不同設計，靈活對所述若干個檢測器進行使用。檢測器的在機架平臺上的布局，使得設備整體結構最緊湊合理，最高效化的實現檢測目的。
[0009]作為優選，所述檢測器包括光源、圖像採集器，所述光源與圖像採集器分別與控制系統電連接。
[0010]作為優選，所述控制系統包括設備控制器、電控面板、排料控制器，所述設備控制器與排料控制器電連接，所述電控面板固定安裝在機架上。操作者通過控制系統對應的各個指示按鈕、指示開關能方便地實現對檢測全過程的控制。
[0011]作為優選，所述分選裝置包括分選控制器、撥料體、料盒，所述分選控制器與設備控制器電連接，所述撥料體與分選控制器電連接，所述料盒固定安裝在機架上。
[0012]作為優選，所述機架上安裝有腳輪，所述腳輪與機架固定連接。
[0013]作為優選，所述機架上固定安裝有警示器，所述警示器與設備控制器電連接。
[0014]本發明可以具有如下有益效果:待檢測產品可以通過導料盤較勻速地排列到導料盤上，使捕獲產品初始位置的位置確認傳感器能較高效地去獲取初始位置，開始檢測過程；分布在導料盤周圍的若干檢測器根據程序控制在合適時機對產品各個面進行圖像採集，然後進行分析，從而實現高效、精確地給出產品的質量是否合格的判定，並通過分選裝置，將不合格產品自動分離出來，最終實現高效率、高精度的產品檢測，且本發明功能齊備、結構緊湊合理，能很好地滿足現代工業生產對設備結構、功能及經濟上的要求。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0015]圖1是本發明一種結構示意圖；
圖2是本發明的部分結構示意圖。
[0016]I機架；2控制系統；201設備控制器；202電控面板；203排料控制器；501位置檢測部件；502檢測器；52圖像採集器；301震動盤；401導料盤；6導軌；7分選裝置；701分選控制器；702撥料體；703料盒；81第一導正架；82第二導正架；9位置確認傳感器；10腳輪；11警示器。
【具體實施方式】
[0017]下面結合具體實施例及附圖(圖1、2)，對本發明的實質作進一步的闡述。
[0018]本發明所涉及的一種顆粒六面檢查機，包括機架I，控制系統2，所述控制系統2集成在機架I上，在所述機架I上固定安裝有輸料裝置、導料裝置和檢測裝置，所述輸料裝置與所述控制系統2電連接，所述輸料裝置與導料裝置通過導軌6相連通，所述檢測裝置與控制系統2電連接，所述檢測裝置包括位置檢測部件501、檢測器502，所述位置檢測部件501安裝在導料裝置的一端，在所述導料裝置的另一端設置有分選裝置7，所述分選裝置7固定安裝在機架I上，所述分選裝置7與控制系統2電連接，在所述導料裝置4兩端之間設置有檢測器502若干個，所述若干個檢測器502沿所述導料盤周向分布，檢測器502包括光源(未標示)、圖像採集器52，所述光源與圖像採集器52分別與控制系統2電連接.所述輸料裝置包括震動盤301，所述震動盤301固定安裝在機架I上，所述震動盤301 —側安裝有導軌6，所述導軌6 —端與震動盤301固定連接，所述導料裝置包括導料盤401、支撐架(未標示)，所述支撐架固定在所述機架I上，導料盤401為圓形，安裝在支撐架頂端平面上，檢測過程開始時，導料盤401勻速進行旋轉，所述導軌6的另一端與導料盤401連通，將待測產品輸送至導料盤401。
[0019]所述位置檢測部件501包括導正架、位置確認傳感器9，位置確認傳感器9與控制系統2電連接，導正架8、位置確認傳感器9沿遠離所述導軌6依次安裝，所述導正架包括第一導正架81、第二導正架82，所述第一導正架81與第二導正架82分別沿所述導料盤401的周向固定安裝在機架I上。
[0020]所述控制系統2包括設備控制器201、電控面板202、排料控制器203，所述設備控制器201與排料控制器203電連接，所述電控面板202固定安裝在機架I上；所述分選裝置7包括分選控制器701、撥料體702、料盒703，所述分選控制器701與設備控制器201電連接，所述撥料體702與分選控制器701電連接，所述料盒703固定安裝在機架I上，所述機架I上安裝有可使機架I來回移動的腳輪10，所述機架I上還固定安裝有警示器11，所述警示器11與設備控制器201電連接，當檢測系統出現故障時，不能正常工作時，警示器11進行報警。
[0021]在具體使用時，可以根據使用廠家的不同需求，進行不同的組合使用，主要有以下四種常見使用方式:檢查產品四個面單軌道運作、檢查產品四個面雙軌道運作、檢查產品六個面單軌道運作、檢查產品六個面雙軌道運作。檢測過程是，首先將待測產品放置到震動盤301上，通過勻速轉動系統，使得待測產品可較勻速地排列到玻璃導料盤401上，當待測產品在導料盤401上狀態穩定後，位置檢測部件501開始獲取待測產品的初始位置，並記錄下來。光源及圖像採集器52根據預定的程序控制，圖像採集器52為電荷耦合元件(Charge-coupled device ,CCD)形成的圖像傳感器,在合適的位置及時機對待測產品進行拍照，並完成對圖像的處理，然後給出判定結果根據產品所需檢測的內容，當所有檢測任務完成後，再分選裝置7處根據檢測結果、通過撥料體702將測試後的產品分離到「0K」或者「NG」標示的料盒裡。
[0022]上述具體實施例只是用來解釋說明本發明，而非是對本發明進行限制，在本發明的宗旨和權利要求的保護範圍內，對本發明做出的任何不付出創造性勞動的替換和改變，都將落入本發明的保護範圍。
【權利要求】
1.一種顆粒六面檢查機，包括機架，控制系統，其特徵在於，所述控制系統固定安裝在機架上，在所述機架上固定安裝有輸料裝置、導料裝置和檢測裝置，所述輸料裝置與所述控制系統電連接，所述輸料裝置與導料裝置通過導軌相連通，所述檢測裝置與控制系統電連接，所述檢測裝置包括位置檢測部件、檢測器，所述位置檢測部件安裝在導料裝置的一端，在所述導料裝置的另一端設置有分選裝置，所述分選裝置固定安裝在機架上，所述分選裝置與控制系統電連接，在所述導料裝置兩端之間設置有檢測器。
2.如權I所述的顆粒六面檢查機，其特徵在於，所述輸料裝置包括震動盤，所述震動盤固定安裝在機架上，所述震動盤一側安裝有導軌，所述導軌一端與震動盤固定連接，所述導軌的另一端與導料裝置連通。
3.如權I所述的顆粒六面檢查機，其特徵在於，所述導料裝置包括導料盤、支撐架，所述支撐架固定在所述機架上，所述導料盤安裝在支撐架頂端平面上，所述導料盤為圓形，所述導料盤與支撐架活動連接。
4.如權I所述的顆粒六面檢查機，其特徵在於，所述位置檢測部件包括導正架、位置確認傳感器，沿遠離所述導軌處依次安裝有導正架、位置確認傳感器，所述導正架包括第一導正架、第二導正架，所述第一導正架與第二導正架分別沿所述導料盤周向固定安裝在機架上，所述位置確認傳感器與控制系統電連接。
5.如權I所述的顆粒六面檢查機，其特徵在於，所述檢測器有若干個，所述若干個檢測器沿所述導料盤周向分布。
6.如權5所述的顆粒六面檢查機，其特徵在於，所述檢測器包括光源、圖像採集器，所述光源與圖像採集器分別與控制系統電連接。
7.如權I至6任一所述的顆粒六面檢查機，其特徵在於，所述控制系統包括設備控制器、電控面板、排料控制器，所述設備控制器與排料控制器電連接，所述電控面板固定安裝在機架上。
8.如權I至6任一所述的顆粒六面檢查機，其特徵在於，所述分選裝置包括分選控制器、撥料體、料盒，所述分選控制器與設備控制器電連接，所述撥料體與分選控制器電連接，所述料盒固定安裝在機架上。
9.如權I至6任一所述的顆粒六面檢查機，其特徵在於，所述機架上安裝有腳輪，所述腳輪與機架固定連接。
10.如權I所述的顆粒六面檢查機，其特徵在於，所述機架上固定安裝有警示器，所述警示器與設備控制器電連接。
【文檔編號】G01N21/892GK104390986SQ201410623478
【公開日】2015年3月4日 申請日期:2014年11月7日 優先權日:2014年11月7日
【發明者】程如良, 譚雙瞧 申請人:杭州灝元自動化設備有限公司