檢測單元、用於再現信息載體的裝置以及檢測方法

2023-12-08 17:10:01 2

專利名稱：檢測單元、用於再現信息載體的裝置以及檢測方法
技術領域：
本發明涉及檢測單元。
本發明還涉及用於再現信息載體的裝置。本發明還涉及檢測方法。
背景技術：
在用於再現信息載體的裝置中，信息從在信息載體上的軌跡(tracks)中存儲的物理可檢測模式(patterns)被再現。該物理可檢測模式例如是磁可檢測模式或光可檢測模式。光可檢測模式例如包含多個凹槽(pits)，或者由一序列的有不同相位(phase)的單元(location)組成。為了從具有有限符號間幹擾(inter symbol interference)的信息載體中檢索信息以及為了能從再現的信號進行時鐘恢復，一般將信息以遊程長度有限調製碼(runlength-limited modulation code)的形式存儲在信息載體上。既要增加信息在信息載體上存儲的密度，又要增加從信息載體再現信息的速度，是一個總的趨勢。在再現信息的過程中的一個基本步驟是從代表遊程長度有限序列的模擬信號來恢復二進位序列。對於該步驟已知有若干方法，例如閾值檢測法，該方法將模擬信號與閾值作比較，並根據該模擬信號的值與閾值之差的符號指定(assign)一個二進位值。為了提高由閾值檢測法獲得的二進位信號的精度，可以用遊程長度回推檢測器(pushback detector)校正如此獲得的二進位信號。該遊程長度回推檢測器校正初始二進位信號中的遊程長度擾亂(violations)。另一種方法是維特比(Viterbi)方法，該方法根據某個最大可能性準則(maximum likelihood criterion)計算二進位信號。不過前兩種方法精度有限，而第三種方法計算強度大。

發明內容
本發明的目的是提供一種比較簡單而又比較精確的檢測單元，用於從代表遊程長度有限序列的模擬信號中恢復二進位序列。
本發明的另一個目的是提供一種用於包含這樣一個單元的、用於再現記錄載體的裝置。
本發明的另一個目的是提供一種比較簡單而又比較精確的檢測方法。
本發明提供一種用於從代表遊程長度有限序列的模擬信號中恢復二進位序列的檢測單元，它包括一個用於從模擬信號生成初始二進位信號的初始檢測模塊和一個用於從初始二進位信號生成校正二進位信號的校正模塊。該校正模塊包含有一連串延遲元件的延遲線(line)，與初始檢測模塊相連；用於存儲一個或多個第一二進位模式和每個第一二進位模式的一個或多個第二二進位模式的存儲裝置；與該延遲線和該存儲裝置相連的比較器，用於輸出指示初始二進位信號中出現的位序列是否與某第一二進位模式相同的檢測信號；與該存儲裝置和該輸入端相連的評估器，用於計算指示對應於模擬信號所代表的遊程長度有限序列的二進位模式可能性的評估值；用於從該第一二進位模式和所述第一二進位模式的一個或多個第二二進位模式中選擇具有最大可能性的二進位模式的選擇器；校正器，如果所述選擇的二進位模式不是該第一二進位模式，則校正器校正延遲線中的位序列，使它對應於所選擇的二進位模式；與延遲線相連的輸出端。
本發明的檢測器一方面是效率高，因為將校正過程限於易出差錯的位序列。另一方面，該檢測器精確性高，因為校正位序列是根據最大可能性準則從所檢測的第一二進位模式和所述第一二進位模式的一個或多個第二二進位模式中選擇的。
將決定最小遊程長度系統-諸如d＝2的系統-中的閾值檢測器的性能的錯誤事件的分類，用作本發明的誘導。這個分類揭示，大多數的錯誤要麼是單一位的錯誤，要麼是雙位的錯誤。下面將分別考察這兩個類別。
單一位錯誤被定義為是僅影響當前遊程的一位的那些錯誤；這意味著前導和後續遊程二者都是無錯誤的。可以將單一位的錯誤劃分成三類(1a)發生在有最小允許遊程長度的遊程的第一或最後一位的；(1b)發生在比該最小允許遊程長度較長的遊程的第一或最後一位的；
(1c)發生在任何遊程的任何其它位(即不在一個邊緣位)的。
可以看出，類型(1c)的錯誤，發生的概率很低，因此安全地忽略不計，因為它們不限制最終性能。類型(1a)的錯誤產生長度比最小允許遊程長度短的遊程。這些遊程擾亂RLL碼的最小遊程長度約束，可以容易地被歐洲專利EP 0885499中所述的檢測器定位和校正。T.Nakagawa、H.Ino和Y.Shimpuku在「A Simple Detection Methodfor RLL Codes(Run detector)」一文中也描述了這種檢測器(IEEETrans.Magn.，vol.33，no.5，pp3262-3264，2000/9)。這種形式的檢測器將被稱作遊程長度回推檢測器(RPD)。
類型(1b)的錯誤不容易檢測，因為它們不產生最小遊程長度擾亂。然而，它們佔據分片(sliced)位流中錯誤總數的很大一部分。這裡將雙位錯誤分成兩個類別(2a)在同一個遊程中發生的；(2b)包含兩個在連續的遊程中發生的單一位錯誤的。
由於光記錄通道的低通性質，通道位流中的短遊程最容易因符號間幹擾(ISI)而畸變。因此，類型(2a)錯誤大多發生在有最小允許遊程長度的遊程中，即發生在該遊程的第一位和最後一位中。這種類型的雙位錯誤在分片位流中產生單一位(I1)遊程，這違反了最小遊程長度要求。如同(1a)中的一樣，這些錯誤可以通過使用遊程長度回推檢測器來定位和校正。
類型(2b)錯誤大多發生在位移遊程(shifted runs)中。位移遊程是分片位流中的一種遊程，它相對其在通道位流中的位置(向左或向右)位移一個位位置。位移遊程導致在連續遊程中的兩個位錯誤，這些錯誤被若干個校正位隔離，這些校正位的數目取決於最小允許遊程長度。作為一個例子，下表中顯示了對應於d＝2碼時的類型2a和2b的錯誤。

這裡的ak是起初的位序列，a』k是錯誤地檢測到的位序列，dk是一個差函數dk＝sign(ak-a』k)。
對有最小允許遊程長度的位移遊程的檢測不是直接了當的。然而，搜索空間是有限的，因為只是有必要檢查具有最小允許遊程長度的遊程檢查可能的錯誤。位移(shift)檢測器首先在分片位流中定位具有最小允許遊程長度的孤立遊程或者最小允許遊程長度m的連結遊程序列。然後它構造若干個位模式，位模式由該模式內I3的所有可能的單一位位移組成。最後選擇對應於最高可能性的模式。在這個較早提交的申請中所描述的檢測器不同於本發明的檢測器，因為它只檢測符合一般性描述的模式的發生，即隨後包含長度大於或等於m+1的遊程的至少一個第一相鄰位、一個或多個長度m的遊程、和長度大於或等於m+1的遊程的至少一個第二相鄰位的模式的發生。本發明的檢測器將初始輸入流中的位序列與預定的第一二進位模式集合作比較。
權利要求2描述的按照本發明的檢測器特別適合於檢測類型(1b)的錯誤。如上討論的那樣，這些錯誤用已知手段是不容易檢測的，因為它們不產生最小遊程長度擾亂。然而，它們佔據分片位流中錯誤總數的很大一部分。
權利要求2的檢測器最好被用在如權利要求3的實現中所述的配置中。在所述實現中，初始檢測模塊包含一連串模塊，包括分片器(slicer)、遊程長度回推檢測器和位移檢測器。分片器提供快速的初始檢測。在如此獲得的結果中的遊程長度擾亂被遊程長度回推檢測器校正。有最小遊程長度的位移遊程看起來較頻繁地出現，但是不被遊程長度回推檢測器檢測。這些遊程被位移檢測器檢測。這樣的位移檢測器在申請日較早的申請PHNL000283中有描述，這裡引用該申請作為參考。位移檢測器所提供的輸出信號中留下的錯誤主要是由遊程長度大於最小允許遊程長度的遊程的邊沿中的錯誤引起的。不過這些錯誤被按照本發明的檢測器有效地校正。
按照本發明的用於再現信息載體的裝置包含用於從信息載體上的道中的物理可檢測的模式再現讀信號的讀頭、用於引起信息載體和讀頭之間的相對移動的移動裝置、按照權利要求1至6的一個或多個用於從讀信號再現二進位信號的檢測器、用於控制移動裝置的第一線路模塊、用於通過通道解碼和/或錯誤校正解碼從二進位信號生成輸出信息信號的第二電路模塊。
按照本發明的用於從代表遊程長度有限序列的模擬信號恢復二進位序列的方法包含下列步驟從模擬信號生成初始二進位信號；將初始二進位信號中出現的位序列與一個第一二進位模式比較；如果該比較對一個第一二進位模式有肯定性結果，則位該第一二進位模式以及為一個或多個第二二進位模式計算評估值，評估值表示二進位模式對應於由模擬信號代表的遊程長度有限序列的可能性；從第一二進位模式和所述第一二進位模式的一個或多個第二二進位模式中選擇有最高可能性的二進位模式；如果所述選擇的二進位模式不是該第一二進位模式，則校正初始二進位信號中的位序列，使它對應於所選擇的二進位模式。
下面結合附圖更詳細地說明本發明的這些和其它特點。


圖1表示用於再現信息載體的裝置。
圖1A表示信息載體的局部。
圖2示意性地表示按照本發明的檢測單元。
圖3更詳細地表示檢測單元的一個模塊。
圖4更詳細地表示按照本發明的方法。
圖5表示按照本發明的檢測單元與不按本發明的檢測的位錯誤率的比較。
具體實施例方式
圖1表示用於再現信息載體1的裝置，它包含用於從信息載體上的道中的物理可檢測的模式再現讀信號(Sread)的讀頭。該讀頭也適合於向信息載體寫信息。在所述的實施例中，信息載體是盤狀的，信息以光可檢測的模式的形式被存儲在該記錄載體上。光模式例如被存儲在諸如GeSbTe或AgInSbTe的相變介質(phase change medium)中。信息的寫是通過用調製光束掃描信息載體進行的，調製光束由諸如雷射的輻射源生成。按照本發明的裝置進一步包含用於引起信息載體1和讀/寫頭2之間的相對移動的移動裝置。移動裝置包含一個用於旋轉信息載體的主軸電機3和用於徑向移動讀頭的徑向移動裝置4。徑向移動裝置例如可包含用於徑向移動讀頭的滑動或擺動臂。此外，讀/寫頭2還可包含諸如致動器的微調定位裝置，用於移動構成讀/寫頭一部分的光學系統中的透鏡或鏡子。
讀/寫頭2包含光檢測器，光檢測器生成檢測信號Sdet。讀信號Sread是通過信號處理器5從檢測信號得出的。信號處理器5進一步由這些信號生成擺頻(wobble)信號Swobble和伺服信號Sservo。擺頻(wobble)信號Swobble經A/D轉換器6被提供到擺頻處理器7。伺服信號Sservo被提供給伺服單元8，伺服單元包含用於控制輻射源的供電的第一伺服模塊8.1、用於控制由讀/寫頭掃描的徑向位置的第二伺服模塊8.2、以及用於軸向控制-即保持讀/寫頭2對其聚焦掃描信息載體1的掃描點9-的第三伺服模塊8.3。如圖1A中所示，讀寫頭2掃描帶有代表二進位序列ak的斑點(spots)10b的信息載體1的道10a。為了控制被讀/寫頭4掃描的徑向位置，第二伺服模塊8.2提供伺服控制信號SCrad給徑向移動裝置。第二伺服模塊8.2可以根據伺服信號Sservo估計徑向位置，伺服信號是從檢測信號Sdet導出的。不過，徑向位置此外還可以根據通過測量控制讀/寫頭2的徑向位置的電機的位置而獲得的測量信號來估計。這樣的測量信號例如是用霍爾元件(Hall-elements)獲得的。第三伺服模塊通過軸向控制信號SCax控制軸向位置。按照本發明的裝置可以有讀方式、寫方式或者二者兼有。在讀方式中，信號處理器5通過A/D轉換器11向位檢測器和解調器12提供讀信號Sread。解調的信號被提供給錯誤校正單元13，錯誤校正單元接著將校正過錯誤的信號Sout提供給輸出總線15，即串行總線或IEC958總線。位檢測器和解調器12也向電機控制器14提供控制信號，以便控制從信息載體讀取信息的速度。在裝置的寫方式中，從總線15接收輸入信號Sin。輸入信號Sin隨後被例如CIRC編碼器16用錯誤校正碼編碼並被通道編碼器10進行通道編碼，然後被提供到寫策略生成器18，以生成寫信號Swrite。寫策略生成器18被由第一伺服模塊8.1生成的伺服控制信號Plaser控制。所示的裝置也包含Cdtext解碼/編碼器19和編碼控制權20，Cdtext可以通過它們而被包含在被寫在信息載體上的信號的子碼中。擺頻處理器7向通道編碼器10提供時鐘信號，以便按與信息載體1的線性速度對應的速度在信息載體1上寫信息。圖1中所示的裝置進一步包含允許高水平控制伺服單元8的微處理器21。微處理器21例如可以控制啟動程序。
圖2示意性地表示圖1的裝置的檢測單元11。檢測單元11包括初始檢測模塊34，初始檢測模塊在模擬信號被數位化成Sread後從模擬信號生成初始二進位信號Sb1。或者，初始檢測模塊34也可以直接從模擬輸入信號Sread生成初始二進位信號Sb1。初始檢測模塊34包含通過A/D轉換器32與輸入端30相連的分片器34.1。後者校正違反遊程長度約束的錯誤。遊程長度回推檢測器例如在WO98/27681中有描述。位移檢測器34.3與遊程長度回推檢測器34.2相連，它檢測有對應於最小遊程長度的長度的時間位移的(timeshifted)遊程。這種位移檢測器在PHNL00283中有描述。檢測單元11進一步包括一個用於校正初始二進位信號Sb1的校正模塊35。
圖3更詳細地表示檢測單元35的一個實施例。檢測單元包含用於接收模擬信號Sread的輸入端30。輸入端30連接到將模擬輸入信號Sread轉換成數字輸入信號Sread』的A/D轉換器32。檢測單元11進一步包含一個包含有一連串延遲元件(未予示出)的延遲線36、38。延遲線36、38與初始檢測模塊34。檢測單元11進一步用於存儲一個或多個第一二進位模式的存儲裝置40。在所示實施例中，二進位模式分別被存儲在存儲單元40.1至40.6中。檢測單元11也有用於存儲每個第一第一二進位模式的一個或多個第二二進位模式的存儲裝置42。例如，存儲裝置42包含的存儲單元42.1用於存儲與存儲單元40.1中存儲在第一二進位模式有關的第二二進位模式。存儲單元42.2a和42.2b每個包含一個與在40.2中存儲的第一二進位模式有關的第二二進位模式。存儲裝置例如可以是動態或靜態存儲器形式的，或者以控制器內的檢測器實現。比較器44與延遲線36和存儲裝置40相連，用於生成檢測信號Sdet，以指示初始二進位信號Sb1中出現的位序列是否與一個第一二進位模式。評估器46連接到存儲裝置40，並通過A/D轉換器32連接到輸入端30，且進一步連接到延遲單元48。評估器46計算評估值Eval，指示二進位模式對應於由模擬信號Sread代表的遊程長度有限序列的可能性。在所示的實施例中，評估器包含一個基準水平(referencelevel)生成器46.1，它根據二進位模式預測一個幅度Aref。從這個基準值和進一步通過延遲單元48從輸入信號Sread獲得的實際值Aact計算一個評估值Eval。該實際值Aact最好被延遲，延遲的周期數使得實際值對應於由初始檢測器34獲得的二進位序列的中心。控制器50起著選擇器的作用，從第一二進位模式和所述第一二進位模式的一個或多個第二二進位模式中選擇一個有最高可能性的二進位模式。檢測單元11包含一個校正器，如果所選擇的二進位模式不是第一二進位模式，該校正器將該位序列校正得對應於所選擇的二進位模式。在這個實施例中，控制器50也起著校正器的作用，因為它提供一個寫使能信號Wdelay給延遲線的第二部分38，使得其內容被存儲裝置42中的選定存儲單元的內容蓋寫。輸出端52連接到延遲線，用於提供恢復的二進位序列bk。
下表表示第一和第二二進位模式的組合，該組合可用於校正一個有最小遊程長度約束條件d＝2的遊程長度有限信號。 表中的第一列表示存儲裝置40內的為第一二進位模式保留的存儲單元。第二列表示存儲在其中的第一二進位模式。表中的第三列表示存儲裝置40內的為第二二進位模式保留的存儲單元，第一二進位模式顯示在表的第四列中。在所示實施例中，第一二進位模式與一個或多個二進位模式只相差一位。該位的位置在有一個大於最小允許遊程長度的長度的第二二進位模式的邊緣。例如，存儲單元40.1中的第一二進位模式可能要麼是正確的，要麼是因對存儲單元42.1中的第二二進位模式的加框(encadred)位的錯誤檢測而從中得出的。這個檢測錯誤是遊程長度回推檢測器檢測不到的，因為它不違反遊程長度約束條件。同樣，存儲單元40.2中的第一二進位模式可能是正確的，但是也可能是從存儲單元42.2a和42.2b中存儲的兩個第二二進位模式之一得出的結果。
評估值Eval最好以一個距離值為根據。這種距離值例如是L1-標準(norm)或L2-標準。按照L1-標準，距離D被定義為D＝ABS(Aref-Aact)。
按照L2-標準，距離D被定義為D＝(Aref-Aact)2。
二進位模式對應於由模擬信號代表的原始遊程長度有限序列(ak)的可能性，是距離的單調遞減函數。
基準值Aref可以用若干方法計算。例如，基準水平Aref可以用代表光脈衝響應的有限長度通道模型從所述二進位序列計算出來。或者，可以通過在特定二進位序列的多次發生期間測量模擬信號的幅度值然後求所述各幅度值的平均，計算出對應於特定二進位序列的基準水平Aref。這種方法在EP1046165中有描述。
圖4表示解釋按照本發明的方法流程圖。在程序段S1中，下標k遞增，獲得輸入信號Sread的樣本Sread[k]。在程序段S2中，檢查樣本Sread[k]是否是轉變(transition)中的第一個樣本。如果不是，則程序繼續執行程序段S1。這樣，該方法的效率顯著提高，而精度幾乎不受影響，這是因為，多數檢測錯誤都發生在轉變中。如果方向該樣本是轉變中的第一個樣本，程序繼續到程序段S3。在這個程序段中，核查樣本Sread[k]的幅度或者後繼樣本Sread[k+1]的幅度是否低於一個閾值。如果哪一個樣本的幅度都不低於閾值，程序就繼續在程序段S1中取下一個樣本。然而，如果這兩個樣本之一或者兩個都低於閾值，這就表示根據樣本的符號的簡單檢測是不充分的。在這種情況下，程序繼續到程序段S4，在程序段S4中進行一個初始檢測，檢測的根據是圍繞樣本k的窗口的樣本序列-即窗口k-3至k+4內的樣本-的符號。在步驟S5中將如此獲得的位序列與存儲裝置中存儲的第一二進位模式比較，例如與存儲單元40.1中至20.6存儲的模式比較。如果位序列與這些第一二進位模式的哪一個都不匹配，程序就繼續執行程序段S1。然而，如果找到匹配，程序就繼續到程序段S6。在程序段S6中，計算與程序段S4中的位序列匹配的二進位模式對應於由模擬信號Sread代表的、存儲在信息載體的道中的遊程長度有限序列ak的可能性。這個計算在程序段S6中對一個或多個第二二進位模式重複。如果某第二二進位模式的對應的可能性大於第一二進位模式的可能性，則在步驟S7中，將初始檢測的位序列中的一位替換為所述第二二進位模式內的相同位置的位。在上表中，被替換的位，要麼是位於轉變的左邊的位k，要麼是位於轉變的右邊的位k+1。當二進位模式42.1、42.2b、42.5a、或42.6之一被選擇時，位k被替換。當二進位模式42.2a、42.3、42.4或42.5之一被選擇時，位k+1被替換。程序然後繼續執行程序段S1。
為了實際評估，曾經將按照本發明的檢測器應用到從具有+9.2％線性密度和9％對稱性的DVD-ROM獲得的模擬輸入流。結果顯示在下面的表中。第一列(α)表示傾角α的度數。第二列(NBIT)表示樣本的總位數。第三列(NTD)表示其被閾值檢測器34.1錯誤地檢測的位數。第四列(NRLPB)、第五列(NSHIFT)和第六列(NSTSD)分別表示遊程長度回推檢測器34.2、位移檢測器34.3和校正模塊35後的剩餘錯誤數。作為比較，第七列(NVITBRBI)表示由一個有8個狀態、並有部分響應(0.29、0.5、0.58、0.5、0.29)的5抽頭維特比檢測器導入的錯誤數。

從該表中可見，信號中被初始檢測模塊34檢測的錯誤數被校正模塊35進一步減少。校正模塊35把被檢測信號中的錯誤數減少到接近甚至低於維特比檢測器的錯誤數。
圖5中進一步表示幾個檢測器的位錯誤率的比較。圖中顯示了閾值檢測器(o)的測量結果，閾值檢測器與遊程長度回推檢測器(*)的組合的測量結果，按照本發明的閾值檢測器、遊程長度回推檢測器、位移檢測器( )和校正模塊的組合(◇)的測量結果和PRML檢測器(*)的測量結果。如圖中所示，按照本發明的閾值檢測器、遊程長度回推檢測器、位移檢測器和校正模塊的組合的性能和類似於PRML檢測器的性能，即使對以高傾角回放的高密度盤也是如此。然而，按照本發明的檢測單元計算上更簡單，因為它不像標準PRML檢測器中的那樣需要遞歸運算。
注意到本發明的範圍並不僅僅限於本文中所述的實施例。本發明的保護範圍也不僅僅限於權利要求中的標註號。元件前面的「一個、某」並不排除多個這樣的元件。本發明的裝置構成部分既可以以專用硬體的形式又可以以編程的通用處理器的形式實現。本發明在於每個新特徵或特徵組合。
權利要求
1.用於從代表遊程長度有限序列(ak)的模擬信號(Sread)中恢復二進位序列(bk)的一種檢測單元，包括一個用於從模擬信號(Sread)生成初始二進位信號的初始檢測模塊(34)和一個用於從初始二進位信號生成校正二進位信號(bk)的校正模塊，該校正模塊包含有一連串延遲元件的延遲線(36，38)，與初始檢測模塊(34)相連；用於存儲一個或多個第一二進位模式和每個第一二進位模式的一個或多個第二二進位模式的存儲裝置(40，42)；與延遲線(36)和存儲裝置(40)相連的比較器(44)，用於輸出指示初始二進位信號(Sb1)中出現的位序列是否與某第一二進位模式相同的檢測信號(Sdet)；與存儲裝置(40，42)和輸入端(30)相連的評估器(46)，用於計算指示二進位模式對應於模擬信號所代表的遊程長度有限序列的可能性的評估值(Eval)；用於從該第一二進位模式和所述第一二進位模式的一個或多個第二二進位模式中選擇具有最大可能性的二進位模式的選擇器(50)；校正器(50)，如果所述選擇的二進位模式不是該第一二進位模式，則校正器校正延遲線(38)中的位序列，使它對應於所選擇的二進位模式；與延遲線(38)相連的輸出端(52)。
2.按照權利要求1的檢測器，特徵在於，第一二進位模式和一個或多個第二二進位模式在一個位不同，該位位於一個長度大於最小允許遊程長度的第二二進位模式中的遊程的邊緣。
3.按照權利要求2的檢測器，特徵在於，初始檢測模塊(34)包含與輸入端相連的分片器(34.1)；與分片器(34.1)相連的遊程長度回推檢測器(34.2)；和與遊程長度回推檢測器(34.2)的輸出端相連的位移檢測器(34.3)，它檢測有對應於最小遊程長度的長度的時間位移的遊程。
4.按照權利要求1的檢測器，特徵在於，根據模擬信號的值(Aact)與基準水平(Aref)之間的差計算特定二進位序列的可能性。
5.按照權利要求4的檢測器，特徵在於，基準水平Aref是用代表光脈衝響應的有限長度通道模型從所述二進位序列計算出來的。
6.按照權利要求4的檢測器，特徵在於，通過在特定二進位序列的多次發生期間測量模擬信號的幅度值然後求所述各幅度值的平均，計算出對應於特定二進位序列的基準水平Aref。
7.用於再現信息載體的裝置，包含用於從信息載體上的道中的物理可檢測的模式再現讀信號(Sread)的讀頭、用於引起信息載體和讀頭之間的相對移動的移動裝置(3)、按照權利要求1至6的一個或多個用於從讀信號再現二進位信號的檢測器、用於控制移動裝置的第一線路模塊(8.2)、用於通過通道解碼和/或錯誤校正解碼從二進位信號生成輸出信息信號(Sout)的第二電路模塊(12，13，16，10)。
8.一種用於從代表遊程長度有限序列(ak)模擬信號恢復二進位序列(bk)的方法，該方法包含從模擬信號生成初始二進位信號(S4)；將初始二進位信號中出現的位序列與一個第一二進位模式比較(S5)；如果該比較對一個第一二進位模式有肯定性結果，則位該第一二進位模式以及為一個或多個第二二進位模式計算評估值，評估值表示二進位模式對應於由模擬信號代表的遊程長度有限序列的可能性(S6)；從第一二進位模式和所述第一二進位模式的一個或多個第二二進位模式中選擇有最高可能性的二進位模式(S7)；如果所述選擇的二進位模式不是該第一二進位模式，則校正初始二進位信號中的位序列，使它對應於所選擇的二進位模式(S7)。
9.按照權利要求8的方法，特徵在於，第一二進位模式和一個或多個第二二進位模式只在一個位不同，該位位於一個長度大於最小允許遊程長度的第二二進位模式中的遊程的邊緣。
全文摘要
用於從代表遊程長度有限序列(a
文檔編號H03M7/14GK1397072SQ01804210
公開日2003年2月12日 申請日期2001年11月19日 優先權日2000年11月28日
發明者C·波茲迪斯 申請人:皇家菲利浦電子有限公司