一種液晶顯示面板的檢測方法
2023-04-25 00:22:11
專利名稱：一種液晶顯示面板的檢測方法
技術領域：
本發明涉及顯示技術領域，特別是涉及一種液晶顯示面板的檢測方法。
背景技術：
現有技術中，通過成盒(cell)製程得到的液晶顯示面板將進入模組(module)製程，以將液晶顯示面板和驅動IC裝配為液晶顯示模組。在模組製程中，通常是通過對液晶顯示模組綁定(bonding)後進行點燈檢測，以對液晶顯示面板的影像殘留現象進行攔檢。影 像殘留是指在結束外加電場時，液晶顯示面板的顯示畫面不會即時消失，而是逐漸延遲消失的現象，由此影響顯示品質。因此，在液晶顯示模組點燈檢測過程中，當檢測到液晶顯示面板有影像殘留現象時，由於液晶顯示面板已經和驅動IC裝配為液晶顯示模組，因此較難對其中的液晶顯示面板進行修復。進一步的，現有成盒製程階段使用的IDlG (IDATA I GATE, I數據線I掃描線)點燈檢測方法中，只能點亮黑、白、灰的單色顯示畫面，無法檢測影像殘留。
發明內容
本發明主要解決的技術問題是提供一種液晶顯示面板的檢測方法，能夠在cell階段使用IDlG點燈檢測方法對影像殘留進行攔檢，增強缺陷檢出能力，提升良率。為解決上述技術問題，本發明採用的一個技術方案是提供一種液晶顯示面板的檢測方法，在成盒製程階段使用的IDlG點燈檢測中，將液晶顯示面板的多條掃描線分為第一組掃描線、第二組掃描線，將液晶顯示面板的多條數據線分為第一組數據線和第二組數據線；第一組掃描線和第二組掃描線周期性地輸送掃描驅動信號，每個掃描周期分為第一子周期和第二子周期；在第一子周期，第一組掃描線輸送第一掃描驅動信號，且第一組數據線輸送第一檢測信號，第二組數據線輸送第二檢測信號；在第二子周期，第二組掃描線輸送第二掃描驅動信號，且第一組數據線輸送第二檢測信號，第二組數據線輸送第一檢測信號；其中，所述第一檢測信號和所述第二檢測信號分別提供不同顏色的第一顯示畫面和第二顯示畫面。其中，第一檢測信號是提供白色畫面的信號，第二檢測信號是提供黑色畫面的信號。其中，第一檢測信號是提供黑色畫面的信號，第二檢測信號是提供白色畫面的信號。其中，第一子周期為前半掃描周期，第二子周期為後半掃描周期。其中，第一子周期為後半掃描周期，第二子周期為前半掃描周期。其中，第一組掃描線為奇數組掃描線，第二組掃描線為偶數組掃描線，第一組數據線為奇數組數據線，第二組數據線為偶數組數據線。其中，第一組掃描線為偶數組掃描線，第二組掃描線為奇數組掃描線，第一組數據線為偶數組數據線，第二組數據線為奇數組數據線。
其中，液晶顯示面板電連接至點燈檢測裝置，點燈檢測裝置用於向液晶顯示面板提供第一掃描驅動信號、第二掃描驅動信號、第一檢測信號以及第二檢測信號。其中，第一組掃描線、第二組掃描線、第一組數據線和第二組數據線分別連接至點燈檢測裝置的信號發生器的不同信號通道。其中，第一組掃描線、第二組掃描線、第一組數據線和第二組數據線分別通過位於液晶顯示面板邊緣的對應的導電膠分別連接至信號發生器的不同信號通道。本發明的有益效果是區別於現有技術的情況，本發明通過設置第一掃描線在第一子周期輸送掃描驅動信號，且第一組數據線輸送第一檢測信號，第二組數據線輸送第二檢測信號；第二組掃描線在第二子周期輸送掃描驅動信號，且第一組數據線輸送第二檢測信號，第二組數據線輸送第一檢測信號，使得在成盒製程中能顯示不同顏色的第一顯示畫面和第二顯示畫面，因此，在結束外電場時，能夠對影像殘留進行攔檢，由此實現在成盒製程階段使用IDlG點燈檢測方法對液晶顯示面板的影像殘留進行攔檢，增強缺陷檢出能力，提升良率。
圖I是本發明的一種液晶顯示面板的檢測方法的原理圖；圖2是本發明的數據線和掃描線輸送的信號的波形圖；圖3是根據本發明的液晶顯示面板的檢測方法產生的一種檢測畫面的效果示意圖；圖4是根據本發明的液晶顯示面板的檢測方法產生的另一種檢測畫面的效果示意圖；圖5是本發明的液晶顯示面板與點燈檢測裝置連接的結構示意圖。
具體實施例方式下面結合附圖和實施例對本發明進行詳細說明。請一起參閱圖I和圖2，圖I是本發明的一種液晶顯示面板的檢測方法的原理圖；圖2是圖I所示的數據線和掃描線輸送的信號的波形圖。首先請參閱圖1，本發明的液晶
顯不面板10包括多條掃描線Gll----G14…、與多條掃描線Gll----G14…相交的多條數據線
S11…-S14…以及多個薄膜電晶體τ。其中，掃描線Gll…為第一組bonding區域中的Gate掃描信號線，掃描線G12…為第二組bonding區域中的Gate掃描信號線,掃描線G13…為第三組bonding區域中的Gate掃描信號線，掃描線G14…為第四組bonding區域中的Gate掃描信號線。同理，數據線Sll…為第一組bonding區域中的紅(Red, R)綠(Green, G)藍(Blue, B)數據信號線，數據線S12…為第二組bonding區域中的RGB數據信號線，數據線S13…為第三組bonding區域中的RGB數據信號線，數據線S 14…為第四組bonding區域中的RGB數據信號線。掃描線Glb--GH…分別連接對應的薄膜電晶體T的柵極，數據線S11…-S14…分別連接對應的薄膜電晶體τ的源極。本實施例中，在成盒製程階段使用IDlG點燈檢測方法對液晶顯示面板10進行檢測，即每組掃描線或每組數據線對應一個bonding區域的信號線。具體為首先將多條掃描線Gll----G14…分為第一組掃描線Gl和第二組掃描線G2,將多條數據線Sll----S14…分為第一組數據線SI和第二組數據線S2。具體而言，本實施例中，第一組掃描線Gl為奇數組掃描線，其例如包括掃描線G11···和G13···，第二組掃描線G2為偶數組掃描線，其例如包括掃描線G12…和G14···，第一組數據線SI為奇數組數據線，其例如包括數據線Sll…和S13···，第二組數據線S2為偶數組數據線，其例如包括數據線S12…和S11··。應理解，本發明中，第一組掃描線Gl也可以設置為偶數組掃描線，第二組掃描線G2對應為奇數組掃描線，第一組數據線SI也可以設置為偶數組數據線，第二組數據線S2對應設置為奇數組數據線。第一組掃描線Gl還可以為連續設置的掃描線，其例如包括掃描線Gll…和G12···，同理，第二組掃描線G2對應為連續設置的掃描線G13…和G14···，第一組數據線SI為連續設置的數據線，其例如包括Sll…和S12···，第二組數據線S2對應為連續設置的數據線S13…和S14···。本發明對掃描線和數據線的分組不作限制。本實施例中，第一組掃描線Gl和第二組掃描線G2周期性地輸送掃描驅動信號，其中，每個掃描周期分為第一子周期tl (如圖2所示)和第二子周期t2 (如圖2所示)。第一 組數據線SI和第二組數據線S2分別在第一子周期tl和第二子周期t2中輸送不同的檢測信號，如本發明的第一檢測信號103 (如圖2所示)和第二檢測信號104 (如圖2所示)。其中，第一檢測信號103和第二檢測信號104分別提供不同顏色的第一顯示畫面和第二顯示畫面。因此,本發明的液晶顯示面板10能夠顯示不同顏色的畫面。具體而言，請一併參閱圖I和圖2。在第一子周期tl，第一組掃描線Gl輸送第一掃描驅動信號101至與第一組掃描線Gl連接的薄膜電晶體T的柵極，以打開對應的薄膜電晶體T，並且第一組數據線SI在對應的薄膜電晶體T開啟後輸送第一檢測信號103至與第一組數據線SI連接的薄膜電晶體T的源極，使得與第一組掃描線Gl和第一組數據線SI電連接的像素單元顯示第一顯示畫面。此時，第二組數據線S2輸送第二檢測信號104至與第二組數據線S2連接的薄膜電晶體T的源極，使得與第一組掃描線Gl和第二組數據線S2電連接的像素單元顯示第二顯示畫面。同理，在第二子周期t2，第二組掃描線G2輸送第二掃描驅動信號102至與第二組掃描線G2連接的薄膜電晶體T的柵極，以打開相應的薄膜電晶體T，並且第一組數據線SI在對應的薄膜電晶體T開啟後輸送第二檢測信號104至與第一組數據線SI連接的薄膜電晶體T的源極，使得與第二組掃描線G2和第一組數據線SI電連接的像素單元顯示第二顯示畫面。此時，第二組數據線S2輸送第一檢測信號103至與第二組數據線S2連接的薄膜電晶體T的源極，使得與第二組掃描線G2和第二組數據線S2電連接的像素單元顯示第一顯示畫面。值得注意的是，本實施例中第一檢測信號103和第二檢測信號104為不同電壓的信號，如方波信號或者基準電壓(VCOM)信號，其中，VCOM信號由短路棒(Shorting bar)的基準電壓固化墊(VCOM Pad)輸送。當打開的薄膜電晶體T輸入的是方波信號，則顯示白色畫面；當打開的薄膜電晶體T輸入的是VCOM信號，則顯示黑色畫面。因此，本實施例中的第一檢測信號103和第二檢測信號104提供的顯示顏色有兩種情況第一種情況是第一檢測信號103為方波信號，即提供白色畫面的信號，第二檢測信號104為VCOM信號，即提供黑色畫面的信號；第二種情況是第一檢測信號103為VCOM信號，即提供黑色畫面的信號，第二檢測信號104為方波信號，即提供白色畫面的信號。
因此，當第一檢測信號103是提供白色畫面的信號以及第二檢測信號104是提供黑色畫面的信號時,本發明的液晶顯示面板10顯示如圖3所示的顯示畫面。如圖3所示，液晶顯示面板10顯示的畫面為黑色和白色畫面間隔顯示。具體為在掃描線打開薄膜電晶體T，並且數據線向打開的薄膜電晶體T輸送第一檢測信號103時顯示白色；在掃描線打開薄膜電晶體T，並且數據線輸送第二檢測畫面104時顯示黑色。當第一檢測信號103是提供黑色畫面的信號以及第二檢測信號104是提供白色畫面的信號時，液晶顯示面板10顯示的畫面如圖4所示。圖4所顯示的畫面與圖3所示顯示的畫面的顏色正好相反。本實施例中，第一子周期tl為前半掃描周期，第二子周期t2為後半掃描周期，SP 第一子周期tl和第二子周期t2之和為一個完整的掃描周期t。在其他實施例中，第一子周期tl也可為後半掃描周期，第二子周期t2為前半掃描周期，並且本發明對第一子周期tl和第二子周期t2佔同一個掃描周期中的具體時長不作限制，例如，在一個完整的掃描周期t中，tl可為t的1/3，t2對應為t的2/3。·
同理，當第一組掃描線Gl為偶數組掃描線，第二組掃描線G2為奇數組掃描線，第一組數據線SI為偶數組數據線，第二組數據線S2為奇數組數據線時，或者第一組掃描線Gl和第二組掃描線G2為連續設置的掃描線，第一組數據線SI和第二組數據線S2為連續設置的數據線時，液晶顯示面板10顯示的檢測畫面也如圖3或者圖4所示。在其他實施例中，如果液晶顯示面板只有一個bonding區域的Gate掃描信號線以及一個bonding區域的RGB數據信號線，則把bonding區域中的Gate掃描信號線進行分組，同樣，把bonding區域中的RGB數據信號線進行分組，然後再進行IDlG點燈檢測，具體的分組情況和點燈檢測原理如前文所述，在此不再贅述。因此，本發明將多條掃描線分為第一組掃描線和第二組掃描線，將多條數據線分為第一組數據線和第二組數據線，並且第一組掃描線和第二組掃描線周期性地輸送掃描驅動信號，第一組數據線和第二組數據線在不同的掃描周期輸送不同的檢測信號，使得液晶顯示面板10能夠顯示不同顏色的黑白棋盤畫面，因此能夠在成盒製程階段使用IDlG點燈檢測方法檢測液晶顯示面板10的顯示是否存在殘留影像。請參閱圖5，圖5是本發明的液晶顯示面板與點燈檢測裝置連接的結構示意圖。如圖5所示，本發明的液晶顯示面板10電連接至點燈檢測裝置20。其中，點燈檢測裝置20用於向液晶顯不面板10提供第一掃描驅動信號101、第二掃描驅動信號102、第一檢測信號103以及第二檢測信號104。本實施例中，第一組掃描線G1、第二組掃描線G2、第一組數據線SI和第二組數據線S2分別連接至點燈檢測裝置20的信號發生器201的不同信號通道。具體而言，位於液晶顯示面板10的邊緣設置有多個導電膠111、112、113以及114，其中，第一組掃描線Gl通過導電膠111連接到信號發生器201的第一信號通道211，第二組掃描線G2通過導電膠112連接到信號發生器201的第二信號通道212，第一組數據線SI通過導電膠113連接到信號發生器201的第三信號通道213以及第二組數據線S2通過導電膠114連接至信號發生器201的第四信號通道214。本發明的信號通道可以通過信號發生器201中的軟體進行設置。其中，每個信號通道輸送不同的信號，優選為第一信號通道211在第一子周期tl輸送第一掃描驅動信號101，第二信號通道212在第二子周期t2輸送第二掃描驅動信號102。第三信號通道213在第一子周期tl輸送第一檢測信號103，在第二子周期t2輸送第二檢測信號104。第四信號通道214在第一子周期tl輸送第二檢測信號104，在第二子周期t2輸送第一檢測信號103。通過在信號發生器201中設置不同的信號通道，並且每一信號通道提供不同的信號，以提供如圖3和圖4所示的黑白棋盤檢測畫面對液晶顯示面板10的影像殘留進行檢測。即，本發明可在成盒製程階段使用IDlG點燈檢測方法對液晶顯示面板10進行影像殘留檢測，增強缺陷檢出能力。
以上所述僅為本發明的實施例，並非因此限制本發明的專利範圍，凡是利用本發明說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括在本發明的專利保護範圍內。
權利要求
1.一種液晶顯示面板的檢測方法，其特徵在於， 在成盒製程階段使用的IDlG點燈檢測中，將所述液晶顯示面板的多條掃描線分為第一組掃描線、第二組掃描線，將所述液晶顯示面板的多條數據線分為第一組數據線和第二組數據線； 所述第一組掃描線和第二組掃描線周期性地輸送掃描驅動信號，每個掃描周期分為第一子周期和第二子周期； 在所述第一子周期，所述第一組掃描線輸送第一掃描驅動信號，且所述第一組數據線輸送第一檢測信號，所述第二組數據線輸送第二檢測信號； 在所述第二子周期，所述第二組掃描線輸送第二掃描驅動信號，且所述第一組數據線輸送所述第二檢測信號，所述第二組數據線輸送所述第一檢測信號； 其中，所述第一檢測信號和所述第二檢測信號分別提供不同顏色的第一顯示畫面和第二顯示畫面。
2.根據權利要求I所述的方法，其特徵在於，所述第一檢測信號是提供白色畫面的信號，所述第二檢測信號是提供黑色畫面的信號。
3.根據權利要求I所述的方法，其特徵在於，所述第一檢測信號是提供黑色畫面的信號，所述第二檢測信號是提供白色畫面的信號。
4.根據權利要求2或3任一項所述的方法，其特徵在於，所述第一子周期為前半掃描周期，所述第二子周期為後半掃描周期。
5.根據權利要求2或3任一項所述的方法，其特徵在於，所述第一子周期為後半掃描周期，所述第二子周期為前半掃描周期。
6.根據權利要求4所述的方法，其特徵在於，所述第一組掃描線為奇數組掃描線，所述第二組掃描線為偶數組掃描線，所述第一組數據線為奇數組數據線，所述第二組數據線為偶數組數據線。
7.根據權利要求4所述的方法，其特徵在於，所述第一組掃描線為偶數組掃描線，所述第二組掃描線為奇數組掃描線，所述第一組數據線為偶數組數據線，所述第二組數據線為奇數組數據線。
8.根據權利要求I所述的方法，其特徵在於，所述液晶顯示面板電連接至點燈檢測裝置，所述點燈檢測裝置用於向所述液晶顯示面板提供所述第一掃描驅動信號、所述第二掃描驅動信號、所述第一檢測信號以及所述第二檢測信號。
9.根據權利要求8所述的方法，其特徵在於，所述第一組掃描線、所述第二組掃描線、所述第一組數據線和所述第二組數據線分別連接至所述點燈檢測裝置的信號發生器的不同信號通道。
10.根據權利要求9所述的方法，其特徵在於，所述第一組掃描線、所述第二組掃描線、所述第一組數據線和第二組數據線分別通過位於所述液晶顯示面板邊緣的對應的導電膠分別連接至所述信號發生器的不同信號通道。
全文摘要
本發明公開了一種液晶顯示面板的檢測方法，具體為在成盒製程階段使用的1D1G點燈檢測中，每個掃描周期分為第一子周期和第二子周期；在第一子周期，第一組掃描線輸送第一掃描驅動信號，且第一組數據線輸送第一檢測信號，第二組數據線輸送第二檢測信號；在第二子周期，第二組掃描線輸送第二掃描驅動信號，且第一組數據線輸送第二檢測信號，第二組數據線輸送第一檢測信號。通過以上方式，本發明能夠在成盒製程階段使用1D1G點燈檢測方法對液晶顯示面板的影像殘留進行攔檢，增強缺陷檢出能力，提升良率。
文檔編號G02F1/1362GK102944945SQ20121047914
公開日2013年2月27日 申請日期2012年11月22日 優先權日2012年11月22日
發明者李志明, 黃皓, 潘昶宏 申請人:深圳市華星光電技術有限公司