靜電霧化裝置的製作方法

2023-04-25 02:14:36 2

專利名稱：靜電霧化裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種通過靜電霧化現象來產生納米級帶電微水滴，並將帶電微水滴提供到 噴霧接收空間的靜電霧化裝置。
背景技術：
下述專利文獻l中已公開一種靜電霧化裝置，其包括霧化電極、與霧化電極相對而設 置的反向電極、以及用於將水提供到霧化電極上的供水器，其中，在霧化電極和反向電極 之間施加高電壓以霧化保持在霧化電極上的水，從而生成均具有納米級範圍並攜帶大量電 荷的帶電微水滴(即納米級帶電霧滴)。
該納米級帶電水滴，基於以被水分子包裹的狀態存在於其中的活性種類(active speCieS)，不僅具有增溼效果，還具有除臭效果、黴菌和細菌的滅菌效果以及抑制其傳播 的效果。納米級帶電水滴小至納米級，因此表現出在空氣中的高浮動性和高擴散性能。另 外，活性種類以被水分子包裹的狀態存在於納米級帶電水滴中，從而與以自由基形式單獨 存在的活性種類相比，具有更長的壽命。從而，納米級帶電水滴具有能夠在空氣中均勻地 在大範圍內漂蕩很長一段時間的特徵，從而具有增強的增溼效果、除臭效果等。
在專利文獻l所公開的現有靜電霧化裝置中，用於將水提供到霧化電極上的供水器包 括被裝滿水的水箱、以及用於將存儲在水箱中的水通過毛細管現象運輸到霧化電極上的水 運輸部。這種類型的供水器需要使用者定期地給水箱補水。也就是，使用者必須花費時間 和精力來進行繁瑣的補水操作，這導致了可用性差的問題。另外，在現有的靜電霧化裝置 中，如果包含諸如Ca或Mg等的雜質的水，通常為自來水，被用作供給水，則雜質將導 致這樣的問題，即，其與空氣中的C02反應，在水運輸部分的一端形成諸如CaCOs或 MgO等的沉澱(即反應產物)，並且沉澱會阻礙基於毛細管的水供應，從而阻礙納米級帶 電水滴的產生。
下述專利文獻2提出一種旨在解決上述問題的技術。具體地，專利文獻2公開了一種 靜電霧化裝置，其包括具有被熱連接到霧化電極以冷卻霧化電極的冷卻部的帕爾帖 (Peltier)單元，其中通過使用冷卻部冷卻霧化電極來引起空氣中的溼氣凝結而將水提供到霧化電極上，在霧化電極和反向電極之間施加高電壓以靜電霧化被提供到霧化電極上的 水(凝結水)。
專利文獻2公開的現有靜電霧化裝置的特徵在於能夠消除進行上述補水操作的需要， 並因為通過凝結得到的水不包含雜質，可避免如CaC03或MgO等沉澱的形成。
專利文獻2公開的現有靜電霧化裝置，連續地對霧化電極施加高電壓，同時通過使用
帕爾帖單元的冷卻部連續地冷卻霧化電極以引起空氣中溼氣的凝結而向霧化電極連續地 供水，這樣凝結水提供過程和靜電霧化過程同時並行，即同時發生。在這種現有的靜電霧
化裝置中，如果霧化電極被冷卻到o(零)"c以下，空氣中的溼氣將被凍結並以凍結水(即
冰)的形式附著到霧化電極上，即使將高電壓施加到霧化電極上，凍結水也不能被靜電霧 化。也就是說，現有的靜電霧化裝置需要冷卻霧化電極，同時避免凍結空氣中的溼氣。為
了滿足這個需要，將帕爾帖單元設計為保持霧化電極不被冷卻到0T以下。這意味著用於 霧化電極的冷卻溫度的容許下限為接近(TC的正值。
因此，在用於在其內部進行靜電霧化的噴霧接收空間(mist—receiving space)具有低 溼度的情況下，將產生一個問題，g卩，即使霧化電極被冷卻到接近(TC的溫度，空氣中的 溼氣也不能達到飽和狀態，這阻礙了凝結水的產生。尤其是在噴霧接收空間具有(TC以上 但是接近(TC的溫度的情況下，即使霧化電極被冷卻到(TC，噴霧接收空間和霧化電極之 間的溫度差也小，因而不會產生凝結水，除非噴霧接收空間具有相對高的溼度。
圖10為一示意圖，示出了由噴霧接收空間的溫度、噴霧接收空間的溼度及霧化電極 的設定溫度(setuptemperature)的關系所確定的可霧化區(atomizable zone)。在圖10中， 現有靜電霧化裝置中的可霧化區位於(TC的設定溫度的曲線之上(即，位於圖10中粗曲 線的上側的特定區域)，靜電霧化僅僅在特定區域中發生。如圖10所示，現有的靜電霧化 裝置具有一個問題，g卩，靜電霧化的環境很大程度上受到在內部進行靜電霧化的噴霧接收 空間的溫度/溼度條件的限制，從而很難在低溼度和/或低溫度環境中使用靜電霧化裝置， 也就是說，允許使用靜電霧化裝置的溼度/溫度環境被限制在窄範圍內。日本專利第3260150號日本未審查專利公開公報第2006-68711號

發明內容
鑑於上述現有技術中的問題，本發明的目的在於提供一種靜電霧化裝置，即使噴霧接 收空間具有低溫度和/或低溼度，也能夠確保將水提供到霧化電極上，從而穩定地靜電霧化水，並且對於在內部進行靜電霧化的噴霧接收空間的溫度/溼度條件沒有任何限制。
為了達到上述目的，本發明提供了一種靜電霧化裝置，其包括霧化電極，被控制以 便將附著在其上的水靜電霧化；冷卻部，用於冷卻所述霧化電極，以便使空氣中的溼氣被 凍結到所述霧化電極上；融化部，用於融化凍結在所述霧化電極上的冰，以便將水提供到 所述霧化電極上；高電壓施加部，用於向所述霧化電極施加高電壓；以及控制部，用於在 通過融化凍結在所述霧化電極上的冰而將水提供到所述霧化電極上之後的狀態下，啟動戶萬 述高電壓施加部以引起所述水的靜電霧化。
在本發明的靜電霧化裝置中，冷卻部將霧化電極冷卻至O(零)"C以下，以使空氣中的 溼氣凍結並以冰的形式附著在霧化電極上，接著，融化部融化被凍結並附著在霧化電極上 的冰，以將融化的水提供到霧化電極上。然後，高電壓施加部對霧化電極施加高電壓，以 引起被提供到霧化電極上的水的靜電霧化。由此，空氣中的溼氣被凍結成冰，然後冰被融 化並以水的形式被提供。因此，即使在內部進行靜電霧化的噴霧接收空間具有低溼度和/ 或低溫度，也能夠確保水被提供到霧化電極上並被靜電霧化，以穩定地產生帶電微水滴。
如上所述，本發明的靜電霧化裝置靜電霧化以下述方式被提供到霧化電極上的水，即 噴霧接收空間的空氣中的溼氣被凍結到霧化電極上，然後融化被凍結到霧化電極上的冰。 因此，即使噴霧接收空間具有低溫度和/或低溼度，靜電霧化裝置也能夠確保將水提供到霧 化電極上，從而穩定地靜電霧化水，並且對在內部進行靜電霧化的噴霧接收空間的溫度/ 溼度條件沒有任何限制。這能夠有效地擴展可霧化區，從而能夠在更廣的溼度/溫度環境範 圍中使用靜電霧化裝置。


圖1為本發明的一實施方式的靜電霧化裝置的垂直剖視圖。
圖2為圖1所示的靜電霧化裝置的放大垂直剖視圖。
圖3為示出圖l所示的靜電霧化裝置被用於冰箱中的一例的剖視圖。
圖4為示出圖1所示的靜電霧化裝置的控制操作的一例的時間圖表。
圖5為示出圖4的控制操作的說明圖，其中圖(A)、 (B)、 (C)和(D)分別示出了冰附著
在圖l所示的靜電霧化裝置的霧化電極上之後的狀態、冰被融化成水之後的狀態、靜電霧
化進行時的狀態、以及靜電霧化結束後的狀態。
圖6為示出圖1所示的靜電霧化裝置的控制系統的框圖。 圖7為本發明另一實施方式的靜電霧化裝置的示意圖。圖8為示出圖7所示的靜電霧化裝置的控制操作的時間圖表。 圖9為示出圖7所示的靜電霧化裝置的控制系統的框圖。
圖10為示出由噴霧接收空間的溫度、噴霧接收空間的溼度和霧化電極的設定溫度的
關系所確定的可霧化區的圖。
具體實施方式
現基於附圖中所示的實施方式來對本發明進行說明。
以下，參照圖1至6來說明本發明的第1實施方式。第1實施方式的靜電霧化裝置被 應用於具有噴霧接收空間9以及冷卻空間13的設備A，其中，冷卻空間13鄰近於噴霧接 收空間9並被保持在低於噴霧接收空間9的溫度的溫度。該靜電霧化裝置通過靜電霧化產 生納米級微水滴(即噴霧)，並將噴霧提供到噴霧接收空間9。
例如，具有噴霧接收空間9和冷卻空間13的設備A可以包括冰箱和空調。
在第1實施方式中，將冰箱Al作為具有噴霧接收空間9和冷卻空間13的設備A的 一例進行說明，但是適合應用本發明的靜電霧化裝置的設備並不局限於冰箱A1。
圖3為冰箱A1的內部結構的示意圖。圖3中，冰箱A1包括內部設置有冷凍室21、 蔬菜室22、冷藏室23和冷氣通道24的冰箱罩20。在冰箱罩20的外殼中，冷凍室21、 蔬菜室22、冷藏室23和冷氣通道24均由間壁30隔開。間壁30由絕熱材料製成，並設 置有通孔30b (見圖l)。另外，由合成樹脂模製品形成的表皮30a (見圖l)被一體地層 疊到間壁30的表面上。在冷氣通道24分別和冷凍室21、蔬菜室22及冷藏室23分隔的 間壁30的部分，分別形成有連通孔27a、 27b、 27c，用於提供冷氣通道24分別和冷凍室 21、蔬菜室22及冷藏室23之間的流體連通。
冷凍室21、蔬菜室22及冷藏室23在冰箱Al的前側(圖3中，左側)均具有開口 。 冷藏室23的前開口，設有以可擺動(swingably)開關的方式通過鉸鏈被安裝到其上的門 25a。冷凍室21和蔬菜室22分別設置有可抽出插入的抽屜型箱子26a、 26b。抽屜型箱 子26a、 26b，在各自的前端分別一體地設置有門25b、 25c。具體而言，抽屜型箱子26a、 26b,當其被相應地完全插入並收納進/在冷凍室21和蔬菜室22中時，通過形成於抽屜型 箱子(26a、 26b)前端的門(26a、 26a)來相應地封閉冷凍室21和蔬菜室22的前開口 。
冷氣通道24內部設置有冷卻源28和風扇29。冷卻源29用於冷卻冷氣通道24中的 空氣(例如，將空氣冷卻至大約-2(TC)，風扇29用於將冷氣通道24中的冷卻空氣分別通 過相應的連通孔27a、 27b、 27c提供到冷凍室21、蔬菜室22和冷藏室23。冷凍室21、蔬菜室22和冷藏室23，均通過被提供到各自內部的冷卻空氣而被設置在理想溫度。更具 體地，蔬菜室22和冷藏室23的理想溫度均大於冷凍室21的理想溫度(如，蔬菜室22 的理想溫度被設置為約5°C)。從而，與冷凍室21相比，連通孔27b、 27c均被設置為具 有小於連通孔27a的開口面積，以減少從冷氣通道分別進入到蔬菜室22和冷藏室23的冷 卻氣體量。
儘管沒有圖示，但是冷凍室21、蔬菜室22和冷藏室23均設有回流通道，以使氣體 回流到冷氣通道24相對於冷卻源28的上流側。
例如，在上述冰箱A1中，蔬菜室22和域冷藏室23用作噴霧接收空間9，通過由絕 熱材料製成的間壁30而鄰近於蔬菜室22和冷藏室23的冷氣通道24，用作具有低於噴霧 接收空間9的溫度的溫度的冷卻空間13(在圖3中，蔬菜室22用作噴霧接收空間9)。第 1實施方式中的冷卻空間13為具有O(零)"C以下溫度的空間。例如，當冷卻空間13包括 第1實施方式中的冰箱A1的冷氣通道24時，如上所述，冷卻空間13的溫度可設置為約 -2CTC。冷卻空間13的溫度不局限於該特定值，也可設置為其他任何(TC以下的適合的值。
靜電霧化裝置的主單元B (以下簡稱"霧化裝置主單元B")，被安裝於將蔬菜室22 (即 噴霧接收空間9)和冷氣通道24 (即冷卻空間13)分隔的間壁30的部分的位於噴霧接收 空間9一側的表面。
霧化裝置主單元B，包括霧化電極l、反向電極2、用於在霧化電極1和反向電極2 之間施加高電壓的高電壓施加部5、用於控制靜電霧化操作的控制部15、以及在內部容納 上述組件的霧化裝置外殼31。
霧化裝置外殼31被分隔為在內部容納高電壓施加部5和控制部15的容納室16a，以 及放電室16b。內部容納有高電壓施加部5和控制部15的容納室16a形成為密閉(即密 封)室，以防止諸如水等異物從外部進入其內部。霧化電極1和反向電極2設置於放電室 16b內。反向電極2由環形金屬板形成，並以設置在放電室16b內部並與形成於霧化裝置 外殼31的前壁的噴霧釋放口 17相對的方式被安裝於放電室16b在冰箱Al前側的部分。 霧化電極1被安裝於放電室16b的後壁(rcar wall)。霧化電極1被定位使其頂端的尖端部 分與環形反向電極2的中心孔的中心軸同軸設置。霧化電極1和反向電極2均通過高電壓 導線被電連接到高電壓施加部5。
霧化電極1的後端設置有傳熱構件18，其由具有優異導熱係數的材料例如金屬等制 成。霧化電極1和傳熱構件18可一體形成。或者，傳熱構件18可與霧化電極1分別形成， 然後被固定安裝到霧化電極1，或者傳熱構件18可與霧化電極1分別形成，然後與霧化電
8極1接觸。無論在哪種情況下，霧化電極1和傳熱構件18都被設置成能使得熱可以在其 間有效傳遞的結構。
在圖1和圖2示出的第1實施方式中，傳熱構件18由金屬製成，並形成為柱狀。傳 熱構件18在其前表面形成有凹部18a，其具有形成有安裝孔18b的底面。霧化電極1形 成為棒狀，霧化電極1的後端被安裝到安裝孔18b內。在這種狀態下，霧化電極1的前端， 即頂端，從傳熱構件18的前表面向前突出。也就是，在第l實施方式中，霧化電極l和 傳熱構件18被設置為除了通過安裝孔18b的內表面和霧化電極1的後端彼此接觸發生 熱傳導而進行的熱交換之外，基於通過彼此間隔相對的凹部18a的內表面和霧化電極1的 外表面之間的熱輻射而進行的熱交換，熱交換在其間有效地進行。
傳熱構件18被安裝在霧化裝置外殼31上(如圖1和2所示，在第1實施方式中，傳 熱構件18被安裝到形成霧化裝置外殼31的部分後壁的帽形構件(cap member)16c)。霧 化裝置外殼31的後壁形成有孔19 (如圖1和2所示，在第1實施方式中，孔19形成在 帽形構件16c)。傳熱構件18被設置為穿過孔19而向後突出。
霧化裝置外殼31被安裝到間壁30的與噴霧接收空間9 (如蔬菜室)相對的前表面。 在這種狀態下，傳熱構件18的突出部18c被插入到間壁30的通孔30b中，以使突出部 18c的後端部暴露於冷卻空間13。
從而，突出部18c被冷卻空間13冷卻，因此設置在噴霧接收空間9內部的霧化電極1 通過傳熱構件18被冷卻。在這個過程中，確保霧化電極1被冷卻到0(零)。C以下。具體地， 確保霧化電極1周圍的空氣中的溼氣(即噴霧接收空間9中大於(TC的空氣中的溼氣)被 凍結並附著到霧化電極l上。也就是說，在第l實施方式中，冷卻部3由保持在O(零rc 以下的冷卻空間13和傳熱構件18的組合而組成，並且霧化電極1被冷卻部3冷卻至0°C 以下。
另夕卜，在第1實施方式中，電加熱器8被設置為鄰近於霧化電極1或傳熱構件18 (例 如，以將其包圍的方式)，以用作加熱器4。
控制部15控制將電流提供到用作加熱器4的加熱器8上的時間、將電流提供到加熱 器8上的時間周期、啟動(activate)高電壓施加部以在霧化電極1和反向電極2間施加高 電壓的時間、停用高電壓施加部以停止施加高電壓的時間等。
在第l實施方式中，如圖4的時間圖表所示，在霧化電極l被冷卻部3連續冷卻的狀 態下，控制器15控制向加熱器8的電流供給和高電壓施加，以使，在沒有向加熱器8提 供電流和未進行高電壓施加的情況下進行凍結過程，凍結過程之後在向加熱器8提供電流(未進行高電壓施加)的情況下進行融化過程，融化過程之後在進行高電壓施加(並繼鄉賣 向加熱器8提供電流)的情況下進行靜電霧化過程，依次重複上述凍結過程、融化過程以 及靜電霧化過程。在圖4示出的例子中，控制將電流提供到加熱器8的開始時間、將電流 提供到加熱器8的時間周期、啟動高電壓施加部以在霧化電極1和反向電極2之間施加高 電壓的時間、以及停用高電壓施加部以停止施加高電壓的時間，以使凍結過程、融化過禾呈 和靜電霧化過程的時間周期分別被設置為30秒、20秒和60秒。上述過程的具體時間周 期僅僅是示例，可以根據噴霧接收空間9的溫度和溼度、霧化電極1的溫度、冷卻空間13 的溫度以及其他參數來將各時間周期設置為最優值。
根據上述順序，在凍結過程中，傳熱構件18被冷卻空間13冷卻，從而霧化電極l被 冷卻到0(零)。C以下的某一目標溫度，因此如圖5(A)所示噴霧接收空間9內的空氣中的溼 氣被凍結並以冰I的形式附著到霧化電極1。
如圖5(B)所示，作為對凍結過程結束的反應，g口，如圖5(A)所示在冰I剛附著到霧化 電極1上之後，將電流提供到加熱器8，以啟動將凍結在霧化電極上的冰I融化為水W的 融化過程。然後，作為對融化過程結束的反應，即，在冰I剛融化為水W之後，啟動靜電 霧化過程以在霧化電極1和反向電極2之間施加高電壓，並繼續向加熱器8提供電流。具 體地，當高電壓施加部5被啟動以在霧化電極l和反向電極2之間施加高電壓時，根據施 加在霧化電極1和反向電極2之間的高電壓，在反向電極2和被提供到霧化電極1的頂端 的水W之間產生庫倫力(Coulomb force),以在水W的表面形成局部突起的錐形部分(泰 勒錐，Taylor cone)。由於泰勒錐的形成，電荷被集中在泰勒錐的頂端以增強電場強度， 從而增加在泰勒錐的頂端產生的庫倫力，這樣進而加速泰勒錐的生長。當電荷被集中在以 這種方式生長的泰勒錐的頂端而增加電荷密度時，大於水的表面張力的大能量(高密度的 電荷的斥力)施加到泰勒錐形水的頂端，引起水的反覆破碎/分散(瑞利破碎，Rayleigh breakup),從而如圖5(C)所示，產生大量納米級帶電微水滴。隨著納米級帶電微水滴的 形成，被提供到霧化電極1的頂端上的水W將逐漸減少。然後，如圖5(D)所示，在水W 剛被完全消耗之後，就停止施加高電壓和停止向加熱器8提供電流以結束靜電霧化過程。 作為對靜電霧化過程結束的反應，凍結過程被重新啟動。隨後， 一系列過程，即用於附著 冰的凍結過程、用於供水的融化過程以及靜電霧化過程，將以上述的順序和方式被重複進 行。
以上述方式產生的納米級帶電微水滴，從形成在霧化裝置外殼31的前壁內的噴霧釋 放口 17被釋放，通過反向電極2的中心孔進入到噴霧接收空間9。如圖6所示，根據第l實施方式的靜電霧化裝置還包括檢測用於在內部進行靜電霧 化的噴霧接收空間9的溫度的噴霧接收空間溫度檢測器IO;用於檢測噴霧接收空間9的 顯 度的溼度檢測器11;用於檢測霧化電極1的溫度的霧化電極溫度檢測器12;以及用於檢 測冷卻空間13的溫度的冷卻空間溫度檢測器14。控制部15，基於上述檢測器10、 11、 12、 14所檢測的關於溫度和溼度的檢測數據，來控制開始將電流向用作融化部4的加熱 器8提供的時間(開始融化冰的時間)、停止將電流提供到融化部4的時間、開始進行高 電壓施加的時間以及停止進行高電壓施加的時間。
更具體地，控制部15，基於關於在內部進行靜電霧化的噴霧接收空間9的溫度、噴霧 接收空間9的溼度、霧化電極1的溫度和冷卻空間13的溫度的檢測數據，來控制融化部4 和高電壓施加部5，以使在最優時間開始進行融化凍結在霧化電極l上的冰的融化過程， 在冰剛被完全融化之後的最優時間開始靜電霧化過程，然後在霧化電極l上的水通過靜電 霧化過程剛被完全消耗之後的最優時間結束靜電霧化過程。由此能夠有效地進行靜電霧化
過程，而不會發生以下不理想的情況靜電霧化過程在部分冰仍然存在而沒有融化的狀況 下進行；從完成冰的融化即供水，經過無價值的等待時間之後開始施加高電壓；以及即使 水被完全消耗之後也繼續施加高電壓。
以上基於一例對第1實施方式進行了說明，其中設置有噴霧接收空間溫度檢測器10、 溼度檢測器11、霧化電極溫度檢測器12和冷卻空間溫度檢測器14，並且控制器15基於 檢測器IO、 11、 12、 14所檢測到的關於溫度和溼度的檢測數據，來控制融化部4和高電 壓施加部5，以使在最優時間開始融化凍結在霧化電極1上的冰的融化過程，在冰剛被 完全融化之後的最優時間開始靜電霧化過程，然後在霧化電極l上的水通過靜電霧化過程 剛被完全消耗之後的最優時間結束靜電霧化過程。或者，可以設置噴霧接收空間溫度檢測 器10、溼度檢測器11、霧化電極溫度檢測器12和冷卻空間溫度檢測器14中的至少其中 之一或多個，並且控制器15基於檢測器中的其中之一或多個的檢測數據，來控制融化部4 和高電壓施加部5，以使在最優時間開始融化凍結在霧化電極1上的冰的融化過程，在 冰剛被完全融化之後的最優時間開始靜電霧化過程，然後在霧化電極1上的水通過靜電霧 化過程剛被完全消耗之後的最優時間結束靜電霧化過程。由此也能夠有效地進行靜電霧化
過程，而不會發生以下不理想的情況靜電霧化過程在部分冰仍然存在而沒有融化的狀況 下進行；
從完成冰的融化即供水，經過無價值的等待時間之後開始施加高電壓；以及即使在水 被完全消耗之後也繼續施加高電壓。以下，參照圖7至9來說明本發明的第2實施方式。在第2實施方式中，用帕爾帖單 元7構成冷卻部3和融化部4。
帕爾帖單元7包括一對上側和下側帕爾帖電路板32，以及熱電器件34。上側和下側 帕爾帖電路板32均通過在由高導熱係數的諸如氧化鋁或氮化鋁等的材料製成的電絕緣豐寸 底的一表面形成電路而製成。上側和下側帕爾帖電路板32以使各自的電路彼此相對而淨皮 設置。熱電器件34包括大量的n型和p型BiTe基(BiTe-based)的熱電元件34，其交 替排列並被夾在上側和下側帕爾帖電路板32之間，以使相鄰的n型和p型BiTe基熱電元 件34的一端分別通過相對電路中的一相應電路被串聯電連接。作為對通過帕爾帖輸入導 線33將電流提供到熱電元件34的反應，帕爾帖單元7將熱從一帕爾帖電路板32傳遞到 另一帕爾帖電路板32。上側帕爾帖電路板32的上表面，被熱連接到由高導熱係數和高電 阻的諸如氧化鋁或氮化鋁等的材料製成的上側電絕緣板35。另外，下側帕爾帖電路板32 的下表面，被熱連接到由高導熱係數和高電阻的諸如氧化鋁或氮化鋁等的材料製成的下側 電絕緣板36。
上側帕爾帖電路板32和上側電絕緣板35用作第1傳熱部6,下側帕爾帖電路板32 和下側傳熱板36用作第2傳熱部6，其中熱通過熱電元件34從一傳熱部6的一側向另一 傳熱部6傳送。
在第2實施方式中，帕爾帖單元7的第1和第2傳熱部6中的其中之一 (具體地，第 1傳熱部6)被熱連接到霧化電極1。從而，當將電流以第1方向，即可使第1傳熱部6 冷卻的方向提供到帕爾帖單元7時，被熱連接到第1傳熱部6的霧化電極1將被冷卻到0 (零)°C以下，從而使噴霧接收空間內的空氣中的溼氣被冷凝並以冰I的形式附著在霧化 電極1上。在這種情況下，帕爾帖單元7用作將霧化電極1冷卻到(TC以下的冷卻部3。
不同地，當將電流以與第1方向相反的第2方向提供到帕爾帖單元7時，被熱連接到 霧化電極1的第1傳熱部6成為熱釋放部。從而，霧化電極1將被加熱到大於0°C的溫度， 以使附著到霧化電極1上的冰I融化，從而將水提供到霧化電極l上。在這種情況下，帕 爾帖單元7用作將附著在霧化電極1上的冰I融化的融化部4。
控制部15 (參照圖9)控制將電流以第1方向提供到帕爾帖單元7，以使帕爾帖單 元7用作冷卻部3來冷卻霧化電極1的操作的開始時間和時間周期；將電流反向提供到帕 爾帖單元7(即，將電流以與第1方向相反的第2方向提供到帕爾帖單元7)，以使帕爾帖 單元7用作融化部4來融化凍結在霧化電極1上的冰I的操作的開始時間和時間周期；以 及啟動高電壓施加部以在霧化電極1和反向電極2之間施加高電壓的操作的開始時間和時間周期。
具體地，在第2實施方式中，如圖8示出的時間圖表所示，控制部15控制對帕爾帖 單元7的電流供給和高電壓施加，以依次重複進行在未進行高電壓施加的情況下，將電 流以第1方向提供到帕爾帖單元7以將霧化電極1冷卻到O(零)'C以下的凍結過程；在凍
結過程結束之後，將電流反向提供到帕爾帖單元7 (即，將電流以與第1方向相反的第2 方向提供到帕爾帖單元7)來加熱霧化電極1 (未進行高電壓施加)的融化過程；以及在 融化過程結束之後，施加高電壓的靜電霧化過程(在靜電霧化過程中，通過連續將電流在 第2方向提供到帕爾帖單元7而繼續加熱霧化電極1)。
在圖8所示的例子中，通過控制切換對帕爾帖單元7的電流供給的第1和第2方向
的時間、各過程中提供電流的時間周期、以及啟動高電壓施加部以在霧化電極l和反向電
極2之間施加高電壓的開始時間和時間周期，來使得凍結過程、融化過程和靜電霧化過禾呈 的各自的時間周期被分別設置為30秒、20秒和60秒。上述過程的具體時間周期僅為示 例，可在考慮噴霧接收空間9的溫度和溼度、由帕爾帖單元7冷卻或加熱的霧化電極1的 理想冷卻和加熱溫度以及其他參數後，將各時間周期設置為最優值。
在圖8所示的上述控制操作中，在凍結期間，霧化電極1通過帕爾帖單元7被冷卻到 O(零)"C以下，噴霧接收空間9內的空氣中的溼氣將被凍結並以冰I的形式附著在霧化電 極上，如圖5(A)所示。
作為對凍結過程結束的反應，S卩，如圖5(A)所示的冰I剛附著到霧化電極1上之後， 對帕爾帖單元7的電流供給的方向被反向，以開始進行加熱霧化電極1以將凍結在霧化電 極1上的冰I融化為水W的融化過程，如圖5(B)所示。然後，作為對融化過程結束的反 應，即，在冰I剛被融化為水W之後，開始進行靜電霧化過程以在霧化電極l和反向電極 2之間施加高電壓，並通過連續在第2方向將電流提供到帕爾帖單元7來繼續加熱霧化電 極l。具體地，當高電壓施加部5被啟動以在霧化電極1和反向電極2之間施加高電壓時， 基於施加在霧化電極1和反向電極2之間的高電壓，在反向電極2和被提供到霧化電極1 的頂端的水W之間庫倫力產生，從而在水W的表面形成局部突起的錐形部分(泰勒錐)。 由於泰勒錐的形成，電荷被集中在泰勒錐的頂端以增強電場強度，從而增加在泰勒錐的頂 端產生的庫倫力，這樣進而加速泰勒錐的生長。當電荷被集中在以這種方式生長的泰勒錐 的頂端而增加電荷密度時，大於水的表面張力的大能量(高密度的電荷的斥力)施加到泰 勒錐形水的頂端，引起水的反覆破碎/分散(瑞利破碎)，如圖5(C)所示，從而產生大量納 米級帶電微水滴。隨著納米級帶電微水滴的形成，被提供到霧化電極1的頂端的水W將逐漸減少。然後，如圖5(D)所示的水W剛被完全消耗以後，就結束靜電霧化過程。在靜 電霧化過程結束時，停止施加高電壓，以第l方向將電流提供到帕爾帖單元7，以重新開
始進行將霧化電極1冷卻到(TC以下的凍結過程。隨後，上述一系列過程，即用於附著7水
的凍結過程、用於供水的融化過程以及靜電霧化過程，以上述的順序和方式被重複進行。
以上述方式產生的納米級帶電微水滴，從形成在霧化裝置外殼31的前壁的噴霧釋放 口 17被釋放，並通過反向電極2的中心孔進入噴霧接收空間9。
如圖9所示，第2實施方式的靜電霧化裝置還包括用於檢測在內部進行靜電霧化的 噴霧接收空間9的溫度的噴霧接收空間溫度檢測器IO;用於檢測噴霧接收空間9的溼度的 溼度檢測器ll;以及用於檢測霧化電極1的溫度的霧化電極溫度檢測器12。控制部15， 基於上述檢測器10、 11、 12所檢測的關於溫度和溼度的檢測數據，來控制基於融化部4 的融化的開始時間，基於高電壓施加部5的啟動的靜電霧化開始的時間，以及基於高電壓 施加部5的停用的靜電霧化停止的時間。
更具體地，控制部15，基於關於在內部進行靜電霧化的噴霧接收空間9的溫度、噴霧 接收空間9的溼度和霧化電極1的溫度的檢測數據來控制在第2方向將電流提供到帕爾 帖單元7，以使得帕爾帖單元7用作融化部4來加熱霧化電極1的開始時間；將對帕爾帖 單元7的電流供給的方向切換到第1方向以重新開始冷卻霧化電極1的時間；基於高電壓 施加部5的啟動的靜電霧化開始的時間；以及基於高電壓施加部5的停用的靜電霧化停止 的時間。由此能夠控制並將提供電流的時間周期設置為能使凍結在霧化電極l上的冰完全
融化的最優值，以有效地進行靜電霧化過程，而不會發生以下不理想的情況靜電霧化過 程在部分冰仍然存在而沒有融化的狀況下進行；從完成冰的融化即供水，經過無價值的等 待時間之後開始施加高電壓；以及即使在水被完全消耗之後也繼續施加高電壓。
以上，基於一例對第2實施方式進行了說明，其中設置有噴霧接收空間溫度檢測器10、
溼度檢測器11和霧化電極溫度檢測器12，並且控制器15基於檢測器10、 11、 12所檢測
的關於溫度和溼度的檢測數據，來控制將電流在第2方向提供到帕爾帖單元7以加熱霧
化電極1的開始時間，將對帕爾帖單元7的電流供給的方向切換到第1方向以重新開始冷 卻霧化電極l的時間，基於高電壓施加部5的啟動的靜電霧化開始的時間，以及基於高電 壓施加部5的停用的靜電霧化停止的時間。或者，可以提供噴霧接收空間溫度檢測器IO、 溼度檢測器11和霧化電極溫度檢測器12中的至少其中之一或多個，並且控制器15基於 檢測器中的其中之一或多個的檢測數據來控制將電流在第2方向提供到帕爾帖單元7以 使得帕爾帖單元7用作融化部4來加熱霧化電極1的開始時間，將對帕爾帖單元7的電流
14供給的方向切換到第1方向以重新開始冷卻霧化電極1的時間，基於高電壓施加部5的啟 動的靜電霧化開始的時間，以及基於高電壓施加部5的停用的靜電霧化停止的時間。由此 也能夠有效地進行靜電霧化過程，而不會發生以下不理想的情況靜電霧化過程在部分冰 仍然存在而沒有融化的狀況下進行；從完成冰的融化即供水，經過無價值的等待時間之後 開始施加高電壓；以及即使在水被完全消耗之後也繼續施加高電壓。
在上述實施方式中，產生並被釋放到噴霧接收空間9的納米級帶電水滴小至納米級， 由此很長時間內在空氣中具有浮動性和高擴散性。從而，納米級帶電水滴可在噴霧接收空 間9的各角落漂蕩並附著在限定噴霧接收空間9的結構構件的內壁和被收容在噴霧接收空 間9中的物體上。另外，納米級帶電水滴包括具有除臭效果、黴菌和細菌的滅菌效果、及 抑制黴菌和細菌傳播的效果的活性種類，其中，活性種類以被水分子包裹的狀態存在於納 米級帶電水滴中。從而，當納米級帶電水滴附著在限定噴霧接收空間9的結構構件的內壁 和存儲在噴霧接收空間9中的物體上時，將表現除臭效果、黴菌和細菌的滅菌效果以及抑 制其傳播的效果。另外，與以自由基形式獨立存在的活性種類相比，以被水分子包裹的狀 態存在於納米級帶電水滴中的活性種類具有較長的壽命，這能夠增強擴散性能、除臭效果、 黴菌和細菌的滅菌效果以及抑制其傳播的效果。當然，納米級帶電水滴也具有增溼被收容 在噴霧接收空間9中的物體的增溼效果。
在上述實施方式中，冷卻部3將霧化電極1冷卻至0(零)T以下，以使得空氣中的溼 氣凍結並以冰的形式附著在霧化電極1上，然後融化部4融化凍結並附著在霧化電極1上 的冰，以將水提供到霧化電極l上。從而，即使在內部進行靜電霧化的噴霧接收空間9具 有低溫度和/或低溼度，冷卻部3也能夠將霧化電極1的溫度降低到噴霧接收空間9內的空 氣中溼氣的飽和溫度(即，降到0°C以下的任何溫度)，以確保噴霧接收空間9內的空氣 中的溼氣被凍結並以冰I的形式附著到霧化電極1上，然後融化部能夠融化附著在霧化電 極1上的冰I並將水W提供到霧化電極1上。這能夠確保穩定地將水提供到霧化電極1 上，並且靜電霧化水。
在上述實施方式中，空氣中的溼氣被凍結，然後冰被融化並以水的形式被提供。也就 是，在上述實施方式中，霧化電極l的設定溫度，B口，用於將噴霧接收空間內的空氣中的 溼氣凍結成冰所需要的霧化電極l的溫度，為(TC以下。這意味著將上述實施方式的靜電 霧化裝置中的可霧化區確定為圖10中位於(TC以下的某個設定溫度的曲線的上方的全部 區域。圖10中，與現有靜電霧化裝置中的位於大於(TC的某個設定溫度的曲線上方的可 霧化區相比，能夠在很大程度上擴大可霧化區，即，擴大可使用靜電霧化裝置的溫度/溼度環境的範圍。
例如，當霧化電極1被冷卻到設定溫度-5T時，可霧化區被確定為圖10中的-5"C
的曲線上方的全部區域。當霧化電極i被冷卻到設定溫度-2crc時，可霧化區被確定為圖
10中的-20。C的曲線上方的全部區域。當霧化電極1被冷卻到設定溫度-25。C時，可霧化 區被確定為圖10中的-25°C的曲線上方的全部區域。
當然，可將霧化電極l的設定溫度設置為能使噴霧接收空間9內的空氣中的溼氣被 凍結並以冰的形式附著到霧化電極1上的CTC以下的任何值。
以上，舉例對第l和第2實施方式進行了說明，其中，在靜電霧化過程結束，即停止 施加高電壓的同時，停止融化部4對霧化電極1的加熱。或者，可在靜電霧化過程的開始， 即開始施加高電壓的同時，停止融化部4對霧化電極1的加熱，或可以在開始施加高電壓 和停止施加高電壓之間的任何時間，停止融化部4對霧化電極1的加熱。這能夠減小啟動 融化部4的時間周期以有利於節能。當在使用帕爾帖單元7的實施方式中進行該控制時， 可將對帕爾帖單元7的電流供給，在上述的停止對霧化電極1的加熱的時間停止，然後在 停止施加高電壓的同時重新啟動，以此來冷卻霧化電極1。
如上所述， 一種靜電霧化裝置，包括霧化電極，被控制以便將附著在其上的水靜電
霧化；冷卻部，用於冷卻所述霧化電極，以便使空氣中的溼氣被凍結到所述霧化電極上； 融化部，用於融化凍結在所述霧化電極上的冰，以便將水提供到所述霧化電極上；高電壓 施加部，用於向所述霧化電極施加高電壓；以及控制部，用於在通過融化凍結在所述霧化 電極上的冰而將水提供到所述霧化電極上之後的狀態下，啟動所述高電壓施加部以引起所 述水的靜電霧化。
在靜電霧化裝置中，冷卻部將霧化電極冷卻至O(零)"C以下，以使空氣中的溼氣被凍 結並以冰的形式附著在霧化電極上，接著，融化部融化被凍結並附著在霧化電極上的冰， 以將融化的水提供到霧化電極上。然後，高電壓施加部向霧化電極施加高電壓，以引起被 提供到霧化電極上的水的靜電霧化。這樣，空氣中的溼氣被凍結成冰，然後冰被融化並以 水的形式被提供。從而，即使在內部進行靜電霧化的噴霧接收空間具有低溼度和/或低溫度， 也能夠確保水被提供到霧化電極上並被靜電霧化，以穩定地產生帶電微水滴。這能夠有效 地擴展可霧化區，從而在更廣的溼度/溫度環境範圍中使用靜電霧化裝置。
優選的是，在靜電霧化裝置中，所述冷卻部和所述融化部可包括具有兩個傳熱部的帕 爾帖單元，所述兩個傳熱部的其中一方用作冷卻部、另一方用作加熱部，其中，所述兩個 傳熱部中的其中之一，被熱連接到所述霧化電極上；所述帕爾帖單元被提供有電流，所述電流的方向被切換用來選擇性地冷卻和加熱所述霧化電極。
根據這個特徵，電流以第1方向被提供到帕爾帖單元以將霧化電極冷卻到0(零)。C以 下，從而使空氣中的溼氣被凍結並以冰的形式附著到霧化電極上，然後將提供到帕爾帖單 元的電流的方向切換到第2方向以便加熱霧化電極，融化被凍結並附著在霧化電極上的冰， 從而將水提供到霧化電極上。因此，可用簡單的結構，即將提供到帕爾帖單元的電流在兩 個方向之間切換的結構來實現冷卻部和融化部。
或者，所述融化部可包括電加熱器。
在這種情況下，被凍結並附著在霧化電極上的冰能夠被加熱器加熱，以便容易地將水 提供到霧化電極上，從而有利於簡化結構。
優選的是，靜電霧化裝置可包括噴霧接收空間溫度檢測器，用於檢測在其內部實現靜 電霧化的噴霧接收空間的溫度，其中，所述控制部，根據由所述噴霧接收空間溫度檢測器 所檢測的關於噴霧接收空間溫度的數據，控制基於所述融化部的融化開始時間、基於所述 高電壓施加部的啟動的靜電霧化開始時間以及基於所述高電壓施加部的停用的所述靜電 霧化停止時間。
根據這個特徵，能夠依據噴霧接收空間的溫度來以下述方式控制融化部和高電壓施加 部，即，使融化凍結在霧化電極上的冰的融化過程在最優時間開始，並且使靜電霧化過程 在冰被完全融化之後的最優時間開始，然後在霧化電極上的水通過靜電霧化過程被完全消 耗之後的最優時間結束。這能夠有效地進行靜電霧化過程，而不會發生以下不理想的情況 靜電霧化過程在部分冰仍然存在而沒有融化的狀況下進行；從完成冰的融化即供水，經過 無價值的等待時間之後開始施加高電壓；以及即使在水被完全消耗之後也繼續施加高電 壓。
優選的是，靜電霧化裝置可包括噴霧接收空間溼度檢測器，用於檢測在其內部實現靜 電霧化的噴霧接收空間的溼度，其中，所述控制部，根據所述溼度檢測器所檢測的關於噴 霧接收空間溼度的數據，控制基於所述融化部的融化開始時間、基於所述高電壓施加部的 啟動的靜電霧化開始時間以及基於所述高電壓施加部的停用的所述靜電霧化停止時間。
根據這個特徵，能夠依據噴霧接收空間的溼度來以下述方式控制融化部和高電壓施加 部，S卩，使融化凍結在霧化電極上的冰的融化過程在最優時間開始，並且使靜電霧化過程 在冰被完全融化之後的最優時間開始，然後在霧化電極上的水通過靜電霧化過程被完全消 耗之後的最優時間結束。由此能夠有效地進行靜電霧化過程，而不會發生以下不理想的情 況靜電霧化過程在部分冰仍然存在而沒有融化的狀況下進行；從完成冰的融化即供水，
17經過無價值的等待時間之後開始施加高電壓；以及即使在水被完全消耗之後也繼續施加高 電壓。
優選的是，靜電霧化裝置可包括霧化電極溫度檢測器，用於檢測所述霧化電極的溫度， 其中，所述控制部，根據所述霧化電極溫度檢測器所檢測的關於霧化電極溫度的數據，控 制基於所述融化部的融化開始時間、基於所述高電壓施加部的啟動的靜電霧化開始時間以 及基於所述高電壓施加部的停用的所述靜電霧化停止時間。
根據這個特徵，能夠依據霧化電極的溫度來以下述方式控制融化部和高電壓施加部， 即，使融化凍結在霧化電極上的冰的融化過程在最優時間開始，並且使靜電霧化過程在冰 被完全融化之後的最優時間開始，然後在霧化電極上的水通過靜電霧化過程被完全消耗之 後的最優時間結束。由此能夠有效地進行靜電霧化過程，而不會發生以下不理想的情況 靜電霧化過程在部分冰仍然存在而沒有融化的狀況下進行；從完成冰的融化即供水，經過 無價值的等待時間之後開始施加高電壓；以及即使在水被完全消耗之後也繼續施加高電 壓。
優選的是，靜電霧化裝置可包括冷卻空間溫度檢測器，用於檢測鄰近於在其內部實現 靜電霧化的噴霧接收空間的冷卻空間的溫度，所述冷卻空間被保持在低於所述噴霧接收空 間的溫度的溫度，其中，所述冷卻部，通過與所述冷卻空間的熱交換來冷卻所述霧化電極， 以使空氣中的溼氣被凍結到所述霧化電極上；所述控制部，根據所述冷卻空間溫度檢測器 所檢測的關於冷卻空間溫度的數據，控制基於所述融化部的融化開始時間、基於所述高電 壓施加部的啟動的靜電霧化開始時間以及基於所述高電壓施加部的停用的所述靜電霧化 停止時間。
依據冷卻空間的溫度的變化，來改變霧化電極的冷卻溫度，從而改變通過凍結噴霧接 收空間內的空氣中的溼氣而形成到霧化電極上的冰的量。從而，根據這個特徵，能夠依據 冷卻空間的溫度來以下述方式控制融化部和高電壓施加部，即，使融化被凍結在霧化電極 上的冰的融化過程在最優時間開始，並且使靜電霧化過程在冰被完全融化之後的最優時間 開始，然後在霧化電極上的水通過靜電霧化過程被完全消耗之後的最優時間結束。由此能 夠有效地進行靜電霧化過程，而不會發生以下不理想的情況靜電霧化過程在部分冰仍然 存在而沒有融化的狀況下進行；從完成冰的融化即供水，經過無價值的等待時間之後開始 施加高電壓；以及即使在水被完全消耗之後也繼續施加高電壓。
在本說明書中，用以實現某功能的裝置的形式被說明的元件或組件，不局限於為實現 這樣的功能而在本說明書所公開的特定的結構、構造或配置，而可以包括任何其他能夠實現這樣的功能的諸如單元、機構或組件等的適合的結構、構造或配置。
產業上的利用可能性
在本發明的靜電霧化裝置中，冷卻部冷卻霧化電極，以使空氣中的溼氣被凍結到霧化 電極上，融化部融化凍結到霧化電極上的冰，以將水提供到霧化電極上。然後，控制部在 通過融化凍結在霧化電極上的冰而將水提供到霧化電極上之後的狀態下，啟動高電壓施加 部，以引起水的靜電霧化。因此，即使噴霧接收空間具有低溫度和/或低溼度，也能夠確保 水被提供到霧化電極上並被靜電霧化，而對在內部進行靜電霧化的噴霧接收空間的溫度/ 溼度條件沒有任何限制。
權利要求
1.一種靜電霧化裝置，其特徵在於包括霧化電極，被控制以便將附著在其上的水靜電霧化；冷卻部，用於冷卻所述霧化電極，以便使空氣中的溼氣被凍結到所述霧化電極上；融化部，用於融化凍結在所述霧化電極上的冰，以便將水提供到所述霧化電極上；高電壓施加部，用於向所述霧化電極施加高電壓；以及控制部，用於在通過融化凍結在所述霧化電極上的冰而將水提供到所述霧化電極上之後的狀態下，啟動所述高電壓施加部以引起所述水的靜電霧化。
2. 根據權利要求l所述的靜電霧化裝置，其特徵在於所述冷卻部和所述融化部包括 具有兩個傳熱部的帕爾帖單元，所述兩個傳熱部的其中一方用作冷卻部、另一方用作加熱 部，其中，所述兩個傳熱部中的其中之一，被熱連接到所述霧化電極上；所述帕爾帖單元被提供有電流，所述電流的方向被切換用來選擇性地冷卻和加熱所述 霧化電極。
3. 根據權利要求l所述的靜電霧化裝置，其特徵在於所述融化部包括電加熱器。
4. 根據權利要求1至3中任一項所述的靜電霧化裝置，其特徵在於還包括噴霧接收 空間溫度檢測器，用於檢測在其內部實現靜電霧化的噴霧接收空間的溫度，其中，所述控制部，根據由所述噴霧接收空間溫度檢測器所檢測的關於噴霧接收空間溫度的 數據，控制基於所述融化部的融化開始時間、基於所述高電壓施加部的啟動的靜電霧化開 始時間以及基於所述高電壓施加部的停用的所述靜電霧化停止時間。
5. 根據權利要求1至4中任一項所述的靜電霧化裝置，其特徵在於還包括噴霧接收 空間溼度檢測器，用於檢測在其內部實現靜電霧化的噴霧接收空間的溼度，其中，所述控制部，根據所述溼度檢測器所檢測的關於噴霧接收空間溼度的數據，控制基於 所述融化部的融化開始時間、基於所述高電壓施加部的啟動的靜電霧化開始時間以及基於 所述高電壓施加部的停用的所述靜電霧化停止時間。
6. 根據權利要求1至5中任一項所述的靜電霧化裝置，其特徵在於還包括霧化電極 溫度檢測器，用於檢測所述霧化電極的溫度，其中，所述控制部，根據所述霧化電極溫度檢測器所檢測的關於霧化電極溫度的數據，控制 基於所述融化部的融化開始時間、基於所述高電壓施加部的啟動的靜電霧化開始時間以及 基於所述高電壓施加部的停用的所述靜電霧化停止時間。
7. 根據權利要求1至3中任一項所述的靜電霧化裝置，其特徵在於還包括冷卻空間 溫度檢測器，用於檢測鄰近於在其內部實現靜電霧化的噴霧接收空間的冷卻空間的溫度， 所述冷卻空間被保持在低於所述噴霧接收空間的溫度的溫度，其中，所述冷卻部，通過與所述冷卻空間的熱交換來冷卻所述霧化電極，以使空氣中的溼氣 被凍結到所述霧化電極上；所述控制部，根據所述冷卻空間溫度檢測器所檢測的關於冷卻空間溫度的數據，控制 基於所述融化部的融化開始時間、基於所述高電壓施加部的啟動的靜電霧化開始時間以及 基於所述高電壓施加部的停用的所述靜電霧化停止時間。
全文摘要
本發明公開了一種靜電霧化裝置，其包括用於冷卻霧化電極1以便使空氣中的溼氣被凍結到霧化電極1上的冷卻部3；用於融化凍結在霧化電極1上的冰以便將水提供到霧化電極1上的融化部4；用於向霧化電極1施加高電壓的高電壓施加部5；以及用於在通過融化凍結在所述霧化電極1上的冰而將水提供到所述霧化電極1上之後的狀態下，啟動所述高電壓施加部5以便靜電霧化被提供到霧化電極1上的水的控制部15。即使噴霧接收空間具有低溫度和/或低溼度，本發明的靜電霧化裝置也能夠確保將水提供到霧化電極上並將水靜電霧化，而對在內部進行靜電霧化的噴霧接收空間的溫度/溼度條件沒有任何限制。
文檔編號B05B5/057GK101563165SQ20078004746
公開日2009年10月21日 申請日期2007年12月18日 優先權日2006年12月22日
發明者中田隆行, 和田澄夫, 山口友宏, 町昌治, 須田洋 申請人:松下電工株式會社