一種基於光敏元件自動關閉雷射器的裝置及其系統和方法
2023-04-24 04:55:51 2
專利名稱：一種基於光敏元件自動關閉雷射器的裝置及其系統和方法
技術領域：
本發明涉及波分復用WDM設備雷射放大器的監控裝置及其系統和技術領域，更具體的說，涉及的是一種基於光敏元件自動關閉雷射器的裝置及其系統和方法的改進。
背景技術：
密集型光波復用DWDM(Dense Wavelength Division Multiplexing ，以下簡稱DWDM)技術是組合一組光波長並用 一根光纖進行傳送的。這是一項用來在現有的光纖骨幹網上提高帶寬的雷射技術。該技術是在一根指定的光纖中，多路復用單個光纖載波的緊密光譜間距，以便利用可以達到的傳輸性能。
目前的密集型光波復用DWDM系統可提供16/20波或32/40波的單纖傳輸容量，最大可到160波，具有靈活的擴展能力。
而雷射放大器作為密集型光波復用DWDM系統中的一部分，實現了一根光纖中多路光信號的同時放大，大大降低了光中繼的成本；同時還可與傳輸光纖實現良好的耦合，具有高增益低噪聲等優點。因此成功地應用于波分復用WDM(Wavelength Division Multiplexing,以下簡稱WDM)光通信系統，極大地增加了光纖中可傳輸的信息的容量和傳輸距離。
但是，有利就有弊，雷射器具有高增益的同時也帶來了高危險性。測試人員在測試設備，或者維護人員在維護設備的時候，常常需要手動的拔掉光纖，此時，如果單板的雷射器沒有及時的關閉，由於雷射器的發光較強，就會對測試人員或維護人員的身體造成傷害，尤其是對眼睛的危害最大。
現有的密集型光波復用DWDM系統尚沒有一種系統和裝置能夠在拔掉單板輸出埠光纖的時候及時關閉雷射放大器。因此迫切需要一種裝置和系統，在單板輸出埠光纖拔掉後，及時關閉單板的雷射器，有效的避免雷射對人身體造成的傷害。
另外，由於現有的密集型光波復用DWDM設備單板的光口經常棵露在外，如果長期不使用，就會沾染大量的灰塵，使用時不及時清理，則會大大降低密集型光波復用DWDM系統的光傳輸效率。而每次清理都會佔用使用人員的大量時間，同時消耗大量的酒精和鏡頭紙。因此，現有技術尚有待於改進和發展。
發明內容
本發明的目的在於，提供一種基於光敏元件自動關閉雷射器的裝置及其系統和方法，在單板光纖拔出後，及時的關閉單板的雷射器，有效的避免雷射器對人身體造成的傷害；同時，還能夠對單板的光輸出埠，起到很好的防塵效果，節省不必要的浪費。
本發明的技術方案如下
一種基於光敏元件自動關閉雷射器的裝置，包括一光敏元件和與其電連接的一光信號才莫塊，其中，
所述光敏元件用於在光纖脫離單板雷射器的情況下，接收所述單板雷射器的雷射照射，使該光敏元件的阻抗發生變化；
所述光信號模塊位於所述光敏元件的後端，用於判斷上述光敏元件的阻抗變化，以便通過改變電路狀態來自動關閉雷射器。
所述的裝置，其中，所述光敏元件附著在一單板雷射器光口的滑片上，所述滑片用於在光纖脫離單板雷射器的情況下滑落，並擋住所述單板雷射
6器光口 ，使得所述單板雷射器的雷射直接照射到所述光敏元件上。
所述的裝置，其中，所述光信號模塊具體包括一檢測器和位於其後端
的一寄存器，其中
所述檢測器用於通過檢測所述光敏元件的電流，判斷所述光敏元件的阻抗是否發生變化；
所述寄存器與所述檢測器電連接，便於所述檢測器在所述光敏元件的阻抗發生變化時，進行置位或復位之用，以改變電路狀態。
一種基於光敏元件自動關閉雷射器的系統，包括一光敏元件和與其電連接的一光信號模塊，所述光敏元件用於在光纖脫離單板雷射器時接收雷射照射並發生阻抗的變化，所述光信號;f莫塊位於所述光敏元件的後端，用於判斷上述光敏元件的阻抗變化，並通過改變電路狀態來自動關閉雷射器；其中，所述系統還包括一與所述光信號模塊相關聯的單板主控程序，用於不間斷的輪詢所述電路狀態，以便所述光信號模塊通過改變的電路狀態來自動關閉雷射器。
所述的系統，其中，所述單板主控程序還包括在所述電路狀態處於置位的狀態下，向所述單板雷射器發出關閉雷射器的命令。
一種基於光敏元件自動關閉雷射器的方法，包括以下步驟
A、 光纖脫離單板雷射器，所述單板雷射器的雷射照射到光敏元件上，使所述光敏元件的阻抗發生變化；
B、 根據所述光敏元件的阻抗變化，系統自動改變電路狀態；
C、 不間斷輪詢所述電路狀態，以便通過改變的電路狀態來自動關閉雷射器。
所述的方法，其中，所述步驟A中光纖脫離單板雷射器時的操作具體包括
Al、將所述光敏元件附著在一單板雷射器光口的滑片上；A2、所述滑片在光纖脫離單板雷射器時滑落，擋住所述單板雷射器
光口 ，使所述單板雷射器的雷射直接照射到所述光敏元件上。
所述的方法，其中，所述步驟B中改變電路狀態時的操作具體包括Bl、檢測所述光敏元件的電流，判斷所述光敏元件的阻抗是否發生
變化；
B2、檢測所述光敏元件的阻抗與其正常值不符時置位電路狀態。所述的方法，其中，所述步驟C中輪詢所述電路狀態時的操作具體包
括
輪詢到電路狀態被置位時向所述單板雷射器下發關閉雷射器的命令。
所述的方法，其中，所述C之後系統的操作還包括Dl、在所述單板雷射器關閉後，所述光敏元件的阻抗恢復至正常值；D2、通過預定時間內^r測光敏元件電流的變化，判斷所述光敏元件的阻抗與其正常值是否相符，是則復位電路狀態。
本發明所提供的 一種基於光敏元件自動關閉雷射器的裝置及其系統和方法，由於採用檢測光敏元件的電流變化來改變電路狀態，並通過輪詢改變的電路狀態自動關閉雷射器，使得在單板光纖拔出後，及時關閉了單板的雷射器，有效避免了雷射器對人身體造成的傷害；同時，切斷了光口與外界的接觸，有效降低了光口的灰塵汙染，起到了很好的防塵效果，節省了不必要的浪費。
圖1為本發明的硬體結構示意圖2為本發明的執行模塊流程示意圖3為本發明的檢測模塊流程示意圖。
具體實施例方式
以下將結合所示附圖，對本發明基於光敏元件自動關閉雷射器的具體 實施方式和實施例加以詳細說明。
本發明的 一種基於光敏元件自動關閉雷射器的裝置及其系統和方法， 主要核心點在於，根據檢測到光敏元件的電流變化改變電路狀態，並通過
輪詢改變的電路狀態自動關閉雷射器；至於WDM、 DWDM、單板雷射器及 其光口、滑片和寄存器等技術為本領域技術人員所熟知，在此不再贅述。
簡單的說，就是在光纖脫離單板雷射器的情況下，利用雷射器內的激 光照射光敏元件，使光敏元件的阻抗發生變化。檢測模塊檢測到光敏元件 的阻抗發生變化後，把電路狀態置位。單板的主控程序在輪詢到電路狀態 置位後，下發關閉雷射器的會厶-實規激並.器的自動關閉。
本發明基於光敏元件自動關閉雷射器的裝置及其系統共包括以下幾個 部分，如附圖1所示
光敏元件100:光敏元件100附著在單板雷射器130光口的滑片上，當 光纖拔出後，光敏元件100隨著該光口的滑片落下，使單板雷射器130的 雷射直接照射到光敏元件100上，由於雷射的照射，光敏元件100的阻抗 發生變化。光敏元件100的兩邊連接額定的電壓，阻抗發生變化後，從而 光萄丈元件100的電流改變。
光信號模塊110:包含檢測器111和寄存器112。檢測器lll用來通過 檢測光敏元件100的電流，並根據電流變化判斷光敏元件100的阻抗是否 發生變化，並且置位或復位寄存器112。
檢測器111檢測到光敏元件100的阻抗與其正常值不同，則置位寄存 器112;檢測到光4文元件100的阻抗與其正常值相同，則復位寄存器112。
單板主控程序120:該程序與所述光信號模塊相關聯，不間斷的輪詢電 路狀態，即寄存器112的狀態，當4侖詢到寄存器112的狀態處於置位狀態， 向單板雷射器130下發關閉雷射器命令。
與現有技術相比較，本發明基於光敏元件自動關閉雷射器的裝置及其
9系統具有以下的優點和有益效果
一是能夠保護測試人員和維護人員。單板放大器正在工作的時候，如 果測試人員和維護人員主動或者誤操作，拔掉輸出光口的光纖，^r測器能 夠迅速的檢測到輸出光，在極短的時間內關閉雷射器，避免對人員造成傷 害。
二是具有很好的防塵作用。在輸出光纖被拔出的同時，檢測器的滑片 會隨著滑下，關閉輸出光口與外界的接觸。
下面根據其他附圖對本發明基於光敏元件自動關閉雷射器的方法進行 詳細說明，其中，
裝置部分的檢測步驟如圖3所示
步驟S310、拔掉光纖後，光纖脫離單板雷射器；
步驟S320、帶有光敏元件的滑片滑落，擋住出單板雷射器光口；
步驟S330、單板雷射器的雷射照射到滑片上的光敏元件，光壽丈元件接 收雷射後，其阻抗發生變化；
步驟S340、檢測模塊在極短時間內如30ms內檢測到光敏元件的阻抗 發生變化，並判斷光敏元件的阻抗是否與其正常值相符，是則結束檢測操 作，否則進入步驟S350;
步驟S350、光敏元件的阻抗與其正常值不相符，檢測模塊置位寄存器。
系統部分的執行步驟如圖2所示
步驟S210、單板主控程序輪詢表徵電路狀態的寄存器，當輪詢到寄存 器被置位時，進入步驟S220，否則結束輪詢操作；
步驟S220、下發關閉雷射器的命令結束輪詢操作。
在雷射器被關閉後，雷射無法照射到光敏元件上，光敏元件在沒有激 光的照射時，其阻抗又恢復正常值；檢測模塊在極短時間內如30ms內，通 過檢測光敏元件電流的變化，檢測到光敏元件的阻抗與正常值相符，檢測 模塊復位寄存器。
10案，為本領域技術人員所熟知，在此也不再贅述。
本發明具體實施方式
中所提供的 一種基於光敏元件自動關閉雷射器的 裝置及其系統和方法，由於採用檢測光敏元件的電流變化來改變電路狀態， 並通過輪詢改變的電路狀態自動關閉雷射器，使得在單板光纖拔出後，及 時關閉了單板的雷射器，有效避免了雷射器對人身體造成的傷害；同時， 切斷了光口與外界的接觸，有效降低了光口的灰塵汙染，起到了很好的防 塵效果，節省了不必要的浪費。
應當理解的是，對本領域普通技術人員來說，可以根據上述方案的說 明加以改進或變換，例如檢測所述光敏元件的電壓變化代替電流變化等， 而所有這些改進和變換都本應屬於本發明所附權利要求的保護範圍。
權利要求
1、一種基於光敏元件自動關閉雷射器的裝置，包括一光敏元件和與其電連接的一光信號模塊，其特徵在於，所述光敏元件用於在光纖脫離單板雷射器的情況下，接收所述單板雷射器的雷射照射，使該光敏元件的阻抗發生變化；所述光信號模塊位於所述光敏元件的後端，用於判斷上述光敏元件的阻抗變化，以便通過改變電路狀態來自動關閉雷射器。
2、 根據權利要求1所述的裝置，其特徵在於，所述光敏元件附著在一 單板雷射器光口的滑片上，所述滑片用於在光纖脫離單板雷射器的情況下 滑落，並擋住所述單板雷射器光口，使得所述單板雷射器的雷射直接照射 到所述光敏元件上。
3、 根據權利要求2所述的裝置，其特徵在於，所述光信號模塊具體包 括一檢測器和位於其後端的一寄存器，其中所述檢測器用於通過檢測所述光敏元件的電流，判斷所述光敏元件 的阻抗是否發生變化；所述寄存器與所述檢測器電連接，便於所述檢測器在所述光敏元件 的阻抗發生變化時，進行置位或復位之用，以改變電路狀態。
4、 一種基於光敏元件自動關用雷射器的系統，包括一光敏元件和與其 電連接的一光信號模塊，所述光敏元件用於在光纖脫離單板雷射器時接收 雷射照射並發生阻抗的變化，所述光信號模塊位於所述光敏元件的後端， 用於判斷上述光敏元件的阻抗變化，並通過改變電路狀態來自動關閉雷射 器；其特徵在於，所述系統還包括一與所述光信號模塊相關聯的單板主控 程序，用於不間斷的輪詢所述電路狀態，以便所述光信號模塊通過改變的電路狀態來自動關閉雷射器。
5、 根據權利要求4所述的系統，其特徵在於，所述單板主控程序還包 括在所述電路狀態處於置位的狀態下，向所述單板雷射器發出關閉雷射器 的命令。
6、 一種基於光敏元件自動關閉雷射器的方法，包括以下步驟A、 光纖脫離單板雷射器，所述單板雷射器的雷射照射到光敏元件上， 使所述光敏元件的阻抗發生變化；B、 根據所述光敏元件的阻抗變化，系統自動改變電路狀態；C、 不間斷輪詢所述電路狀態，以便通過改變的電路狀態來自動關閉 雷射器。
7、 根據權利要求6所述的方法，其特徵在於，所述步驟A中光纖脫離 單板雷射器時的操作具體包括Al、將所述光敏元件附著在一單板雷射器光口的滑片上； A2、所述滑片在光纖脫離單板雷射器時滑落，擋住所述單板雷射器 光口 ，使所述單板雷射器的雷射直接照射到所述光敏元件上。
8、 根據權利要求7所述的方法，其特徵在於，所述步驟B中改變電路 狀態時的操作具體包括Bl、檢測所述光敏元件的電流，判斷所述光敏元件的阻抗是否發生變化；B2、檢測所述光敏元件的阻抗與其正常值不符時置位電路狀態。
9、 根據權利要求8所述的方法，其特徵在於，所述步驟C中輪詢所述 電路狀態時的操作具體包括輪詢到電路狀態被置位時向所述單板雷射器下發關閉雷射器的命令。
10、根據權利要求9所述的方法，其特徵在於，所述C之後系統的操 作還包括Dl、在所述單板雷射器關閉後，所述光敏元件的阻抗恢復至正常值； D2、通過預定時間內檢測光敏元件電流的變化，判斷所述光敏元件 的阻抗與其正常值是否相符，是則復位電路狀態。
全文摘要
本發明公開了一種基於光敏元件自動關閉雷射器的裝置及其系統和方法，其方法包括以下步驟光纖脫離單板雷射器，所述單板雷射器的雷射照射到光敏元件上，使得所述光敏元件的阻抗發生變化；根據所述光敏元件的阻抗變化，自動改變電路狀態；不間斷輪詢所述電路狀態，以便通過改變的電路狀態來自動關閉雷射器。採用檢測光敏元件的電流變化來改變電路狀態，並通過輪詢改變的電路狀態自動關閉雷射器，使得在單板光纖拔出後，及時關閉了單板的雷射器，有效避免了雷射器對人身體造成的傷害；同時，切斷了光口與外界的接觸，有效降低了光口的灰塵汙染，起到了很好的防塵效果，節省了不必要的浪費。
文檔編號H04J14/02GK101510810SQ20081024212
公開日2009年8月19日 申請日期2008年12月31日 優先權日2008年12月31日
發明者博 周, 李正義 申請人:中興通訊股份有限公司