信息記錄方法以及信息記錄裝置的製作方法
2023-05-20 13:52:21 1
專利名稱：信息記錄方法以及信息記錄裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及對於CD-R、CD-RW、DVD-R、DVD-RW、DVD-RAM、DVD+RW等各種記錄介質的信息記錄方法以及信息記錄裝置。
背景技術：
近年來，例如CD-R驅動裝置這樣的可記錄的光碟驅動裝置被實用化，而且在進行目標在於大容量化、高速記錄化的研究。作為可記錄的光碟介質，可以舉出使用染料類介質的追記型光碟，或使用光磁介質或相變介質等的可重寫的盤等。
在一般的光碟記錄裝置中，以半導體雷射器作為光源，對記錄介質照射由記錄信息進行了脈衝調製的這種雷射，並形成記錄標記。此時，由於記錄標記的形成狀態根據記錄的雷射的功率而變化，所以在以往為了求出適於記錄介質的特性的記錄功率，使用以下方法，即作為記錄開始的準備，一邊對預定的區域(PCAPower Calibration Area＝試寫區)變化記錄功率一邊進行試寫，在試寫之後，將記錄了該區域的再現信號的質量最好的區域的功率作為最佳記錄功率求出的所謂OPC(Optimum Power Control，最佳功率控制)的方法。在實際的數據的記錄時保持這樣求出的最佳記錄功率，同時進行記錄。
這裡，作為再現信號的質量評價方法，雖然提出了幾個方法，但作為代表性的方法，以下的方法被實用化。
第一是根據再現信號的不對稱性β進行評價的方法(以下適當稱為「β法」)。即，如圖3所示，檢測對於再現信號的DC電平的正側峰值A(＝Ipk-Idc)和負側峰值B(＝Idc-Pbt)，並根據β＝((Ipk-Idc)-(Idc-Ibt))/(Ipk-Ibt)計算不對稱性β，將該不對稱性β為規定值(例如，0)的再現信號設為良好的信號。
第二是使用再現信號的調製度m進行評價的方法(以下適當成為「γ法」)。首先，如圖6所示，檢測再現信號的最大值Ipk和最小值Ibt，並根據m＝(Ipk-Ibt)/Ipk計算調製度m。接著，根據計算出的調製度m和此時的記錄功率P，根據γ＝(dm/dP)·(P/m)計算記錄功率對於調製度的變化率γ。然後，求變化率γ為規定值γt的記錄功率Pt，將對其乘以規定的係數k所得的值決定為最佳記錄功率。
另一方面，在CD或DVD等多種光碟的記錄方法中，使用適於高密度化的標記的長度負擔信息的標記邊緣記錄方法，為了準確地再現數據，需要標記的形狀或邊緣位置的準確的控制。進而，即使標記長度不同，也一樣地調整標記形狀，因此廣泛使用以分割為多個記錄脈衝的脈衝串形成記錄標記的多脈衝記錄方法。即，通過重複加熱、冷卻的循環來連接形成標記，從而形成一樣的長度標記。該方法也適用於染料類追記型的介質。
另外，伴隨近年來的高速記錄化、大容量化的要求而提出各種記錄方法，作為其中之一，可以舉出記錄功率的多值電平化。例如，根據記錄介質和記錄脈衝波形的關係，從對於記錄功率Pw的記錄標記長度的理想值的偏離Δ的關係有時與其它的標記長度差特定標記長度。例如，圖5例示該關係。①是特定標記長度(3T)的特性，②是其它的標記長度的特性。CD的標記長度為3T～11T(這裡，T是數據的基準時鐘周期)，從對於作為最小標記長度的3T的記錄功率的偏離Δ與其它的記錄標記長度不同。因此，對特定的標記長度的記錄功率通過與其它的標記長度的記錄功率不同的值進行記錄，要適當地記錄各個標記長度。在圖5的例子中，將3T標記以記錄功率Pwex記錄，將其它的標記長度以記錄功率Pw記錄。
而且，在這樣將記錄功率多值化的記錄方法中，在進行所述OPC時，特定標記長度的記錄功率Pwex以與其它的標記長度的記錄功率Pw保持規定的比例關係的狀態(Pwex/Pw＝一定)，或者保持規定的記錄功率差的狀態(Pwex-Pw＝一定)，一邊變化記錄功率，一邊進行試寫，並求其中最佳的記錄功率。
但是，在這樣的OPC的方法中，記錄功率和從理想值的偏離的關係根據標記長度而不同，此外，在存在記錄介質或記錄裝置的偏差(即半導體雷射器驅動部的偏差引起的記錄脈衝波形的偏差)的情況下，特定標記長度的記錄功率最佳值Pwex(opt)和其它的標記長度的記錄功率最佳值Pw(opt)的關係也波動，因此不能適當地求出各個記錄功率，因此損害標記形狀或標記位置的精度，其結果產生成為數據誤差的原因的問題。
發明內容
本發明的目的在於提供一種信息記錄方法以及信息記錄裝置，在特定的標記長度的記錄功率以與其它的標記長度的記錄功率不同的值進行記錄的信息記錄方法或信息記錄裝置中，可以求各個記錄功率的最佳值，並由此進行精度高的記錄。
為了實現上述目的，根據本發明的一個特徵，在通過從光源對記錄介質照射基於記錄信息所調製的光而形成記錄標記，從而進行信息的記錄的信息記錄方法中，包括第一試寫步驟，對於所述記錄介質的規定的試寫區，一邊分級變化照射的記錄功率，一邊試寫規定的第一測試數據，並根據記錄的試寫數據的再現信號計算第一最佳記錄功率；以及第二試寫步驟，對於所述記錄信息中特定的模式(pattern)分級改變其記錄功率，對於其它的模式將其記錄功率作為計算出的所述第一最佳記錄功率來試寫規定的第二測試數據，根據記錄的試寫數據的再現信號來計算作為特定的模式的最佳記錄功率的第二最佳記錄功率，基於計算出的這些第一以及第二記錄功率，進行信息的記錄。
從而，分別計算記錄信息中的特定的模式和其它的模式的最佳記錄功率，基於這些計算出的最佳記錄功率如通常那樣進行信息的記錄，從而可以高精度地形成所有的標記長度，並可以進行高精度的記錄。
根據本發明的其它特徵，在上述信息記錄方法中，規定的所述第一測試數據是除了所述記錄信息中規定的特定模式以外的數據串。
從而，由於第一測試數據是除了特定模式的數據串，所以不含有在第一試寫時特定的模式的記錄數據沒有被最佳化而引起的再現信號檢測值的誤差，所以可以高精度地計算第一最佳記錄功率。
根據本發明的其它的特徵，在上述信息記錄方法中，規定的所述第二測試數據是將重複了所述特定的模式的第一數據串和除去所述記錄信息中所述特定模式以外的第二數據串進行了重複的數據串。
從而，可以分離各數據串的再現信號的平均值而容易且高精度地進行檢測，所以提高最佳附加記錄功率的計算精度。
根據本發明的其它的特徵，在上述信息記錄方法中，所述第一試寫步驟中的所述第一最佳記錄功率根據進行了第一試寫的區域的再現信號的調製度或調製度的變化率來計算，所述第二試寫步驟中的所述第二最佳記錄功率根據進行了第二試寫的區域的再現信號的不對稱性來計算。
在本發明以及以下的發明中，不對稱性表示正側峰值和負側峰值相對於再現信號的平均值電平的比例。
從而，可以根據各測試數據來高精度地計算各個最佳記錄功率。
根據本發明的其它的特徵，在上述信息記錄方法中，所述第一試寫步驟中的所述第一最佳記錄功率根據進行了第一試寫的區域的再現信號的不對稱性來計算，所述第二試寫步驟中的所述第二最佳記錄功率根據進行了第二試寫的區域的再現信號的不對稱性來計算。
從而，可以根據各測試數據來高精度地計算各個最佳記錄功率。
根據本發明的其它的特徵，在上述信息記錄方法中，所述第二試寫步驟中的所述第二最佳記錄功率根據進行了所述第二試寫的試寫區內的第一數據串的再現信號的平均值和第二數據串的再現信號的平均值來計算。
從而，可以根據各測試數據來高精度地計算各個最佳記錄功率。
根據本發明的其它的特徵，在上述信息記錄方法中，所述特定的模式是所述記錄信息中的最小標記長度。
從而，由於將最小標記長度作為特定的模式，與其它的標記長度分別地計算最佳記錄功率，所以可以用簡便的方法良好地適用於多種記錄介質。
根據本發明的其它的特徵，在上述信息記錄方法中，所述特定的模式是與記錄信息串的前一個或後一個或它們雙方和記錄標記長度對應的模式。
從而，即使是最佳記錄功率根據特定的數據模式而不同的記錄介質，也可以高精度地形成記錄模型，並可以進行高精度的記錄。
根據本發明的其它的特徵，在通過從光源對記錄介質照射基於記錄信息所調製的光而形成記錄標記，從而進行信息的記錄的信息記錄方法中，根據所述記錄信息的標記長度區分為N(N大於等於2的自然數)組，並計算各個組的記錄功率的最佳值，在每組中包括對於所述記錄介質的規定的試寫區，一邊分級改變第M(M1～N的自然數)組的記錄功率，一邊試寫規定的第M測試數據，根據記錄的試寫數據的再現信號來計算第M組的最佳記錄功率的試寫步驟，基於這些對每組計算出的最佳記錄功率進行信息的記錄。
從而，即使是最佳記錄功率因標記長度而有所不同的記錄介質，也對各個標記長度的每個標記長度計算最佳記錄功率，所以所有的標記長度可以高精度地形成，並可以進行高精度的記錄。
根據本發明的其它的特徵，在上述信息記錄方法中，N＝3，第三組是所述記錄信息中的最小標記長度，第二組是所述記錄信息中的第二短的標記長度，第一組是所述記錄信息中的其它的標記長度。
從而，特別是伴隨高速記錄，最小標記長度或第二短的標記長度與其它的標記長度最佳記錄功率不同的情況較多，但對於這樣的記錄介質也可以良好地應用。
根據本發明的其它的特徵，在上述信息記錄方法中，N＝3，第三組是所述記錄信息中的最小標記長度，第二組是對於所述記錄信息的基準周期偶數倍的標記長度，第一組是除了第三組之外、對於所述記錄信息的基準周期奇數倍的標記長度。
從而，在伴隨CD記錄或DVD記錄的高速記錄，近年來實用化的所謂2T策略(strategy)中，作為最小標記長度的3T標記長度、偶數標記長度和除了3T的技術標記長度最佳記錄功率不同的介質增多，但對於這樣的記錄介質也可以良好地應用。
上述信息記錄方法的作用通過根據本發明的其它特徵的信息記錄裝置可以同樣地產生。
根據本發明的一個特徵，分別計算記錄信息中的特定的模式和其它的模式的最佳記錄功率，並基於這些計算出的最佳記錄功率如通常那樣進行信息的記錄，所以可以高精度地形成所有的標記長度，並可以進行高精度的記錄。
根據本發明的一個特徵，由於將規定的所述第一測試數據設為第一測試數據除了特定的模式以外的數據串，所以不含有在第一試寫時特定的模式的記錄數據沒有被最佳化而引起的再現信號檢測值的誤差，所以可以高精度地計算第一最佳記錄功率。
根據本發明的一個特徵，由於將規定的所述第二測試數據設為將重複了所述特定的模式的第一數據串和除去所述記錄信息中所述特定模式以外的第二數據串進行了重複的數據串，所以可以分離各數據串的再現信號的平均值而容易地且高精度地進行檢測，並可以提高最佳記錄功率的計算精度。
根據本發明的一個特徵，由於第一試寫步驟中的所述第一最佳記錄功率根據進行了第一試寫的區域的再現信號的調製度或調製度的變化率來計算，所述第二試寫步驟中的所述第二最佳記錄功率根據進行了第二試寫的區域的再現信號的不對稱性來計算，所以可以根據各測試數據來高精度地計算各個最佳記錄功率。
根據本發明的一個特徵，由於第一試寫步驟中的所述第一最佳記錄功率根據進行了第一試寫的區域的再現信號的不對稱性來計算，所述第二試寫步驟中的所述第二最佳記錄功率根據進行了第二試寫的區域的再現信號的不對稱性來計算，所以可以根據各測試數據來高精度地計算各個最佳記錄功率。
根據本發明的一個特徵，由於第二試寫步驟中的所述第二最佳記錄功率根據進行了所述第二試寫的試寫區內的第一數據串的再現信號的平均值和第二數據串的再現信號的平均值來計算，所以可以根據各測試數據來高精度地計算各個最佳記錄功率。
根據本發明的一個特徵，由於將最小標記長度作為特定的模式，與其它的標記長度分別地計算最佳記錄功率，所以可以用簡單的方法良好地應用於多種記錄介質。
根據本發明的一個特徵，通過將特定的模式設為與記錄信息串的前一個或後一個或它們雙方和記錄標記長度對應的模式，即使是最佳記錄功率根據特定的數據模式而有所不同的記錄介質，也可以高精度地形成記錄標記，並可以進行高精度的記錄。
根據本發明的一個特徵，即使是最佳記錄功率根據標記長度而不同的記錄介質，也對各個標記長度的每個計算最佳記錄功率，所以也可以高精度地形成記錄標記，並可以進行高精度的記錄。
根據本發明的一個特徵，由於N＝3，將第三組設為最小標記長度，將第二組設為第二短的標記長度，將第一組設為其它的標記長度，所以特別是伴隨高速記錄，最小標記長度或第二短的標記長度與其它的標記長度最佳記錄功率不同的情況較多，但對於這樣的記錄介質可以良好地應用。
根據本發明的一個特徵，由於N＝3，將第三組設為最小標記長度，將第二組設為對於基準周期偶數倍的標記長度，將第一組設為除了第三組之外，對於基準周期奇數倍的標記長度，所以在伴隨CD記錄或DVD記錄的高速記錄而近年來實用化的所謂2T策略中，最佳記錄功率因最小標記長度的3T標記長度、偶數標記長度、除了3T以外的奇數標記長度而有所不同的記錄介質增多，對於這樣的記錄介質可以良好地應用。
圖1是表示本發明的一實施方式的光信息記錄裝置的概略結構例的方框圖。
圖2(a)～圖2(c)是關於PCA區域以及試寫方式的說明圖。
圖3是表示再現信號的眼圖的特性圖。
圖4(a)～圖4(c)是表示對應於各記錄信息的發光波形例的波形圖。
圖5是表示標記長度的不同引起的從理想值的偏離特性的特性圖。
圖6是表示試寫處理控制例的概略流程圖。
圖7是關於試寫區的再現信號的特性圖。
圖8是表示第二測試模式的其它的實施方式的說明圖。
圖9是表示關於根據記錄標記以多個記錄功率級別進行記錄時的試寫的其它的實施方式的試寫處理控制例的概略流程圖。
圖10是表示關於根據記錄標記以多個記錄功率級別進行記錄時的試寫的其它的實施方式的試寫處理控制例的概略流程圖。
具體實施例方式
基於
本發明的一實施方式。本實施方式的信息記錄裝置是對光信息記錄裝置的應用例，圖1是表示光信息記錄裝置的概略結構例的方框圖。
在該光信息記錄裝置中使用的記錄介質1是可記錄的記錄介質(例如，CD-R、CD-RW、DVD-R、DVD-RW、DVD+R、DVD+RW、DVD-RAM、MD、MO等光碟等)。對這樣的記錄介質1進行旋轉驅動的主軸電機2根據從伺服控制器3供給的信號而被控制為線速度一定(CLV)或角速度一定(CAV)。光拾取器(PU)4對記錄介質1照射來自作為光源的半導體雷射器(LD)的出射光並進行信息的記錄，或接收來自記錄介質1的反射光並變換為接收光信號，包括光源、接收反射光並變換為接收光信號的光接收元件、光學系統、致動器等。此外，光拾取器4中配置監視光源的出射光的一部分的監視光接收部，通過作為該輸出的監視信號控制光源的出射光量變動。此外，也有配置了用於檢測對於記錄介質1的照射光的傾斜(tilt)的傾斜檢測光接收部等的情況。
接收光信號處理部5被輸入來自配置在光拾取器4中的各種光接收部的接收光信號，進行各種信號處理。根據接收光信號生成再現信號Srf，或與伺服控制器3一起對致動器驅動並控制(聚焦伺服控制以及追蹤伺服控制)，以便對於伴隨記錄介質1的旋轉的表面振動或軌道的半徑方向的振動等變動，通常在規定的誤差內照射光。因此，根據接收光信號生成伺服誤差信號Ssv並供給伺服控制器3。此外，光拾取器4可沿記錄介質1的半徑方向移動，並進行搜索用作，以便光點照射到要求的位置。伺服控制器3根據記錄介質1中預先記錄的地址信息等，擔負搜索控制或記錄介質1的旋轉控制、傾斜控制等功能。
記錄介質1上預先形成記錄軌道以規定的頻率彎曲的擺動，也由接收光信號處理部5生成提取了該擺動分量的擺動信號Swb1。基於該擺動信號Swb1，由信號處理部6生成成為記錄時的基準時鐘的記錄時鐘WCK。
再現信號處理部7按照由再現信號Srf再現的記錄介質1的規定的調製方式規則來進行解調。此外，通過內置的PLL電路來提取再現時鐘。解調的數據供給控制器8。
編碼器9按照規定的調製方式規則對從控制器8供給的記錄信息進行調製，並供給記錄數據Wdata。此時，基於記錄時鐘WCK生成。例如，DVD記錄裝置中使用EFM+調製方式，記錄數據Wdata的脈衝長度為3T～11T，14T(T是記錄使用WCK的周期)。
LD驅動部10根據記錄數據Wdata以及記錄時鐘WCK，以規定的光波形調製光源LD。照射功率或光波形信息由控制器8設定。此外，從接收光信號處理部5輸入監視接收光信號，基於該監視接收光信號進行控制，以使光源LD的出射光量成為要求的值(進行所謂APC(Automatic Power Control，自動功率控制)控制)。
這裡，如圖2(a)所示，在記錄介質1中，在規定的區域(例如，最內周部)設置有PCA(Power Calibration Area＝試寫區)21，在開始真實的記錄之前，在該區域進行試寫並求最佳記錄功率，在實際的記錄時以該求出的記錄功率進行記錄的OPC(Optimum Power Control)控制。此外，如圖2(b)所示，一次的試寫例如使用作為記錄信息單位的1ECC塊進行(該1ECC塊由16扇區構成)，對每一扇區一邊變化記錄功率以便進行試寫。
於是，進行了這種試寫的區域的再現信號Srf成為如圖2(c)所示，所以OPC檢測部11檢測再現信號Srf的各扇區的最大值Ipk、最小值Ibt、平均值(DC值)Idc。圖3是再現信號Srf的眼圖的一例。控制器8執行進行了試寫的區域的再現並檢測這些值，根據這些值進行規定的運算並計算最佳的記錄功率。後面敘述這種計算動作的細節。
測試信號生成部12在進行試寫時生成試寫數據(測試模式)。該試寫數據被供給編碼部9，在試寫時選擇該數據並供給LD驅動部10。
控制器8除了上述的功能、後述的處理控制之外，還進行與主機(未圖示)的記錄再現信息的交換或命令通信並進行裝置整體的控制。
這裡，作為記錄介質1，圖4例示了假設例如DVD-RW等相變型記錄介質(可重寫型記錄介質)的情況下的光源LD的發光波形例子。圖4(a)表示記錄時鐘WCK，圖4(b)表示記錄數據Wdata，圖4(c)表示記錄數據Wdata的標記長度分別為3T(1)～14T(10)時的光波形。照射功率分別設定為基礎(bottom)功率Pb、擦除功率Pe、寫功率Pw(在3T～14T中分別設為Pw3～Pw14)。此外，在圖示例子中，4T和5T、6T和7T、8T和9T、10T和11T分別是為同一脈衝數的2T策略方式。通常，各標記長度的每個的寫功率Pw3～Pw14設為相等的功率Pw(＝Pw3＝Pw4＝...＝Pw14)，但根據記錄介質1的種類或記錄波形等，有時從對於記錄功率的標記的理想長度的偏離Δ的特性根據標記長度而有所不同(由於如果記錄速度不同，則記錄特性也變化，所以即使是同一記錄介質，也有因記錄速度而呈現這樣的傾向的介質)。圖5是表示這樣的特性的關係的圖，②表示3T標記長度的特性，①表示其它的標記長度的特性。對於這樣的記錄介質，如將記錄功率設定為Pw3＝Pwex(opt)，Pw4＝Pw5＝...＝Pw14＝Pw(opt)，則可以高精度地形成所有的標記長度。
在這樣的條件下，參照圖6所示的流程圖說明由微型計算機結構的控制器8執行的適於記錄介質1的記錄方法的處理控制例子。圖6是表示伴隨與記錄動作關聯的處理控制中的試寫處理來計算最佳記錄功率Pw(opt)以及Pwex(opt)的算法的流程圖。這樣的記錄功率的計算作為信息的記錄開始的準備來進行，由計算最佳記錄功率Pw(opt)的第一試寫步驟或第一試寫部件，和計算最佳附加記錄功率Pwex(opt)的第二試寫步驟或第二試寫部件完成。
首先，在第一試寫步驟(第一試寫部件)中，生成該第一試寫步驟中使用的第一測試模式(步驟S1)。第一測試模式是由記錄信息中除了作為本實施方式的特定的模式的最小標記長度＝3T標記長度以外的數據模式構成的模式，設為滿足規定的調製規則。在第一試寫步驟中，該第一測試模式作為記錄數據Wdata，由編碼器9供給。
接著，一邊對每個扇區變化記錄功率Pw(＝Pw4＝Pw5＝...＝Pw14)，一邊在試寫區記錄該第一測試模式(第一試寫...步驟S2)。
在步驟S3，再現在步驟S2中試寫的區域，將記錄了得到最好的再現信號Srf的扇區的功率作為最佳記錄功率Pw(opt)計算出。
就該再現信號的質量的評價來說，可以應用如下的例子。
第一，如參照圖3進行的說明那樣，檢測各扇區中的再現信號Srf的最大值Ipk、最小值Ibt、平均值(DC值)Idc。然後，對每個扇區進行β＝((Ipk-Idc)-(Idc-Ibt))/(Ipk-Ibt)......(1)的運算並計算不對稱性β。
通常，在β＝0時得到最好的再現信號，將記錄了最接近0的功率作為最佳記錄功率Pw(opt)計算即可。或者，計算記錄功率Pw和不對稱性β的近似值，並計算β＝0的記錄功率就可以。
此時，如以包含3T標記長度的數據模式進行試寫，則3T標記長度的最佳記錄功率與其它的標記不同，從而以其它的標記的最佳記錄功率記錄的區域的再現信號Srf例如圖7所示。即，由於除去3T標記長度的平均值IdcA和3T標記(例如，3T重複模式)的平均值Idc3有所不同，因此檢測的平均值Idc與除了3T標記以外的平均值IdcA產生誤差，其結果，不對稱性β也被算出錯誤的值，所以會算出錯誤的最佳記錄功率。這一點在本實施方式中，由於在第一試寫步驟中採用除了3T標記長度以外的數據模式，所以不產生這樣的問題，可以準確地計算最佳記錄功率。
第二，是將再現信號的調製度m對於記錄功率的變化率γ作為指標的方法。與所述同樣地檢測各扇區中的再現信號Srf的最大值Ipk、最小值Ibt。然後根據m＝(Ipk-Ibt)/Ipk......(2)計算調製度m。
接著，根據計算出的調製度m和此時的記錄功率Pw，按照γ＝(dm/dP)·(P/m)......(3)
計算記錄功率對於調製度的變化率γ。然後，求變化率γ為規定值γt的記錄功率Pt，將對其乘以規定的係數k所得的值決定為最佳記錄功率Pw。這些規定值γt以及係數k對每個記錄介質1的種類或記錄裝置使用預定的值。
以下說明更詳細的計算方法。首先，根據再現試寫區而檢測出的調製度m和記錄功率Pw的多個數據，計算m＝a·Pw2+b·Pw+c(a、b、c是常數)......(4)的二次近似式。作為近似方法，使用多項式近似等一般的近似方法即可，二次以上的近似式與預測值非常一致。
然後，根據所述式(3)，由於dm/dPw＝2a·Pw+b，所以得到Pw＝{-b(γ-1)±SQRT[b2(γ-1)2-4a(γ-2)cγ]}/2a(γ-2)的式(5)。進行這些運算，通過計算式(5)的正的解Pw+，從而計算最佳記錄功率Pw(opt)。
此外，可以是這些方法的組合，進而也可以設置抖動(jitter)檢測部，並計算抖動最小的記錄功率。
接著，進行步驟S4～S6的第二試寫步驟(第二試寫步驟)。
在步驟S4，生成第二試寫步驟中使用的第二測試模式。第二測試模式是包含全部的標記長度的數據模式、即由編碼器9對通常的數據(例如，任意的數據或從控制器8提供的固定數據)進行調製的記錄數據Wdata即可。
在步驟S5，記錄功率Pw(＝Pw4＝Pw5＝...＝Pw14)設定為在步驟S3中計算出的最佳記錄功率Pw(opt)，同時一邊對每個扇區變化第二記錄功率Pwex(＝Pw3)，一邊在試寫區記錄第二測試模式。此時，例如，如果記錄介質1是可重寫的介質，則該試寫區可以覆蓋步驟S2的第一試寫區，或者在一次擦除後進行第二試寫。此外，也可以在可使用一次的試寫區(例如1ECC塊)的前半部分進行第一試寫，在後半部分進行第二試寫。
在步驟S6，再現步驟S5中試寫的區域，並將記錄了得到最好的再現信號Srf的扇區的功率作為第二最佳記錄功率Pwex(opt)來計算。
就再現信號的質量的評價而言，與步驟S3的情況同樣，檢測各扇區中的再現信號Srf的最大值Ipk、最小值Ibt、平均值(DC值)Idc，由(1)式計算不對稱性β。而且，將記錄了不對稱性β最接近於0的扇區的功率作為最佳記錄功率Pwex(opt)來計算即可。或者，也可以計算記錄功率Pwex和不對稱性β的近似式，並計算β＝0的記錄功率。
在第二試寫中，由於3T標記長度以外的標記的記錄功率已經由第一試寫步驟最佳化，所以除了3T標記長度的平均值IdcA為β＝0的值。在步驟S5，由於一邊變化3T標記長度的記錄功率Pwex一邊進行記錄，所以3T標記長度的平均值Idc3變化。從而，Idc3為Ipk-Idc3＝Idc3-Ibt的值的扇區為不對稱性β-0，在該扇區記錄的記錄功率Pwex可以計算為最佳值Pwex(opt)。
這樣，通過分別計算最佳記錄功率Pw(opt)以及Pwex(opt)，結束試寫步驟。在通常的信息記錄時，通過基於這樣計算出的最佳記錄功率Pw(opt)以及Pwex(opt)來進行記錄，可以高精度地形成所有的標記長度，並可以進行高精度的記錄。
另外，圖8表示第二試寫步驟中可以使用的第二試寫模式例子的其它的實施方式。即，是採用交替地重複作為特定模式的3T模式的重複產生的第一數據串(3T重複模式＝3TP)和除了3T模式的第二數據串(第一測試模式＝TP1)而得到的模式的例子。於是，再現該區域的再現信號Srf以及平均值Idc如圖8(b)所示，可以將3T標記的平均值Idc3與平均值IdcA分離而容易地進行檢測，由於可以高精度地計算不對稱性β，因此也可以提高最佳記錄功率的計算精度。或者，由於平均值IdcA和Idc3一致的扇區為包含全部模式的不對稱性β＝0，所以也可以由此計算最佳記錄功率Pwex(opt)。
第一測試模式TP1和3T重複模式3TP在試寫時與扇區同步以規定的周期重複，所以如果在再現時也與扇區同步檢測平均值，則可以容易地檢測平均值IdcA和Idc3。另外，第一測試模式TP1和3T重複模式3TP的重複周期考慮再現信號的平均值檢測頻帶來設定即可。
此外，在步驟3中通過調製度m的變化率γ計算最佳記錄功率的情況下，即使3T標記以與最佳功率不同的值記錄，也幾乎對調製度m以及變化率γ沒有影響，因此第一測試模式TP1設為包含所有的標記長度的數據模式、即通常的數據，Pw3也以記錄功率Pw一邊變化一邊試寫就可以。
進而，在所述說明中，假設相變型記錄介質說明了記錄介質1，但即使是其它的記錄介質，以3T標記長度和其它的標記長度更改記錄功率來進行記錄的記錄方法中，可以良好地應用本實施方式的OPT方法。
接著，參照圖9所示的流程圖說明關於根據標記長度以多個記錄功率級別進行記錄的記錄方法的本實施方式的應用例。例如，在以不同的功率記錄三組3T標記長度記錄功率Pw3和4T標記長度記錄功率Pw4及其它的標記長度記錄功率Pw(＝Pw4＝Pw5＝...＝Pw14)的情況下，將各個記錄功率的最佳值與上述同樣計算的情況下的應用例。
在步驟S11中，生成第一試寫步驟中使用的第一測試模式。第一測試模式是由記錄信息中除了3T標記長度以及4T標記長度的數據模式構成的，設為滿足規定的調製規則。在第一試寫步驟，該第一測試模式作為記錄數據Wdata由編碼器9供給。
在步驟S12，對每個扇區一邊變化記錄功率Pw(＝Pw4＝Pw5＝...＝Pw14)，一邊在試寫區記錄該第一測試模式。
在步驟S13，再現在步驟S12中試寫的區域，將記錄了得到最好的再現信號Srf的扇區的功率作為最佳記錄功率Pw(opt)來計算。對於該再現信號的質量的評價可以應用上述例子。
在步驟S14，生成第二試寫步驟中使用的第二測試模式。第二測試模式是由除了3T標記長度的數據模式構成的，設為滿足規定的調製規則。
在步驟S15，記錄功率Pw(＝Pw4＝Pw5＝...＝Pw14)設定為在步驟S13中計算出的記錄功率Pw(opt)，對每個扇區一邊變化記錄功率Pw4，一邊在試寫區記錄該第二測試模式。
在步驟S16，再現在步驟S15中試寫的區域，將記錄了得到最好的再現信號Srf的扇區的功率作為最佳記錄功率Pw4(opt)來計算。該再現信號的質量的評價與步驟S6同樣即可。此外，與圖8所示的情況同樣，作為第二測試模式，也可以將第一測試模式和4T重複模式交替地重複。
在步驟S17，生成第三試寫步驟中使用的第三測試模式。第三測試模式是包含全部的標記長度的數據模式、即由編碼器9對通常的數據(例如，任意的數據或從控制器提供的固定數據)進行調製所得的記錄數據Wdata即可。
在步驟S18，記錄功率Pw(＝Pw4＝Pw5＝...＝Pw14)設定為在步驟S13中計算出的最佳記錄功率Pw(opt)，記錄功率Pw4設定為在步驟S16中計算出的最佳記錄功率Pw4(opt)，對每個扇區一邊變化記錄功率Pw3，一邊在試寫區記錄該第三測試模式。
在步驟S19，再現步驟S18中試寫的區域，並與步驟S16同樣將記錄了得到最好的再現信號Srf的扇區的功率作為最佳記錄功率Pw3(opt)來計算。
即，根據記錄信息的標記長度而區分為N(N大於等於2的自然數)＝3的組，計算各個組的記錄功率的最佳值，在每個組中包括對於記錄介質1的規定的試寫區，一邊分級變化第M(M1～N的自然數)組的記錄功率，一邊試寫規定的第M測試數據，根據記錄的試寫數據的再現信號計算第M組的最佳記錄功率的試寫步驟，是第三組為記錄信息中的最小標記長度＝3T標記長度，第二組為記錄信息中第二段的標記長度＝4T標記長度，第一組為記錄信息中的其它的標記長度的例子。
通過這樣計算最佳記錄功率Pw3(opt)、Pw4(opt)以及Pw(opt)，結束試寫步驟。在通常的信息記錄時，在以這樣求出的最佳記錄功率進行記錄時，可以高精度地形成所有的標記長度，並可以進行高精度的記錄。
另外，也可以由除了4T標記長度以外的數據模式構成第三測試模式，連續進行第二試寫和第三試寫，然後，再現這兩個試寫區來計算最佳記錄功率Pw4(opt)和Pw3(opt)。即，以步驟S11、S12、S13、S14、S15、S17、S18、S17、S19的順序進行處理。這樣可以省略記錄和再現處理的切換步驟(對目標的試寫區的存取時間等)，所以可以縮短試寫步驟時間。
接著，參照圖10所示的流程圖說明關於通過標記長度以多個記錄功率級別進行記錄的記錄方法的其它的實施方式。在本實施方式中，敘述根據標記長度而區分為三個組並計算各個組的記錄功率的最佳值的方法。更具體的說，第一組設為偶數標記長度(4、6、8、10、14T)，將其記錄功率設為PwA(＝Pw4＝Pw6＝...)。第二組設為除了3T標記長度以外的奇數標記長度(5、7、9、11T)，將其記錄功率設為PwB(＝Pw5＝Pw7＝...)。第三組設為3T標記長度，將其功率設為PwC(＝Pw3)。一邊分別變化這些記錄功率PwA、PwB、PwC，一邊進行第一～第三試寫，並計算各個最佳值。
在步驟S21，生成第一試寫模式。該第一測試模式是由第一組的標記長度組成的數據模式構成。
在步驟S22，對每個扇區一邊變化記錄功率PwA，一邊在試寫區試寫該第一測試模式。
在步驟S23，再現在步驟S22中試寫的區域，將記錄了得到最好的再現信號Srf的扇區的功率作為最佳記錄功率PwA(opt)來計算。該再現信號的質量的評價也可以應用上述的例子。
在步驟S24，生成第二測試模式。該第二測試模式由第二組的標記長度組成的數據模式、或者第一組以及第二組的標記長度組成的數據模式構成。
在步驟S25，對每個扇區一邊變化記錄功率PwB，一邊在試寫區試寫該第二測試模式。在第二測試模式包含第一組的標記長度時，預先設定在步驟S23中計算出的最佳記錄功率PwA(opt)。
在步驟S26，再現在步驟S25中試寫的區域，將記錄了得到最好的再現信號Srf的扇區的功率作為最佳記錄功率PwB(opt)來計算。該再現信號的質量的評價也可以應用上述的例子。
在步驟S27，生成第三測試模式。該第三測試模式由包含所有的標記長度的數據模式構成。
在步驟S28，將第一組的記錄功率PwA設定為在步驟S23中計算出的最佳記錄功率PwA(opt)，將第二組的記錄功率PwB設定為在步驟S26中計算出的最佳記錄功率PwB(opt)，一邊對每個扇區改變記錄功率PwC，一邊在試寫區試寫該第三測試模式。
在步驟S29，再現在步驟S28中試寫的區域，與步驟S6的情況同樣，將記錄了得到最好的再現信號Srf的扇區的功率作為最佳記錄功率PwC(opt)來計算。
即，根據記錄信息的標記長度而區分為N(N大於等於2的自然數)＝3的組，計算各個組的記錄功率的最佳值，在每個組中包括對於記錄介質1的規定的試寫區，一邊分級變化第M(M1～N的自然數)組的記錄功率，一邊試寫規定的第M測試數據，根據記錄的試寫數據的再現信號計算第M組的最佳記錄功率的試寫步驟，是第三組為記錄信息中的最小標記長度＝3T標記長度，第二組為除去第三組＝3T標記長度之外、對於基準周期奇數倍的標記長度，第一組為對於基準周期偶數倍的標記長度的例子。
通過這樣計算最佳記錄功率PwA(opt)、PwB(opt)以及PwC(opt)，結束試寫步驟。在通常的信息記錄時，如以這樣求出的最佳記錄功率進行記錄，則可以高精度地形成所有的標記長度，並可以進行高精度的記錄。
另外，在這些例子中將使記錄功率不同的特定的模式作為規定的標記長度(例如，最小的3T標記長度)進行了說明，但作為該特定的模式，採用記錄數據Wdata的數據模式的組合(與記錄信息串的前一個或後一個或這雙方和記錄標記長度對應的模式)的模式也同樣可以應用。例如，將前一個空間長度大於等於6T的記錄標記長度為3T的記錄功率設為與其它的標記長度不同的記錄功率，應用圖6中說明的實施方式進行試寫，並計算各個最佳記錄功率即可。
權利要求
1.一種信息記錄方法，通過從光源對記錄介質照射基於記錄信息所調製的光而形成記錄標記，從而進行信息的記錄，其特徵在於，該方法包括第一試寫步驟，對於所述記錄介質的試寫區，一邊分級變化照射的記錄功率，一邊試寫規定的第一測試數據，並根據記錄的試寫數據的再現信號計算第一最佳記錄功率；以及第二試寫步驟，對於所述記錄信息中特定的模式，分級改變其記錄功率，對於其它的模式，將其記錄功率作為計算出的所述第一最佳記錄功率，對所述記錄介質的試寫區試寫規定的第二測試數據，根據記錄的試寫數據的再現信號來計算作為所述特定的模式的最佳記錄功率的第二最佳記錄功率，基於照射被計算出的這些第一最佳記錄功率及第二最佳記錄功率的記錄信息，進行信息的記錄。
2.如權利要求1所述的信息記錄方法，其特徵在於，規定的所述第一測試數據是除了所述記錄信息中所述特定的模式以外的數據串。
3.如權利要求2所述的信息記錄方法，其特徵在於，規定的所述第二測試數據是將重複了所述特定的模式的第一數據串和除去所述記錄信息中所述特定模式以外的第二數據串進行重複的數據串。
4.如權利要求1所述的信息記錄方法，其特徵在於，所述第一試寫步驟中的所述第一最佳記錄功率根據進行了第一試寫的區域的再現信號的調製度或調製度的變化率來計算，所述第二試寫步驟中的所述第二最佳記錄功率根據進行了第二試寫的區域的再現信號的不對稱性來計算。
5.如權利要求2所述的信息記錄方法，其特徵在於，所述第一試寫步驟中的所述第一最佳記錄功率根據進行了第一試寫的區域的再現信號的不對稱性來計算，所述第二試寫步驟中的所述第二最佳記錄功率根據進行了第二試寫的區域的再現信號的不對稱性來計算。
6.如權利要求3所述的信息記錄方法，其特徵在於，所述第二試寫步驟中的所述第二最佳記錄功率根據進行了第二試寫的試寫區內的第一數據串的再現信號的平均值和第二數據串的再現信號的平均值來計算。
7.如權利要求1所述的信息記錄方法，其特徵在於，所述特定的模式是所述記錄信息中的最小標記長度。
8.如權利要求1所述的信息記錄方法，其特徵在於，所述特定的模式是與記錄信息串的前一個或後一個或它們雙方和記錄標記長度對應的模式。
9.一種信息記錄方法，通過從光源對記錄介質照射基於記錄信息所調製的光而形成記錄標記，從而進行信息的記錄，其特徵在於根據所述記錄信息的標記長度區分為N(N大於等於2的自然數)組，並計算各個組的記錄功率的最佳值，在各組中包括試寫步驟，對於所述記錄介質的規定的試寫區，一邊分級改變第M(M1～N的自然數)組的記錄功率，一邊試寫規定的第M測試數據，根據記錄的試寫數據的再現信號來計算第M組的最佳記錄功率，基於這些對每組計算出的最佳記錄功率進行信息的記錄。
10.如權利要求9所述的信息記錄方法，其特徵在於，N＝3，第三組是所述記錄信息中的最小標記長度，第二組是所述記錄信息中的第二短的標記長度，第一組是所述記錄信息中的其它的標記長度。
11.如權利要求9所述的信息記錄方法，其特徵在於，N＝3，第三組是所述記錄信息中的最小標記長度，第二組是除了第三組之外、相對於所述記錄信息的基準周期奇數倍的標記長度，第一組是相對於所述記錄信息的基準周期偶數倍的標記長度。
12.一種信息記錄裝置，通過從光源對記錄介質照射基於記錄信息所調製的光而形成記錄標記，從而進行信息的記錄，其特徵在於，該裝置包括第一試寫部件，對於所述記錄介質的試寫區，一邊分級變化照射的記錄功率，一邊試寫規定的第一測試數據，並根據記錄的試寫數據的再現信號計算第一最佳記錄功率；以及第二試寫部件，對於所述記錄信息中特定的模式分級改變其記錄功率，對於其它的模式將其記錄功率作為計算出的所述第一最佳記錄功率，對所述記錄介質的試寫區試寫規定的第二測試數據，根據記錄的試寫數據的再現信號來計算作為所述特定的模式的最佳記錄功率的第二最佳記錄功率，基於照射計算出的這些第一最佳記錄功率以及第二最佳記錄功率的記錄信息，進行信息的記錄。
13.如權利要求12所述的信息記錄裝置，其特徵在於，規定的所述第一測試數據是除了所述記錄信息中所述特定的模式以外的數據串。
14.如權利要求13所述的信息記錄裝置，其特徵在於，規定的所述第二測試數據是將重複了所述特定的模式的第一數據串和除去所述記錄信息中所述特定模式以外的第二數據串進行重複的數據串。
15.如權利要求12所述的信息記錄裝置，其特徵在於，所述第一試寫部件根據進行了第一試寫的區域的再現信號的調製度或調製度的變化率來計算所述第一最佳記錄功率，所述第二試寫部件根據進行了第二試寫的區域的再現信號的不對稱性來計算所述第二最佳記錄功率。
16.如權利要求13所述的信息記錄裝置，其特徵在於，所述第一試寫部件根據進行了第一試寫的區域的再現信號的不對稱性來計算所述第一最佳記錄功率，所述第二試寫部件根據進行了第二試寫的區域的再現信號的不對稱性來計算所述第二最佳記錄功率。
17.如權利要求14所述的信息記錄裝置，其特徵在於，所述第二試寫部件根據進行了第二試寫的試寫區內的第一數據串的再現信號的平均值和第二數據串的再現信號的平均值來計算所述第二最佳記錄功率。
18.如權利要求12所述的信息記錄裝置，其特徵在於，所述特定的模式是所述記錄信息中的最小標記長度。
19.如權利要求12所述的信息記錄裝置，其特徵在於，所述特定的模式是與記錄信息串的前一個或後一個或它們雙方和記錄標記長度對應的模式。
20.一種信息記錄裝置，通過從光源對記錄介質照射基於記錄信息所調製的光而形成記錄標記，從而進行信息的記錄，其特徵在於，該裝置包括試寫部件，對所述記錄介質的規定的試寫區，一邊分級改變照射的記錄功率，一邊試寫規定的測試數據；最佳記錄功率計算部件，根據所述記錄的試寫數據的再現信號，計算最佳記錄功率；測試數據生成部件，生成所述測試數據；試寫控制部件，根據所述記錄信息的標記長度區分為N(N大於等於2的自然數)組，一邊分級改變第M(M1～N的自然數)組的記錄功率，一邊試寫規定的第M測試數據，控制相對於各個組的所述測試數據的生成、照射的記錄功率設定以及最佳記錄功率計算，以根據記錄的試寫數據的再現信號來計算第M組的最佳記錄功率。
21.如權利要求20所述的信息記錄裝置，其特徵在於，N＝3，第三組是所述記錄信息中的最小標記長度，第二組是所述記錄信息中的第二短的標記長度，第一組是所述記錄信息中的其它的標記長度。
22.如權利要求20所述的信息記錄裝置，其特徵在於，N＝3，第三組是所述記錄信息中的最小標記長度，第二組是除了第三組之外、相對於所述記錄信息的基準周期奇數倍的標記長度，第一組是相對於所述記錄信息的基準周期偶數倍的標記長度。
全文摘要
在以特定的標記長度的記錄功率與其它的標記長度的記錄功率不同的值進行記錄的方式中，求各個記錄功率的最佳值，並可進行高精度的記錄。通過包括第一試寫步驟(S1～S3)，一邊分級變化除了特定的模式＝3T的記錄功率，一邊試寫規定的第一測試數據，並根據記錄的試寫數據的再現信號計算第一最佳記錄功率Pw(opt)；以及第二試寫步驟(S4～S6)，對於特定的模式＝3T，分級改變其記錄功率，對於其它的模式，將其記錄功率作為計算出的第一最佳記錄功率來試寫規定的第二測試數據，並根據記錄的試寫數據的再現信號來計算作為特定的模式的最佳記錄功率的第二最佳記錄功率Pwex(opt)，從而可以高精度地形成所有的標記長度，並可以進行高精度的記錄。
文檔編號G11B7/125GK1806279SQ20048001647
公開日2006年7月19日 申請日期2004年3月5日 優先權日2003年6月13日
發明者增井成博 申請人:株式會社理光