一種用於對雷射製冷器限流的裝置和方法

2023-05-13 15:51:06

專利名稱：一種用於對雷射製冷器限流的裝置和方法
技術領域：
本發明涉及雷射器自動溫度控制電路中的限流控制，尤其涉及一 種雷射器自動溫度控制電路製冷和加熱不對稱限流的裝置及方法。
背景技術：
為了防止加到雷射製冷器(TEC, Thermoelectric Cooler)的電流 超過其極限值，在雷射器管芯溫度自動控制(ATC)電路中，要加限 流措施。在現有技術中，多數製冷器驅動器都只能設一個限流閾值， 如圖l所示，對於雷射器TEC來說，製冷與加熱電流的閾值是相同的。 但集成在雷射器內部，與雷射器管芯緊密相連的製冷器TEC,因結構 原因，所能承受的極限制冷電流或極限加熱電流是不同的，例如 Eudyna公司的雷射器FLD5F14CN,極限制冷電流可以到1.4A,極限 加熱電流卻只有0.9A，兩者相差約1/3。使用中，如果以製冷電流極 限值(例如1.4A)為閾值，在電路出現異常，TEC加熱電流達到該最 大值時，由於雷射TEC所能承受的極限加熱電流僅為0.9A,就要毀壞 雷射器；反過來以加熱電流極限值為閾值，就容易出現製冷電流不夠 用的情況。因此僅設一個限流閾值，無法解決雷射製冷器製冷和加熱 所能承受的最大電流值不對稱的問題。

發明內容
本發明的目的是，針對上述現有技術存在的缺陷提供一種用於對 雷射製冷器限流的裝置和方法，該方法可以根據雷射器TEC是處於 製冷還是加熱狀態，分別設定加熱和製冷的限流閾值，並調入相應的限流閾值來限制雷射TEC的最大電流。 本發明的技術方案如下一種用於對雷射製冷器限流的裝置，包括TEC驅動電路和雷射 器TEC、 TEC電流監測電路，TEC狀態識別電路和閾值選擇電路， 所述電流監測電路用於對所述雷射器TEC電流採樣和放大，並將放 大後的採樣信號傳給所述狀態識別電路；所述狀態識別電路用於根據 採樣信號判斷所述雷射器TEC當前狀態，輸出不同的狀態識別信號； 所述閾值選擇電路根據狀態識別信號選擇不同的閾值，並將獲得的不 同閾值輸出給TEC驅動電路，所述TEC驅動電路#4居不同的閾值限 定輸出到所述雷射器TEC的最大電流值。所述的用於對雷射製冷器限流的裝置，其中，所述狀態識別電路 包括運算放大器D1、電阻R1、電阻R2、電阻R3，所述運算放大器 Dl負端用於接收所述電流監測電路輸出的採樣信號，其正端與參考 電壓Vref之間連接所述電阻R3，所述電阻R1與電阻R2串聯後連接 在運算放大器輸出端與地之間，且電阻Rl與電阻R2的連接點接運 算放大器正端；所述電阻R1、電阻R2、電阻R3，以及參考電壓Vref 數值的設置，保證當雷射器TEC為製冷狀態，且採樣信號小於第一 預定值時，狀態識別電路輸出的識別信號為低電平，當雷射器TEC 為加熱狀態，且採樣信號大於第二預定值時，狀態識別電路輸出的識 別信號為高電平，並且第二預定值大於第一預定值。所述的用於對雷射製冷器限流的裝置，其中，所述不同閾值包括 製冷閾值和加熱閾值。所述的用於對雷射製冷器限流的裝置，其中，所述閾值選擇電路 包括一數字開關晶片，以及電阻R4、 R5、 R6，所述數字開關的輸入 端連接狀態識別電路的輸出端，其NO端接地，NC端懸空，所述R5
與R6串接在參考電壓Vref與地之間，所述R4 —端連接數字開關的 COM端，另一端與電阻R5與R6連接，並且作為閾值選擇電路的輸 出端；當識別信號為低電平時，數字開關的COM端與NO端相連， 電阻R4接地，製冷闊值用公式(1)獲得，當識別信號為高電平時， 數字開關的COM端與NC端相連，加熱閾值用公式(2)獲得VUM製冷=R4//i 6 ( 1)i 4〃i 6 + i 5VLIM加熱=J^e/ ( 2 )其中VLIM加熱為加熱閾值，VLI線,i冷為製冷閾值。所述的用於對雷射製冷器限流的裝置，其中，所述電流監測電路 包括運算放大器D3、電阻R7和電阻R8，所述電阻R8的兩端連接 在所述運算放大器D3的兩個RG端，所述運算放大器D3的正輸入 端接雷射器TEC,其負輸入端接TEC驅動電路，並且電阻R7串接 在所述TEC驅動電路和所述雷射器TEC之間，用於監測流過其上的 工作電流，所述運算放大器D3將所述電阻R7的壓降放大後輸出給 所述狀態識別電路。所述的用於對雷射製冷器限流的裝置，其中，所述TEC驅動電 路採用OPA548;所述第一預定值為1.2V,第二預定值為1.8V。所述的用於對雷射製冷器限流的裝置，其中，所述TEC驅動電 路採用ADN8830，所述電流監測電路設置在ADN8830中，ADN8830 的VTEC腳輸出所述採樣信號；所述第一預定值為1.25V，第二預定 值為1.8V。所述的用於對雷射製冷器限流的裝置，其中，所述數字開關採用 MAX4624晶片；所述狀態識別信號低電平時為0V,所述識別信號高
電平時為3.3V。一種用於對雷射製冷器限流的方法，包括以下步驟A、 通過對雷射器TEC的電流採樣，確定雷射製冷器當前處於加 熱還是製冷狀態；B、 根據雷射製冷器所處的狀態，分別設定不同的限流閾值；C、 根據不同的限流閾值限制雷射製冷器的最大電流。 所述的方法，其中所述的步驟A和B包括如下處理 當雷射製冷器處於製冷狀態，且對雷射器TEC採樣獲得的採樣信號低於第一預定值時，狀態識別信號為低電平，設置製冷限流閾值； 當雷射製冷器處於加熱狀態，且對雷射器TEC採樣獲得的採樣 信號高於第二預定值時，狀態識別電路輸出為高電平，設定加熱限流 閾值；當對雷射器TEC採樣獲得的採樣信號高於第一預定值，且低於 第二預定值時，限流閾值不發生變化，維持原狀態。本發明所提供用於對雷射製冷器限流的裝置和方法，才艮據雷射器 TEC狀態確定雷射器TEC是處於製冷還是加熱狀態，對製冷器驅動 器設定不對稱的限流閾值，對雷射器進行製冷或加熱，此方法由於採 用了不同的加熱和製冷限流閾值，解決了因雷射器結構引起的，能加 到雷射器TEC上的製冷和加熱電流極限值不對稱所帶來的限流問題。 從而使雷射器的自動溫度控制電路在最佳狀態下工作，也可以防止 TEC驅動器提供給雷射器TEC的電流過大，超過其極限值引起的激 光器毀壞。


圖l為現有技術的TEC限流電路原理框圖；圖2為本發明自動溫度控制冷熱不對稱限流方法；
圖3為本發明實施例1製冷器驅動器冷熱不對稱限流方法電路圖; 圖4為ADN8830器件的Vtec和VLIM關係圖； 圖5為本發明實施例2製冷器驅動器冷熱不對稱限流方法電路圖; 圖6為本發明實施例2的電流監測電路圖；圖7 A為輸入到OPA548的ILIM電壓與其Vo腳的輸出電流關係 示意圖；圖7 B為輸入到OPA548的ILIM電壓與其Vo腳的輸出電流關係對應表。
具體實施方式
.以下對本發明的較佳實施例加以詳細說明。 為了解決雷射製冷器製冷和加熱所能承受的最大電流值不對稱 的問題，本發明採用以下方法A、通過對雷射器TEC的電流採樣， 確定雷射製冷器當前處於加熱還是製冷狀態；B、根據雷射製冷器所 處的狀態，分別設定不同的限流閾值；C、根據不同的限流閾值限制 雷射製冷器的最大電流。根據該方法本發明採用如圖2所示的用於對 雷射製冷器不對稱限流裝置。該裝置包括雷射器TEC, TEC電流監 測電路l, TEC狀態識別電路2，製冷電流閾值控制量3，加熱閾值 選擇電路，以及TEC驅動電路6。其中，閾值選擇電路由製冷電流閾 值控制量3、加熱電流閾值控制量4和閾值選擇5三個部分組成。本 發明裝置的工作原理是當雷射器TEC通電後，電流監測電路1將 流經雷射器TEC上的電流進行採樣和放大，根據流過TEC電流的大 小和方向確定雷射器TEC的工作狀態，當電流大小，電流方向不同 時，電流監測電路1輸出的採樣信號VTEC也隨著變化，電流監測 電路}.將放大後的採樣信號VTEC輸出給狀態識別電路2輸入端；狀 態識別電路用於根據採樣信號VTEC來判斷雷射器TEC當前狀態，
並且其輸出端的電壓根據輸入端採樣信號VTEC值的不同而變化，輸 出不同的狀態識別信號，以此界定和表明所述雷射器TEC是處於制 冷還是加熱狀態。閾值選擇電路根據得到的不同的狀態識別信號，選 擇製冷電流閾值控制量3或加熱電流閾值控制量4,並將獲得的不同 閾值輸出給TEC驅動控制電路，所述TEC驅動電路#4居不同的閾值 限定輸出到所述雷射器TEC的最大電流值。本發明裝置中的電流監測電路1、 TEC狀態識別電路2，閾值選 擇電路可以採用多種電路形式組合實現，尤其是電流監測電路l,這 部分的電流監測功能可在有些TEC驅動器晶片內部實現，通過VTEC 腳輸出，直接引用；還可以可以通過在TEC驅動器與雷射器TEC間 串連一個電阻，並對雷射器TEC電流在該電阻上產生的壓降進行採 樣放大，根據放大後的輸出來判斷TEC上電流大小和方向。在此採 用如下兩個實施例加以i兌明實施例一、參見圖3， TEC驅動電路採用ADI公司推出的TEC製冷 器驅動器ADN8830,該晶片除了具有製冷器驅動電路的功能外，還設 置有電流監測電路，即電流監測功能在該驅動器晶片內部實現，採樣 信號通過ADN8830的VTEC腳輸出，可直接引用。TEC狀態識別電路2 由運放D1、電阻R1、電阻R2、電阻R3等器件組成，TEC狀態識別電 路2的輸入端，也就是運放D1的負端與ADN8830晶片的VTEC腳相連， 獲得電流監測電路輸出的採樣信號，運放Dl的正端與參考電壓Vref 之間連接電阻R3 ，電阻R1與電阻R2串聯後連接在運算放大器D1輸出 端與地之間，且電阻R1與電阻R2的連接點接運算放大器D1正端，運 算放大器D1的輸出端接閾值選擇電路，輸出狀態識別信號。所述閾 值選擇電路由數字開關D2及電阻R4、 R5、 R6組成，製冷器驅動器 ADN8830的輸入端VLIM腳連接閾值選擇電路的輸出端，雷射器TEC 的正端接製冷器驅動器ADN8830的一輸出端(OUTB端)，其負端接
製冷器驅動器ADN8830的另一輸出端(OUTA端)。根據ADN8830數 據手冊提供的公式formula see original document page 11根據該公式可以推知，當OC/:W端的電壓大於06TB端的電壓時， 電流正向流過雷射器TEC,雷射器TEC處於加熱狀態，VTEC電平高 於1.5V ;當F(96T爿端的電壓小於F06Ti5端的電壓時，電流反向流 過雷射器TEC，雷射器TEC處於製冷狀態，VTEC電平低於1.5V;當 VTEC等於1.5V時，不製冷不加熱。根據這個特性以及圖3所示的狀態識別電路，有formula see original document page 11若取電阻R2-100k，電阻Rl-51.1k，電阻R3-33.2K，formula see original document page 11可選Vref-2.5V，則，雷射器TEC處於製冷狀態，且當ADN8830的VTEC腳輸出的採樣 信號VTEC低於第一預定值1.25V時，狀態識別電路輸出的識別信號為 低電平，即Vo-OV;雷射器TEC處於加熱狀態，且當ADN8830的VTEC腳輸出的釆樣 信號VTEC高於第二預定值1.8V時，狀態識別電路輸出的識別信號為 高電平，Vo-3.3V;由此可見，當雷射器TEC處於製冷或加熱不同的 狀態下，狀態識別電路輸出不同電平的識別信號Vo給鬧值選擇電路。閾值選擇電路的數字開關D2的輸入端連接狀態識別電路的輸出 端，其NO端接地，NC端懸空，R5與R6串接在參考電壓Vref與地之間，R4—端連接數字開關的COM端，另一端與電阻R5與R6連接，並 且作為閾值選擇電路的輸出端；D2可選擇MAX4624等數字開關晶片， 閾值選擇電路的工作原理是當狀態識別電路2輸出的識別信號為低 電平時，即Vo-0V時，數字開關晶片MAX4624的COM端與NO端相 連，電阻R4接地，製冷閾值用下述公式(1 )獲得，當識別信號為高 電平時，即Vc^3.3V時，數字開關晶片MAX4624的COM端與NC端相 連，電阻R4的一端懸空，加熱閾值用下述公式(2)獲得VLIM製冷- R4//i 6 F"/ (1) VUMto = ~^~rre/ (2)由此可見，R4, R5和R6共同實現製冷電流閾值3和加熱電流閾值 4兩部分的功能，選擇適當的R4， R5和R6電阻值就可以得到預期的加 熱或製冷限流閾值。如R4選擇36，5k, R5選擇51.1k， R6選擇51.1k, 若雷射器TEC等效一個2歐姆阻抗，貝'J:-製冷閾值VLIM製冷=0.736V,根據圖4所示ADN8830輸出電壓Vtec和VLIM 關係圖得知，Vtec(Max)在2.8V左右，Itec = +1.4A;'力口熱閾值VLIM加熱-1.25V,根據圖4所示ADN8830輸出電壓Vtec和VLIM關 系圖得知，，Vtec(Max)在1.2V左右，Itec =-0.6A器TEC的最大工作電流，通過計算確定了輸出給雷射器TEC電流的大 小和方向。而當ADN8830的VTEC腳輸出的採樣信號VTEC在第一預定值 1.25V和第二預定值1.8V之間，屬於遲滯空間，若雷射器TEC等效一
個2歐姆阻抗，對應的流經雷射器TEC上的電流Itec相當於+ 125mA和 -150mA。在這個遲滯空間內，數字開關D2的工作狀態不發生改變， 即閾值選擇電路輸出維持原先狀態；設置這個遲滯空間非常重要，如 果沒有遲滯空間，閾值選擇電路會在採樣信號VTEC為某一電平(如 1.5V)處，在製冷閾值和加熱閾值之間反覆振蕩，產生抖動，設置該 閾值空間可以去抖，遲滯空間的大小並不重要，只要設置一遲滯空間 即可有去除抖動的效果。實施例二、參見圖5。本發明的狀態識別電路以及閾值選擇電路 與實施例一相同，與實施例l相比不同之處是，TEC製冷器驅動器使 用TI公司推出的TEC製冷器驅動器OPA548,並且OPA548不含有電流 監測電路功能，需在OPA548輸出與雷射製冷器之間外接一 電流監測 電路，對與之相連的雷射器TEC的電流進行採樣和放大，並將放大後 的採樣信號通過運算放大器D1的負端傳給狀態識別電路；外接電流 監測電路如圖6所示，電阻R8的兩端連接在運算放大器D3的兩個RG 端，運算放大器D3的正輸入端接雷射器TEC,其負輸入端接TEC驅動 電路，並且電阻R7串接在所述TEC驅動電路和雷射器TEC之間，用於 監測流過其上的工作電流，運算放大器D3將電阻R7的壓降放大後輸 出給所述狀態識別電路。根據圖6可知Vtec = -R7xGxItec其中運算放大器D3選用INA128,其Itec是指流過雷射器TEC的電流，RG是INA128的增益控制電阻。 若電阻R7選擇0.1歐姆，D3可選為INA128, INA326等器件，D3 的增益控制電阻R8選擇2.61K，此時，G = 20, Vref為1.5V，根據圖5
可知雷射器TEC在製冷狀態下，Itec為正，D3輸出的採樣信號VTEC 小於1.5V;雷射器TEC在加熱狀態下，Itec為負，VTEC大於1.5V;當 VTEC等於1.5V時，雷射器TEC不製冷不加熱；這個結果輸入給TEC 狀態識別電路。TEC狀態識別電路2由以下幾個器件組成，運》文D1、電阻R1、電 阻R2、電阻R3,電路結構與實施例1中的TEC狀態識別電路2相同， 描述略'，通過選擇不同的電阻值，根據下列公式 formula see original document page 14若取R2-100k, Rl-51.1k, R2 = 33.2K，則有formula see original document page 14可選Vref-2.5V，若雷射器TEC等效一個2歐姆阻抗，貝'J: 雷射器TEC處於製冷狀態，當ltec大於150mA，採樣信號VTEC低於第一預定值L2V時，狀態識別電路輸出的識別信號為低電平，即Vo=0V;雷射器TEC處於加熱狀態，當Itec小於-150mA,當採樣信號 VTEC高於第二預定值1.8V時，狀態識別電路輸出的識別信號為高電 平，Vo = 3.3V;.1.2V到1.8V之間屬於遲滯空間，同理在這個遲滯空間內，數字開 關D2的工作狀態不發生改變，即閾值選擇電路輸出維持原先狀態。 當識別信號為低電平時，即Vo-OV時，數字開關的COM端與NO 端相連，電阻R4接地，製冷閾值用公式(1)獲得，當識別信號為高電平時，即Vo-3.3V時，數字開關的COM端與NC端相連，加熱閾值 用公式(2)獲得VLIM製冷=R4//i 6 ( 1 )VLIM加熱=《6 阿l ( 2 )當將VLIM電壓接入OPA548的3腳ILIM時，根據圖7a、圖7b所示 ILIM電壓與電流對應關係，可得出當ILIM的輸入電壓為(V-)+4.75V， Vo輸出電流為0A,當ILIM的輸入電壓為(V-)+3,8V, Vo輸出電流為l A，依此類推。圖7a中，ISet=Ilim/15000， lSET= (V-)+4.75V-(13750 Q)(Ilim)/15000。由此可見，選擇適當的R4、 R5、 R6電阻值和Vrefl, 根據製冷闊值公式(1 )和加熱閾值公式(2 )就可以得到想要的加熱 或製冷限流閾值。R4, R5和R6共同實現了製冷電流閾值(3)和加熱 電流閾值(4)兩部分的功能，用以設置相應的加熱和製冷電流闞值。由於本發明採用了不同的加熱和製冷限流閾值，從根本上解決了 因雷射器結構引起的，加到雷射器TEC上的製冷和加熱電流極限值不 對稱所帶來的限流問題。應說明的是，以上實施例僅用以說明本發明的技術方案而非限 制，儘管參照較佳實施例對本發明進行了詳細說明，本領域的普通技 術人員應當理解，可以對本發明的技術方案進行修改或者等同替換， 而不脫離本發明技術方案的精神和範圍，其均應涵蓋在本發明的權利要求範圍當中。
權利要求
1、 一種用於對雷射製冷器限流的裝置，包括TEC驅動電路和 雷射器TEC，其特徵在於還包括TEC電流監測電路，TEC狀態識 別電路和閾值選擇電路，所述電流監測電路用於對所述雷射器TEC 電流採樣和放大，並將放大後的採樣信號傳給所述狀態識別電路；所 述狀態識別電路用於根據採樣信號判斷所述雷射器TEC當前狀態， 輸出不同的狀態識別信號；所述閾值選擇電路根據狀態識別信號選擇 不同的閾值，並將獲得的不同閾值輸出給TEC驅動電路，所述TEC 驅動電路根據不同的閣值限定輸出到所述雷射器TEC的最大電流值。
2、 根據權利要求1所述的用於對雷射製冷器限流的裝置，其 特徵在於，所述狀態識別電路包括運算放大器Dl、電阻Rl、電阻 R2、電阻R3，所述運算放大器D1負端用於接收所述電流監測電路 輸出的採樣信號，其正端與參考電壓Vref之間連接所述電阻R3，所 述電阻R1與電阻R2串聯後連接在運算放大器輸出端與地之間，且 電阻R1與電阻R2的連接點接運算放大器正端；所述電阻R1、電阻 R2、電阻R3，以及參考電壓Vref數值的設置，保證當雷射器TEC 為製冷狀態，且採樣信號小於第一預定值時，狀態識別電路輸出的識 別信號為低電平，當雷射器TEC為加熱狀態，且採樣信號大於第二 預定值時，狀態識別電路輸出的識別信號為高電平，並且第二預定值 大於第一預定值。
3、 根據權利要求2所述的用於對雷射製冷器限流的裝置，其 特徵在於，所述不同閾值包括製冷閾值和加熱閾值。
4、 根據權利要求3所述的用於對雷射製冷器限流的裝置，其特徵在於，所述閾值選擇電路包括一數字開關晶片，以及電阻R4、電阻R5、電阻R6，所述數字開關的輸入端連接狀態識別電路的輸出 端，其NO端接地，NC端懸空，所述電阻R5與電阻R6串接在參考 電壓Vref與地之間，所述電阻R4—端連接數字開關的COM端，另 一端與電阻R5及電阻R6連接，並且作為閾值選擇電路的輸出端； 當識別信號為低電平時，數字開關的COM端與NO端相連，電阻R4 接地，製冷閾值用公式(1)獲得，當識別信號為高電平時，數字開 關的COM端與NC端相連，加熱閾值用公式(2)獲得formula see original document page 3 (1 )formula see original document page 3 (2)其中VLIM加熱為加熱閾值，VLIM製冷為製冷閾值。
5、 根據權利要求4所述的用於對雷射製冷器限流的裝置，其 特徵在於，所述電流監測電路包括運算放大器D3、電阻R7和電阻 R8，所述電阻R8的兩端連接在所述運算it大器D3的兩個RG端， 所述運算放大器D3的正輸入端接雷射器TEC,其負輸入端接TEC 驅動電路，並且電阻R7串接在所述TEC驅動電路和所述雷射器TEC 之間，用於監測流過其上的工作電流，所述運算放大器D3將所述電 阻R7的壓降放大後輸出給所述狀態識別電路。
6、 根據權利要求5所述的用於對雷射製冷器限流的裝置，其 特徵在於，所述TEC驅動電路採用OPA548;所述第一預定值為1.2V， 第二預定值為1.8V。
7、 根據權利要求4所述的用於對雷射製冷器限流的裝置，其特徵在於，所述TEC驅動電路採用ADN8830,所述電流監測電路設 置在ADN8830中，ADN8830的VTEC腳輸出所述採才羊信號；所述 第一預定值為1.25V,第二預定值為1.8V。
8、 根據權利要求4至7任一權利要求所述的用於對雷射製冷 器限流的裝置，其特徵在於，所述數字開關採用MAX4624晶片；所 述狀態識別信號低電平時為0V,所述識別信號高電平時為3.3V。
9、 一種用於對雷射製冷器限流的方法，包括以下步驟A、 通過對雷射器TEC的電流採樣，確定雷射製冷器當前處於加 熱還是製冷狀態；B、 根據雷射製冷器所處的狀態，分別設定不同的限流閾值； C 、根據不同的限流閾值限制雷射製冷器的最大電流。
10、 根據權利要求1所述的方法，其特徵在於所述的步驟A 和步驟B包括如下處理當雷射製冷器處於製冷狀態，且對雷射器TEC採樣獲得的採樣 信號低於第一預定值時，狀態識別信號為低電平，設置製冷限流閾值；當雷射製冷器處於加熱狀態，且對雷射器TEC採樣獲得的採樣 信號高於第二預定值時，狀態識別電路輸出為高電平，設定加熱限流 閾值；當對雷射器TEC採樣獲得的採樣信號高於第一預定值，且低於 第二預定值時，限流閾值不發生變化，維持原狀態。
全文摘要
一種用於對雷射製冷器限流的裝置和方法，包括TEC電流監測電路，TEC狀態識別電路，閾值選擇電路，TEC驅動電路和雷射器TEC，電流監測電路用於對雷射器TEC電流採樣和放大，並將放大後的採樣信號傳給狀態識別電路；狀態識別電路用於根據採樣信號判斷雷射器TEC當前狀態，輸出不同的狀態識別信號；閾值選擇電路根據狀態識別信號選擇不同的閾值，並將獲得的不同閾值輸出給TEC驅動電路，由TEC驅動電路根據不同的閾值限定輸出到雷射器TEC的最大電流值。本發明由於採用了不同的加熱和製冷限流閾值，解決了雷射製冷器製冷和加熱所能承受的最大電流值不對稱的問題。使雷射器自動溫度控制電路在最佳狀態下工作。
文檔編號H01S5/024GK101145671SQ20071007367
公開日2008年3月19日 申請日期2007年3月22日 優先權日2007年3月22日
發明者任之良, 孟德才 申請人:中興通訊股份有限公司