基於sift特徵點的sar圖像變化檢測方法
2023-05-08 00:36:51 2
基於sift特徵點的sar圖像變化檢測方法
【專利摘要】本發明公開了一種基於SIFT特徵點的SAR圖像變化檢測方法,主要解決現有檢測方法受「斑點」噪聲影響較大的問題。其實現過程是:(1)將已配準且進行輻射校正和幾何校正的兩幅待檢測SAR圖像進行歸一化處理;(2)利用歸一化後的待檢測的兩幅圖獲得差異圖;(3)利用尺度不變特徵變換方法提取差異圖中的SIFT特徵點;(4)將SIFT特徵點作為種子點進行區域生長,得到變化圖。本發明具有對「斑點」噪聲魯棒性強的優點,可用於低性噪比下的SAR圖像變化檢測。
【專利說明】基於SIFT特徵點的SAR圖像變化檢測方法
【技術領域】
[0001] 本發明屬於雷達【技術領域】,涉及SAR圖像檢測方法,可用於對不同時段同一場景 的變化區域的檢測。
【背景技術】
[0002] 雷達成像技術是20世紀50年代發展起來的,在此後的60年裡得到了突飛猛進的 發展,目前,已經在軍事、農林、地質、海洋、災害、繪測等諸多方面得到廣泛的應用。
[0003] SAR作為一種主動微波傳感器,具有全天候、全天時、解析度高以及穿透能力強等 特點,在突發事件、自然災害的檢測和評估等方面具有獨特優勢,利用SAR圖像進行變化檢 測具有重要意義。目前,SAR圖像變化檢測已經在多個方面取得廣泛的應用,如土地分析、 森林採伐監測、災情估計、軍事偵察、打擊效果評估等。
[0004] SAR圖像變化檢測分為監督和非監督兩大類。其中,非監督變化檢測不需要先驗變 化信息的支持,可直接從配準好的前後兩個時刻SAR圖像獲取變化信息,這種檢測方法不 僅降低人為誤差的影響,同時也符合實際中先驗變化信息缺失的現實情況,因此非監督變 化檢測成為國內外研宄的重點。SAR圖像變化檢測的流程可概括為三個步驟,首先對待檢測 的兩幅圖像進行圖像配準、斑噪濾波、輻射校正、幾何校正等預處理,然後比較兩幅圖像獲 得差異圖,最後對差異圖進行分割得到最終的檢測結果。
[0005] 現有文獻中提出很多非監督SAR圖像變化檢測方法,例如基於統計模型變化檢測、 基於聚類變化檢測方法等。Yakoub Bazi等人在文獻《An Unsupervised Approach Based on the Generalized Gaussian Model to Automatic Change Detection in Multitemporal SAR Images》中針對高斯分布模型和廣義高斯分布模型,利用KittIer-Illingworth算法確 定門限,對差異圖進行分割的檢測方法;公茂果等人在《Change Detection in Synthetic Aperture Radar Images based on Image Fusion and Fuzzy Clustering》中提出利用模 糊C均值以及改進的模糊C均值方法對融合後的差異圖進行聚類,區分變化區域和非變化 區域,得到檢測結果。在現有的SAR圖像變化檢測方法中,SAR圖像特有的"斑點"噪聲對檢 測性能有很大的影響。例如基於統計模型的檢測方法,進行檢測之前必須對其進行濾波,否 則檢測無法進行,此外,該方法一旦模型失配,其檢測性能將急劇下降;又如基於聚類的檢 測方法,當噪聲較強時,其檢測性能會受到極大的影響。
【發明內容】
[0006] 本發明的目的在於針對上述已有方法的不足,提出一種基於SIFT特徵點的SAR圖 像變化檢測方法,以提高對變化區域的檢測率,尤其是在低性噪比下的檢測率。
[0007] 本發明是這樣實現的:
[0008] 一、技術思路
[0009] 變化檢測的關鍵在於找到一個域或特徵,在這個域或特徵下,變化區域和未變化 區域具有可分性。本發明中利用尺度不變特徵變換SIFT提取差異圖中的特徵點,再聯合使 用圖像分割後的區域信息,得到變化區域。SIFT特徵點可以反映圖像的局部特徵,對圖像旋 轉、尺度放縮和亮度變化具有不變性,對視角變化、仿射變換以及噪聲也保持一定程度的穩 定性。本發明利用SIFT特徵點對噪聲具有的穩定性的特性,聯合圖像分割對邊界的精細化 處理,使檢測結果不僅對噪聲具有魯棒性,還有更精確的邊界。
[0010] 二.技術方案
[0011] 本發明的實現步驟包括如下:
[0012] (1)對已進行配準、幾何校正、輻射校正的兩幅待檢測的SAR參考圖像X和測試圖 像Y數據進行歸一化,得到歸一化後的參考圖像X'和測試圖像Y' ;
[0013] (2)將歸一化後的參考圖像X'和測試圖像Y'所對應像素值相除,取對數的絕對 值,獲得差異圖D;
[0014] (3)用尺度不變特徵變換SIFT方法提取差異圖D中的尺度不變特徵變換特徵點;
[0015] (4)在歸一化後的測試圖像Y'中,以步驟(3)中提取的特徵點為種子點進行區域 生長,得到分割結果:
[0016] (4a)生成一個與測試圖像Y同等大小的初始矩陣mask和生長矩陣mask',以及更 新矩陣maskl,將初始矩陣mask中每個特徵點對應位置的值標記為1,剩餘位置的值均標記 為0,將生長矩陣mask'和更新矩陣maskl的值全部標記為0 ;
[0017] (4b)在測試圖像Y中,將在初始矩陣mask中對應位置被標記為1的像素值與其相 鄰8個點像素值相比較,如果像素值相差不超過門限T = 0. 05599,則在生長矩陣mask'中 將相鄰像素對應位置的值標記為1,否則不進行任何操作;
[0018] (4c)對初始矩陣mask中所有被標記為1的位置進行(4b)的操作;
[0019] (4d)將初始矩陣mask與生長矩陣mask'相加,並將相加後的結果存入更新矩陣 maskl 中;
[0020] (4e)將更新矩陣maskl中所有的非零值置為1 ;
[0021] (4f)判斷初始矩陣mask與更新矩陣maskl是否相等,若不相等,則將生長矩陣 maskl的值賦予初始矩陣mask矩陣,並將生長矩陣mask'的值全部置0,重複(4b)到(4e) 的操作,否則,生長結束,更新矩陣maskl即為分割結果。
[0022] 與現有技術相比,本發明具有以下優點:
[0023] 第一,本發明由於提取了差異圖D中的尺度不變特徵變換特徵點,可以較為準確 地確定圖像變化區域,縮小了變化區域檢測範圍,能有效抑制變化區域外"斑點"噪聲的幹 擾。
[0024] 第二,本發明由於引入尺度不變特徵變換特徵點SIFT,使得整幅圖的檢測問題轉 化為尺度不變特徵變換特徵點周圍較小區域的分割問題,可以利用成熟的SAR圖像分割方 法對小區域進行分割,得到變化區域更為精細的檢測結果。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0025] 圖1為本發明的流程圖;
[0026] 圖2為Bern地區洪水發生前SAR圖像;
[0027] 圖3為Bern地區洪水發生後SAR圖像;
[0028] 圖4為參考實際地形的Bern地區發生洪水前後的標準變化圖;
[0029] 圖5為用現有的基於高斯統計模型方法對圖2和圖3檢測得到的變化圖;
[0030] 圖6為用現有的基於模糊C均值FCM方法對圖2和圖3檢測得到的變化圖;
[0031 ] 圖7為用本發明方法對圖2和圖3檢測得到的變化圖。
【具體實施方式】
[0032] 參照圖1,本發明的具體實現步驟包括如下:
[0033] 步驟1,圖像預處理。
[0034] 對已進行配準、幾何校正、輻射校正的兩幅待檢測的SAR參考圖像X和測試圖像Y 數據進行歸一化,得到歸一化後的參考圖像X'和測試圖像Y' :
【權利要求】
1. 一種SAR圖像變化檢測方法,包括如下步驟: (1) 對已進行配準、幾何校正、輻射校正的兩幅待檢測的SAR參考圖像X和測試圖像Y 數據進行歸一化,得到歸一化後的參考圖像X'和測試圖像Y' ; (2) 將歸一化後的參考圖像X'和測試圖像Y'所對應像素值相除,取對數的絕對值,獲 得差異圖D ; (3) 用尺度不變特徵變換SIFT方法提取差異圖D中的特徵點; (4) 在歸一化後的測試圖像Y'中,以步驟(3)中提取的特徵點為種子點進行區域生長, 得到分割結果: (4a)生成一個與測試圖像Y同等大小的初始矩陣mask和生長矩陣mask',以及更新矩 陣maskl,將初始矩陣mask中每個特徵點對應位置的值標記為1,剩餘位置的值均標記為0, 將生長矩陣mask'和更新矩陣maskl的值全部標記為0 ; (4b)在測試圖像Y中,將在初始矩陣mask中對應位置被標記為1的像素值與其相鄰8 個點像素值相比較,如果像素值相差不超過門限T = 0.05599,則在生長矩陣mask'中將相 鄰像素對應位置的值標記為1,否則不進行任何操作; (4c)對初始矩陣mask中所有被標記為1的位置進行(4b)的操作; (4d)將初始矩陣mask與生長矩陣mask'相加,並將相加後的結果存入更新矩陣maskl 中; (4e)將更新矩陣maskl中所有的非零值置為1 ; (4f)判斷初始矩陣mask與更新矩陣maskl是否相等,若不相等,則將生長矩陣maskl 的值賦予初始矩陣mask矩陣,並將生長矩陣mask'的值全部置0,重複(4b)到(4e)的操 作,否則,生長結束,更新矩陣maskl即為分割結果。
2. 根據權利要求1所述的用於SAR圖像變化檢測方法,其中所述步驟(1)中歸一化後 的參考圖像X'和測試圖像Y',分別表示如下:
其中,X為歸一化前的參考圖像,Y為歸一化前的測試圖像,min( ·)表示取最小值, max( ·)表示取最大值。
【文檔編號】G06K9/62GK104517124SQ201410818305
【公開日】2015年4月15日 申請日期:2014年12月25日 優先權日:2014年12月25日
【發明者】杜蘭, 王燕, 王斐, 王兆成 申請人:西安電子科技大學