一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置的製作方法

2023-05-11 07:09:36

專利名稱：一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，屬於材料測試設備領域。
背景技術：
隨著玻璃熔制技術的迅速發展，電助熔技術在玻璃熔窯中被廣泛採用，以其獨特的優勢得到了大家的認可:1、大幅度提高熔化率；2、提高熔化質量；3、減弱上部火焰空間的燃燒強度、延長窯爐壽命；4、減少因結石缺陷造成的產品損失；5、提高熱效率，減少環境汙染。特別是在TFT - LCD用玻璃基板的熔窯中被廣泛使用。從高溫玻璃熔體電阻率測試的意義來分析，不同溫度下，分析玻璃熔體的電阻率參數變化能為料方的調整提供很好的參考作用；在電助熔窯爐中，高溫玻璃熔體的電阻率變化是直接關係熔融玻璃液是否能有效促進玻璃熔化，減少結石，促進均化和澄清，減少玻璃缺陷的關鍵指標；在窯爐設計的前期，了解高溫電阻率變化也為電助熔系統的設計提供重要的參考，是直接關係到熔化池和輸配電設計的關鍵指標，所以充分認識高溫玻璃熔體的電阻率變化是完善電助熔技術、提高玻璃熔制質量的必要保證。高溫玻璃熔體的電阻率測試儀中缺少對玻璃熔體由於加熱揮發出來的雜質氣體的處理，導致電加熱元件受到被氧化的傷害，並且影響了玻璃熔體電阻率的測試效果，因此有必要對玻璃熔體電阻率測試儀的結構進行改進。
發明內容本實用新型為解決玻璃熔體揮發出來的雜質氣體對電加熱元件造成被氧化的傷害、並且影響了玻璃熔體電阻率的測試效果的技術問題，設計了一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，在控溫爐中增設保護氣機構，及防止了玻璃熔體揮發的雜質影響測試效果，由保證了電加熱元件免受雜質氣體的氧化傷害，延長了使用壽命。本實用新型為實現發明目的採用的技術方案是，一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，所述裝置的結構中包括工作檯、設置在工作檯上且盛放待測玻璃熔體的坩堝、爐腔內設有電加熱元件的控溫爐、及帶有測溫模塊及電信號採集模塊的控制單元，工作檯及坩堝定位在控溫爐內，在控溫爐中增設保護氣機構，以上保護氣機構的結構中包括:貫穿設置在控溫爐底部爐壁上的、與保護氣體的氣源連通的通氣管，通氣管的出氣口與控溫爐的爐腔連通，並配套設置排氣孔。本實用新型的有益效果是:本實用新型為電助熔技術中玻璃液電阻率與溫度的對應關係提供了可靠依據，為電助熔系統的設計提供重要參考，保證來了熔化池和輸配電設計關鍵指標的精準性，是提高玻璃熔制質量的必要保證；同時在控溫爐中增設保護氣機構，及防止了玻璃熔體揮發的雜質影響測試效果，由保證了電加熱元件免受雜質氣體的氧化傷害，延長了使用壽命。
以下結合附圖對本實用新型進行詳細說明。
圖1是本實用新型的結構示意圖。附圖中，I代表工作檯，2代表坩堝，3代表電極對，4代表熱電偶溫度傳感器，5-1代表上蓋，5-2代表爐膛,5-3代表電加熱兀件，5A代表保溫層,5B代表隔熱層,5C代表電信號屏蔽層，代表爐體殼層,6代表升降傳動機構，7代表驅動電機,8代表管式保護套,9代表通氣管，9-1代表第一流量閥，9-2代表第二流量閥。
具體實施方式
一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，所述裝置的結構中包括工作檯1、設置在工作檯I上且盛放待測玻璃熔體的坩堝2、爐腔內設有電加熱元件5-3的控溫爐、及帶有測溫模塊及電信號採集模塊的控制單元，工作檯I及坩堝2定位在控溫爐內，在控溫爐中增設保護氣機構，以上保護氣機構的結構中包括:貫穿設置在控溫爐底部爐壁上的、與保護氣體的氣源連通的通氣管9，通氣管9的出氣口與控溫爐的爐腔連通，並配套設置排氣孔。上述的保護氣機構的結構中還包括沿控溫爐軸向設置的管式保護套8，管式保護套8罩在坩堝2上並藉助上管口處的定位組件與控溫爐的上埠定位連接，所述通氣管9的結構是三通管，三通管的進氣口與保護氣體的氣源連通、第一支管與管式保護套8連通，第二支管與管式保護套8外的爐腔連通，電加熱元件5-3設置在管式保護套8外的爐腔內。在三通管的第一支管上設置第一流量閥9-1，在第二支管上設置第二流量閥9-2。上述的測溫模塊中包括設置在坩堝2底部的熱電偶溫度傳感器4。上述的電信號採集模塊中包括設置在工作檯I上的電極對3及信號處理電路模塊。上述的控溫爐的結構中包括:立式保溫爐體、設置在立式保溫爐體上埠的上蓋5-1以及開放式下埠、均布在立式保溫爐體圍成的爐膛5-2內的電加熱元件5-3，電加熱元件5-3的電力端與控制單元連接，坩堝2設置在電加熱元件5-3之間。上述的立式保溫爐體的結構層由裡至外依次包括:保溫層5A、隔熱層5B、電信號屏蔽層5C及爐體殼層上述的控溫爐上還定位有升降傳動機構6及配套的驅動電機7，控溫爐藉助升降傳動機構6與工作檯I形成豎直向滑動配合。上述的電極對3中的電極是鉬金電極片，藉助鉬金導線與信號處理電路模塊連接，以上鉬金電極片的尺寸與坩堝的橫截面尺寸配套。本實用新型的測試原理是:根據歐姆足侓和電阻率公式
權利要求1.一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，所述裝置的結構中包括工作檯(I)、設置在工作檯(I)上且盛放待測玻璃熔體的坩堝(2)、爐腔內設有電加熱元件(5-3)的控溫爐、及帶有測溫模塊及電信號採集模塊的控制單元，工作檯(I)及坩堝(2 )定位在控溫爐內，其特徵在於:在控溫爐中增設保護氣機構，以上保護氣機構的結構中包括:貫穿設置在控溫爐底部爐壁上的、與保護氣體的氣源連通的通氣管(9)，通氣管(9)的出氣口與控溫爐的爐腔連通，並配套設置排氣孔。
2.根據權利要求1所述的一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，其特徵在於:所述的保護氣機構的結構中還包括沿控溫爐軸向設置的管式保護套(8)，管式保護套(8)罩在坩堝(2)上並藉助上管口處的定位組件與控溫爐的上埠定位連接，所述通氣管(9)的結構是三通管，三通管的進氣口與保護氣體的氣源連通、第一支管與管式保護套(8)連通，第二支管與管式保護套(8)外的爐腔連通，電加熱元件(5-3)設置在管式保護套(8)外的爐腔內。
3.根據權利要求2所述的一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，其特徵在於:在三通管的第一支管上設置第一流量閥(9-1)，在第二支管上設置第二流量閥(9-2)。
4.根據權利要求1所述的一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，其特徵在於:所述的測溫模塊中包括設置在坩堝(2)底部的熱電偶溫度傳感器(4)。
5.根據權利要求1所述的一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，其特徵在於:所述的電信號採集模塊中包括設置在工作檯(I)上的電極對(3)及信號處理電路模塊。
6.根據權利要求1所述的一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，其特徵在於:所述的控溫爐的結構中包括:立式保溫爐體、設置在立式保溫爐體上埠的上蓋(5-1)以及開放式下埠、均布在立式保溫爐體圍成的爐膛(5-2)內的電加熱元件(5-3)，電加熱元件(5-3)的電力端與控制單元連接，坩堝(2)設置在電加熱元件(5-3)之間。
7.根據權利要求6所述的一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，其特徵在於:所述的立式保溫爐體的結構層由裡至外依次包括:保溫層(5A)、隔熱層(5B)、電信號屏蔽層(5C)及爐體殼層(5D)。
8.根據權利要求6所述的一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，其特徵在於:所述的控溫爐上還定位有升降傳動機構(6)及配套的驅動電機(7)，控溫爐藉助升降傳動機構(6)與工作檯(I)形成豎直向滑動配合。
9.根據權利要求5所述的一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，其特徵在於:所述的電極對(3)中的電極是鉬金電極片，藉助鉬金導線與信號處理電路模塊連接，以上鉬金電極片的尺寸與坩堝的橫截面尺寸配套。
專利摘要一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，解決了玻璃熔體揮發出來的雜質氣體對電加熱元件造成被氧化的傷害、並且影響了玻璃熔體電阻率的測試效果的技術問題，採用的技術方案是，所述裝置的結構中包括工作檯、設置在工作檯上且盛放待測玻璃熔體的坩堝、爐腔內設有電加熱元件的控溫爐、及帶有測溫模塊及電信號採集模塊的控制單元，工作檯及坩堝定位在控溫爐內，在控溫爐中增設保護氣機構，以上保護氣機構的結構中包括貫穿設置在控溫爐底部爐壁上的、與保護氣體的氣源連通的通氣管，通氣管的出氣口與控溫爐的爐腔連通，並配套設置排氣孔。通過在控溫爐中增設保護氣機構，及防止了玻璃熔體揮發的雜質影響測試效果，由保證了電加熱元件免受雜質氣體的氧化傷害，延長了使用壽命。
文檔編號G01R27/08GK203025251SQ201220645770
公開日2013年6月26日 申請日期2012年11月30日 優先權日2012年11月30日
發明者劉文泰, 閆冬成, 張廣濤, 沈玉國, 田穎, 田鵬 申請人:東旭集團有限公司