驗證測試用rom的方法
2023-07-05 21:15:21 1
專利名稱：驗證測試用rom的方法
技術領域：
本發明涉及一種驗證方法，尤其是涉及IC設計中驗證測試用ROM的方法。
背景技術：
目前，在IC設計領域，ROM驗證一般採用的是求和的方法來驗證，即比較所有ROM單元中的內容的和是否和預期的所有內容的和相等。對於TROM(測試用ROM)，程序會在TROM中分配兩個單元來存儲TROM的和的高位和低位以便於成測時進行比較和自測。而該程序本身又會對包含這兩個單元在內的所有TROM的單元進行求和。即設TROM的和被存放在變量TROM_CheckSum_High和TROM_CheckSum_Low中，因為這兩個值本來就是TROM中兩個單元，在對TROM求和的同時也包含對這兩個單元的求和，如果這兩個單元的值改變，TROM的checksum和也會改變，同時，TROM的checksum和的改變也會引起TROM中的這兩個單元的值的改變，這樣就會形成一種循環。
如何能又快又準確的求整個TROM的和呢？傳統的辦法是用線性逼進的辦法去嘗試，即先估計出TROM的和的大概值，將其填入TROM_CheckSum_High與TROM_CheckSum_Low中，然後再對TROM求和，用求出的和再去修改TROM_CheckSum_High與TROM_CheckSum_Low的值。重複以上過程，直到最後CheckSum的值和TROM_CheckSum_High與TROM_CheckSum_Low中的值吻合為止。
利用這種方法，帶有很大的隨機性，數據收斂的快慢與驗證人員的經驗有很大關係。並且，由於驗證採用嘗試的方式進行，對於驗證人員的人力和時間都是一種浪費。
發明內容
本發明的目的在於針對現有技術的上述不足，提出一種具有較高速度和正確性的驗證測試用ROM的方法。
本發明的上述目的是通過下述技術方案實現的首先，在測試用ROM中預先分配四個存儲單元，分別用來存儲測試用ROM的和的高位和低位以及高位和低位的補碼，在驗證程序初次編譯之前，令存儲高位及高位的補碼的兩個存儲單元的內容互補，存儲低位及低位的補碼的兩個存儲單元的內容互補；之後，編譯該驗證程序並對其二進位代碼求出測試用ROM的和；接著分別將其和的高位和低位存儲於測試用ROM之中所分配的存儲和的高位和低位的存儲單元中，並分別將其補碼存儲於測試用ROM中預先分配的存儲和的高位和低位的補碼的存儲單元中；最後，通過編譯修改後的程序並對其二進位代碼求和，利用求出的測試用ROM的和的正確值來判斷測試用ROM的和是否改變，從而驗證測試用ROM的內容是否正確。
和現有技術相比，本發明具有以下有益效果由於本發明採用求補的方法，只需要一次編譯之後就可以求出TROM之和。將該值填入源程序中後，再次編譯之後求和，該和一定和上次所求的和相等。這樣，只需要一次編譯就求出了CheckSum的值，只需要再次編譯，就驗證了CheckSum的正確性，保證了其驗證的快速性和正確性。
圖1是用線性逼進的方法求checksum的示意圖；圖2是本發明用求補方法求CheckSum的示意圖；具體實施方式
下面結合附圖和實施例對本發明作進一步描述。
如圖1所示，傳統的線性逼進的方法求checksum時，先估計出TROM的和的大概值，將其填入TROM_CheckSum_High與TROM_CheckSum_Low中，然後再對TROM求和，用求出的和再去修改TROM_CheckSum_High與TROM_CheckSum_Low的值。重複以上過程，直到最後CheckSum的值和TROM_CheckSum_High與TROM_CheckSum_Low中的值吻合為止。
如圖2所示，為了保證TROM的和在填入TROM中的存儲單元之前和之後其和能保持不變，可以在TROM中再分配另外兩個存儲單元，分別用來存儲保存TROM的和的補碼。比如設A單元用來保存TROM的和的高位，B單元用來保存TROM的和的低位。同時，再另外分配兩個存儲單元C和D，分別用來存儲A和B的補碼，使得A+C＝全F，B+D＝全F。
在程序編好以後，經過編譯，根據其二進位代碼，求出TROM的和。比如求出的TROM的和的高位為A』低位為B』。則，只要將A』和B』的值填入到相應的和的高位和低位的存儲單元中A和B去，同時根據A』和B』的值，修改相應的補碼存儲單元C和D中的值C』和D』，使得A』+C』＝全F；B』+D』＝全F。
根據這種方案，只要這四個單元的和保持不變，就可以保證TROM的和不變。可以通過編譯修改過的程序並對其二進位代碼求和來驗證TROM的和是否改變。按照這種方法，可以絕對保證對於修改過後的程序，TROM求出的和與TROM中所保存的和的高位和低位一致。
編程時，不論採用哪種語言實現，其基本方法類似。以字長為32位的處理器為例，只要在具體運算之前，對以下變量進行如此初始化Complement_TROM_CheckSum_High＝0xffffffff；Complement_TROM_CheckSum_Low＝0xffffffff；TROM_CheckSum_High＝0；TROM_CheckSum_Low＝0；在程序編好以後，編譯該程序，並對相應的二進位文件求一次和，假設求出的和的高32位為TROM_CheckSum_High1，低32位為TROM_CheckSum_Low1，則只要把真正的TROM的和填入相應的存儲單元，同時將其補碼的值也做相應的改動即可。如下所示TROM_CheckSum_High＝TROM_CheckSum_High1；TROM_CheckSum_Low＝TROM_CheckSum_Low1；Complement_TROM_CheckSum_High＝0xffffffff-TROM_CheckSum_High；Complement_TROM_CheckSum_Low＝0xffffffff-TROM_CheckSum_Low；利用這種方法，TROM的和在修改前後一定沒有變，所以TROM的和不需要再重複求出，該值就可以作為TROM的和的正確值來驗證TROM。只要將TROM中的各個單元的內容相加，得出的值與TROM的和的正確值相比較即可驗證TROM中的內容是否正確。
權利要求
1.一種驗證測試用ROM的方法，其特徵在於首先，在測試用ROM中預先分配四個存儲單元，分別用來存儲測試用ROM的和的高位和低位以及高位和低位的補碼，在驗證程序初次編譯之前，令存儲高位及高位的補碼的兩個存儲單元的內容互補，存儲低位及低位的補碼的兩個存儲單元的內容互補；之後，編譯該驗證程序並對其二進位代碼求出測試用ROM的和；接著分別將其和的高位和低位存儲於測試用ROM之中所分配的存儲和的高位和低位的存儲單元中，並分別將其補碼存儲於測試用ROM中預先分配的存儲和的高位和低位的補碼的存儲單元中；最後，通過編譯修改後的程序並對其二進位代碼求和，利用求出的測試用ROM的和的正確值來判斷測試用ROM的和是否改變，從而驗證測試用ROM的內容是否正確。
全文摘要
本發明公開了一種驗證測試用ROM的方法，利用本方法可提高驗證測試用ROM的速度和正確性。在測試用ROM中預先分配四個存儲單元，用來存儲測試用ROM的和的高位和低位以及高位和低位的補碼，並令存儲高位及高位的補碼的兩個存儲單元的內容以及存儲低位及低位的補碼的兩個存儲單元的內容互補；編譯驗證程序並對其二進位代碼求出測試用ROM的和；接著分別將其和的高位和低位存儲於測試用ROM所分配的存儲和的高位和低位的存儲單元中，並分別將其補碼存儲於測試用ROM中所分配的存儲和的高位和低位的補碼的存儲單元中；最後通過編譯修改後的程序並對其二進位代碼求和，利用求出的測試用ROM的和的正確值來判斷測試用ROM的和是否改變，從而驗證測試用ROM的內容是否正確。
文檔編號G11C29/00GK1641795SQ200410015919
公開日2005年7月20日 申請日期2004年1月17日 優先權日2004年1月17日
發明者蔣英 申請人:上海華虹集成電路有限責任公司