自動測試方法及其自動測試裝置的製作方法
2023-07-15 22:29:31
專利名稱：自動測試方法及其自動測試裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種自動測試裝置與方法，特別是涉及一種利用按鍵排列方式來進行測試 的測試裝置與方法。
背景技術：
隨著科技的進步，現在電子裝置的生產與使用的需求量也日益增加。由於電子裝置的 功能漸漸繁雜，使得在電子裝置上按鍵數量也日趨繁多。 一般而言，生產線上都要先對半 成品的電子裝置的按鍵進行測試以確定每個按鍵都能操作正常。但在現有技術當中，若在 測試流程中要測試電子裝置的按鍵是否都能夠正常操作，通常是利用人工或是機器的方 式， 一個一個按鍵地去測試，接著再去觀察其是否有正常的信號產生。如此一來，平均大 約一秒鐘才能測試一個按鍵。如果該項電子裝置有16個按鍵，測試的時間就大約要花16 秒左右。對於在一般生產線上的測試流程來說，會很耗費人力與時間。
因此需要發明一種新的測試裝置與方法以解決現有技術所產生的問題。
發明內容
本發明的主要目的在於提供一種自動測試裝置，以達到快速測試電子裝置的按鍵的效果。
本發明的另一主要目的在於提供一種自動測試裝置測試電子裝置的多個按鍵的自動 測試方法。
為達到上述的目的，本發明的自動測試裝置包括微控制晶片與按鍵連接電路。微控制 晶片具有編碼的功能，可以編輯不同的測試流程。按鍵連接電路包括多個緩衝器。微控制 晶片與按鍵連接電路電性連接，用來控制按鍵連接電路內多個緩衝器。多個緩衝器再與電 子裝置中的多個按鍵電性連接。
本發明的自動測試方法為傳送一控制信號以導通第一縱向緩衝器與第一橫向緩衝 器；藉由第一縱向緩衝器傳送一第一測試信號到該電子裝置；藉由該第二緩衝器傳送一第 二測試信號到該電子裝置；藉由該電子裝置輸出一正常的信號以代表該多個按鍵作用正常 (functionallynormal);以及使該第一緩衝器與該第二緩衝器斷路。
圖l是本發明的自動測試裝置與一電子裝置的連接示意圖。 圖2是本發明的自動測試方法的流程圖。
主要組件符號說明: 自動測試裝置IO
微控制晶片20
按鍵連接電路30
第一縱向緩衝器31a 第三縱向緩衝器31c 第一橫向緩衝器32a 第三橫向緩衝器32c 電子裝置90
第二縱向緩衝器31b 第四縱向緩衝器31d 第二橫向緩衝器32b 第四橫向緩衝器32d 多個按鍵B1 B16
行導線C1 C4
列導線R1 R具體實施例方式
為了讓本發明的上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉出本發明的具 體實施例，並配合所附附圖，作詳細說明如下。
請先參考圖1，圖1是本發明的自動測試裝置與一電子裝置的連接示意圖。
如圖1所示，本發明的自動測試裝置10與電子裝置90電性連接，該自動測試裝置10 設有一微控制晶片20與一按鍵連接電路30，用來測試電子裝置90中多個按鍵作用是否正 常。而待測的電子裝置90具有多個按鍵，例如智能型手機，但本發明並不以此為限。
其中電子裝置90的多個的按鍵為鍵盤矩陣(Keyboard Matrix)的電路形式。鍵盤矩 陣是由按鍵設置在行導線與列導線交錯排列而成，每一行導線與列導線交錯之處對應一按 鍵。例如在本實施例中，電子裝置90為具有16個按鍵B1 B16的電子裝置，也就是由鍵 盤矩陣的行導線C1 C4及列導線R1 R4交錯排列成多個按鍵B1 B16。需注意的是，本 發明的自動測試裝置10所能測試的電子裝置90並不以上述的按鍵數量及排列方式為限。
該微控制晶片20與該按鍵連接電路30電性連接。微控制晶片20可為一 8051晶片， 但本發明並不以此為限。微控制晶片20具有編碼的功能，可以依照不同的測試流程進行 不同的流程編碼，並且可以進行優化處理，讓測試流程有最短的執行時間。按鍵連接電路 30包括了多個緩衝器，在本實施例中，按鍵連接電路30可以包括第一縱向緩衝器31a到 第四縱向緩衝器31d及第一橫向緩衝器32a到第四橫向緩衝器32d。多個縱向緩衝器與多 個橫向緩衝器彼此之間互相電性連接。緩衝器的數量可以依照按鍵的數量及排列方式作改 變。微控制晶片20與按鍵連接電路30電性連接，用來控制按鍵連接電路30內的多個緩衝器。多個緩衝器再與電子裝置90中的多個按鍵電性連接。
每一縱向緩衝器與橫向緩衝器都分別與行導線與列導線連接。例如在本實施例中，第 —縱向緩衝器31a與鍵盤矩陣的行導線Cl的B13、 B9、 B5及B1連接，第一橫向緩衝器 32a與鍵盤矩陣的列導線Rl的B1、 B2、 B3及B4連接。
再者，第二縱向緩衝器31b與行導線C2上的B14、 BIO、 B6及B2導接；第二橫向 緩衝器32b與列導線R2上的B5、 B6、 B7及B8導接；再者，第三縱向緩衝器31C與行 導線C3上的B15、 Bl 1、 B7及B3導接；第三橫向緩衝器32C與列導線R3上的B9、 BIO、 B11及B12導接；又，第四縱向緩衝器31d與行導線C4上的B16、 B12、 B8及B4導接； 而第四橫向緩衝器32d與列導線R4上的B13、 B14、 B15及B16導接。
再者，微控制晶片20就能藉由控制多個緩衝器以測試多個按鍵作用是否正常。
接下來請參考圖2，關於本發明的自動測試方法的流程圖。需注意的是，以下為了便 於說明，是以圖1所示的自動測試裝置10與電子裝置90為例說明本發明的自動測試方法 的，但本發明並不以此為限。
本發明首先進行步驟201:對微控制晶片進行編碼以執行後續的測試流程。
首先，要先對微控制晶片20進行編碼。使用者先針對所要測試的電子裝置90來編寫 測試流程。並且為了要有最短的處理時間，還需要配合按鍵的數量與其鍵盤矩陣的排列方 式來對測試流程進行優化處理。當測試流程確定之後就開始執行此測試流程，即進行步驟 202。
步驟202:藉由微控制晶片傳送控制信號以導通縱向緩衝器與橫向緩衝器。
在步驟202中，本發明可藉由微控制晶片20先對按鍵連接電路30傳送一控制信號， 該控制信號用以讓其中一個縱向緩衝器與一個橫向緩衝器導通，使得該縱向緩衝器與該橫 向緩衝器得以傳送信號。在本實施例中是以先測試按鍵B1及交錯成按鍵B1的行導線C1 與列導線Rl為例進行說明。微控制晶片20先使第一縱向緩衝器31a與第一橫向緩衝器 32a導通。
需注意的是，本發明並不以上述的方式為限。在步驟202中也可以讓第一縱向緩衝器 31a與第三橫向緩衝器32c導通以測試按鍵B9及交錯成按鍵B9的行導線Cl與列導線R3。
接著進行步驟203:藉由該縱向緩衝器傳送一第一測試信號到電子裝置。
當第一縱向緩衝器31a導通時，微控制晶片20會經由第一縱向緩衝器31a傳送一第一測試信號到電子裝置90的行導線Cl。
並且同時進行步驟204:藉由該橫向緩衝器傳送一第二測試信號到電子裝置。
當第一橫向緩衝器32a導通時，微控制晶片20也會經由第一橫向緩衝器32a同時傳 送一第二測試信號到電子裝置90的列導線Rl。
在該按鍵Bl作用正常的情況下，當電子裝置90的行導線Cl在步驟203中被輸入第 一測試信號，並且列導線R1在步驟204中被輸入第二測試信號時，就相當於按下按鍵B1。 接著再去判斷按鍵B1是否有輸出一正常的信號在一屏幕或是其他的顯示裝置(圖未示) 上。
若電子裝置90有輸出所述正常的信號，就代表按鍵B1與其相關的鍵盤矩陣的電路的 作用都是正常的。換句話說，藉由第一縱向緩衝器31a對行導線Cl輸入第一測試信號， 並由第一橫向緩衝器32a對列導線Rl輸入第二測試信號的方式，就可以確定行導線Cl 與列導線R1交錯的按鍵B1是否正常。並且進一步確定在鍵盤矩陣中行導線C1與列導線 Rl是否正常皆連接。若按鍵B1有輸出正常的信號，就進行步驟205。
若電子裝置90沒有輸出一正常的信號，即代表按鍵Bl或是交錯成按鍵Bl的行導線 C1與列導線R1中有電路接觸不正常。可能是有短路、斷路或者是接觸不良的情形產生， 例如行導線C1短路到另一條行導線C2或短路到地。如此一來自動測試裝置IO就可以直 接停止測試流程，來進一步檢査電子裝置90中有哪一個或是多個按鍵作用不正常。
若按鍵B1有輸出正常的信號，就再進行步驟205:使該縱向緩衝器與該橫向緩衝器 斷路。
微控制晶片20此時就發出控制信號以使第一縱向緩衝器31a與第一橫向緩衝器32a 斷路，也就是恢復成最初的未導通狀態。
接著進行步驟206:判斷測試流程是否結束。
微控制晶片20會判斷其測試流程是否結束，即判斷是否所有的多個按鍵皆已被測試 完畢。若測試流程還沒有執行完畢，就再回到步驟202去控制另外的縱向緩衝器與橫向緩 衝器，以測試其他的按鍵。若測試流程已經執行完畢，就結束此測試流程。
如此一來，藉由本發明的自動測試裝置10與自動測試方法即可以不需要將電子裝置 90中的所有按鍵都一一按過就可測試所有的按鍵。就本實施例而言，自動測試裝置10隻 要執行四次測試，也就是測試按鍵B1、按鍵B6、按鍵B11與按鍵B16，就可以測試完行 導線C1 C4及列導線R1 R4以完成該測試流程。並立即得知電子裝置90的按鍵是否正常，所花費時間約在4秒以內。相較於在現有技術中，若電子裝置90有16個按鍵就必需 要花費約16秒。因此由上述的說明可以得知利用本發明的裝置與方法可以在測試時節省 下許多人力與時間。
綜上所陳，本發明無論就目的、手段及功效，處處均顯示其迥異於公知技術的特徵， 懇請貴審査委員明察，早日賜準專利，使得嘉惠社會，實感德便。惟應注意的是，上述諸 多實施例僅是為了便於說明而舉例而已，本發明所要求保護的權利範圍自然應當以權利要 求書範圍所述為準，而非僅限於上述實施例。
權利要求
1. 一種自動測試裝置，用以測試一電子裝置的多個按鍵，所述多個按鍵為一鍵盤矩陣的電路形式，所述自動測試裝置包括一微控制晶片；以及一按鍵連接電路，所述按鍵連接電路與所述微控制晶片及所述電子裝置電性連接，所述按鍵連接電路包括一第一緩衝器，所述第一緩衝器與所述多個按鍵電性連接；以及一第二緩衝器，所述第二緩衝器與所述多個按鍵電性連接，所述微控制晶片用以控制所述按鍵連接電路以達成以下機制傳送一控制信號以導通所述第一緩衝器與所述第二緩衝器；藉由所述第一緩衝器傳送一第一測試信號到所述電子裝置；藉由所述第二緩衝器傳送一第二測試信號到所述電子裝置；藉由所述電子裝置輸出一正常的信號以代表所述多個按鍵作用正常；以及使所述第一緩衝器與所述第二緩衝器斷路。
2. 如權利要求l所述的自動測試裝置，
3. 如權利要求2所述的自動測試裝置，
4. 如權利要求1所述的自動測試裝置， 電性連接。
5. 如權利要求1所述的自動測試裝置， 以優化地控制所述按鍵連接電路。其中所述第一緩衝器為一縱向緩衝器。 其中所述第二緩衝器為一橫向緩衝器。 其中所述第一緩衝器與所述第二緩衝器彼此其中所述微控制晶片可執行一編碼功能，用
6. —種自動測試的方法，用於一自動測試裝置以測試一電子裝置的多個按鍵，所述 多個按鍵為一鍵盤矩陣的電路形式，所述自動測試裝置包括一微控制晶片以及一按鍵連接 電路，所述按鍵連接電路包括一第一緩衝器以及一第二緩衝器，所述第一緩衝器和第二緩 衝器分別與所述多個按鍵電性連接，所述自動測試的方法包括傳送一控制信號以導通所述第一緩衝器與所述第二緩衝器； 藉由所述第一緩衝器傳送一第一測試信號到所述電子裝置； 藉由所述第二緩衝器傳送一第二測試信號到所述電子裝置； 藉由所述電子裝置輸出一正常的信號以代表所述多個按鍵作用正常；以及 使所述第一緩衝器與所述第二緩衝器斷路。
7. 如權利要求6所述的自動測試的方法，還包括對所述微控制晶片進行編碼的步驟。
8. 如權利要求7所述的自動測試的方法，其中對所述微控制晶片進行編碼的步驟是用以優化地控制所述按鍵連接電路。
全文摘要
本發明為一種自動測試方法，用於一自動測試裝置以測試電子裝置的多個按鍵。該方法包括以下步驟傳送控制信號以導通第一緩衝器與第二緩衝器；藉由該第一緩衝器傳送第一測試信號到該電子裝置；藉由該第二緩衝器傳送一第二測試信號到該電子裝置；藉由該電子裝置輸出一正常的信號以代表該多個按鍵作用正常；以及使該第一緩衝器與該第二緩衝器斷路。
文檔編號G01R31/02GK101413980SQ20071016407
公開日2009年4月22日 申請日期2007年10月18日 優先權日2007年10月18日
發明者廖彥維 申請人:緯創資通股份有限公司