X線體層照相機的調整裝置和調整方法

2023-06-27 14:28:01 2

專利名稱：X線體層照相機的調整裝置和調整方法
技術領域：
本發明涉及一種X線體層照相機用的調整裝置，用於一個支承裝置與一個照相系統的彼此相對定位，其中，該照相系統設在一旋轉框架上可繞一系統軸線旋轉，以及該調整裝置有一個分配給所述支承裝置的基準器和一個投影在該基準器上的基準雷射器。本發明還涉及一種使一個支承裝置與一個照相系統彼此相對定位的方法。
背景技術：
例如由US 2004/0120467A1已知一種此類調整裝置和一種此類調整方法。為了相對於照相系統或照相平面定位支承裝置，將基準雷射器相對於X線體層照相機的固定部分定位為，使垂直於照相平面定向的雷射束命中基準器。
將基準雷射器定位在調整位置在此已知的情況下通過一個支承在滾輪上或與X線體層照相機固定部分連接的可迴轉的機架進行。
為了調整，首先確定雷射束的投影與基準器之間的偏差。偏差說明了支承裝置與照相系統之間的錯移。這一錯移隨後在重建體層圖像或體積圖像時為了修正圖像而予以考慮，或被用於控制支承裝置的手動定位。
相對於支承裝置正確調整照相系統的一個重要前提條件是，首先要相對於照相系統準確設置基準雷射器。若由基準雷射器產生的雷射束不處於垂直於照相系統照相平面的狀態，則不可能實施在支承裝置與照相系統之間的正確定位。

發明內容
本發明要解決的技術問題是改進前言所述類型的X線體層照相機和用於X線體層照相機的調整方法，使得能以簡單的方式保證支承裝置與照相系統彼此準確的但同時也是方便可行的相對定位。
上述技術問題首先通過一種供X線體層照相機用的用於使一個支承裝置與一個照相系統彼此相對定位的調整裝置來解決，其中，該照相系統設在一個旋轉框架上可繞一系統軸線旋轉，以及，所述調整裝置有一個分配給所述支承裝置的基準器和一個投影在該基準器上的基準雷射器，按照本發明，該基準雷射器被直接分配給所述旋轉框架。
基準雷射器和照相系統通過旋轉框架互相直接機械連接，所以可以誤差微小地實現雷射束相對於照相平面準確地定向。避免了由於在基準雷射器與照相系統之間間接地連接，例如通過將基準雷射器裝在一個相對於X線體層照相機固定部分可迴轉或可移動的機架上產生的誤差。
通過將基準雷射器直接裝在旋轉框架上，為了基準雷射器的定位不需要製造結構複雜的固定裝置。
通過按此方式設置基準雷射器，X線體層照相機的工作不受幹擾。為了掃描一個檢查區，可以無阻礙地調整所述支承裝置。
基準器優選地是一條標誌線，它沿支承裝置的縱向延伸。當標誌線有一個與支承裝置類似的長度時，偏離垂直於照相平面的位置的小量偏移便能光學地快速和可靠地看出。
按本發明的一項有利的設計，基準雷射器產生扇形雷射。作為垂直於照相平面的方向的基準，扇形雷射的投影可以簡單而快速地控制支承裝置的位置。若基準雷射器例如將扇形雷射投影在形式上為標誌線的基準器上，便可以用可靠和與此同時簡單的方式通過投影與標誌線的偏差光學地檢測支承裝置與照相系統之間位置的錯移。
此外，將基準雷射器直接裝在旋轉框架上帶來的優點是，可以在基準雷射器與照相系統的照相平面之間簡單而準確地實現定向。為此目的，基準雷射器可以有利地調整到兩個不同的轉角位置，它們彼此至少基本上有180度的角間距。在沿系統軸線的方向至少一個基準位置處，在一個投影面內分別檢測基準雷射器在調整為第一轉角位置時的第一投影和基準雷射器在調整為第二轉角位置時的第二投影。基準雷射器調整為不同的轉角位置通過旋轉框架相應的旋轉運動實現。投影可例如藉助一個定位在各自的基準位置上以及垂直於系統軸線定向的投影屏幕檢測。
在旋轉框架上優選地設至少一個固定水準儀的卡箍，所以基準雷射器的轉角位置可以非常準確地調整。
參照第一基準位置，優選地確定在第一投影與第二投影之間的第一間距，以及參照第二基準位置在該處確定第一與第二投影之間的第二間距。在這裡，所述的間距總是沿著垂直於在第一轉角位置時的基準雷射器位置與第二轉角位置時的基準雷射器位置之間一條假想連線的方向和沿著垂直於系統軸線的方向來確定。
由所確定的這兩個間距，可以彼此獨立地計算出支承裝置相對於照相系統的兩個不同的調整量。
由這兩個間距可以一方面確定一個用於基準雷射器相對於系統軸線定位的第一調整量，以及另一方面確定一個第二調整量，它用於基準雷射器相對於在第一轉角位置時的基準雷射器位置與第二轉角位置時的基準雷射器位置之間的假想連線的定位調節。
優選地，根據第一調整量和根據第二調整量可以實施基準雷射器的定向，使基準雷射器的雷射束垂直於照相系統的照相平面定向。
本發明還提供一種X線體層照相機的調整方法，用於使一個支承裝置與一個照相系統彼此相對定位，其中，該照相系統設在一個旋轉框架上可繞一系統軸線旋轉，以及，該X線體層照相機有一個分配給所述支承裝置的基準器和一個投影在該基準器上的基準雷射器，按照本發明，當該基準雷射器直接分配給所述旋轉框架時，所述的定位包括下列方法步驟-調整所述旋轉框架，使得在所述基準雷射器位置與X線體層照相機旋轉中心之間的假想連線垂直於所述支承裝置的支承面定向，-求出所述基準雷射器的投影與基準器之間的偏差，-調整所述支承裝置，使所述基準雷射器的投影與所述基準器重合。
在所述支承裝置與照相系統彼此相對定位前，優選使所述基準雷射器相對於所述照相系統這樣定向，該定向按下列方法步驟進行-調整所述基準雷射器到兩個彼此至少基本上有180度角間距的不同的轉角位置，使得在沿系統軸線方向的兩個不同的基準位置處，在一個投影面內分別檢測所述基準雷射器在調整為第一轉角位置或第二轉角位置時的第一投影或第二投影，-分別在第一基準位置與第二基準位置處測算在第一投影與第二投影之間的、沿垂直於在第一轉角位置時的基準雷射器位置與第二轉角位置時的基準雷射器位置之間的假想連線以及垂直於所述系統軸線的方向的第一間距與第二間距，
-基於所計算出的這兩個間距確定一個第一調整量，該第一調整量提供所述基準雷射器相對於系統軸線的調整量，-基於所計算出的這兩個間距確定一個第二調整量，該第二調整量提供所述基準雷射器相對於在第一轉角位置時的基準雷射器位置與第二轉角位置時的基準雷射器位置之間的假想連線的調整量，-根據該第一調整量和第二調整量對所述基準雷射器進行定向，使所述基準雷射器的投影與所述系統軸線相重合。
作為在所述支承裝置與照相系統彼此相對定位前相對於照相系統校準基準雷射器的替代手段可以採用另一種方法，它優選地主要包括下列方法步驟-調整所述旋轉框架到一個第一轉角位置，使得在所述基準雷射器位置與X線體層照相機旋轉中心之間假想的連線垂直於所述支承裝置的支承面定向，從而在一個基準位置檢測所述基準雷射器的形式上為第一投影線的第一投影，-比較第一投影線與一條垂直於所述支承裝置定向的鉛垂線之間的平行度，-對所述基準雷射器進行定向，使第一投影線調整到平行於鉛垂線延伸的第二投影線內，-調整所述基準雷射器到與所述第一轉角位置有至少基本上180度錯移量的第二轉角位置，從而檢測第三投影線，-確定互相平行延伸的第二投影線與第三投影線之間的一間距中點，-對所述基準雷射器進行定向，使第二投影線或第三投影線通過該間距中點延伸。


下面參照附圖所示實施方式對本發明予以詳細說明。附圖中圖1用透視圖表示具有按本發明的調整裝置的一個X線體層照相機；圖2在按圖3的前視圖II內表示按圖1的X線體層照相機處於調整好的第一轉角位置以及一個為了校準調整裝置已下降的支承裝置；圖3表示按圖2中的剖切線III-III對於所述X線體層照相機的軸向縱剖面，其中對於兩個有待校準的調整好的轉角位置分別標畫上一個雷射束，它在第一和第二基準位置產生投影；圖4表示按圖2中剖切線III-III對於所示X線體層照相機的軸向縱剖面，其中標有第一調整角，圖5在按圖3的前視圖II內表示X線體層照相機，其中標有第二調整角；圖6表示在校準過程中產生的扇形雷射在一個投影屏幕上的投影。
具體實施例方式
圖1用透視圖表示按本發明的X線體層照相機，在這裡該X線體層照相機是一臺計算機層析X射線照相機1。該計算機層析X射線照相機1主要包括一個用於支承物體例如患者的支承裝置5、6、一個設在旋轉框架12上的照相系統3、4、一個用於重建體層和體積圖像的計算裝置17、以及用於支承裝置5、6與照相系統3、4相互定位的一個調整裝置2、15。
調整裝置2、15包括兩個部分，亦即基準雷射器2和基準器15。基準雷射器2直接裝在旋轉框架12上，並因而與照相系統3、4處於直接的機械連接狀態。在本實施方式中，基準雷射器2設在旋轉框架12上為照相系統3、4配設的探測器3旁邊。原則上也可以設想在旋轉框架12上任意布置基準雷射器2。更實際的做法是著眼於對所述旋轉框架12準確進行重量平衡地實施所述定位。基準雷射器2可產生一個形式上為扇形雷射16的雷射束，以及為了調整將其定向為使扇形雷射16投影在基準器15上。在計算機層析X射線照相機1的外殼32內，恰當地設置圖中未表示的凹穴或對於扇形雷射16透明的窗口，以使扇形雷射16可以無阻礙地投影在基準器15上。
基準器15配置在所述支承裝置5、6上以及在本實施方式中為標誌線的形式，該標誌線沿支承裝置5、6的縱向或沿圖1中表示的直角坐標系的Z方向延伸。支承裝置5、6有一個高度可調的底座5和用於支承物體可沿Z軸的方向調整的臺板6。在圖示的示例中，標誌線直接設在臺板6的表面上。
照相系統3、4包括一個形式上為X線管的X線放射源4和一個探測器3，該探測器有按探測器陣列排列成行和列的探測器元件。X線放射源4和探測器3彼此對置地設置，使得從X線放射源4的焦點射出的X射線穿過測量區，以及接著命中探測器3。
按用於檢測檢查區體層和體積圖像的計算機層析X射線照相機1的一種運行方式，在臺板6連續送進和照相系統3、4與此同時繞計算機層析X射線照相機的旋轉中心9旋轉時，從所要檢查的對象區域確定許多來自不同投影方向的投影。所確定的形式上為圖像原始數據的投影傳輸給計算裝置17，並按已知的圖像重建方法計算成體層或體積圖像。這些結果圖像接著可以藉助一個組合在計算裝置17內的顯示器加以顯示。
為了無假象地檢測圖像原始數據，所述支承裝置5、6的縱軸線必須平行於推進方向和垂直於照相平面延伸，在這裡，照相平面通過在圖1中所畫的直角坐標系統的X軸和Y軸展開。
支承裝置5、6相對於照相系統3、4的定位藉助按本發明的調整裝置2、15可以簡單而可靠的方式完成。在下面的敘述中，為了更好地理解，基準雷射器的轉角位置部分表示為在一個鐘表面上的位置。支承裝置相對於照相系統的定位主要包括下列步驟-調整旋轉框架12，使得在基準雷射器位置與X線體層照相機之間假想的連線11垂直於所述支承裝置5、6的支承面定向，-確定基準雷射器2的投影與基準器15之間的偏差，-調整支承裝置5、6，使基準雷射器2的投影與基準器15相重合。
將基準雷射器2和支承裝置5、6調整到適用於定向的位置，可例如藉助一個為此所設的計算裝置17的程序控制。
投射射線或投影的形狀可以與扇形雷射16的形狀不同。投影例如可設想為簡單的雷射束形狀或交叉雷射(Laserkreuz)的形狀。當然也不要求基準器15有標誌線的形式。它同樣可以採用另類標誌，例如基準點。
按本發明的調整主要有下列優點-由於基準雷射器2直接裝在旋轉框架12上，避免了在基準雷射器2與照相系統3、4之間的定向誤差。
-不需要附加的用於基準雷射器2定位的固定裝置。
-通過將所述基準雷射器2裝在旋轉框架12上，使得計算機層析X射線照相機1在為了檢查一個對象區域而運行時不受幹擾。
由於將基準雷射器2直接裝在計算機層析X射線照相機1的旋轉框架12上，同樣可以通過出人意外的可靠和簡單的方式使基準雷射器2相對於照相系統3、4或照相平面定向。
為了相對於所述照相系統3、4校準基準雷射器2，在兩個沿系統軸線方向的不同的基準位置22、23上，如圖3所示分別檢測基準雷射器2的第一和第二投影18、19或20、21。第一投影18或20在基準雷射器2第一轉角位置7記錄，以及第二投影19、21在基準雷射器2第二轉角位置8記錄，在這裡，轉角位置7、8至少基本上有180度角間距。在按圖3的前視圖II的圖2中，計算機層析X射線照相機1的基準雷射器2作為示例表示處在一個調整好的第一個轉角位置7。在本實施方式中第一轉角位置7對應於在假想鐘面上的12時位置，而與第一轉角位置7有180度錯移量的第二轉角位置8對應於6時位置。第二轉角位置8在圖2中用虛線的形式表示。
第一和第二投影18、19或20、21在各自的基準位置22或23例如藉助一個相應定位的垂直於系統軸線14定向的投影屏幕檢測。為了使基準雷射器2在調整好的第二轉角位置8也能無阻礙地射在投影屏幕上，支承裝置5、6現在處於一個下降的位置。
由基準雷射器2產生的投影圖在投影屏幕上相應於一條投影線。基準雷射器2在兩個轉角位置7、8的投影線，根據基準雷射器2相對於照相系統3、4的移位有一錯移。第一與第二投影18、19或20、21在投影屏幕上分別在一條測量直線33或34上測量，該測量直線33或34如圖3中所示那樣垂直於在第一轉角位置時的基準雷射器位置與第二轉角位置時的基準雷射器位置之間的假想連線10和垂直於系統軸線14。沿著在第一轉角位置時的基準雷射器位置與第二轉角位置時的基準雷射器位置之間連線10方向進行所述測量的位置原則上可以自由選擇，但優選地在測量直線33、34與計算機層析X射線照相機1的系統軸線14相交的位置處進行所述測量。
圖3表示按圖2中剖切線III-III對於所示計算機層析X射線照相機1的軸向縱剖面，其中對於各自的基準位置22或23分別標畫上一個屬於基準雷射器2第一轉角位置7的第一投影18或20以及屬於基準雷射器2第二轉角位置8的第二投影19或21。第二基準位置23與第一基準位置22相比在本實施方式中離計算機層析X射線照相機1設在有兩倍大間距的地方。在這種情況下，第一和第二投影18、19、20、21分別對應一個由測量直線33、34與相應的基準雷射器2投影線構成的交點。
確定在第一基準位置22處第一與第二投影18、19之間的第一間距F1以及在第二基準位置23處第一與第二投影20、21之間的第二間距F2。根據投影的這兩個間距F1、F2，計算兩個用於基準雷射器2定向的調整量A、D。第一調整量A提供基準雷射器2相對於系統軸線14的調整量，以及第二調整量D提供基準雷射器2相對於在第一轉角位置時的基準雷射器位置與第二轉角位置時的基準雷射器位置之間假想連線10的調整量。第一和第二調整量A、D可例如由下列公式確定A＝0.5×(F2-F1)D＝0.5×(2×F1-F2)式中F1是第一間距、F2是第二間距、A是第一調整量和D是第二調整量。
根據這兩個調整量A、D可以計算出用於修正基準雷射器2相對於照相系統3、4定向的第一調整角α和第二調整角δ。第一調整角α提供基準雷射器2相對於計算機層析X射線照相機1系統軸線14的調整角度α＝arctan(A/a)，式中α是第一調整角，A是第一調整量，以及a是第一基準位置22離計算機層析X射線照相機1的間距。圖4也表示按圖2中剖切線III-III對於所示計算機層析X射線照相機1的一個軸向縱剖面，圖中標畫有所算出的第一調整角α。
第二調整角δ提供基準雷射器2相對於在第一轉角位置時的基準雷射器位置與第二轉角位置時的基準雷射器位置之間的假想連線10的調整角度δ＝arctan(D/R)，式中δ是第二調整角，D是第二調整量以及R是基準雷射器離計算機層析X射線照相機系統軸線的間距。圖5沿按圖3的前視方向II表示計算機層析X射線照相機1，圖中標畫有第二調整角δ。
也可以不計算兩個調整角α、δ修正基準雷射器2的定向。在這種情況下，基準雷射器2首先繞一個平行於Y軸的雷射器軸線轉動，使得在第二基準位置23處扇形雷射16沿系統軸線14方向的調整量為第一調整量A的兩倍數額。接著，基準雷射器2繞一個平行於系統軸線14的雷射器軸線轉動，使得在第二基準位置23處扇形雷射16沿系統軸線14方向的調整量為第二調整量D的一倍數額。調整的結果是基準雷射器的扇形雷射16與支承裝置5、6的基準器15相重合。
但相對於照相系統3、4校準基準雷射器2也可以這樣進行，即，只在一個基準位置評估分析基準雷射器2的投影。圖6示例性地表示基準雷射器2的投影，它們在例如第一基準位置22是在一個這種校準過程期間先後在投影屏幕30上造成的。基準雷射器2調整到第一轉角位置7，使得基準雷射器位置與計算機層析X射線照相機旋轉中心之間想像的連線11垂直於支承裝置5、6定向。因此，第一基準位置7對應於12時位置。基準雷射器2在此第一轉角位置7產生形式上為第一投影線24的第一投影，它相對於一條垂直於支承裝置5、6支承面定向的鉛垂線31進行平行度比較。基準雷射器2接著繞計算機層析X射線照相機1的系統軸線14轉動，直至基準雷射器2的第一投影線24與平行於鉛垂線31延伸的第二投影線25重合。
接著，將基準雷射器2調整到第二轉角位置8，它相對於第一轉角位置7至少基本上錯開180度。第二轉角位置8對應於鐘面上的6時位置。在第二轉角位置8檢測第三投影線26。第二與第三投影線25、26互相平行延伸，並在由基準雷射器2產生的扇形雷射16相對於Y軸方向有錯移時相互間有一定的間距28。由此間距28確定間距中點29。現在，基準雷射器2繞著在第一轉角位置時的基準雷射器位置與第二轉角位置時的基準雷射器位置之間的假想連線11轉動，使第三投影線26轉移到通過間距中點29延伸的第四投影線27內。當然同樣也可以將基準雷射器2回歸第一轉角位置7，然後繞著在第一轉角位置時的基準雷射器位置與第二轉角位置時的基準雷射器位置之間假想的連線10轉動，使第二投影線25通過間距中點29延伸。
權利要求
1.一種X線體層照相機(1)的調整裝置，用於使一個支承裝置(5、6)與一個照相系統(3、4)彼此相對定位，其中，該照相系統(3、4)設在一個旋轉框架(12)上可繞一系統軸線(14)旋轉，以及，所述調整裝置有一個分配給所述支承裝置(5、6)的基準器(15)和一個投影在該基準器(15)上的基準雷射器(2)，其特徵為該基準雷射器(2)被直接分配給所述旋轉框架(12)。
2.按照權利要求1所述的調整裝置，其特徵為所述基準器(15)是一條標誌線。
3.按照權利要求1或2所述的調整裝置，其特徵為所述基準雷射器(2)產生一束扇形雷射(16)。
4.按照權利要求1至3之一所述的調整裝置，其特徵為在所述旋轉框架上為了固定一個水準儀設有至少一個卡箍(13)，其中，該水準儀可用於調整所述基準雷射器(2)的一個轉角位置(7或8)。
5.按照權利要求1至4之一所述的調整裝置，其特徵為所述基準雷射器(2)可以被調整到兩個不同的彼此至少基本上有180度角間距的轉角位置(7、8)上，由此可以在沿系統軸線(14)的方向上的至少一個基準位置(22或23)處，在一個投影面內分別檢測所述基準雷射器(2)在調整為第一轉角位置(7或8)時的第一投影(18或20)和所述基準雷射器(2)在調整為第二轉角位置(8)時的第二投影(19或21)。
6.按照權利要求5所述的調整裝置，其特徵為可分別參照第一基準位置(22)與第二基準位置(23)測算在第一投影(18或20)與第二投影(19或21)之間的、沿垂直於在第一轉角位置時的基準雷射器位置與第二轉角位置時的基準雷射器位置之間的假想連線(10)以及垂直於所述系統軸線(14)的方向的第一間距(F1)與第二間距(F2)。
7.按照權利要求6所述的調整裝置，其特徵為由所述兩個間距(F1、F2)可確定一個第一調整量(A)，該第一調整量(A)提供所述基準雷射器(2)相對於系統軸線(14)的調整量。
8.按照權利要求6或7所述的調整裝置，其特徵為由所述兩個間距(F1、F2)可確定一個第二調整量(D)，該第二調整量(D)提供所述基準雷射器(2)相對於在第一轉角位置時的基準雷射器位置與第二轉角位置時的基準雷射器位置之間的假想連線(10)的調整量。
9.按照權利要求7或8所述的調整裝置，其特徵為根據第一調整量(A)和第二調整量(D)可以實施所述基準雷射器(2)的定向，以使所述基準雷射器(2)的雷射束垂直於所述照相系統(3、4)的照相平面定向。
10.一種X線體層照相機的調整方法，用於使一個支承裝置(5、6)與一個照相系統(3、4)彼此相對定位，其中，該照相系統(3、4)設在一個旋轉框架(12)上可繞一系統軸線(14)旋轉，以及，該X線體層照相機有一個分配給所述支承裝置(5、6)的基準器(15)和一個投影在該基準器(15)上的基準雷射器(2)，其特徵為當該基準雷射器(2)直接分配給所述旋轉框架(12)時，所述的定位包括下列方法步驟-調整所述旋轉框架(12)，使得在所述基準雷射器位置與X線體層照相機(11)旋轉中心之間的假想連線垂直於所述支承裝置(5、6)的支承面定向，-求出所述基準雷射器(2)的投影與基準器(15)之間的偏差，-調整所述支承裝置(5、6)，使所述基準雷射器(2)的投影與所述基準器(15)重合。
11.按照權利要求10所述的方法，其特徵為所述基準器(15)是一條標誌線。
12.按照權利要求10或11所述的方法，其特徵為所述基準雷射器(2)產生一束扇形雷射(16)。
13.按照權利要求10至12之一所述的方法，其特徵為在所述支承裝置(5、6)與照相系統(3、4)彼此相對定位前，使所述基準雷射器(2)相對於所述照相系統(3、4)定向，該定向按下列方法步驟進行-調整所述基準雷射器(2)到兩個彼此至少基本上有180度角間距的不同的轉角位置(7、8)，使得在沿系統軸線(14)方向的兩個不同的基準位置(22、23)上，在一個投影面內分別檢測所述基準雷射器(2)在調整為第一轉角位置(7)或第二轉角位置(8)時的第一投影(18或20)或第二投影(19或21)，-分別參照第一基準位置(22)與第二基準位置(23)測算在第一投影(18或20)與第二投影(19或21)之間的、沿垂直於在第一轉角位置時的基準雷射器位置與第二轉角位置時的基準雷射器位置之間的假想連線(10)以及垂直於所述系統軸線(14)的方向的第一間距(F1)與第二間距(F2)，-基於所計算出的這兩個間距(F1、F2)確定一個第一調整量(A)，該第一調整量(A)提供所述基準雷射器(2)相對於系統軸線(14)的調整量，-基於所計算出的這兩個間距(F1、F2)確定一個第二調整量(D)，該第二調整量(D)提供所述基準雷射器(2)相對於在第一轉角位置時的基準雷射器位置與第二轉角位置時的基準雷射器位置之間的假想連線(10)的調整量，-根據該第一調整量和第二調整量(A、D)對所述基準雷射器(A、D)進行定向，使所述基準雷射器(2)的投影與所述系統軸線(14)相重合。
14.按照權利要求10至12之一所述的方法，其特徵為在所述支承裝置(5、6)與照相系統(3、4)彼此相對定位前，使所述基準雷射器(2)相對於照相系統(3、4)定向，該定向按下列方法步驟進行-調整所述旋轉框架(12)到一個第一轉角位置(7)，使得在所述基準雷射器位置與X線體層照相機旋轉中心之間假想的連線(10)垂直於所述支承裝置(5、6)的支承面定向，從而在一個基準位置檢測所述基準雷射器(2)的形式上為第一投影線(24)的第一投影，-比較第一投影線(24)與一條垂直於所述支承裝置(5、6)定向的鉛垂線(31)之間的平行度，-對所述基準雷射器(2)進行定向，使第一投影線(24)調整到平行於鉛垂線(31)延伸的第二投影線(25)內，-調整所述基準雷射器(2)到與所述第一轉角位置(7)有至少基本上180度錯移量的第二轉角位置(8)，從而檢測第三投影線(26)，-確定互相平行延伸的第二投影線(25)與第三投影線(26)之間的一間距中點(29)，-對所述基準雷射器(2)進行定向，使第二投影線(25)或第三投影線(26)通過該間距中點(29)延伸。
全文摘要
本發明公開了一種X線體層照相機的調整裝置和調整方法，用於支承裝置(5、6)與照相系統(3、4)彼此相對定位。為了調整，使用一個分配給支承裝置(5、6)的基準器(15)和一個投影在該基準器(15)上的基準雷射器(2)，基準雷射器(2)直接裝在旋轉框架(12)上，從而避免在基準雷射器(2)與照相系統(3、4)之間定向時的誤差。此外，由於基準雷射器(2)直接設在X線體層照相機的旋轉框架(12)上，通過將基準雷射器(2)調整到兩個不同的彼此至少基本上有180度角間距的轉角位置，保證在雷射束與照相系統(3、4)的照相平面之間簡單地校準。
文檔編號A61B6/03GK1765326SQ20051011381
公開日2006年5月3日 申請日期2005年10月17日 優先權日2004年10月27日
發明者索爾斯坦·比特納, 溫弗裡德·柯伯, 漢斯-于爾根·米勒, 埃爾瑪·拉莫特 申請人:西門子公司