探針切換裝置的製作方法

2023-06-17 18:08:56

本發明涉及一種切換裝置，特別涉及一種探針切換裝置。
背景技術：
：電子探針廣泛應用於電子產品電氣特性的測試。對於同一電子產品，不同功能的測量需要不同功能的電子探針，例如靜電測試探針、輻射測試探針、電磁測試探針等。且對於不同面積的測試點，也需要使用不同接觸面積的電子探針進行測試。如此一來，對電子產品的電氣特性進行測試時，需要頻繁地更換不同功能的電子探針或接觸面積不同的電子探針。然而，現有技術中，需要讓設備關機，更換探針後再復機，整個過程需要花費大量的時間，大大影響測試效率。技術實現要素：有鑑於此，有必要提供一種探針切換裝置，以解決上述問題。一種探針切換裝置，包括一驅動裝置、一殼體及多個探針，所述驅動裝置安裝在所述殼體上，所述殼體上開設有多個通孔，每一探針分別收容於每一通孔內。每一探針包括探針杆、位於所述探針杆第一端部的連接器頭、位於所述探針杆相對的第二端部的探針頭。所述驅動裝置上設置有一與所述連接器頭相匹配的連接器座，所述連接器座還與一信號線電性連接。所述連接器座與所述殼體均能在所述驅動裝置的驅動下運動，其中，連接器座的運動方向與所述殼體的運動方向相垂直。所述連接器座在所述驅動裝置的驅動下與一通孔內的探針上的連接器頭相連接並驅動該探針的探針頭伸出該通孔。本發明的探針切換裝置能夠自動切換不同的探針對電子產品進行測量，不需要手動地頻繁更換探針，節省了大量時間，大大提高了測試效率。附圖說明圖1是本發明一實施方式中探針切換裝置的立體圖。圖2是圖1的爆炸圖。圖3是圖1沿iii-iii方向的剖面圖。圖4是本發明一實施方式中探針切換裝置切換探針的示意圖。主要元件符號說明探針切換裝置100驅動裝置10第一驅動裝置11第二驅動裝置12螺紋柱121連接杆13螺紋孔131連接器座132穿孔133殼體20通孔21第一通孔211第二通孔212階梯面213上蓋22下殼23螺絲24探針30連接器頭31探針杆32探針頭33抵持塊34復位裝置40彈簧41信號線200如下具體實施方式將結合上述附圖進一步說明本發明。具體實施方式請參閱圖1至圖3，本發明提供一種探針切換裝置100，能夠實現不同型號探針的切換，提高測試效率。所述探針切換裝置100包括一驅動裝置10、一殼體20及多個探針30。所述驅動裝置10安裝在所述殼體20上，用於驅動所述殼體20水平轉動。所述驅動裝置10上設置有一連接器座132，所述連接器座132與一信號線200電性連接且能在所述驅動裝置10的驅動下垂直運動。所述信號線200與一信號分析儀器（圖未示，例如一示波器）電性連接，用於傳輸檢測信號。所述驅動裝置10包括一第一驅動裝置11及一第二驅動裝置12。該第一驅動裝置11與第二驅動裝置12所驅動的方向相互垂直。具體地，所述第一驅動裝置11驅動所述殼體20水平轉動。所述第二驅動裝置12驅動所述連接器座132上下垂直運動。所述驅動裝置10可以為氣缸、馬達等具有驅動功能的設備。在本實施方式中，所述驅動裝置20為氣缸，具體地，所述第一驅動裝置11為一筆型氣缸，第二驅動裝置12為一旋轉氣缸。在本實施方式中，所述第二驅動裝置12通過一連接杆13實現與所述連接器座132連接。所述連接器座132設置於所述連接杆13的第一末端，所述連接杆13相對的第二末端與所述第二驅動裝置12固定連接。具體地，所述連接杆13的第二末端上開設有螺紋孔131，所述第二驅動裝置12上設置有與所述螺紋孔131對應的螺紋柱121，所述螺紋柱121與所述螺紋孔131相互旋合實現所述驅動裝置12與所述連接杆13的固定連接。所述連接杆13的柱體上設置有一穿孔133，所述信號線200穿過所述穿孔133與所述連接器座132相連接。所述殼體20上開設有多個通孔21，用於收容所述多個探針30，其中，每一探針30收容於每一通孔21內。每一探針30包括一連接器頭31、一探針杆32及一探針頭33，其中，所連接器頭31位於所述探針杆32的第一端部，所述探針頭33位於所述探針杆32相對的第二端部。所述連接器頭31與所述連接器座132相互配合能夠實現所述第二驅動裝置12與所述探針30之間的連接。在本實施方式中，所述通孔21及探針30的個數均為3個。在本發明的其他實施方式中，所述通孔21及探針30的個數可以根據測試需求進行設置。所述每一通孔21內設有一復位裝置40。當所述第一驅動裝置11驅動所述連接器座132向上運動時，所述復位裝置40推動所述探針30向上運動，使得所述探針頭33收入到通孔21內實現復位。所述多個探針30為多個能實現不同功能測試的探針，或為測試功能相同但測試面積不同的多個探針。當需要切換探針進行測試時，所述第二驅動裝置12驅動所述連接器座132向上運動，所述復位裝置40帶動該探針30復位，所述第一驅動裝置11驅動所述殼體20轉動，使得另一探針30對應的通孔21處於所述連接器座132的正下方，所述第二驅動裝置12驅動所述連接器座132向下運動，使得所述連接器座132與該通孔21內的探針30上的連接器頭31實現連接，從而驅動該探針30上的探針頭33伸出該通孔21，進而實現不同探針30之間的切換，如圖4所示。在本實施方式中，所述第一驅動裝置11及第二驅動裝置12均與一控制裝置（圖未示）連接，所述控制裝置通過發送控制指令控制所述第一驅動裝置11的轉動角度及第二驅動裝置12的驅動距離。所述殼體20上的每一通孔21包括位於殼體20上部的第一通孔211及位於殼體20下部的第二通孔212，所述第一通孔211與第二通孔212相通。所述第一通孔211的半徑大於所述第二通孔212的半徑，從而在所述第一通孔211與第二通孔212過渡處形成一階梯面213。所述復位裝置40包括一抵持塊34及一彈簧41。其中，該抵持塊34設置在所述探針杆32上靠近所述連接器頭31的位置處。所述彈簧41套設於所述探針杆32上並夾設在所述抵持塊34及所述階梯面213之間。當所述第二驅動裝置12驅動所述連接器座132向下運動時，所述彈簧41被壓縮，當所述第二驅動裝置12驅動所述連接器座132向上運動時，所述彈簧41的彈性恢復力推動所述抵持塊34向上運動，從而帶動所述探針頭33收入到通孔21內實現復位。所述抵持塊34可以為任意形狀的凸起，在本實施方式中，所述抵持塊34為圍繞在所述探針杆32外的一圓形凸起。在本實施方式中，所述殼體20包括上蓋22及下殼23，所述上蓋22頂端與所述第一驅動裝置11固定連接並能在所述第一驅動裝置11的驅動下水平轉動，所述上蓋22底端與所述下殼23可拆卸地連接，所述第一通孔211貫穿所述上蓋22及所述下殼23的上部，所述第二通孔212設置於所述下殼23的下部。在本實施方式中，所述上蓋22與下殼23通過螺絲24連接。在本實施方式中，所述上蓋22頂端與所述第一驅動裝置11固定連接並能在所述第一驅動裝置11的驅動下水平轉動，所述上蓋22底端與所述下殼23可拆卸地連接。在本實施方式中，所述上蓋22與下殼23通過螺絲24連接。本發明的探針切換裝置100能夠在控制裝置的控制下自動切換不同的探針對電子產品進行測量，不需要手動地頻繁更換探針，節省了大量時間，大大提高了測試效率。最後應說明的是，以上實施例僅用以說明本發明的技術方案而非限制，儘管參照較佳實施例對本發明進行了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本發明的技術方案進行修改或等同替換，而不脫離本發明技術方案的精神和範圍。當前第1頁12