24c系列晶片存儲容量的識別方法

2023-06-12 07:02:06 1

專利名稱：24c系列晶片存儲容量的識別方法
技術領域：
本發明涉及一種晶片的識別方法，尤其是涉及24C系列晶片存儲容量的識別方法。
背景技術：
24C系列晶片被廣泛應用在小容量存儲的領域，如應用墨盒晶片或碳粉盒晶片中。 24C系列晶片包括有24C01、24C02、24C04、24C08...24C1024等型號，其中「24C」表示晶片的 系列型號，後面的數字為2的若干次方，不同型號的晶片存儲容量不同。例如，24C01型號 的晶片存儲容量地址線為7根，其存儲地址所表示的範圍是從OOH到7FH，也就是二進位數 的0000000到1111111，存儲容量為128位元組。24C02型號的晶片存儲容量地址線為8根， 其存儲地址所表示的範圍從OOH到FFH，也就是二進位數的00000000到11111111，存儲容 量為256位元組。24C04型號的晶片存儲容量地址線為9根，其存儲地址所表示的範圍從OOH 到1FFH，即二進位數的000000000到111111111，存儲容量為512位元組。以此類推，24C512 型號的晶片存儲地址線為16根，其存儲容量為512K字節，24C1024型號的晶片存儲地址線 為17根，其存儲容量為1024K字節。可見，24C系列晶片中，隨著型號數字的遞增，存儲容量的地址線也遞增，其存儲容 量也隨之遞增。並且，相鄰兩型號的晶片中，後一型號的晶片比前一型號的晶片存儲容量地 址線增加一根，存儲容量也是前一型號晶片存儲容量的兩倍。由於24C系列晶片內部不存儲用於識別晶片型號的ID碼，因此現有識別24C系列 晶片型號及存儲容量的方法有以下兩種一種是通過肉眼直接觀察晶片印絲，即晶片存儲 容量地址線的數量，這種方法工作效率低下，且準確性不高；另一種方法是通過儀器將晶片 中所存儲的數據讀出，由技術人員根據所讀出的數據分析晶片的存儲容量，這種方法需要 儀器不斷讀取晶片的數據，且要求技術人員對每一晶片的數據進行分析從而判斷晶片的型 號及存儲容量。上述兩種方法均需要對每一晶片進行人工操作及分析，工作效率不高。同時，24C系列晶片每一字節均有自己對應的存儲地址，且當24C系列晶片接收到 大於其存儲容量的地址時，其並不會因地址超出內部存儲地址而發出提示信息，而是將超 出存儲地址部分的去掉，直接訪問有效地址對應的字節。例如，主機向24C01型號晶片發送訪問存儲地址為80H，即二進位數10000000的字 節的命令，由於24C01型號晶片的最大存儲地址為7ra，其地址線僅為7根，因此24C01型號 晶片將超出7位的地址數據去掉，即將最高位的「1」去掉，將低七位作為有效的訪問地址， 此時24C01型號晶片將訪問存儲地址為OOH的字節。此外，24C系列晶片中型號為24C04及24C08的晶片對A3命令有響應，且只有型號 為24C08的晶片對A4及A8命令有響應，應用上述命令可識別晶片的型號。

發明內容
本發明的主要目的是提供一種方便準確的24C系列晶片存儲容量識別方法。
本發明的另一目的是提供一種識別效率高的24C系列晶片存儲容量識別方法。為實現上述的主要目的，本發明提供的24C系列晶片存儲容量識別方法包括步驟 一選取24C系列晶片內存儲地址小於7 的任一字節，將該字節的存儲地址記為第一地 址；步驟二向第一地址對應的字節寫入第一數據，在第一地址的最高位前增加一位有效 二進位數並記為第二地址，讀取第二地址的對應字節所存儲的第二數據，判斷第二數據與 第一數據是否相等，若相等，則根據第一地址的有效位數確定晶片的存儲容量，否則執行步 驟三；步驟三選取晶片內存儲地址有效位數與第二地址有效位數相等的任一字節，將該 字節的存儲地址記為新的第一地址，返回執行步驟二。由上述方案可見，讀寫24C系列晶片內的數據後，可通過判斷第一數據與第二數 據是否相等來確定24C系列晶片的存儲地址數據線有多少根，從而判斷24C系列晶片的具 體型號，進而計算出該晶片的存儲容量。並且，對24C系列晶片識別過程中，不需要人工參 與，大大提高識別的效率。一個優選的方案是，步驟二中，寫入第一數據前，將第一地址對應字節的數據保存 至一寄存器中。這樣，能確保第一地址對應字節的原始數據得以保存，以便後續使用。進一步的方案是，步驟一中，選取第一地址前，對晶片的存儲器執行清零操作；且 步驟二中，所寫入的第一數據為非零數據。這樣，可確保寫入的第一數據與第一地址對應字 節所存儲的原始數據不相同，確保檢測的準確性。實現本發明的方法還可以是包括步驟一選取24C系列晶片內存儲地址小於7 的任一字節，將該字節的存儲地址記為第一地址；步驟二向第一地址對應的字節寫入第 一數據，在第一地址的最高位前增加一位有效二進位數並記為第二地址，讀取第二地址 的對應字節所存儲的第二數據，判斷第二數據與第一數據是否相等，若相等，判斷晶片為 24C01型晶片，並確定晶片的存儲容量，否則執行步驟三；步驟三向晶片發送A3命令，判斷 晶片是否有返回信息，若沒有，執行步驟四；若有，進一步向晶片發送A4命令，並再次判斷 晶片是否有返回信息，若有，判斷晶片為24C08型晶片，若沒有，判斷晶片為24C04型晶片； 步驟四選取晶片內存儲地址為400H至4FH1之間的任一字節，將該字節的存儲地址記為第 三地址；步驟五向第三地址對應的字節寫入第三數據，在第三地址的最高位前增加一位 有效二進位數並記為第四地址，讀取第四地址的對應字節所存儲的第四數據，判斷第四數 據與第三數據是否相等，若相等，則根據第三地址的有效位數確定晶片的存儲容量，否則執 行步驟六；步驟六選取晶片內存儲地址有效位數與第四地址有效位數相等的任一字節， 將字節的存儲地址記為新的第三地址，返回執行步驟五。由此可見，使用A3、A4命令來識別24C04或24C08型晶片，可簡化程序的複雜性， 有利於程序開發。進一步的方案是，步驟三中，向晶片發送A4命令並接收到返回信號後，向晶片發 送A8命令，判斷是否接收到返回信息，若接收到返回信息，確認晶片為24C08型晶片，否則 判斷晶片出錯。由此可見，通過發送A8命令，能進一步確認晶片的型號為24C08，可進一步提高識 別的準確性。同時，還可以檢測出晶片是否出錯。本發明還可以應用另一方法實現，該方法包括步驟一選取24C系列晶片內存儲 地址小於7F的任一字節，將該字節的存儲地址記為第一地址；步驟二 向第一地址對應的字節寫入第一數據，在第一地址的最高位前增加一位有效二進位數並記為第二地址，向第 二地址的對應字節寫入與第一數據不同的第二數據，讀取第一地址對應字節所存儲的數據 並保存至一寄存器中，判斷第一數據與寄存器所存儲數據是否相等，若不相等，則根據第一 地址的有效位數確定晶片的存儲容量，否則執行步驟三；步驟三選取晶片內存儲地址有 效位數與第二地址有效位數相等的任一字節，將字節的存儲地址記為新的第一地址，返回 執行步驟二。由上述方案可見，通過向第一地址及第二地址的字節分別寫入不相同的第一數據 及第二數據，再次讀取第一地址的數據與第一數據比較時，可通過兩個數據是否相同來判 斷晶片是否存在第二地址的字節，從而可判斷晶片的型號，進而計算出晶片的存儲容量。本發明的方法也可以是包括步驟一選取24C系列晶片內存儲地址小於7F的任 一字節，將該字節的存儲地址記為第一地址；步驟二向第一地址對應的字節寫入第一數 據，在第一地址的最高位前增加一位有效二進位數並記為第二地址，向第二地址的對應字 節寫入與第一數據不同的第二數據，讀取第一地址對應字節所存儲的數據並保存至一寄存 器中，判斷第一數據與所述寄存器所存儲數據是否相等，若不相等，判斷晶片為24C01型芯 片，並確定晶片的存儲容量，否則執行步驟三；步驟三向晶片發送A3命令，判斷晶片是否 有返回信息，若沒有，執行步驟四；若有，進一步向晶片發送A4命令，並再次判斷晶片是否 有返回信息，若有，判斷晶片為24C08型晶片，若沒有，判斷晶片為24C04型晶片；步驟四 選取晶片內存儲地址為400H至4FH1之間的任一字節，將該字節的存儲地址記為第三地址； 步驟五向第三地址對應的字節寫入第三數據，在第三地址的最高位前增加一位有效二進 制數並記為第四地址，向第四地址的對應字節寫入與第三數據不同的第四數據，讀取第三 地址對應字節所存儲的數據並保存至寄存器中，判斷第三數據與所述寄存器所存儲數據是 否相等，若不相等，則根據第三地址的有效位數確定晶片的存儲容量，否則，執行步驟六；步 驟六選取晶片內存儲地址有效位數與第四地址有效位數相等的任一字節，將該字節的存 儲地址記為新的第三地址，返回執行步驟五。由上述方案可見，通過使用A3命令以及A4命令來判斷晶片是否為24C04或24C08 型晶片，可降低判斷程序的複雜性，並且提供判斷的準確性。


圖1是本發明第一實施例的流程圖。圖2a是本發明第二實施例的流程圖第一部分。圖2b是本發明第二實施例的流程圖第二部分。以下結合附圖及實施例對本發明作進一步說明。
具體實施例方式第一實施例。本實施例是向檢測裝置寫入一識別程序，通過檢測裝置對晶片進行讀寫操作來實 現對晶片的識別。本實施例的檢測裝置對晶片的識別流程如圖1所示。首先，檢測裝置執行步驟Si， 向被測晶片發出讀命令。由於任一型號的24C系列晶片均能識別Al命令，因此該讀命令為Al命令。然後，檢測裝置執行步驟S2，判斷是否接收到晶片的返回信息，即判斷晶片是否對 Al命令作出響應，若有響應，表示有晶片存在，執行步驟S3，否則識別流程結束。步驟S3中，檢測裝置選取一個第一地址，初始選取的第一地址應該是任一型號的 24C系列晶片均能識別的地址，因此應在OOH與7 之間選取。例如，本實施例中選取OOH 作為第一地址。選取第一地址後，向第一地址對應的字節寫入第一數據，即執行步驟S4。當 然，為了保存第一地址對應字節原始的數據，寫入第一數據前，應該將OOH字節的原始數據 保存到寄存器中，待識別流程結束後，將原始數據寫回OOH字節。然後，檢測裝置執行步驟S5，在第一地址的基礎上計算第二地址。第二地址是在 第一地址的基礎上增加一位最高位，即在第一地址的最高位前增加「 1」，使第二地址的有效 位數較第一地址的有效位數多一位。本發明所述的有效位數是該地址實際使用的地址線根 數，例如OOH至7Π1的有效位數是7位，80H至FFH的有效位數是8位，100H至IFFH的有效 位數是9位等，以此類推。根據上述原則，步驟S5所計算的第二地址為80H。接著，檢測裝置執行步驟S6，讀取第二地址對應字節，即80H字節所存儲的第二數 據，並執行步驟S7，判斷所讀取的第二數據是否與第一數據相同。若第一數據與第二數據相 同，表示所訪問的第二地址實為第一地址，即本實施例中的OOH字節，此時則執行步驟S8, 根據第一地址的有效位數，即7位確定晶片的型號，並以此確定晶片的存儲容量。根據上述的分析，可判斷地址線為7位的是24C01型晶片，其存儲容量為128字 節。若第一數據與第二數據不相等，表示晶片存在80H的字節，可以排除該晶片為 24C01型晶片，因此執行步驟S9，重新確定第一地址並返回執行步驟S4。重新確定的第一地 址應是有效位數與原第二地址有效位數相等的地址，為了方便計算，可將原第二地址作為 新的第一地址使用，即新的第一地址為80H，具有8位有效位數。隨後，再次執行步驟S4,直 至確定晶片的型號為止。當然，為了確保識別的準確性，在選取第一地址前，應該對晶片的存儲器進行清零 操作，即對晶片的所有字節寫入的數據均為「0」。然後，對第一地址的字節寫入的第一數據 為非零數據，這樣可有效區分讀取第二地址對應字節的第二數據是否不同於第一數據。由上述方案可見，檢測裝置通過上述流程，能方便快捷地識別24C系列晶片的型 號及其存儲容量，無需工人通過肉眼觀察印絲數量或者讀取晶片的數據進行分析，不但可 以提高識別的工作效率，還可以提高檢測的準確性。第二實施例。本實施例也是通過寫有檢測程序的檢測裝置對晶片進行讀寫操作來實現對晶片 的識別，檢測裝置的識別流程如圖2a及圖2b所示。首先，檢測裝置執行步驟S11，發送讀命令，即Al命令，並執行步驟S12，判斷是否 接收到返回信息，若接收到返回信息，表示有晶片存在，執行步驟S13，否則結束識別流程。步驟S13中，檢測裝置選取第一地址，如00H，並向OOH字節寫入第一數據。接著，檢測裝置執行步驟S14，計算第二地址，第二地址的計算方法與第一實施例 的第二地址計算方法相同，因此計算出80H作為第二地址，並向80H字節寫入不同於第一數 據的第二數據，然後執行步驟S15，讀取OOH字節的數據，並將所讀取的數據保存至一個寄 存器中。
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隨後，執行步驟S16，判斷第一數據與寄存器所存儲的數據是否相等，若不相等，表 示晶片不存在存儲地址為80H的字節。因為若晶片存在存儲地址為80H的字節，向80H字 節寫入第二數據後，OOH字節所存儲的數據仍為第一數據。只有晶片不存在存儲地址為80H 的字節情況下，晶片將第二數據寫入OOH字節，則寄存器所存儲的為第二數據，與第一數據 不相同。此時，可執行步驟S17，確定晶片的型號為24C01，其存儲容量為128位元組。若第一數據與寄存器所存儲數據相等，表示晶片不是24C01型晶片，則執行步驟 S18，向晶片發送A3命令，並執行步驟S19，判斷是否接收到返回信號，即判斷晶片是否響 應。由前述分析可知，只有24C04型晶片及24C08型晶片對A3命令有響應，若檢測裝置接 收到返回信號，表示該晶片為24C04型晶片或24C08型晶片，則執行步驟S20，向晶片發送 A4命令，並執行步驟S21，判斷是否接收到返回信息，若接收到返回信息，表示該晶片能識 別A4命令，執行步驟S23，否者表示晶片不能識別A4命令，則執行步驟S22，判斷該晶片為 24C04型晶片，確定其存儲容量為512位元組。步驟S23中，檢測裝置進一步發送A8命令，並執行步驟S24，判斷是否接收到返回 信號，若接收到返回信號，可確定該晶片為24C08型晶片，其存儲容量為1024位元組。若沒有 接收到返回信號，判斷晶片出錯，可發出警告信息，並結束識別流程。在步驟S19中，若檢測裝置沒有接收到返回信號，表示該晶片不是24C04及24C08 型晶片，進一步執行步驟S26，選取第三地址。此時選取的第三地址應該是24C16型晶片能 夠識別，且24C08型晶片不能識別的地址，即在400H至4FFH之間選取。例如，選取400H作 為第三地址。然後，執行步驟S27,向第三地址對應字節，即400H字節寫入第三數據，並執行步 驟S28，計算第四地址。第四地址的計算原則與方法與第二地址的計算原則及方法相同，因 此第四地址為800H。同時，向第四地址對應的字節寫入第四數據，第四數據與第三數據不相 同。接著，執行步驟S29，讀取第三地址對應字節，即400H的字節所存儲的數據，並將 所讀取的數據保存至寄存器中。隨後，執行步驟S30，判斷第三數據是否與寄存器所存儲的 數據相等，若不相等，表示晶片不存在400H地址的字節，則執行步驟S31，根據第三地址的 有效位數判斷晶片的型號並識別晶片的存儲容量。在首次執行步驟S31時，可確定晶片的 型號不是24C01、24C04、24C08或者24C16以上型號，因此可以確定晶片的型號為24C02，其 存儲容量為256位元組。若第三數據與寄存器所存儲的數據相同，表示晶片不是24C02型晶片，執行步驟 S32，計算新的第三地址。新的第三地址計算方法與第一實施例中計算新的第一地址的方法 相同，所計算新的第三地址應該與第四地址具有相同的有效位數。優選地，使用第四地址， 即800H作為新的第三地址。同時，返回執行步驟S27，直至識別晶片的型號及存儲容量為止。當然，在選取第一地址前，可以對晶片進行清零操作，並且寫入的第一數據、第二 數據、第三數據及第四數據均為非零數據。由此可見，使用上述方法可讓檢測裝置自動識別24C系列晶片的型號，從而識別 晶片的存儲容量，識別過程無需人工操作，提高識別工作效率的同時，也提高識別的準確率。
實際應用時，第一實施例也可以是應用A3、A4及A8命令來識別24C04或2408型 晶片，也就是增加對A3、A4及A8命令識別的步驟。而第二實施例中，也可以是不使用A3、 A4及A8命令來識別24C04或2408型晶片，而是不斷循環選取第一地址、計算第二地址來確 定晶片的型號及存儲容量。此外，識別24C08型晶片時，也可以不使用A8命令，當晶片能夠 識別A4命令時，可以判斷該晶片的型號為24C08。當然，上述實施例僅是本發明較佳的實施方案，實際應用時還可以有更多的變化， 例如，第一實施例中，新選取的第一地址不是使用原第二地址，而是在可選範圍內選取其他 地址；或者，在第一實施例中使用A3命令或A4命令識別24C04及24C08型晶片；又或者，在 選取第一地址前，不向晶片發送讀信息命令，直接對晶片進行讀寫操作等，這些改變同樣可 以實現本發明的目的。最後需要強調的時，諸如選取第一地址的改變、第二實施例中新的第三地址選取 的改變等變化也包含在本發明權利要求的保護範圍內。
權利要求
24C系列晶片存儲容量的識別方法，包括步驟一選取24C系列晶片內存儲地址小於7FH的任一字節，將所述字節的存儲地址記為第一地址；步驟二向所述第一地址對應的字節寫入第一數據，在所述第一地址的最高位前增加一位有效二進位數並記為第二地址，讀取所述第二地址的對應字節所存儲的第二數據，判斷所述第二數據與所述第一數據是否相等，若相等，則根據所述第一地址的有效位數確定所述晶片的存儲容量，否則執行步驟三；步驟三選取所述晶片內存儲地址有效位數與所述第二地址有效位數相等的任一字節，將所述字節的存儲地址記為新的第一地址，返回執行步驟二。
2.根據權利要求1所述的24C系列晶片存儲容量識別方法，其特徵在於 所述步驟三中，所述新的第一地址為所述步驟二中使用的第二地址。
3.根據權利要求1或2所述的24C系列晶片存儲容量識別方法，其特徵在於所述步驟二中，寫入所述第一數據前，將所述第一地址對應字節的數據保存至一寄存 器中。
4.根據權利要求1或2所述的24C系列晶片存儲容量識別方法，其特徵在於 所述步驟一中，選取所述第一地址前，對所述晶片的存儲器執行清零操作； 所述步驟二中，所寫入的第一數據為非零數據。
5.24C系列晶片存儲容量的識別方法，包括步驟一選取24C系列晶片內存儲地址小於7FH的任一字節，將所述字節的存儲地址記 為第一地址；步驟二 向所述第一地址對應的字節寫入第一數據，在所述第一地址的最高位前增加 一位有效二進位數並記為第二地址，讀取所述第二地址的對應字節所存儲的第二數據，判 斷所述第二數據與所述第一數據是否相等，若相等，判斷所述晶片為24C01型晶片，並確定 所述晶片的存儲容量，否則執行步驟三；步驟三向所述晶片發送A3命令，判斷所述晶片是否有返回信息，若沒有，執行步驟 四；若有，進一步向所述晶片發送A4命令，並再次判斷所述晶片是否有返回信息，若有，判 斷所述晶片為24C08型晶片，若沒有，判斷所述晶片為24C04型晶片；步驟四選取所述晶片內存儲地址為400H至4FH1之間的任一字節，將所述字節的存儲 地址記為第三地址；步驟五向所述第三地址對應的字節寫入第三數據，在所述第三地址的最高位前增加 一位有效二進位數並記為第四地址，讀取所述第四地址的對應字節所存儲的第四數據，判 斷所述第四數據與所述第三數據是否相等，若相等，則根據所述第三地址的有效位數確定 所述晶片的存儲容量，否則執行步驟六；步驟六選取所述晶片內存儲地址有效位數與所述第四地址有效位數相等的任一字 節，將所述字節的存儲地址記為新的第三地址，返回執行步驟五。
6.根據權利要求5所述的24C系列晶片存儲容量識別方法，其特徵在於所述步驟三中，向所述晶片發送A4命令並接收到返回信號後，向所述晶片發送A8命 令，判斷是否接收到返回信息，若接收到返回信息，確認所述晶片為24C08型晶片，否則判 斷所述晶片出錯。
7.24C系列晶片存儲容量的識別方法，包括步驟一選取24C系列晶片內存儲地址小於7F的任一字節，將所述字節的存儲地址記 為第一地址；步驟二 向所述第一地址對應的字節寫入第一數據，在所述第一地址的最高位前增加 一位有效二進位數並記為第二地址，向所述第二地址的對應字節寫入與第一數據不同的第 二數據，讀取第一地址對應字節所存儲的數據並保存至一寄存器中，判斷所述第一數據與 所述寄存器所存儲數據是否相等，若不相等，則根據所述第一地址的有效位數確定所述芯 片的存儲容量，否則執行步驟三；步驟三選取所述晶片內存儲地址有效位數與所述第二地址有效位數相等的任一字 節，將所述字節的存儲地址記為新的第一地址，返回執行步驟二。
8.根據權利要求7所述的24C系列晶片存儲容量識別方法，其特徵在於所述步驟一中，選取所述第一地址前，向所述晶片發送讀信息命令，判斷是否接收到返 回的信息，如有選取所述第一地址，否則判斷沒有被測晶片存在。
9.24C系列晶片存儲容量的識別方法，包括步驟一選取24C系列晶片內存儲地址小於7F的任一字節，將所述字節的存儲地址記 為第一地址；步驟二 向所述第一地址對應的字節寫入第一數據，在所述第一地址的最高位前增加 一位有效二進位數並記為第二地址，向所述第二地址的對應字節寫入與第一數據不同的第 二數據，讀取第一地址對應字節所存儲的數據並保存至一寄存器中，判斷所述第一數據與 所述寄存器所存儲數據是否相等，若不相等，判斷所述晶片為24C01型晶片，並確定所述芯 片的存儲容量，否則執行步驟三；步驟三向所述晶片發送A3命令，判斷所述晶片是否有返回信息，若沒有，執行步驟 四；若有，進一步向所述晶片發送A4命令，並再次判斷所述晶片是否有返回信息，若有，判 斷所述晶片為24C08型晶片，若沒有，判斷所述晶片為24C04型晶片；步驟四選取所述晶片內存儲地址為400H至4FH1之間的任一字節，將所述字節的存儲 地址記為第三地址；步驟五向所述第三地址對應的字節寫入第三數據，在所述第三地址的最高位前增加 一位有效二進位數並記為第四地址，向所述第四地址的對應字節寫入與第三數據不同的第 四數據，讀取第三地址對應字節所存儲的數據並保存至所述寄存器中，判斷所述第三數據 與所述寄存器所存儲數據是否相等，若不相等，則根據所述第三地址的有效位數確定所述 晶片的存儲容量，否則，執行步驟六；步驟六選取所述晶片內存儲地址有效位數與所述第四地址有效位數相等的任一字 節，將所述字節的存儲地址記為新的第三地址，返回執行步驟五。
10.根據權利要求9所述的24C系列晶片存儲容量識別方法，其特徵在於所述步驟三中，向所述晶片發送A4命令並接收到返回信號後，向所述晶片發送A8命 令，判斷是否接收到返回信息，若接收到返回信息，確認所述晶片為24C08型晶片，否則判 斷所述晶片出錯。
全文摘要
本發明提供一種24C系列晶片存儲容量的識別方法，包括步驟一選取24C系列晶片內存儲地址小於7FH的任一字節，將該字節的存儲地址記為第一地址；步驟二向第一地址對應的字節寫入第一數據，在第一地址的最高位前增加一位有效二進位數並記為第二地址，讀取第二地址的對應字節所存儲的第二數據，判斷第二數據與第一數據是否相等，若相等，則根據第一地址的有效位數確定晶片的存儲容量，否則執行步驟三；步驟三選取晶片內存儲地址有效位數與第二地址有效位數相等的任一字節，將該字節的存儲地址記為新的第一地址，返回執行步驟二。本發明提供的方法可方便、快速地識別24C系列晶片的型號及其存儲容量，提高識別的工作效率及準確性。
文檔編號G06K17/00GK101950368SQ201010287900
公開日2011年1月19日 申請日期2010年9月20日 優先權日2010年9月20日
發明者袁珍平 申請人:珠海天威技術開發有限公司