一種大視場大氣痕量氣體監測儀專用氣體標定裝置製造方法
2023-06-24 08:47:26
一種大視場大氣痕量氣體監測儀專用氣體標定裝置製造方法
【專利摘要】本發明公開了一種大視場大氣痕量氣體監測儀專用氣體標定裝置，包括有望遠鏡、1分28光纖束和1分28氣體樣品池，所述的1分28氣體樣品池各自獨立且設有獨立的入氣孔和出氣孔，所述的望遠鏡收集太陽散射光，經所述的1分28光纖束傳輸至28個光纖輸出端照亮所述的1分28氣體樣品池，在1分28氣體樣品池的28個獨立的氣體樣品池內充入不同濃度的標準氣體，為大視場大氣痕量氣體監測儀定標提供覆蓋視場且與地面解析度相匹配的氣體標定池。本發明解決了研發大視場大氣痕量氣體監測儀性能驗證時無專用氣體標定裝置的問題，為該儀器提供標定用專用氣體標定裝置，結構簡單，設計合理，穩定性好，經濟實用。
【專利說明】一種大視場大氣痕量氣體監測儀專用氣體標定裝置
【技術領域】
[0001]本發明涉及環境監測【技術領域】，尤其涉及一種大視場大氣痕量氣體監測儀專用氣體標定裝置。
【背景技術】
[0002]大視場大氣痕量氣體監測儀為星載環境監測儀器，儀器通過測量大氣、地表的紫夕卜、可見散射光譜、並利用痕量氣體在紫外、可見波段的「指紋」吸收、採用差分吸收光譜算法獲取大氣痕量氣體濃度。該儀器採用面陣探測器推掃方式工作，擁有114度大視場，在軌道705km時地面幅寬可達2600km，具體見圖1。
[0003]大視場大氣痕量氣體監測儀由4通道超光譜成像光譜儀組成，光譜儀的空間維對應114度大視場，該種類型儀器為提高信噪比一般在空間維採用多行合併為一行的方式處理數據,如大視場大氣痕量氣體監測儀地面幅寬48km，對應像元合併約為36行，相當於114度分為28份。
[0004]大視場大氣痕量氣體監測儀以測量痕量氣體為最終目的，因此需使用專用的氣體標定池對儀器性能進行驗證，而目前文獻及專利僅涉及到通用的一般氣體標定池，無法滿足儀器定標需求。
[0005]因此需發明專用的氣體標定裝置，該裝置需滿足覆蓋114度大視場，分為28份(與地面解析度相匹配)，且28份可獨立、充入不同濃度的標準氣體。
【發明內容】
[0006]本發明目的就是為了彌補已有技術的缺陷，提供一種大視場大氣痕量氣體監測儀專用氣體標定裝置。
[0007]本發明是通過以下技術方案實現的:
一種大視場大氣痕量氣體監測儀專用氣體標定裝置，包括有望遠鏡、I分28光纖束和I分28氣體樣品池，所述的I分28氣體樣品池各自獨立且設有獨立的入氣孔和出氣孔，所述的望遠鏡收集太陽散射光，經所述的I分28光纖束傳輸至28個光纖輸出端照亮所述的I分28氣體樣品池，在I分28氣體樣品池的28個獨立的氣體樣品池內充入不同濃度的標準氣體，為大視場大氣痕量氣體監測儀定標提供覆蓋視場且與地面解析度相匹配的氣體標定池。
[0008]氣體池部分覆蓋儀器的全部視場(114度視場)，並根據儀器的地面解析度分為28份，此I分28氣體樣品池，各自獨立，擁有獨立的入氣孔與出氣孔，各自可充入不同濃度的標準氣體。
[0009]大視場大氣痕量氣體監測儀使用此裝置時，通過測量114度內與地面解析度相匹配的28份不同濃度的標準氣體，並比較測量濃度與標準氣體濃度來驗證儀器的性能，完成儀器的氣體標定工作。
[0010]本發明的優點是:本發明解決了研發大視場大氣痕量氣體監測儀性能驗證時無專用氣體標定裝置的問題，為該儀器提供標定用專用氣體標定裝置，結構簡單，設計合理，穩定性好，經濟實用。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0011]圖1為大視場大氣痕量氣體監測儀對地工作原理圖。
[0012]圖2為本發明原理圖。
【具體實施方式】
[0013]如圖2所示，一種大視場大氣痕量氣體監測儀專用氣體標定裝置，包括有望遠鏡
1、1分28光纖束2和I分28氣體樣品池4，所述的I分28氣體樣品池4各自獨立且設有獨立的入氣孔5和出氣孔6，所述的望遠鏡I收集太陽散射光，經所述的I分28光纖束2傳輸至28個光纖輸出端3照亮所述的I分28氣體樣品池4，在I分28氣體樣品池4的28個獨立的氣體樣品池內充入不同濃度的標準氣體，為大視場大氣痕量氣體監測儀定標提供覆蓋視場且與地面解析度相匹配的氣體標定池。
【權利要求】
1.一種大視場大氣痕量氣體監測儀專用氣體標定裝置，其特徵在於:包括有望遠鏡、I分28光纖束和I分28氣體樣品池，所述的I分28氣體樣品池各自獨立且設有獨立的入氣孔和出氣孔，所述的望遠鏡收集太陽散射光，經所述的I分28光纖束傳輸至28個光纖輸出端照亮所述的I分28氣體樣品池，在I分28氣體樣品池的28個獨立的氣體樣品池內充入不同濃度的標準氣體，為大視場大氣痕量氣體監測儀定標提供覆蓋視場且與地面解析度相匹配的氣體標定池。
【文檔編號】G01N21/31GK103543110SQ201310485504
【公開日】2014年1月29日 申請日期:2013年10月16日 優先權日:2013年10月16日
【發明者】司福祺, 竇科, 周海金, 江宇, 李傳新, 黃書華 申請人:中國科學院安徽光學精密機械研究所