自發光面板的製作方法
2023-10-21 18:29:17
專利名稱：自發光面板的製作方法
技術領域：
本發明涉及自發光面板。
背景技術：
例如，已經知道具有發光功能和受光功能的發光受光元件。並且，已經知道驅動發光受光元件以交替切換該發光狀態和受光狀態的發光受光裝置(例如，參照專利文獻1)。
日本特開2001-203078號公報(圖1)可是，例如在具有有機EL(電致發光)元件等自發光元件的自發光面板中，有時顯示圖像的視認性因外部光的強度而降低。例如，在與外部光強度相比，自發光元件的發光強度非常小時，顯示圖像較暗，所以視認性降低，相反，在與外部光強度相比，自發光元件的發光強度非常大時，顯示圖像過亮，所以有時視認性降低。此時，用戶需要進行手動調整自發光元件的發光強度(亮度水平等)這樣的煩雜的操作。
為了避免這一點，例如在另外設有光電二極體等受光元件時，需要用於設置受光元件的空間，難以做到裝置的小型化。並且，上述的發光受光裝置只切換發光受光元件的發光功能和受光功能，不具備上述的調整功能。
發明內容
本發明把處理這種問題作為一個課題。即，本發明的目的在於，提供一種不進行煩雜的操作即可根據外部光的強度調整自發光面板的發光的自發光面板，使自發光面板小型化等。
為了達到上述目的，本發明至少具備以下獨立權利要求的結構。
權利要求1的發明的自發光面板的特徵在於，具有包括發光功能和受光功能的多個自發光元件；向所述自發光元件輸入與輸入信號對應的驅動信號，以產生所述發光功能的驅動單元；利用所述自發光元件的所述受光功能檢測外部光的強度的檢測單元；根據所述檢測單元的檢測結果，調整所述驅動單元輸入給所述自發光元件的所述驅動信號的控制單元。
權利要求15的發明的自發光面板的特徵在於，具有包括發光功能和受光功能的多個自發光元件，其配置在多個數據線和多個掃描線的交叉位置附近；驅動單元，其通過所述掃描線和數據線向所述自發光元件輸入與輸入信號對應的驅動信號，以產生所述發光功能；利用所述自發光元件的所述受光功能檢測外部光的強度的檢測單元；控制單元，其對於所述多個自發光元件中規定的第1區域內的所述自發光元件，根據所述檢測單元的檢測結果，調整輸入給規定的第2區域內的所述自發光元件的所述驅動信號。
本發明的一個實施方式的自發光面板具有包括發光功能和受光功能的多個自發光元件；向自發光元件輸入與輸入信號對應的驅動信號，以產生發光功能的驅動單元；利用自發光元件的受光功能檢測外部光的強度的檢測單元；根據檢測單元的檢測結果，調整驅動單元輸入給自發光元件的驅動信號的控制單元。
在上述結構的自發光面板中，例如，檢測單元利用自發光元件的受光功能檢測外部光的強度，控制單元根據檢測單元的檢測結果，調整驅動單元輸入給自發光元件的驅動信號。因此，不需進行煩雜的操作即可根據外部光的強度調整自發光面板的自發光元件的驅動信號，可以調整發光強度(亮度水平等)。並且，例如，與另外設有外部光強度測定用受光元件的裝置相比，在本發明的自發光面板中，多個自發光元件分別具有受光功能和發光功能，根據檢測單元的檢測結果，控制單元進行驅動信號的調整，所以不需要另外設置受光用元件等，可以使自發光面板小型化。
圖1是用於說明本發明的一個實施方式的自發光面板的自發光元件的等效電路圖。
圖2是用於說明本發明的一個實施方式的自發光元件的剖面圖，(a)是說明本發明的自發光元件發光時的動作的圖，(b)是說明受光時的動作的圖。
圖3是用於說明圖2所示的自發光元件的電壓電流特性的圖。
圖4是用於說明本發明的一個實施方式的自發光元件的明亮狀態時和發暗狀態時的電壓電流特性的一個具體例的圖，(a)是用於說明自發光元件的電壓電流特性的第1具體例的圖，(b)是用於說明自發光元件的電壓電流特性的第2具體例的圖。
圖5是本發明的一個實施方式的自發光面板100的功能方框圖。
圖6是用於說明採用了本發明的一個實施方式的自發光面板100的無源驅動型自發光面板的一部分和周邊電路的圖。
圖7是用於說明本發明的一個實施方式的自發光面板100滅燈時的動作圖。
圖8是用於說明本發明的一個實施方式的自發光面板100驅動時的動作的圖。
圖9是用於對自發光面板100的顯示定時進行說明的圖。
圖10是用於說明對在顯示定時前施加了反向偏置的自發光元件進行受光強度檢測的動作的圖。
圖11是用於說明對在顯示定時中(掃描中)施加了正向偏置的自發光元件進行受光強度檢測的動作的圖。
圖12是用於說明對在顯示定時中(掃描中)施加了反向偏置的自發光元件進行受光強度檢測的動作圖。
圖13是用於說明採用了本發明的自發光面板100的場刷新驅動型自發光面板的動作的圖。
圖14是用於說明本發明的一個實施方式的自發光面板100的控制電路40的亮度水平控制的相關動作的圖。
圖15是用於說明本發明的一個實施方式的自發光面板100的圖。
圖16是用於說明採用了本發明的一個實施方式的自發光面板100的有源驅動型自發光面板的一部分和周邊電路的圖。
圖17是表示作為本發明的實施方式的自發光面板的一個具體示例的有機EL面板的結構的說明圖。
具體實施例方式
以下，參照
本發明的一個實施方式。
圖1是用於說明本發明的一個實施方式的自發光面板的自發光元件的等效電路圖。作為本實施方式的自發光面板的自發光元件，例如採用有機EL元件。自發光元件1例如圖1所示，可以替換為以電的形式並聯連接了二極體成分E和寄生電容成分Cp的等效電路。該自發光元件1具有發光功能和受光功能。
圖2是用於說明本發明的一個實施方式的自發光元件的剖面圖。圖2(a)是用於說明本發明的自發光元件發光時的動作的圖，圖2(b)是用於說明受光時的動作的圖。自發光元件1例如圖2(a)所示，具有基板2；在基板2上直接或隔著其他層形成的第1電極(空穴注入電極)3；在第1電極上形成的半導體層4；和在半導體層4上形成的第2電極(電子注入電極)5。
半導體層4例如由具有pn結的半導體層形成，具體講例如在採用了低分子型有機EL元件時，形成有包括發光層的有機層，例如在採用了高分子型有機EL元件時，形成有雙極性材料的單層或多層層疊結構的有機層。在發光時，如圖2(a)所示，在第1電極3上連接正電極，在第2電極5上連接負電極，在增加施加電壓時，在接合界面處產生空穴與電子的再結合而發光。另一方面，在受光時，如圖2(b)所示，在從外部賦予光時，在第1電極3和第2電極5之間產生電動勢。
圖3是用於說明圖2所示的自發光元件的電壓電流特性的圖。
自發光元件1例如圖3所示，在正向施加了電壓時(正向偏置時)，具體講在第1電極3上連接正電極、在第2電極5上連接負電極的情況下，當大於等於閾值Vth1時，流過與驅動電壓V對應的電流I，進行亮度水平與該電流I大致成比例的發光。自發光元件1在發暗狀態時顯示例如實線所示的電壓電流特性，在接受了外部光時(明亮狀態時)，顯示如虛線所示的電壓電流特性。即，根據受光強度，在元件內部正向流過的電流量增多。因此，在明亮狀態時，與發暗狀態時相比，用於流過一定電流的驅動電壓降低。在本實施方式中，根據自發光元件1對應於因受光形成的驅動特性變化的受光功能，檢測通過自發光元件1所受光的外部光的強度，根據檢測結果調整輸入給自發光元件1的驅動信號。具體講通過測定流向自發光元件1的電流和元件的電極之間的電壓，來檢測外部光強度，根據該檢測結果，調整輸入給自發光元件1的驅動信號。
另一方面，在反向施加了電壓時(反向偏置時)，具體講在第1電極3上連接負電極、在第2電極5上連接正電極時，自發光元件1例如圖3所示，按照二極體特性反向流過微弱電流。自發光元件1在發暗狀態時顯示例如實線所示的電壓電流特性，在接受了外部光時(明亮狀態時)，顯示如虛線所示的電壓電流特性。即，自發光元件1在反向流過微弱電流的狀態下受光時(明亮狀態)，根據受光強度，反向的電流量增加。此時，施加反向偏置時產生的電流的大小比施加正向偏置時大，所以光檢測的分辨能力強。因此，與施加正向偏置時相比，施加反向偏置時的光檢測能力強。
本申請的發明者為了確認本實施方式的自發光元件的發光功能和受光功能，測定了電壓電流特性。圖4(a)、(b)是用於說明本發明的一個實施方式的自發光元件的明亮狀態時和發暗狀態時的電壓電流特性的第1和第2具體例的圖。橫軸表示電壓(V伏特)，縱軸表示電流(nA)。例如如圖4(a)、(b)所示，與發暗狀態時相比，在明亮狀態下可以確認出電流量伴隨光電流和光電動勢而增加。並且，與發暗狀態時相比，在明亮狀態下可以確認出用於施加一定電流量的驅動電壓降低。
例如，按照上面所述，優選的是，預先測定自發光元件1的電壓電流特性，存儲表示該測定結果的數據，在檢測受光強度時參照該數據進行檢測和控制。這樣，可以在自發光面板100中高精度地進行受光強度檢測和驅動信號調整。
圖5是本發明的一個實施方式的自發光面板的功能方框圖。
本實施方式的自發光面板100例如如圖5所示，具有自發光元件1、驅動電路20、檢測部30、控制電路40和存儲器50。自發光元件1相當於本發明的自發光元件的一個實施方式，驅動電路20相當於本發明的驅動單元的一個實施方式。檢測部30相當於本發明的檢測單元的一個實施方式，控制電路40相當於本發明的控制單元的一個實施方式。
自發光元件1如上面所述具有發光功能和受光功能。驅動電路20把與輸入信號SS對應的驅動信號S20輸入給自發光元件1，使自發光元件1產生發光功能。具體講，驅動電路20根據對應於輸入信號SS而從控制電路40中輸出的信號S40，把驅動信號S20輸入給自發光元件1。
驅動電路20例如如圖5所示，具有電源部21、第1開關22和第2開關23。電源部21提供施加給自發光元件1的電力。例如，電源部21由恆定電流源21a和恆定電壓源構成。本實施方式的電源部21一端連接電源電壓VH，另一端連接第1開關22。第1開關22具有起動或切斷對自發光元件1的電力供給的功能，以及與第2開關23協作地設定施加給自發光元件1的偏置方向的功能。例如圖5所示，第1開關22具有固定端子22a、端子22b和端子22c。固定端子22a通過檢測部30連接自發光元件1的一端(第1電極3)，固定端子22b連接電源部21，端子22c連接基準電位GND。第2開關23例如圖5所示，具有固定端子23a、端子23b和第2端子23c。固定端子23a連接自發光元件1的另一端(第2電極5)，端子23b連接基準電位GND，端子23c連接電源電壓VM。電源電壓VM可以是與電源電壓VH相同的電壓也可以是不同的電壓。
控制電路40在不驅動時，向驅動電路20輸出例如使端子22a和端子22c連接、使端子23a和端子23b連接的控制信號S40。這樣，自發光元件1沒有被輸入驅動信號，而處於滅燈狀態。並且，控制電路40在驅動時(施加正向偏置時)，向驅動電路20輸出使端子22a和端子22b連接、使端子23a和端子23b連接的控制信號S40。這樣，自發光元件1被施加了正向偏置，在被施加了大於等於閾值的驅動電壓時，元件以與流過元件內的電流對應的亮度水平發光。並且，控制電路40在驅動時(施加反向偏置時)，向驅動電路20輸出使端子22a和端子22c連接、使端子23a和端子23b連接的控制信號S40。這樣，自發光元件1被施加了反向偏置，處於不亮燈狀態(雖然施加了驅動信號但不亮燈的狀態，亮度水平大致為零的狀態)。
檢測部30根據自發光元件1的受光功能檢測外部光的強度。具體講，檢測部30根據與因受光形成的自發光元件1的驅動特性變化對應的受光功能，檢測通過自發光元件1所受光的外部光的強度。並且，檢測部30把表示該檢測結果的信號S32輸出給控制電路40。具體講，檢測部30例如在向自發光元件1施加了正向偏置和反向偏置的狀態下，根據受光功能所產生的流過自發光元件1的電流值(變化)和自發光元件1的電壓值(變化)，檢測外部光的強度。例如，檢測部30如圖5所示，具有測定電路31和檢測電路32。測定電路31測定施加給自發光元件1的電流值或電壓值，把表示測定結果的信號S31輸出給檢測電路32。作為測定電路31，例如適當設置電流測定電路311和電壓測定電路312。電流測定電路311例如如圖5所示，設在自發光元件1和驅動電路20之間，測定流過自發光元件1的電流值，把表示測定結果的信號S311(S31)輸出給檢測電路32。電壓測定電路312例如如圖5所示，測定自發光元件1的兩個端子之間的電壓，把表示測定結果的信號S312(S31)輸出給檢測電路32。
控制電路40根據檢測部30的檢測結果，調整驅動電路20輸入給自發光元件1的驅動信號S20。例如，控制電路40根據檢測電路30的檢測結果，調整驅動電路20輸入給自發光元件1的驅動信號S20的亮度水平。具體講，例如控制電路40把調整亮度水平的信號S40輸出給驅動電路20。
存儲器50存儲例如具有本發明的功能的程序、數據D1、各種初始數據等。控制電路40例如通過執行該程序，實現本發明的功能。數據D1在調整亮度水平時被控制電路40和檢測部30參照，例如如圖3、4所述，包括表示與受光強度對應的電壓電流特性的數據、和使外部光強度和控制用亮度水平相對應的數據。控制電路40和檢測部30例如通過參照數據D1，高精度地檢測受光強度。
下面，示出自發光面板100的顯示面板10的一個實施方式。
(無源驅動型自發光面板)圖6是用於說明採用了本發明的一個實施方式的自發光面板100的無源驅動型自發光面板的一部分和周邊電路的圖。無源驅動型自發光面板有陰極線掃描/陽極線驅動和陽極線掃描/陰極線驅動這兩種方法，以下說明陰極線掃描/陽極線驅動。本實施方式的自發光面板100例如如圖6所示，具有顯示面板10、驅動電路20、檢測部30、控制電路40和存儲器50。對與其他實施方式相同的部分，省略一部分說明。顯示面板10如圖6所示，具有多個掃描線(陰極線)Lk1～Lkm(也稱為Lk)、多個數據線(陽極線)La1～Lam(也稱為La)、和多個自發光元件111～1nm。例如如圖6所示，多個掃描線Lk1～Lkm按照橫方向(行方向)排列，多個數據線La1～Lam按照橫方向(列方向)排列，在其交叉位置附近配置自發光元件1，各個自發光元件1連接掃描線Lk和數據線La。具體講，自發光元件1的一端(第1電極3)連接數據線La，另一端(第2電極5)連接掃描線Lk。
驅動電路20根據通過控制電路40輸入的信號(影像信號)SS，把驅動自發光面板100的驅動信號S40輸入給自發光面板100。驅動電路20例如如圖6所示，具有陽極線驅動電路210和陰極線掃描電路220。陽極線驅動電路210連接各個數據線La1～Lam並驅動它們。陽極線驅動電路210例如如圖6所示，具有開關組211和電源部212。開關組211對應於圖5所示的第1開關22，電源部212對應於電源部21。開關組211例如如圖6所示，具有驅動開關sx1～sxn(sx)。驅動開關sx各自的固定端子sxa連接數據線La，端子sxb連接電源部212的輸出端，端子sxc連接基準電位GND。該開關sx例如由電晶體形成。
本實施方式的電源部212例如由恆定電流源I1～In形成，輸入端連接電源電壓VH，輸出端連接開關sx的端子sxb。陰極線掃描電路220連接各個掃描線Lk1～Lkm並驅動它們。陰極線掃描電路220例如如圖6所示具有開關組221。開關組221對應於圖5所示的第2開關23。開關組221例如具有多個開關SY1～SYm(SY)。開關SY各自的固定端子SYa連接掃描線Lk，端子SYb連接電源電壓VM，端子SYc連接基準電位GND。該開關SY例如由電晶體形成。
檢測部30根據受光時自發光元件1產生的光電流和電動勢，檢測自發光元件1受光的外部光的強度。檢測部30例如如圖6所示，具有測定電路31和檢測電路32。在本實施方式中，測定電路31由電流測定電路311構成。測定電路31設在陽極線驅動電路210和顯示面板10之間，一端通過數據線La連接自發光元件1，另一端連接開關sx的固定端sxa。電流測定電路311例如通過數據線La測定流過自發光元件1的電流值，把表示測定結果的信號S31輸出給檢測電路32。檢測電路32根據測定電路31的測定結果，檢測由自發光元件1受光的外部光的強度。例如，檢測電路32根據從測定電路31輸出的信號S31，檢測上述外部光強度。並且，檢測電路32把表示檢測結果的信號S32輸出給控制電路40。
控制電路40例如根據從外部輸入的信號SS，向驅動電路20輸出控制信號。並且，控制電路40根據檢測部30的檢測結果，調整驅動電路20輸入給自發光元件1的驅動信號。例如，控制電路40根據存儲在存儲器50等中的數據D1等，調整驅動信號的亮度水平。
下面，說明本發明的一個實施方式的自發光面板100的動作。
(滅燈時(不驅動時))圖7是用於說明本發明的一個實施方式的自發光面板100滅燈時的動作的圖。控制電路40在滅燈時(不驅動時)，例如如圖7所示，把第1開關SW1和第2開關SW2設定為非連接狀態。圖7所示的第1開關SW1和第2開關SW2例如對應於圖5所示的第1開關22和第2開關23。這例如相當於圖5所示的控制電路40向驅動電路20輸出使第1開關22的固定端子22a和端子22c連接、使第2開關23的固定端子23a和端子23c連接的控制信號S40。並且，第1開關SW1和第2開關SW2例如對應於圖6所示的開關組211和開關組221。這例如相當於圖6所示的控制電路40輸出使開關組211內的所有開關的固定端sxa和端子sxc連接、使開關組221內的所有開關的固定端sya和端子syc連接的控制信號S40。如上面所述，自發光元件1沒有被供給驅動電力，所以自發光元件1處於滅燈狀態。
(驅動時)圖8是用於說明本發明的一個實施方式的自發光面板100驅動時的動作的圖。控制電路40在驅動時，通過驅動電路20向顯示面板10內的多個自發光元件1分別施加與輸入信號SS對應的驅動信號。具體講，控制電路40例如如圖8所示，向顯示面板10內的與亮燈部分對應的自發光元件1施加正向偏置，向與不亮燈部分對應的自發光元件1施加反向偏置。這例如相當於圖5所示的控制電路40向驅動電路20輸出以下信號，即，針對與亮燈部分對應的自發光元件1，使第1開關22的固定端子22a和端子22b連接、使第2開關23的固定端子23a和端子23b連接的控制信號S40。並且，相當於向驅動電路20輸出以下信號，即，針對與不亮燈部分對應的自發光元件1，使第1開關22的固定端子22a和端子22c連接、使第2開關23的固定端子23a和端子23c連接的控制信號S40。
圖9是用於對自發光面板100的顯示定時進行說明的圖。自發光面板100例如如圖6所示，在具有將多個自發光元件1配置成矩陣狀的顯示面板10的情況下，例如如圖9所示，一面按照每一條線依次掃描一面進行圖像顯示。例如圖9所示，利用圓圈表示與掃描線上的亮燈部分對應的自發光元件1，利用X符號表示與掃描線上的不亮燈部分對應的自發光元件1。這例如相當於圖6所示的控制電路40輸出以下信號，即，使與驅動對象的掃描線Lk對應的開關SY的固定端子SYa和端子SYc連接、使與除此以外的掃描線Lk對應的開關SY的固定端子SYa和端子SYb連接，並且針對與亮燈部分對應的自發光元件1使開關sx的固定端子sxa和端子sxc連接，針對與不亮燈部分對應的自發光元件1使開關sx的固定端子sxa和端子sxc連接的控制信號S40。並且，如圖9所示，控制電路40對掃描線Lk依次進行相同的動作。按照上面所述，被施加了大於等於閾值的正向偏置的自發光元件1處於發光狀態，被施加了反向偏置的自發光元件1處於不亮燈狀態。
(對在顯示定時前(掃描前)施加了反向偏置的自發光元件1的受光強度檢測)圖10是用於說明對在顯示定時前施加了反向偏置的自發光元件進行受光強度檢測的動作的圖。控制電路40在如圖9所示一邊針對每一條線按照從上到下的方向依次掃描一邊進行圖像顯示時，如圖10所示，在顯示定時前(掃描前)，對各個自發光元件1施加反向偏置，使各個自發光元件1處於不亮燈狀態。具體講，這相當於圖5所示的控制電路40向驅動電路20輸出以下信號，即，針對與不亮燈部分對應的自發光元件1使第1開關22的固定端子22a和端子22c連接、使第2開關23的固定端子23a和端子23c連接的控制信號S40。並且，這例如相當於圖6所示的控制電路40輸出以下信號，即，使與驅動對象以外的掃描線Lk或全部掃描線Lk對應的開關SY的固定端SYa和端子SYb連接、使開關sx的固定端子sxa和端子sxc連接的控制信號S40。檢測部30通過檢測流向被施加了該反向偏置的自發光元件1的電流值或電壓值，來檢測受光強度，把表示檢測結果的信號S32輸出給控制電路40。控制電路40根據該信號S40表示的檢測結果，通過驅動電路20調整驅動信號S20的亮度水平。
如以上說明的那樣，由於設有配置在多個掃描線Lk和多個數據線La的交叉位置附近的多個自發光元件1；在掃描驅動時通過掃描線Lk和數據線La向多個自發光元件1輸入驅動信號的驅動電路20；在掃描驅動前，根據通過掃描線Lk和數據線La反向施加給自發光元件1的驅動電流或驅動電壓，檢測外部光的強度的檢測部30；根據掃描驅動時的檢測部30的檢測結果，調整驅動電路20的驅動信號S20的亮度水平的控制電路40，所以例如由於自發光面板100不發光，因此能夠高精度地檢測外部光強度，可以根據檢測結果高精度地調整亮度水平。
並且，如上面所述，檢測部30在施加反向電壓時，通過檢測流向自發光元件1的電流值(變化)，可高精度地檢測受光強度。
(對在顯示定時中(掃描中)施加了正向偏置的自發光元件1(亮燈像素)的受光強度檢測)圖11是用於說明對在顯示定時中(掃描中)施加了正向偏置的自發光元件進行受光強度檢測的動作的圖。控制電路40例如如圖9所示，在對顯示面板10的各個自發光元件1一邊按照每一條線依次掃描一邊進行圖像顯示時，如圖11所示，向與驅動對象的掃描線Lk上的亮燈部分對應的自發光元件1施加正向偏置。這例如相當於圖5所示的控制電路40向驅動電路20輸出以下信號，即，針對與亮燈部分對應的自發光元件1使第1開關22的固定端子22a和端子22b連接、使第2開關23的固定端子23a和端子23b連接的控制信號S40。並且，相當於控制電路40向驅動電路20輸出以下信號，即，針對與不亮燈部分對應的自發光元件1使第1開關22的固定端子22a和端子22c連接、使第2開關23的固定端子23a和端子23c連接的控制信號S40。而且，這例如相當於圖6所示的控制電路40輸出以下信號，即，使與驅動對象的掃描線Lk對應的開關SY的固定端子SYa和端子SYc連接、使與除此以外的掃描線Lk對應的開關SY的固定端子SYa和端子SYb連接，針對與驅動對象的掃描線Lk上的亮燈部分對應的自發光元件1使開關sx的固定端子sxa和端子sxb連接，針對與不亮燈部分對應的自發光元件1使開關sx的固定端子sxa和端子sxc連接的控制信號S40。檢測部30通過檢測流向被施加了該正向偏置的自發光元件1的電流值或電壓值，來檢測受光強度，把表示檢測結果的信號S32輸出給控制電路40。控制電路40根據該信號S40表示的檢測結果，通過驅動電路20調整亮度水平。並且，控制電路40對掃描線Lk依次進行相同的動作。
如以上說明的那樣，由於設有配置在多個數據線La和多個掃描線Lk的交叉位置附近的多個自發光元件1；在掃描驅動時通過掃描線Lk和數據線La向自發光元件1輸入驅動信號的驅動電路20；在掃描驅動時，根據正向施加給自發光元件1的驅動電流或驅動電壓，檢測外部光的強度的檢測部30；在掃描驅動時，根據檢測部30的檢測結果，調整驅動電路20的驅動信號的亮度水平的控制電路40，即，顯示面板10中的亮燈狀態的自發光元件1具有受光功能，由此自發光面板100可以進行影像顯示，並且根據受光強度調整亮度水平。
並且，如圖3所示，在自發光元件發光時，被施加了超過發光閾值電壓Vth1的正向電壓，自發光元件1按照正向電壓(驅動電壓)進行與電流成比例的發光，但通過檢測隨著受光強度變大而驅動電壓變低等自發光元件1的電壓值(變化)，檢測部30可以高精度地檢測受光強度。
(對在顯示定時中(掃描中)施加了反向偏置的自發光元件1(不亮燈像素)的受光強度檢測)
圖12是用於說明對在顯示定時中(掃描中)施加了反向偏置的自發光元件進行受光強度檢測的動作的圖。控制電路40例如如圖9所示，在對顯示面板10的各個自發光元件1一邊按照每一條線依次掃描一邊進行圖像顯示時，如圖11所示，向與驅動對象的掃描線Lk上的不亮燈部分對應的自發光元件1施加反向偏置。這例如相當於圖5所示的控制電路40向驅動電路20輸出以下信號，即，針對與不亮燈部分的自發光元件1使第1開關22的固定端子22a和端子22c連接、使第2開關23的固定端子23a和端子23c連接的控制信號S40。並且，這例如相當於圖6所示的控制電路40輸出以下信號，即，使與驅動對象的掃描線Lk對應的開關SY的固定端子SYa和端子SYc連接、使與除此以外的掃描線Lk對應的開關SY的固定端SYa和端子SYb連接，針對與驅動對象的掃描線Lk上的不亮燈部分對應的自發光元件1使開關sx的固定端子sxa和端子sxc連接的控制信號S40。檢測部30通過檢測流向被施加了該反向偏置的自發光元件1的電流值或電壓值，來檢測受光強度，把表示檢測結果的信號S32輸出給控制電路40。控制電路40根據該信號S40表示的檢測結果，通過驅動電路20調整亮度水平。
如以上說明的那樣，由於設有配置在多個數據線La和多個掃描線Lk的交叉位置附近的多個自發光元件1；在掃描驅動時通過掃描線Lk和數據線La向自發光元件1輸入驅動信號的驅動電路20；在掃描驅動時，根據反向施加給自發光元件1的驅動電流或驅動電壓，檢測外部光的強度的檢測部30；在掃描驅動時，根據檢測部30的檢測結果，調整驅動電路20的驅動信號的亮度水平的控制電路40，即，顯示面板10中的不亮燈狀態的自發光元件1具有受光功能，由此自發光面板100可以進行影像顯示，並且根據受光強度調整亮度水平。並且，檢測部30在向自發光元件1施加了反向偏置的狀態下進行受光強度檢測，所以與施加正向偏置時相比，受光靈敏度提高，能夠高精度地檢測受光強度，能夠高精度地調整亮度水平。
(刷新期間)圖13是用於說明採用了本發明的自發光面板100的場刷新驅動型自發光面板的動作的圖。本實施方式的驅動電路20例如如圖13所示，在每當1幀(1場)期間的線順序寫入驅動結束時，對顯示面板10的所有自發光元件1，以與大於等於自發光元件1的發光閾值電壓Vth1的寫入脈衝pp相反的極性，施加電壓接近發光閾值電壓的場刷新脈衝RP(刷新信號)。檢測部30在通過驅動電路20施加刷新脈衝RP時，通過檢測流向被施加了該反向偏置的自發光元件1的電流值或電壓值，來檢測受光強度，把表示檢測結果的信號S32輸出給控制電路40。控制電路40根據該信號S40表示的檢測結果，通過驅動電路20調整亮度水平。
如以上說明的那樣，由於設有根據施加刷新信號時的驅動電壓或驅動電流檢測外部光強度的檢測部30；在掃描驅動時，根據檢測部30的檢測結果，調整驅動電路20的驅動信號的亮度水平的控制電路40，所以在不進行影像顯示的狀態下，具體講在自發光元件1不發光的狀態下能夠進行光檢測，由此可以高精度地檢測受光強度，可以高精度地調整亮度水平。
(控制電路進行的亮度水平控制的一個實施方式)圖14是用於說明本發明的一個實施方式的自發光面板100的控制電路40的亮度水平控制的相關動作的圖。橫軸表示外部光強度LP，縱軸表示亮度水平(發光強度)LL。控制電路40例如如圖14所示，根據由自發光元件1受光的外部光強度LP，調整自發光元件1的亮度水平(發光強度)。具體講如圖14所示，控制電路40進行調整，以達到與外部光強度LP大致成比例的亮度水平LL。如以上說明的那樣，例如設有控制電路40，其在檢測發暗狀態時，把亮度水平設定為第1水平，在檢測明亮狀態時，把該亮度水平設定為比第1水平大的第2水平，所以例如在外部光強度較大時，將亮度水平設定得較大，在外部光強度較小時，將亮度水平設定得較小，所以視認性提高。
並且，優選的是，控制電路40例如如圖14所示，在外部光強度LP小於預先規定的第1閾值LP1時，把亮度水平LL設定為下限值LL1。例如，在單純地調整成為使亮度水平LL與外部光強度LP大致成比例時，在外部光強度較小時，亮度水平LL小得超過了必要程度，導致視認性變差，但本實施方式的控制電路40在外部光強度LP小於規定的第1閾值LP1時，把自發光元件1的亮度水平LL設定為下限值LL1，所以即使在外部環境較暗的情況下，自發光面板100的視認性也良好。
並且，優選的是，控制電路40例如如圖14所示，在外部光強度LP大於預先規定的第2閾值LP2時，把亮度水平LL設定為上限值LL2。例如，在單純地調整成為使亮度水平LL與外部光強度LP大致成比例時，在外部光強度較大時，亮度水平LL大得超過了必要程度，導致消耗電力增大，並且自發光元件1的發光壽命有可能變短，但本實施方式的控制電路40在外部光強度LP大於第2閾值LP2時，把自發光元件1的亮度水平LL設定為上限值LL2，所以在外部環境比較明亮的情況下，也能夠降低自發光面板100的消耗電力。並且，可以防止自發光元件1的發光壽命降低。而且，亮度水平不會大得超過必要程度，所以視認性提高。即，如上面所述，由於設有設定亮度水平的下限值或上限值的控制電路40，所以能夠實現節電、面板的長壽命化、視認性的改善。
(受光功能和發光功能的分離)
圖15是用於說明本發明的一個實施方式的自發光面板100的圖。
本實施方式的控制電路40對於多個自發光元件1中的規定的第1區域內的自發光元件1，根據檢測部30的檢測結果，控制輸入給規定的第2區域內的自發光元件1的驅動信號。具體講，例如圖15(a)所示，可以把顯示面板10的所有區域中的右側區域設定為發光用區域10a，把左側區域設定為受光用區域。並且，也可以如圖15(b)所示，把顯示面板10的所有區域中的周邊部分區域設定為發光用區域10a，把中心部分區域設定為受光用區域10b。相反，也可以如圖15(c)所示，把顯示面板10的所有區域中的周邊部分區域設定為受光用區域10b，把中心部分區域設定為發光用區域10a。並且，上述區域例如可以是圓形、矩形、網格形狀等任意形狀。
如以上說明的那樣，由於設有控制電路40，其對於多個自發光元件1中的規定的第1區域內的自發光元件1，根據檢測部30的檢測結果，控制輸入給規定的第2區域內的自發光元件1的驅動信號，所以能夠根據發光用區域10a的受光強度調整第2區域內的發光強度。並且，例如與設置一個或幾個受光元件時相比，本實施方式的自發光面板100對預先規定的區域(面區域)檢測受光強度，所以能夠高精度地檢測受光強度。
(有源驅動型自發光面板)圖16是用於對採用了本發明的一個實施方式的自發光面板100的有源驅動型自發光面板的一部分和周邊電路進行說明的圖。說明把本發明的自發光面板應用於有源驅動型自發光面板的情況。自發光面板100例如圖16所示，具有顯示面板10、驅動電路20、檢測部30、控制電路40、存儲器50和電源電路230。對與其他實施方式相同的部分，省略一部分說明。
驅動電路20如圖16所示，具有數據驅動器210a、掃描電路220a和電源電路230。顯示面板10例如包括具有發光功能和受光功能的多個自發光元件1。具體講，顯示面板10如圖16所示，具有多個掃描線Lk1～Lkm(也稱為Lk)、多個數據線La1～Lan(也稱為La)、多個電源供給線Lb1～Lbn(也稱為Lb)、多個自發光元件111～1nm、多個針對每個單元的控制用電晶體Tr1、驅動用電晶體Tr2和電荷保存用電容器C1。但是，在圖16中僅示出4個單元，省略了其他單元。
例如圖16所示，多個掃描線Lk1～Lkm按照橫方向(行方向)排列，多個數據線La1～Lan按照橫方向(列方向)排列，在其交叉位置附近配置自發光元件1，另外，在顯示面板10中，對應各個數據線La按照縱方向排列電源供給線Lb。
掃描線Lk連接掃描電路220a，數據線La連接數據驅動器210a，電源供給線Lb連接電源電路230。例如，各個像素按照電導控制方式被驅動。具體講，例如利用N溝道型TFT(Thin filmtransistor)構成的控制用電晶體Tr1的柵極連接掃描線Lk，源極連接數據線La，漏極連接例如利用P溝道型TFT(Thin filmtransistor)構成的驅動用電晶體Tr2的柵極、以及電荷保存用電容器C1的第1電極。電荷保存用電容器C1的第2電極連接驅動用電晶體的源極和電源供給線Lb。驅動用電晶體Tr2的漏極連接自發光元件1的第1電極3，自發光元件1的第2電極5連接基準電位GND。這樣，自發光元件1如圖16所示按照矩陣狀配置在數據線La和掃描線Lk的交叉點附近。
並且，本實施方式的檢測部30的測定電路31例如圖16所示，具有電流測定電路311和電壓測定電路312。電流測定電路311測定流向自發光元件1的電流。電流測定電路311例如圖16所示，形成於驅動用電晶體Tr2和自發光元件1之間。電壓測定電路312測定自發光元件1的兩個電極之間的電壓。電壓測定電路312例如圖16所示，在各個單元中測定驅動用電晶體Tr2和自發光元件1之間的節點t和基準電位GND之間的電位差。
對上述結構的自發光面板100的動作進行說明。例如，在向自發光元件1施加正向偏置時，通過掃描線Lk從掃描電路220a向所期望的單元(像素)的控制用電晶體Tr1的柵極提供導通電壓，控制用電晶體Tr1使供給源極的對應於來自數據線La的數據電壓的電流，從源極流向漏極。在控制用電晶體Tr的柵極為導通電壓的期間，電容器C1被充電與數據電壓對應的電壓，該電壓提供給驅動用電晶體Tr2的柵極。驅動用電晶體Tr2使基於該柵極電壓和源極電壓的電流流向自發光元件1，驅動自發光元件1發光。另一方面，在控制用電晶體Tr1的柵極為截止電壓時，控制用電晶體Tr1被截止，控制用電晶體Tr1的漏極處於開放狀態，驅動用電晶體Tr2藉助於儲存在電容器C1中的電荷來保持柵極電壓。因此，在下一次掃描之前一直保持驅動用電晶體的驅動電流，由此也保持自發光元件1的發光狀態。檢測部30根據向自發光元件1施加正向偏置時的驅動電流和驅動電壓來檢測受光強度，控制電路40根據檢測部30的檢測結果，調整驅動電路20的驅動信號的亮度水平。
如上所述，在把自發光面板100應用於有源驅動型自發光面板100時，可以根據自發光元件1對外部光的受光強度，來調整亮度水平。
另外，本發明不限於上述實施方式，也可以將上述的各個實施方式進行組合。
例如，不限於圖2所示的自發光面板100的方式。例如，也可以是在下部電極上形成電子注入電極、在上部電極上形成空穴注入電極的自發光元件1。並且，還可以是在下部電極上形成反射電極、在上部電極上形成具有透明性的電極的自發光元件1。另外，還可以是在下部電極、上部電極上均形成具有透明性的電極的自發光元件1。
以下，作為前述的自發光面板的具體示例，舉有機EL面板為例，使用圖17說明其具體結構。
有機EL面板100的基本結構是，在第1電極(下部電極)131和第2電極(上部電極)132之間夾持包括有機發光功能層的有機材料層133，以在支撐基板110上形成多個有機EL元件130。在圖示例中，在支撐基板110上形成矽覆蓋層120a，把在其上形成的第1電極131設定為由ITO等透明電極構成的陽極，把第2電極132設定為由Al等金屬材料構成的陰極，構成從支撐基板110側取出光的下部射出方式。並且，作為有機層133，示出了空穴輸送層133A、發光層133B、電子輸送層133C的三層結構的示例。另外，通過粘接層112粘貼支撐基板110和密封部件111而形成密封區域S，在該密封區域S內形成由有機EL元件130構成的自發光元件部。
由有機EL元件130構成的自發光元件部，在圖示例中，利用絕緣層134限定第1電極131，在所限定的第1電極131的下面形成各有機EL元件130的單位顯示區域(130R、130G、130B)。並且，在形成密封區域S的密封部件111的內面安裝乾燥部件140，防止有機EL元件130因潮氣而劣化。
並且，在形成於支持基板110的端部的引出區域110A上，與第1電極131相同材料、相同工序形成的第1電極層121A，在通過絕緣層134與第1電極131絕緣的狀態下形成圖形。在第1電極層121A的引出布線部分形成第2電極層121B，該第2電極層121B形成有包括銀合金等的低電阻布線部分，再在其上根據需要形成IZO等的保護膜121C，從而形成由第1電極層121A、第2電極層121B、保護膜121C構成的引出布線部121。並且，在密封區域S內的端部，第2電極132的端部132a連接引出布線部121。
第1電極131的引出布線被省略圖示，但可以通過將第1電極131延伸引出到密封區域S外面來形成。即使在該引出布線中，也與前述第2電極132的情況相同，也可以形成電極層，該電極層形成有包括銀合金等的低電阻布線部分。
並且，密封部件111的面對引出布線部121的端緣111E0，通過進行支持基板110和密封部件111的粘貼之前被加工的孔加工緣而形成。
以下，更具體地對有機EL面板100的細節部進行說明。
a.電極第1電極131、第2電極132中的一方被設定為陰極側，另一方被設定為陽極側。陽極側由功函數高於陰極的材料構成，可以使用鉻(Cr)、鉬(Mo)、鎳(Ni)、鉑(Pt)等金屬膜或ITO、IZO氧化金屬膜等的透明導電膜。相反，陰極側由功函數低於陽極側的材料構成，可以使用鹼金屬(Li、Na、K、Rb、Cs)、鹼土類金屬(Be、Mg、Ca、Sr、Ba)、稀土類金屬等功函數低的金屬、這些金屬的化合物、或包括這些金屬的合金、已摻雜的聚苯胺或已摻雜的聚苯乙炔等非晶質半導體、Cr2O3、NiO、Mn2O5等氧化物。並且，在第1電極131、第2電極132均由透明材料形成的情況下，也可以在與光的放出側相反的電極側設置反射膜。
引出布線部(圖示的引出布線部121和第1電極131的引出布線)連接著驅動有機EL面板100的驅動電路部件或撓性布線基板，但優選儘可能地形成為低電阻，如前面所述，可以疊層Ag合金或APC、Cr、Al等低電阻金屬電極層，或利用這些低電阻金屬電極層單體來形成。
b.有機材料層有機材料層133由至少包括有機EL發光功能層的單層或多層有機化合物材料層構成，但層結構可以任意形成。一般如圖17所示，可以使用從陽極側朝向陰極側疊層空穴輸送層133A、發光層133B、電子輸送層133C的結構，也可以分別設置不只一層而是多層疊層的發光層133B、空穴輸送層133A、電子輸送層133C，還可以省略空穴輸送層133A和電子輸送層133C的任何一層，也可以兩層均省略。另外，可以根據用途插入空穴注入層、電子注入層等有機材料層。空穴輸送層133A、發光層133B、電子輸送層133C可以適當選擇採用以往使用的材料(可以是高分子材料或低分子材料)。
另外，在形成發光層133B的發光材料中，可以採用從單態激子狀態返回到基底狀態時發光(螢光)的材料，以及從三態激子狀態返回到基底狀態時發光(磷光)的材料中的任意一種。
c.密封部件在有機EL面板100中，作為將有機EL元件130氣密密封用的密封部件111，可以使用玻璃制、塑料制、金屬制等的板狀部件。可以使用通過在玻璃制密封基板上進行衝壓成形、蝕刻、噴砂處理等加工來形成密封凹部(一級凹入或兩級凹入)的部件，或者可以使用平板玻璃並利用玻璃(塑料也可以)制隔離片在與支撐基板110之間形成密封區域S。並且，也可以採用利用上述的密封部件形成密封區域S的氣密密封法，還可以採用在密封區域S內封入樹脂和矽油等填充劑的固體密封法、利用屏蔽膜等密封有機EL元件130的膜密封法。
d.粘接劑形成粘接層112的粘接劑可以使用熱固化型、化學固化型(雙溶劑混合)、光(紫外線)固化型等粘接劑，作為材料，可以使用丙烯酸樹脂、環氧樹脂、聚酯、聚烯烴等。特別優選使用不需要加熱處理、即固化性高的紫外線固化型環氧樹脂粘接劑。
e.乾燥單元乾燥單元140可以使用以下乾燥劑來形成沸石、矽膠、碳、碳納米管等物理乾燥劑；鹼金屬氧化物、金屬滷化物、過氧化氯等化學乾燥劑；在甲苯、二甲苯、脂肪族有機溶劑等石油類溶劑中溶解了有機金屬絡合物的乾燥劑；把這些乾燥劑顆粒分散在具有透明性的聚乙烯、聚異戊二烯、聚肉桂酸乙烯酯(ポリビニルシンナエ一ト)等粘合劑中的乾燥劑等。
f.有機EL顯示面板的各種方式等作為本發明的實施例的有機EL面板100，在不脫離本發明宗旨的範圍內可以進行各種設計變更。例如，有機EL元件130的發光形式可以是上述那樣從支撐基板110側取出光的下部放出方式，也可以是從密封部件111側取出光的上部放出方式(此時，需要使密封部件111形成為透明部件，並且考慮乾燥單元140的配置)。而且，有機EL面板100可以是單色顯示也可以是多色顯示，為了實現多色顯示，當然包括分塗方式，還可以採用以下方式將濾色器或由螢光材料形成的色變換層組合到白色或藍色等單色發光功能層上的方式(CF方式、CCM方式)，通過向單色發光功能層的發光區域照射電磁波等實現多色發光的方式(光致褪色方式)，將2色或2色以上的單位顯示區域縱向疊層，形成一個單位顯示區域的方式(SOLED(transparent stacker OLED)方式)，預先在不同薄膜上成膜不同發光顏色的低分子有機材料、並利用雷射熱轉印將其轉印到一個基板上的雷射轉印方式等。並且，在圖示例中示出了無源驅動方式，但也可以採用有源驅動方式，作為支持基板110採用TFT基板，在其上形成平坦層後形成第1電極131。
並且，作為測定電路31可以適當設置電流測定電路311和/或電壓測定電路312。並且，電流測定電路311隻要能夠測定流向自發光元件1的電流即可，也可以不採用上述的連接方式。另外，電壓測定電路312隻要能夠測定自發光元件1的兩個電極之間的電壓即可，也可以不採用上述的連接方式。
並且，測定電路31可以分別設在多個自發光元件1上，也可以只設在預先規定的自發光元件1上，還可以按照每個掃描線、每個數據線或每個電源線設置。
如以上說明的那樣，本發明的實施方式的自發光面板由於設有包括發光功能和受光功能的多個自發光元件1；向自發光元件1輸入與輸入信號對應的驅動信號，以產生發光功能的驅動電路20；利用自發光元件1的受光功能檢測外部光的強度的檢測部30；根據檢測部30的檢測結果，調整驅動電路20輸入給自發光元件1的驅動信號的控制電路40，所以能夠提供不進行煩雜的操作即可根據外部光的強度調整自發光面板的驅動信號的自發光面板。並且，顯示面板10的各個自發光元件1具有受光功能和發光功能，所以不需要另外設置受光元件等，可以使整個裝置小型化。
並且，由於檢測部30根據與因受光形成的自發光元件1的驅動特性變化對應的受光功能，檢測由自發光元件1受光的外部光的強度，所以例如能夠根據電壓電流特性高精度地檢測外部光的強度。
並且，由於設有根據驅動電路20輸入給自發光元件1的驅動電流或驅動電壓，檢測由自發光元件1受光的外部光的強度的檢測部30；根據該檢測結果調整驅動信號的控制電路40，所以能夠在驅動自發光元件1的過程中調整驅動信號。
並且，檢測部30在向自發光元件1施加了反向偏置的狀態下，根據流向自發光元件1的電流值檢測外部光的強度，從而提高檢測靈敏度。即，檢測部30在自發光元件1被施加了反向偏置、而且該自發光元件不發光時，根據空穴注入電極(第1電極)3和電子注入電極(第2電極)5之間的驅動電流，檢測受光強度，由此提高檢測靈敏度。
並且，檢測部30在向自發光元件1施加了正向偏置的狀態下，根據施加給自發光元件1的驅動電壓值來檢測外部光的強度，從而能夠根據發光狀態的自發光元件1檢測受光強度。即，檢測部30在自發光元件1被施加了正向偏置、而且自發光元件1發光時，根據空穴注入電極(第1電極)3和電子注入電極(第2電極)5之間的驅動電壓，來檢測受光強度，從而能夠根據發光狀態下的自發光元件1檢測受光強度。
並且，根據自發光面板100的驅動狀態進行受光檢測和驅動信號的調整，從而可以高精度地進行受光檢測並調整亮度水平。
並且，可以提供部件數量減少、且具有較高的顯示性能的自發光面板。
權利要求
1.一種自發光面板，其特徵在於，具有包括發光功能和受光功能的多個自發光元件；向所述自發光元件輸入與輸入信號對應的驅動信號以產生所述發光功能的驅動單元；利用所述自發光元件的所述受光功能檢測外部光的強度的檢測單元；根據所述檢測單元的檢測結果，調整所述驅動單元輸入給所述自發光元件的所述驅動信號的控制單元。
2.根據權利要求1所述的自發光面板，其特徵在於，所述檢測單元根據與受光形成的所述自發光元件的驅動特性變化對應的所述受光功能，檢測通過所述自發光元件受光的外部光的強度。
3.根據權利要求1所述的自發光面板，其特徵在於，所述檢測單元在向所述自發光元件施加了反向偏置的狀態下，根據藉助所述受光功能產生的流向該自發光元件的電流值，檢測所述外部光的強度。
4.根據權利要求1所述的自發光面板，其特徵在於，所述檢測單元在向所述自發光元件施加了正向偏置的狀態下，根據藉助所述受光功能產生的該自發光元件的電壓值，檢測所述外部光的強度。
5.根據權利要求1所述的自發光面板，其特徵在於，具有配置在多個數據線和多個掃描線的交叉位置附近的多個所述自發光元件，所述驅動單元在掃描驅動時通過所述掃描線和數據線向所述自發光元件輸入驅動信號，所述檢測單元在掃描驅動時，根據通過所述掃描線和數據線向所述自發光元件反向施加的驅動電流或驅動電壓，檢測所述外部光的強度，所述控制單元在所述掃描驅動時，根據所述檢測單元的檢測結果，調整所述驅動單元的驅動信號的亮度水平。
6.根據權利要求1所述的自發光面板，其特徵在於，具有配置在多個數據線和多個掃描線的交叉位置附近的多個所述自發光元件，所述驅動單元在掃描驅動時通過所述掃描線和數據線向所述自發光元件輸入驅動信號，所述檢測單元在所述掃描驅動時，根據向所述自發光元件正向或反向施加的驅動電流或驅動電壓，檢測所述外部光的強度，所述控制單元在所述掃描驅動時，根據所述檢測單元的檢測結果，調整所述驅動單元的驅動信號的亮度水平。
7.根據權利要求1所述的自發光面板，其特徵在於，具有配置在多個數據線和多個掃描線的交叉位置附近的多個所述自發光元件，所述驅動單元在掃描驅動時通過所述掃描線和數據線向所述自發光元件輸入驅動信號，在每次掃描驅動時向所述自發光元件施加刷新信號，所述檢測單元根據施加所述刷新信號時的驅動電壓或驅動電流，檢測所述外部光的強度，所述控制單元在掃描驅動時，根據所述檢測單元的檢測結果，調整所述驅動單元的驅動信號的亮度水平。
8.根據權利要求5所述的自發光面板，其特徵在於，具有無源驅動型或有源驅動型的顯示面板。
9.根據權利要求1所述的自發光面板，其特徵在於，所述自發光元件包括基板；在所述基板上形成的空穴注入電極；在所述空穴注入電極上形成的具有pn結的半導體層；在所述半導體層上形成的電子注入電極。
10.根據權利要求1所述的自發光面板，其特徵在於，所述自發光元件包括基板；在所述基板上形成的電子注入電極；在所述電子注入電極上形成的具有pn結的半導體層；在所述半導體層上形成的空穴注入電極。
11.根據權利要求9或10所述的自發光面板，其特徵在於，所述檢測單元在受光時，根據流入所述空穴注入電極和所述電子注入電極之間的電流值，檢測所述受光強度。
12.根據權利要求9或10所述的自發光面板，其特徵在於，所述檢測單元在所述自發光元件被施加了正向偏置、而且該自發光元件發光時，根據所述空穴注入電極和所述電子注入電極之間的驅動電壓，檢測所述受光強度。
13.根據權利要求9或10所述的自發光面板，其特徵在於，所述檢測單元在所述自發光元件被施加了反向偏置、而且該自發光元件不發光時，根據所述空穴注入電極和所述電子注入電極之間的驅動電流，檢測所述受光強度。
14.根據權利要求1所述的自發光面板，其特徵在於，所述控制單元在檢測到發暗狀態時把所述亮度水平設定為第1水平，在檢測到明亮狀態時把所述亮度水平設定為比第1水平大的第2水平。
15.根據權利要求14所述的自發光面板，其特徵在於，所述控制單元設定所述亮度水平的下限值或上限值。
16.一種自發光面板，其特徵在於，具有包括發光功能和受光功能的多個自發光元件，其配置在多個數據線和多個掃描線的交叉位置附近；驅動單元，其通過所述掃描線和數據線向所述自發光元件輸入與輸入信號對應的驅動信號，以產生所述發光功能；利用所述自發光元件的所述受光功能檢測外部光的強度的檢測單元；控制單元，其對於所述多個自發光元件中規定的第1區域內的所述自發光元件，根據所述檢測單元的檢測結果，調整輸入給規定的第2區域內的所述自發光元件的所述驅動信號。
17.根據權利要求1所述的自發光面板，其特徵在於，所述自發光元件是有機EL元件。
全文摘要
本發明提供一種不進行繁雜的操作即可根據外部光的強度調整自發光面板的發光的自發光面板，並使自發光面板小型化等。該自發光面板設有包括發光功能和受光功能的多個自發光元件(1)；向自發光元件(1)輸入與輸入信號SS對應的驅動信號，以產生發光功能的驅動電路(20)；利用自發光元件(1)的受光功能檢測外部光的強度的檢測部(30)；根據檢測部(30)的檢測結果，調整驅動電路(20)輸入給自發光元件(1)的驅動信號的控制電路(40)。
文檔編號H05B33/00GK1886012SQ20061009312
公開日2006年12月27日 申請日期2006年6月22日 優先權日2005年6月22日
發明者村山竜史, 藤田幸二 申請人:東北先鋒公司