終端的測試裝置的製作方法

2023-10-20 00:38:57

本公開涉及終端技術，特別涉及一種終端的測試裝置。

背景技術：

隨著用戶需求的不斷提升，以及，移動網際網路的興起，終端成為用戶生活中必不可少的日常工具。用戶可以使用終端撥打電話、發送簡訊、上網、拍照、定位等。

目前，終端生產商在將所生產的終端出廠之前，都會投入很多的測試人員對終端的功能進行測試，以確保出廠的終端功能正常。例如：在測試終端的客戶識別模塊(subscriberidentificationmodule，sim)卡功能時，測試人員需要將sim卡安裝在終端的卡託上，然後將sim卡託插入終端的卡槽，以測試終端的sim卡功能是否正常。當終端設置的是採用取卡針取卡的卡託時，測試人員在測試完終端的sim卡功能之後，還需要藉助取卡針將sim卡從終端中取出，使得測試效率較低，測試成本較高。

技術實現要素：

為克服相關技術中存在的問題，本公開提供一種終端的測試裝置。技術方案如下：

根據本公開實施例的第一方面，提供一種終端的測試裝置，包括：印刷電路板pcb，設置在所述pcb上的第一卡託、用於安裝客戶識別模塊sim卡的至少一個第一卡座；其中，

所述第一卡託與所述至少一個第一卡座電連接，所述第一卡託上設置有至少一個第一電連接端，在所述第一卡託插入終端的卡槽時，所述終端通過所述至少一個第一電連接端，讀取安裝在每個所述第一卡座上的sim卡。

本公開的實施例提供的技術方案可以包括以下有益效果：通過測試裝置上的第一卡託和第一卡座，可以將待測試終端的卡槽的內部sim卡卡座上用於讀取sim卡的pin針引至終端的外部，以使得測試人員將測試裝置的第一卡託插入終端的卡槽中時，可以模擬在終端的卡槽中插入sim卡的場景，從而可以對終端的sim卡功能進行測試。由於測試人員在完成終端的sim功能的測試後，可以直接將測試裝置從終端的卡槽中拔出，不需要藉助任何的工具，因此，能夠提高測試終端的sim卡功能的測試效率，進而能夠提高測試成本提高了測試效率，進而能夠減少測試時間，降低測試成本。進一步地，當測試人員在使用上述測試裝置，對同一型號的多個終端的sim卡功能進行測試時，測試人員只需要將上述測試裝置分別插入每個終端的卡槽即可，不需要對每個終端進行插卡和取卡的操作，可以大幅度的提高測試效率，進一步地降低了測試成本。

可選的，每個所述第一卡座設置有至少一個第一測試點。

本公開的實施例提供的技術方案可以包括以下有益效果：在將測試裝置的第一卡託插入終端的卡槽時，可以通過檢測測試裝置上的第一卡座上的第一測試點，來確定終端卡槽中sim卡座的pin針是否損壞，提高檢測終端卡槽中的sim卡卡座的pin針是否損壞的效率，進一步地減少了測試時間，降低了測試成本。

可選的，所述卡槽為sim卡和快快閃記憶體儲tf卡共用的卡槽，所述測試裝置還包括：設置在所述pcb上用於安裝tf卡的第二卡座；

所述第一卡託與所述第二卡座電連接，所述第一卡託上設置有第二電連接端，在所述第一卡託插入所述卡槽時，所述終端通過所述第二電連接端，讀取安裝在所述第二卡座上的tf卡。

本公開的實施例提供的技術方案可以包括以下有益效果：通過測試裝置上的第一卡託和第二卡座，可以將待測試終端的卡槽的內部集成卡座上用於讀取tf卡的pin針引至終端的外部，以使得測試人員將測試裝置的第一卡託插入終端的卡槽中時，可以模擬在終端的卡槽中插入tf卡的場景，從而可以對終端的tf功能進行測試。由於測試人員在完成終端的tf功能的測試後，可以直接將測試裝置從終端的卡槽中拔出，不需要藉助任何的工具，因此，能夠提高測試終端的tf功能的測試效率，進而能夠提高測試成本提高了測試效率，進而能夠減少測試時間，降低測試成本。進一步地，當測試人員在使用上述測試裝置，對同一型號的多個終端的tf功能進行測試時，測試人員只需要將上述測試裝置分別插入每個終端的卡槽即可，不需要對每個終端進行插卡和取卡的操作，可以大幅度的提高測試效率，進一步地降低了測試成本。

可選的，所述第二卡座設置有至少一個第二測試點。

本公開的實施例提供的技術方案可以包括以下有益效果：在將測試裝置的第一卡託插入終端的卡槽時，可以通過檢測測試裝置上的第二卡座上的第二測試點，來確定終端卡槽中卡座用於讀取tf卡的pin針是否損壞，提高檢測終端卡槽中的pin針是否損壞的效率，進一步地減少了測試時間，降低了測試成本。

可選的，所述裝置還包括：設置在所述pcb上的通用串行總線usb接口、otg模塊、用於安裝快快閃記憶體儲tf卡的第三卡座；

所述otg模塊分別與所述usb接口和所述第三卡座電連接，在所述usb接口插入所述終端的usb接口時，所述otg模塊根據所述終端的讀寫指令，向安裝在所述第三卡座上的tf卡執行讀寫操作。

本公開的實施例提供的技術方案可以包括以下有益效果：通過測試裝置上的usb接口、otg模塊和第三卡座，可以使測試人員將測試裝置的usb接口插入終端的接口後，即可對終端的otg功能進行測試，不需要再單獨準備otg轉接線和otg工具，提高了測試效率，減少了測試時間，進而降低了測試成本。

可選的，所述裝置還包括：設置在所述pcb上的指示燈，所述指示燈與所述otg模塊電連接。

本公開的實施例提供的技術方案可以包括以下有益效果：通過設置指示燈，可以在終端的otg功能測試不合格時，通過指示燈是否點亮判斷otg功能不合格的原因是否由於未能向tf卡供電所導致的，進一步提高了測試效率。

可選的，設置在所述pcb上的usb接口為usb公口。

可選的，所述pcb上的usb接口設置有至少一個第三測試點。

本公開的實施例提供的技術方案可以包括以下有益效果：在將測試裝置的usb接口插入終端的usb接口時，可以通過檢測測試裝置上的usb接口上的第三測試點，來確定終端的usb接口的pin針是否損壞，提高檢測終端的usb接口的pin針是否損壞的效率，進一步地減少了測試時間，降低了測試成本。

可選的，在所述終端的卡槽為兩個sim卡共用的卡槽時，所述pcb上設置有兩個第一卡座；

所述第一卡託與所述兩個第一卡座電連接，所述第一卡託上設置有兩個第一電連接端，在所述第一卡託插入終端的卡槽時，所述終端通過所述兩個第一電連接端，讀取安裝在所述兩個第一卡座上的sim卡。

應當理解的是，以上的一般描述和後文的細節描述僅是示例性和解釋性的，並不能限制本公開。

附圖說明

此處的附圖被併入說明書中並構成本說明書的一部分，示出了符合本公開的實施例，並與說明書一起用於解釋本公開的原理。

圖1是根據一示例性實施例示出的一種終端的測試裝置的結構示意圖；

圖2是根據一示例性實施例示出的一種終端的測試裝置第一面的結構示意圖；

圖3是根據一示例性實施例示出的一種終端的測試裝置第二面的結構示意圖；

圖4是根據一示例性實施例示出的一種第一卡座sim1的電路示意圖；

圖5是根據一示例性實施例示出的一種第一卡座sim2的電路示意圖；

圖6是根據一示例性實施例示出的一種第一卡託j1的的電路示意圖；

圖7是根據一示例性實施例示出的一種第二卡座j3的電路示意圖；

圖8是根據一示例性實施例示出的一種第三卡座j2的電路示意圖；

圖9是根據一示例性實施例示出的一種usb接口j4的電路示意圖；

圖10是根據一示例性實施例示出的一種otg模塊u1的電路示意圖；

圖11是根據一示例性實施例示出的一種指示燈d1的電路示意圖。

通過上述附圖，已示出本公開明確的實施例，後文中將有更詳細的描述。這些附圖和文字描述並不是為了通過任何方式限制本公開構思的範圍，而是通過參考特定實施例為本領域技術人員說明本公開的概念。

具體實施方式

這裡將詳細地對示例性實施例進行說明，其示例表示在附圖中。下面的描述涉及附圖時，除非另有表示，不同附圖中的相同數字表示相同或相似的要素。以下示例性實施例中所描述的實施方式並不代表與本公開相一致的所有實施方式。相反，它們僅是與如所附權利要求書中所詳述的、本公開的一些方面相一致的裝置和方法的例子。

下面以具體地實施例對本公開的技術方案進行詳細說明。下面這幾個具體的實施例可以相互結合，對於相同或相似的概念或過程可能在某些實施例不再贅述。

圖1是根據一示例性實施例示出的一種終端的測試裝置的結構示意圖。圖2是根據一示例性實施例示出的一種終端的測試裝置第一面的結構示意圖。圖2是根據一示例性實施例示出的一種終端的測試裝置第一面的結構示意圖。當第一面為終端的測試裝置的正面時，第二面即為終端的測試裝置的背面，當第一面為終端的測試裝置的背面時，第二面即為終端的測試裝置的正面。

如圖1至圖3所示，該終端的測試裝置(簡稱：測試裝置)包括：印刷電路板(printedcircuitboard，pcb)，設置在pcb上的、且與終端的卡槽適配的第一卡託、用於安裝sim卡的至少一個第一卡座。

其中，第一卡託與至少一個第一卡座電連接，第一卡託上設置有至少一個第一電連接端，在第一卡託插入終端的卡槽時，終端通過至少一個第一電連接端，讀取安裝在每個第一卡座上的sim卡。

在本實施例中，上述測試裝置可以用於測試終端的sim卡功能。其中，第一電連接端的結構具體可以根據卡槽中sim卡卡座的pin針的排列方式確定。第一電連接端在第一卡託上的位置具體可以根據卡槽中sim卡卡座的pin針在卡槽中的位置確定。第一電連接端的數量，以及第一卡座的數量，具體可以根據卡槽中sim卡卡座的數量確定。在本實施例中，第一卡座與卡槽中sim卡卡座的結構可以一致。

例如，當終端的卡槽中只有一個sim卡卡座時，上述測試裝置的pcb上可以設置有一個第一卡座。該第一卡座可以與第一卡託電連接。相應地，上述第一卡託上可以設置有一個與該sim卡卡座的pin針適配的第一電連接端。在第一卡託插入終端的卡槽時，該sim卡卡座的pin針通過該第一電連接端與第一卡座電連接。因此，終端可以讀取安裝在該第一卡座上的sim卡。此時，第一卡座上安裝的sim卡具體可以根據卡槽中的sim卡卡座支持的sim卡確定。示例性的，在卡槽中的sim卡卡座支持微型(micro)sim卡時，第一卡座上安裝的是microsim卡。在卡槽中的sim卡卡座支持納米技術(nano)sim卡時，第一卡座上安裝的是nanosim卡。

當終端的卡槽中具有兩個sim卡卡座時，即終端的卡槽為兩個sim卡共用的卡槽時，上述測試裝置的pcb上可以設置有兩個第一卡座。該兩個第一卡座均可以與第一卡託電連接。其中，第一卡託上可以設置有兩個第一電連接端，每個第一電連接端對應一個第一卡座、且每個第一電連接端與卡槽中一個sim卡卡座的pin針對應。即，終端的卡槽中某一sim卡卡座的pin針通過與其對應的第一電連接端，與其對應的第一卡座電連接。

相應地，每個第一卡座上安裝的sim卡可以根據卡槽中該位置的sim卡卡座的所允許安裝的sim卡確定。示例性的，以終端的卡槽中具有兩個sim卡卡座，分別為sim卡卡座1和sim卡卡座2，其中，sim卡卡座1允許插入sim卡1，sim卡卡座2允許插入sim卡2為例，測試裝置的pcb上設置有第一卡座1和第一卡座2，其中，第一卡託上設置有第一電連接端1和第一電連接端2。第一電連接端1與卡槽中sim卡卡座1的pin針對應，用於將sim卡卡座1的pin針與第一卡座1電連通，第一電連接端2與卡槽中sim卡卡座2的pin針對應，用於將sim卡卡座2的pin針與第一卡座2連通。即，終端的卡槽中sim卡卡座1的pin針通過與其對應的第一電連接端1，與第一卡座1電連接，終端的卡槽中sim卡卡座2的pin針通過與其對應的第一電連接端2，與第一卡座2電連接。因此，上述第一卡座1對應sim卡1、第一卡座2對應sim卡2。

在該場景下，當sim卡1和sim卡2均為microsim卡時，第一卡座1和第一卡座2上安裝的均是microsim卡。當sim卡1為microsim卡、sim卡2為nanosim時，第一卡座1上安裝的是microsim卡、第一卡座2上安裝的是nanosim卡。當sim卡1為nanosim卡、sim卡2為microsim時，第一卡座1上安裝的是nanosim卡、第一卡座2上安裝的是microsim卡。

這樣，在第一卡託插入終端的卡槽時，終端可以通過兩個第一電連接端，讀取安裝在兩個第一卡座上的sim卡。即，終端通過每個第一電連接端，讀取安裝在該第一電連接端對應的第一卡座上的sim卡。

也就是說，上述測試裝置通過第一卡託和第一卡座，可以將待測試終端的卡槽的內部sim卡卡座上用於讀取sim卡的pin針引至終端的外部。因此，在本實施例中，測試人員在測試終端的sim卡功能時，測試人員可以根據終端的卡槽中每個位置所允許安裝的sim卡，確定與該位置對應的第一卡座上適配的sim卡，並在該第一卡座上安裝該適配的sim卡。同時，測試人員可以將待測試的終端的原裝卡託從卡槽中取出，並將上述測試裝置的第一卡託插入終端的卡槽中，以模擬在終端的卡槽中插入sim卡的場景。

然後，測試人員可以在終端上運行用於測試sim卡功能的測試軟體，以測試終端的sim卡功能是否正常。例如：測試人員可以通過終端是否可以讀取sim卡，確定終端的sim卡功能是否正常。測試人員還可以通過終端是否可以通過sim卡連入相應的運營商網絡，確定終端的sim卡功能是否正常等，具體可以根據測試人員所使用的測試軟體確定，本實施例對此不進行限定。

在完成sim卡功能的測試後，測試人員可以不需要藉助任何的工具(例如：取卡針等)，將上述測試裝置直接從終端的卡槽中拔出，提高了測試效率，減少了測試時間，進而降低了測試成本。進一步地，當測試人員在使用上述測試裝置，對同一型號的多個終端的sim卡功能進行測試時，測試人員只需要將上述測試裝置分別插入每個終端的卡槽即可，不需要對每個終端進行插卡和取卡的操作，可以大幅度的提高測試效率，進一步地降低了測試成本。

本公開提供的終端的測試裝置，通過測試裝置上的第一卡託和第一卡座，可以將待測試終端的卡槽的內部sim卡卡座上用於讀取sim卡的pin針引至終端的外部，以使得測試人員將測試裝置的第一卡託插入終端的卡槽中時，可以模擬在終端的卡槽中插入sim卡的場景，從而可以對終端的sim卡功能進行測試。由於測試人員在完成終端的sim功能的測試後，可以直接將測試裝置從終端的卡槽中拔出，不需要藉助任何的工具，因此，能夠提高測試終端的sim卡功能的測試效率，進而能夠提高測試成本提高了測試效率，進而能夠減少測試時間，降低測試成本。

繼續參照圖2和圖3，當終端的卡槽為兩個sim卡共用的卡槽時，即終端的卡槽中具有兩個sim卡卡座(以sim卡卡座1和sim卡卡座2為例)時，上述測試裝置的pcb上可以設置有兩個第一卡座。以第一卡座sim1和第一卡座sim2為例，第一卡座sim1和第一卡座sim2均可以與第一卡託j1電連接。其中，第一卡託j1上設置有兩個第一電連接端，分別為第一電連接端1、第一電連接端2。第一電連接端1與第一卡座sim1對應、且第一電連接端1與sim卡卡座1的pin針對應。即，sim卡卡座1的pin針通過與第一電連接端1，與第一卡座1電連接。第一電連接端2與第一卡座sim2對應、且第一電連接端2與sim卡卡座2的pin針對應。即，sim卡卡座2的pin針通過與第一電連接端2，與第一卡座2電連接。通過這種方式，可以將終端的卡槽的內部sim卡卡座上用於讀取sim卡的pin針引至終端的外部。

相應地，第一卡座sim1上安裝的sim卡可以根據sim卡卡座1的所允許安裝的sim卡確定，第一卡座sim2上安裝的sim卡可以根據sim卡卡座2的所允許安裝的sim卡確定。本示例以sim卡1為microsim卡、sim卡2為nanosim為例，即在該場景下，第一卡座sim1上安裝的是microsim卡、第一卡座sim2上安裝的是nanosim卡。

圖4是根據一示例性實施例示出的一種第一卡座sim1的電路示意圖。圖5是根據一示例性實施例示出的一種第一卡座sim2的電路示意圖。圖6是根據一示例性實施例示出的一種第一卡託j1的的電路示意圖。如圖4至圖6所示，當第一卡座sim1用於安裝microsim卡時，第一卡座sim1的電路圖可以如圖4所示。當第一卡座sim2用於安裝nanosim卡時，第一卡座sim2的電路圖可以如圖5所示。在該場景下，第一卡託j1的電路圖可以如圖6所示。

其中，圖4與圖6中引腳標籤相同的引腳電連接。具體地，sim1的引腳1和2與j1的引腳5電連接，sim1的引腳3和4與j1的引腳6電連接，sim1的引腳5和6與j1的引腳7電連接，sim1的引腳9與j1的引腳1電連接。sim1的引腳10與j1的引腳2電連接，sim1的引腳11與j1的引腳3電連接。

圖5與圖6中引腳標籤相同的引腳具有電連接關係。具體地，sim2的引腳1和2與j1的引腳19電連接，sim2的引腳3和4與j1的引腳18電連接，sim2的引腳5和6與j1的引腳17電連接，sim2的引腳9與j1的引腳24電連接，sim2的引腳10與j1的引腳23電連接，sim2的引腳11與j1的引腳22電連接。

繼續參照圖1至圖3，進一步地，在上述實施例的基礎上，上述每個第一卡座上還可以設置有至少一個第一測試點，該至少一個第一測試點與該卡座對應的sim卡卡座的pin針一一對應。也就是說，sim卡卡座有幾個pin針，就有幾個第一測試點。這樣，在第一卡託插入終端的卡槽時，終端的卡槽中的sim卡卡座的pin針通過其對應的第一電連接端，與其對應的第一卡座電連接，並與該第一卡座上的至少一個第一測試點連通。因此，通過該至少一個第一測試點，可以測試卡槽中與該第一卡座電連接的sim卡卡座的pin針是否損壞(例如：塌陷或折損)。

繼續以測試裝置包括第一卡座sim1和第一卡座sim2為例，當上述第一卡座sim1的電路圖如圖4所示時，說明第一卡座sim1對應的卡槽中的sim卡卡座1的電路圖也如圖4所示。因此，上述第一卡座sim1的至少一個第一測試點可以如圖2所示。即sim卡卡座的每個引腳(即pin針)對應一個第一測試點。當上述第一卡座sim2的電路圖如圖5所示時，說明第一卡座sim2對應的卡槽中的sim卡卡座2的電路圖也如圖5所示。因此，上述第一卡座sim2的至少一個第一測試點可以如圖2所示。即sim卡卡座的每個引腳(即pin針)對應一個第一測試點。

其中，本實施例不限定測試人員通過第一測試點測試sim卡卡座的pin針是否損壞的方式。例如，測試人員可以在終端關機時，使用萬用表檢測每個第一測試點對地電阻值。然後，測試人員可以根據每個第一測試點對地電阻值與該第一測試點的標準取值的差值，來判定每個第一測試點對應的sim卡卡座的pin針是否損壞。當某一第一測試點對應的差值大於第一測試點對應的預設閾值時，或者，無法檢測到某一第一測試點對地電阻值時，可以確定該第一測試點對應的sim卡卡座的pin針損壞。上述所說的每個第一測試點的標準取值可以為同型號的終端的sim卡卡座的pin針在未損壞時，測試人員在該第一測試點檢測到的有效電阻值。其中，上述預設閾值可以根據終端的型號確定。

與相關技術中，測試人員需要將終端拆卸打開，以從終端的主板上取下終端的sim卡座後，再檢測sim卡座的pin針對地電阻值與標準取值的差值，來判定卡槽中sim卡座的pin針是否損壞相比，本實施例的方法，可以提高檢測終端卡槽中的sim卡卡座的pin針是否損壞的效率，進一步地減少了測試時間，降低了測試成本。進一步地，通過在終端關機狀態下測試終端卡槽中sim卡卡座pin針的方式，能夠避免在檢測pin針過程中，因pin針損壞導致短路，燒毀終端主板的情況。

本公開提供的終端的測試裝置，在將測試裝置的第一卡託插入終端的卡槽時，可以通過檢測測試裝置上的第一卡座上的第一測試點，來確定終端卡槽中sim卡座的pin針是否損壞，提高檢測終端卡槽中的sim卡卡座的pin針是否損壞的效率，進一步地減少了測試時間，降低了測試成本。

終端生產商在將所生產的終端出廠之前，還會測試終端的快快閃記憶體儲(trans-flash，tf)功能是否正常。相關技術中，在終端的sim卡和tf卡共用同一卡槽時，測試人員需要在測試完sim卡功能之後，從卡槽中將sim卡取出。然後，測試人員再在原裝卡託上裝上tf卡，並將卡託插入終端的卡槽，以測試終端的tf功能是否正常。當終端設置的是採用取卡針取卡的卡託時，測試人員在測試完終端的tf功能之後，還需要藉助取卡針將tf卡從終端中取出，使得測試效率較低，測試成本較高。

繼續參照圖2和圖3，當終端的卡槽為sim卡和tf卡共用的卡槽時，即上述終端的卡槽中存在一個集成卡座，該集成卡座可以插sim卡也可以插tf卡時，上述測試裝置還可以包括：設置在pcb上用於安裝tf卡的第二卡座。其中，第一卡託與第二卡座電連接，第一卡託上設置有第二電連接端，在第一卡託插入卡槽時，終端通過第二電連接端，讀取安裝在第二卡座上的tf卡。其中，上述集成卡座不能同時插入sim卡和tf卡。在上述集成卡座插入sim卡時，該集成卡座用於讀取sim卡的pin針與第一卡座對應，在上述集成卡座插入tf卡時，該集成卡座用於讀取tf卡的pin針與第二卡座對應。

在本實施例中，上述測試裝置還可以用於測試終端的tf功能。其中，第二電連接端的結構具體可以根據卡槽中集成卡座用於讀取tf卡的pin針的排列方式確定。第二電連接端在第一卡託上的位置具體可以根據卡槽中集成卡座用於讀取tf卡的pin針在卡槽中的位置確定。

也就是說，上述測試裝置通過第一卡託和第二卡座，可以將待測試終端的卡槽的內部集成卡座用於讀取tf卡的pin針引至終端的外部。因此，在本實施例中，測試人員在測試終端的tf功能時，測試人員可以在第二卡座上安裝tf卡。同時，測試人員可以將待測試的終端的原裝卡託從卡槽中取出，並將上述測試裝置的第一卡託插入終端的卡槽中，以模擬在終端的卡槽中插入tf卡的場景。

然後，測試人員可以在終端上運行用於測試tf卡功能的測試軟體，以測試終端的tf功能是否正常。例如：測試人員可以通過終端是否可以讀取tf卡，確定終端的tf功能是否正常等，具體可以根據測試人員所使用的測試軟體確定，本實施例對此不進行限定。

在完成tf功能的測試後，測試人員可以不需要藉助任何的工具(例如：取卡針等)，將上述測試裝置直接從終端的卡槽中拔出，提高了測試效率，減少了測試時間，進而降低了測試成本。進一步地，當測試人員在使用上述測試裝置，對同一型號的多個終端的tf功能進行測試時，測試人員只需要將上述測試裝置分別插入每個終端的卡槽即可，不需要對每個終端進行插卡和取卡的操作，可以大幅度的提高測試效率，進一步地降低了測試成本。

本公開提供的終端的測試裝置，通過測試裝置上的第一卡託和第二卡座，可以將待測試終端的卡槽的內部集成卡座上用於讀取tf卡的pin針引至終端的外部，以使得測試人員將測試裝置的第一卡託插入終端的卡槽中時，可以模擬在終端的卡槽中插入tf卡的場景，從而可以對終端的tf功能進行測試。由於測試人員在完成終端的tf功能的測試後，可以直接將測試裝置從終端的卡槽中拔出，不需要藉助任何的工具，因此，能夠提高測試終端的tf功能的測試效率，進而能夠提高測試成本提高了測試效率，進而能夠減少測試時間，降低測試成本。

繼續參照圖2和圖3，以第二卡座j3和第一卡託j1為例，第一卡託j1與第二卡座j3電連接，第一卡託j1上設置有第二電連接端，在第一卡託j1插入卡槽時，終端通過第二電連接端，讀取安裝在第二卡座j3上的tf卡。通過這種方式，可以將待測試終端的卡槽的內部集成卡座用於讀取tf卡的pin針引至終端的外部。

圖7是根據一示例性實施例示出的一種第二卡座j3的電路示意圖。如圖6至圖7所示，上述第二卡座j3的電路圖可以如圖7所示。其中，圖6與圖7中引腳標籤相同的引腳電連接。具體地，tf的引腳1與j1的引腳16電連接，tf的引腳2與j1的引腳15電連接，tf的引腳3與j1的引腳14電連接，tf的引腳4與j1的引腳13電連接，tf的引腳6與j1的引腳12電連接，tf的引腳7與j1的引腳11電連接，tf的引腳8與j1的引腳10電連接，tf的引腳9與j1的引腳9電連接。

繼續參照圖2至圖3，進一步地，在上述實施例的基礎上，上述第二卡座上還可以設置有至少一個第二測試點，該至少一個第二測試點與卡槽中集成卡座用於讀取tf卡的pin針一一對應。也就是說，集成卡座有幾個用於讀取tf卡的pin針，就有幾個第二測試點。這樣，在第一卡託插入終端的卡槽時，終端的卡槽中集成卡座用於讀取tf卡的pin針通過其對應的第二電連接端，與第二卡座電連接，並與第二卡座上的至少一個第二測試點連通。因此，通過該至少一個第二測試點，可以測試卡槽中集成卡座用於讀取tf卡的pin針是否損壞(例如：塌陷或折損)。

繼續以測試裝置包括第二卡座j3為例，當上述第二卡座j3的電路圖如圖7所示時，說明第二卡座j3對應的卡槽中的集成卡座用於讀取tf卡的電路圖也如圖7所示。因此，上述第二卡座j3的至少一個第二測試點可以如圖2所示。即集成卡座用於讀取tf卡的每個引腳(即pin針)對應一個第二測試點。

其中，本實施例不限定測試人員通過第二測試點測試集成卡座用於讀取tf卡的pin針是否損壞的方式。例如，測試人員可以在終端關機時，使用萬用表檢測每個第二測試點對地電阻值。然後，測試人員可以根據每個第二測試點對地電阻值與該第二測試點的標準取值的差值，來判定每個第二測試點對應的集成卡座用於讀取tf卡的pin針是否損壞。當某一第二測試點對應的差值大於第二測試點對應的預設閾值時，或者，無法檢測到某一第二測試點對地電阻值時，可以確定該第二測試點對應的集成卡座用於讀取tf卡的pin針損壞。上述所說的每個第二測試點的標準取值可以為同型號的終端的集成卡座用於讀取tf卡的pin針在未損壞時，測試人員在該第二測試點檢測到的有效電阻值。其中，上述預設閾值可以根據終端的型號確定。

與相關技術中，測試人員需要將終端拆卸打開，以從終端的主板上取下終端的集成卡座後，再檢測集成卡座用於讀取tf卡的pin針對地電阻值與標準取值的差值，來判定卡槽中集成卡座用於讀取tf卡的pin針是否損壞相比，本實施例的方法，可以提高檢測終端卡槽中的集成卡座用於讀取tf卡的pin針是否損壞的效率，進一步地減少了測試時間，降低了測試成本。進一步地，通過在終端關機狀態下測試終端卡槽中集成卡座用於讀取tf卡的pin針的方式，能夠避免在檢測pin針過程中，因pin針損壞導致短路，燒毀終端主板的情況。

本公開提供的終端的測試裝置，在將測試裝置的第一卡託插入終端的卡槽時，可以通過檢測測試裝置上的第二卡座上的第二測試點，來確定終端卡槽中卡座用於讀取tf卡的pin針是否損壞，提高檢測終端卡槽中的pin針是否損壞的效率，進一步地減少了測試時間，降低了測試成本。

終端生產商在將所生產的終端出廠之前，還會測試終端的otg(on-the-go)功能是否正常。相關技術中，在測試終端的otg功能時，測試人員需要使用otg轉接線將otg工具(例如：滑鼠、鍵盤等)與終端的通用串行總線(universalserialbus，usb)接口連接，以測試終端的otg功能是否正常。

繼續參照圖2和圖3，上述測試裝置還可以包括：設置在pcb上的usb接口、otg模塊、用於安裝tf卡的第三卡座；其中，otg模塊分別與usb接口和第三卡座電連接，在usb接口插入終端的usb接口時，otg模塊根據終端的讀寫指令，向安裝在第三卡座上的tf卡執行讀寫操作。其中，上述測試裝置的usb接口為與終端的usb接口適配的接口，例如，當終端的usb接口為microusb接口時，上述測試裝置的usb接口也為microusb接口。可選的，當終端的usb接口為公口時，上述測試裝置的usb接口可以為母口，當終端的usb接口為母口時，上述測試裝置的usb接口可以為公口。

在本實施例中，上述測試裝置還可以用於測試終端的otg功能。具體地，測試人員在測試終端的otg功能時，測試人員可以在第三卡座上安裝tf卡。同時，測試人員可以將測試裝置的usb接口插入終端的usb接口。然後，測試人員可以在終端上運行用於測試otg功能的測試軟體，以測試終端的otg功能是否正常。例如：測試人員可以通過終端是否可以讀取第三卡座上的tf卡中的數據，或者是否可以向第三卡座上的tf卡寫入數據，確定終端的otg功能是否正常等，具體可以根據測試人員所使用的測試軟體確定，本實施例對此不進行限定。

通過上述測試裝置測試終端的otg功能時，測試人員可以不需要再單獨準備otg轉接線和otg工具，提高了測試效率，減少了測試時間，進而降低了測試成本。進一步地，當測試人員在使用上述測試裝置，對同一型號的多個終端的otg功能進行測試時，測試人員只需要將上述測試裝置分別插入每個終端的usb接口即可，可以大幅度的提高測試效率，進一步地降低了測試成本。

可選的，上述終端還可以通過測試裝置的otg模塊，向第三卡座上的tf卡供電，以使得tf可以正常工作。則在上述實施例的基礎上，上述測試裝置還可以包括設置在pcb上的指示燈，指示燈與otg模塊電連接。在終端通過測試裝置的otg模塊，向第三卡座上的tf卡正常供電時，指示燈會發光。因此，測試人員可以通過指示燈是否點亮，來判斷終端是否向第三卡座上的tf卡正常供電。通過這種方式，可以在終端的otg功能測試不合格時，判斷otg功能不合格的原因是否由於未能向tf卡供電所導致的，進一步提高了測試效率。其中，上述指示燈可以為任一能夠發光的指示燈，例如：二極體等。

本公開提供的終端的測試裝置，通過測試裝置上的usb接口、otg模塊和第三卡座，可以使測試人員將測試裝置的usb接口插入終端的接口後，即可對終端的otg功能進行測試，不需要再單獨準備otg轉接線和otg工具，提高了測試效率，減少了測試時間，進而降低了測試成本。

繼續參照圖2，以第三卡座j2、usb接口j4、otg模塊u1為例，otg模塊u1分別與usb接口j4和第三卡座j2電連接，在usb接口j4插入終端的usb接口時，otg模塊u1根據終端的讀寫指令，向安裝在第三卡座j2上的tf卡執行讀寫操作。

圖8是根據一示例性實施例示出的一種第三卡座j2的電路示意圖。圖9是根據一示例性實施例示出的一種usb接口j4的電路示意圖。圖10是根據一示例性實施例示出的一種otg模塊u1的電路示意圖。圖11是根據一示例性實施例示出的一種指示燈d1的電路示意圖。如圖8至圖11所示，上述第三卡座j2的電路圖可以如圖8所示。上述usb接口j4的電路圖可以如圖9所示。上述otg模塊u1的電路圖可以如圖10所示。當上述指示燈d1為二極體時，上述指示燈d1的電路圖可以如圖11所示。

其中，圖8與圖10中引腳標籤相同的引腳電連接。具體地，j2的引腳1與u1的引腳19電連接，j2的引腳2與u1的引腳18電連接，j2的引腳3與u1的引腳17電連接，j2的引腳5與u1的引腳13電連接，j2的引腳7與u1的引腳12電連接，j2的引腳8與u1的引腳11電連接，j2的引腳9與u1的引腳9電連接。圖9與圖10中引腳標籤相同的引腳電連接。具體地，j4的引腳3與u1的引腳4電連接，j4的引腳4與u1的引腳3電連接。圖11與圖10中引腳標籤相同的引腳電連接。具體地，d1可以與u1的引腳20電連接。

繼續參照圖2，進一步地，在上述實施例的基礎上，上述pcb上的usb接口設置有至少一個第三測試點，該至少一個第三測試點與終端的usb接口中的pin針一一對應。也就是說，終端的usb接口有幾個pin針，就有幾個第三測試點。這樣，在測試裝置的usb接口插入終端的usb接口時，終端的usb接口中的pin針與測試裝置的usb接口電連接，並與usb接口的至少一個第三測試點連通。因此，通過該至少一個第三測試點，可以測試終端的usb接口的pin針是否損壞(例如：塌陷或折損)。

繼續以測試裝置包括usb接口j4為例，當上述usb接口j4的電路圖如圖9所示時，說明usb接口j4對應的終端的usb接口的電路圖也如圖9所示。因此，上述usb接口j4的至少一個第三測試點可以如圖2所示。即終端的usb接口的每個引腳(即pin針)對應一個第三測試點。

其中，本實施例不限定測試人員通過第三測試點測試終端的usb接口的pin針是否損壞的方式。例如，測試人員可以在終端關機時，使用萬用表檢測每個第三測試點對地電阻值。然後，測試人員可以根據每個第三測試點對地電阻值與該第三測試點的標準取值的差值，來判定每個第三測試點對應的終端的usb接口的pin針是否損壞。當某一第三測試點對應的差值大於第三測試點對應的預設閾值時，或者，無法檢測到某一第三測試點對地電阻值時，可以確定該第三測試點對應的終端的usb接口的pin針損壞。上述所說的每個第三測試點的標準取值可以為同型號的終端的usb接口的pin針在未損壞時，測試人員在該第三測試點檢測到的有效電阻值。其中，上述預設閾值可以根據終端的型號確定。

與相關技術中，測試人員需要將終端拆卸打開，以從終端的主板上取下終端的終端的usb接口後，再檢測終端的usb接口的pin針對地電阻值與標準取值的差值，來判定終端的usb接口的pin針是否損壞相比，本實施例的方法，可以提高檢測終端的usb接口的pin針是否損壞的效率，進一步地減少了測試時間，降低了測試成本。進一步地，通過在終端關機狀態下測試終端的usb接口的pin針的方式，能夠避免在檢測pin針過程中，因pin針損壞導致短路，燒毀終端主板的情況。

本公開提供的終端的測試裝置，在將測試裝置的usb接口插入終端的usb接口時，可以通過檢測測試裝置上的usb接口上的第三測試點，來確定終端的usb接口的pin針是否損壞，提高檢測終端的usb接口的pin針是否損壞的效率，進一步地減少了測試時間，降低了測試成本。

需要說明的是，本申請圖2和圖3所提供的的測試裝置僅是一種示意，本申請在具體實現時，測試裝置的結構以及各個部件在pcb上的布局並以為限。但是，在採用圖2和圖3所示的結構時，測試裝置的結構較小，成本較低。

本領域技術人員在考慮說明書及實踐這裡公開的公開後，將容易想到本公開的其它實施方案。本申請旨在涵蓋本公開的任何變型、用途或者適應性變化，這些變型、用途或者適應性變化遵循本公開的一般性原理並包括本公開未公開的本技術領域中的公知常識或慣用技術手段。說明書和實施例僅被視為示例性的，本公開的真正範圍和精神由下面的權利要求書指出。

應當理解的是，本公開並不局限於上面已經描述並在附圖中示出的精確結構，並且可以在不脫離其範圍進行各種修改和改變。本公開的範圍僅由所附的權利要求書來限制。