測杆的製作方法

2023-12-01 03:12:06 2

專利名稱：測杆的製作方法
技術領域：
本發明涉及測杆，尤其涉及用於雷射水平測量或光學或自動水平測量系統中的測
杆。本發明的測杆尤其但是不排除地適合於測量底腳的深度、挖掘溝槽、大規模挖掘工地
地基、作為下降臺階規(st印-downgauge)用於砌塊牆和砌磚體、檢驗地面水平和天花板高 度、窗戶和門的高度、屋頂水平或者任何其他需要精確水平的應用。
背景技術：
在雷射水平測量技術中，雷射水平測量單元通常建立在位於水平測量站的三腳架 上，其使得建築工地中所有需要水平測量的點能夠被清晰地觀察到。然後觀察平面的相對 高度根據已知的基準水平確定。然後測杆可以垂直地保持在工地的特定位置，而與測杆相 交的可見雷射線從測杆上的分度標尺上提供讀數，這能夠讓測杆把持者讀取該測量值。通 常，木頭的細長長度代替分度的測杆使用，而雷射束在測杆上的交叉線用鉛筆或類似物標 記。如果同一測杆用於在工地上不同位置處進行多次測量的話，則在測杆上將出現許多鉛 筆或筆標記，而在這種情況下，要確保正確的水平被建立就變得困難。 雷射水平測量單元也可以與雷射接收器或檢測器一起使用，後者經由具有指示器 的可滑動的夾子而可鬆開地夾持在分度測杆上，該夾子可以鬆開並沿著測杆滑動，以調整 雷射檢測器的位置，直至檢測器檢測到雷射束，在該位置，指示器指示測杆上的測量值。這 樣使用雷射檢測器特別地笨拙，且不保證獲得正確的讀數。每次移動雷射檢測器時，存在移 動過多、過少或方向不對的可能。 使用通常的測杆，確定地面等相對於基準面多高或多低的方法是或者如上所述向 上或向下移動測杆上的雷射檢測器，或者如果地面太低的話將測杆提離地面並估計高度。 或者，如果地面太高的話，測杆可能被傾斜，直至雷射檢測器接收到雷射束並對高度進行了 估計。這些方法顯然是不精確的。 在例如定鏡水準儀的光學水平儀與可安裝到測杆上以沿其運動的指示器組合使 用時，會出現與上述這些問題類似的問題。

發明內容
本發明旨在提供一種測杆，其可以與雷射水平測量或光學水平測量系統一起使 用，以在建築物工地或任何其他水平測量應用中建立正確的水平。本發明的其他目的和優 點將從下面的描述中變得顯而易見。 因此一方面，本發明提供一種與具有水平限定設備和目標體的水平測量系統一起 使用的測杆，所述測杆包括上部，和下伸展部，該上部具有第一細長元件和可相對於所述第 一細長元件伸展和收縮的第二細長元件；用於選擇性地將所述第一元件鎖定到所述第二元 件上的裝置；所述可見指示器適於沿著所述第一元件定位並在一個位置固定在第一元件上 從而限定基準水平，在使用中，在該位置處所述可見指示器與通過所述水平限定設備限定 的基準平面對齊；分度標尺，該分度標尺在所述第一元件上並沿第一元件縱向延伸；指示
5裝置，該指示裝置可與所述第二元件一起運動並適於與所述分度標尺協作，由此，當所述第 二細長元件相對於所述第一細長元件伸展或收縮時，在所述分度標尺上提供水平高於或低 於所述基準水平的水平的測量值，該下伸展部可從所述上部延伸並可選擇性地鎖定在所述 上部上。 最優選地，提供當第二元件沒有鎖定到第一元件上時，用於相對於第一元件推動 所述第二細長元件朝向伸展位置的裝置。該推動裝置可以包括彈性裝置，例如彈簧，合適 地，壓縮彈簧。 優選地，第一和第二元件互相可伸縮地接合。優選地，第二元件伸展進入第一元件 中，並可以相對於第一元件可伸縮地運動，從而從所述第一元件伸展並可收縮到所述第一 元件內。 彈簧或其他彈性裝置適於設置在第一和第二元件之間。彈簧或其他彈性裝置適於 位於並捕獲在第一元件內，在第一元件和第二元件的相鄰端之間。當第一元件收縮在第二 元件內時，彈簧或其他彈性裝置因此彈性地壓縮。合適地，彈簧或其他彈性裝置連接到第一 元件的端部和第二元件的端部。 優選地，指示裝置包括在第二元件上的指示器或標記，該指示器或標記適於與分 度標尺協作以指示第二元件相對於第一元件的伸展或收縮。合適地，分度標尺包括線性刻 度，指示器或標記安裝成與第二元件一起運動。優選地，細長槽設置在第一元件上並縱向延 伸，鄰近並基本平行於分度標尺，指示器或標記通過該槽連接到第二元件上，該指示器或標 記可與第二元件一起運動。典型地，該分度標尺和槽提設置在第一元件相對端的中間。
優選地，當所述目標體與基準平面對齊時，第一元件和第二元件適於沿著分度標 尺相互運動到指示裝置位於中心或零位的位置，並且在使用時，當第二元件相對於第一元 件伸展或收縮時，指示裝置從中心或零位沿著分度標尺在相反方向上移動，以提供自所述 中心或零位的測量值。 該分度標尺可以包括一對在中心或零位上方和下方延伸的標尺。所述對的標尺適 於這樣設置以提供讀數，使得讀數在零位上方和下方線性增加。 所述對的各個分度標尺適於被標記，例如通過不同的顏色，從而易於互相區分。
合適地，下伸展部具有用於指示下伸展部從第二元件的伸展的標尺。該下伸展部 適於可伸縮地接收在第二元件內。合適地，下伸展部包括至少一個可伸展和收縮的細長元 件，該標尺沿著所述至少一個細長元件縱向地延伸。可以提供用於選擇性地鎖定所述至少 一個細長元件的裝置，以使其在自第二元件想要的伸展處(如由在至少一個細長元件上的 標尺所指示的)不相對於所述第二元件運動。該至少一個細長元件可以包括第三元件或可 伸縮地接合的第三元件或第四元件。優選地，在後者的結構中，第三元件適於從第二元件可 伸縮地伸展。然而，下伸展部可以包括任何數量的可伸縮地接合的元件。合適地，在下伸展 部的標尺縱向地延伸並設置在每個元件上，因此每個元件從其相鄰元件的延伸可被指示。
優選地，延伸部還包括可伸展收縮的細長的基腳元件。該基腳元件適於可相對於 第三或第四元件伸展和收縮，並且設置用於指示基腳元件相對於第三或第四元件的伸展的 裝置。合適地，還提供用於選擇性地鎖定基腳元件在想要的延伸位置處(如由指示裝置所 指示的)的裝置。 優選地，基腳元件伸展進入第三或第四元件內，並可以相對於其可伸縮地運動。
合適地，各個鎖定裝置包括鎖定夾子或螺釘以互相鎖定各個元件。鎖定夾子或螺釘可以安裝在一個元件上並延伸以與另一元件接合，以互相鎖定元件。 優選地，用於指示基腳元件相對於第二元件延伸的裝置包括刻度尺或標尺，該刻度尺或標尺設置在基腳元件上並沿著基腳元件延伸，並與從其延伸的元件協作以提供基腳元件伸展的指示。刻度尺或標尺可包括特定的標記，例如磚塊或塊體的高度。相應的刻度尺或標尺可以設置在第四元件的兩個或更多個面上，每個面具有不同的標記以代表不同的磚塊或塊體高度。 水平測量系統可以包括雷射水平測量系統或光學水平測量系統中的一個，並且目標體分別包括雷射檢測器或可見標記。 對於包括雷射水平測量系統的水平測量系統，該雷射水平測量系統包括雷射檢測器，本發明提供測杆，該測杆包括上部，和下伸展部，該上部具有第一細長元件和可相對於所述第一細長元件伸展和收縮的第二細長元件；用於選擇性地將所述第一元件鎖定到所述第二元件上的裝置；所述雷射檢測器適於沿著所述第一元件定位並在一個位置固定在第一元件上以限定基準水平，在使用中，在該位置處所述雷射檢測器與所述水平測量系統的雷射束對齊；分度標尺，該分度標尺在所述第一元件上並沿第一元件縱向延伸；指示裝置，該指示裝置可與所述第二元件一起運動並適於與所述分度標尺協作，由此，當所述第二細長元件相對於所述第一細長元件伸展或收縮時，在所述分度標尺上提供水平高於或低於所述基準水平的水平的測量值，該下伸展部可從所述上部延伸並可選擇性地鎖定在所述上部上。 合適的，當雷射檢測器與所述雷射束對齊時，第一和第二元件適於沿著分度標尺相互運動到所述指示裝置位於中心或零位的位置，並且在使用時，當第二元件相對於第一元件伸展或收縮時，指示裝置從中心或零位沿著分度標尺在相反方向上移動，以提供自所述中心或零位的所述測量值。 另一方面，本發明提供測杆，包括上部，和下伸展部，該上部具有第一細長元件和可從所述第一細長元件的下端伸展和可收縮到所述第一細長元件下端內的第二細長元件；用於選擇性地將所述第一元件鎖定到所述第二元件上的裝置；在所述第一元件上並沿第一元件縱向延伸的分度標尺；指示裝置，該指示裝置可與所述第二元件一起運動並適於與所述分度標尺協作，由此，當所述第二細長元件相對於所述第一細長元件伸展或收縮時，在所述分度標尺上提供高於或低於基準水平的水平的測量值，該下伸展部可從所述上部延伸並可選擇性地鎖定在所述上部上。 合適地，提供當第二元件沒有通過鎖定裝置鎖定到第一元件上時，用於相對於第一元件推動第二細長元件朝向伸展位置的裝置。第一元件和第二元件適於互相可伸縮地接合，且推動裝置包括在第一元件和第二元件之間的彈簧。第二元件適於從第一元件伸展並收縮到第一元件內。彈簧適於位於第一元件內，在第一和第二元件的相鄰端之間，當第一元件收縮在第二元件內時，彈簧被彈性地壓縮。


為使本發明更容易理解並取得實際效果，現在將參考附圖，這些附圖示例了本發明的優選實施方式。該實施方式對雷射水平測量系統進行了描述，然而本發明的測杆還可
7以用於定鏡水準儀或其他光學或自動水平儀。在圖中 圖1根據本發明實施方式的測杆在收縮位置的側視圖； 圖2是圖1的測杆的前視圖； 圖3是圖1的測杆在完全伸展位置(以縮小的比例)的側視圖； 圖4是圖1的區域A的放大圖； 圖5是沿著圖4的線B-B的放大截面圖； 圖6是圖1的區域C的放大圖； 圖7是圖1的區域D的放大圖； 圖8是圖2的區域E的放大圖； 圖9是圖1的區域D在測杆伸展位置的放大圖； 圖10示出了測杆初始建立的以備使用的方式； 圖11和12示出圖1的測杆的典型應用；禾口 圖13示例了根據本發明的測杆的第二實施方式；禾口 圖14從相對側示出了圖13的測杆，倒置示出以用作傳統的測杆。
具體實施例方式
參見附圖，首先是圖1和2，其中示出了根據本發明的測杆IO，其主要用於旋轉雷射水平測量系統中，該測杆IO具有通常的上部ll，該上部包括由諸如鋁的剛性材料形成的外細長空心元件12和可伸縮地接收在該空心元件12中的內空心元件13，為此元件13具有與元件12互補的形狀，並且也是由諸如鋁的剛性材料形成。元件12和13優選是空心的方截面，然而它們可以是任何其他的截面構型。測杆另外包括可以從上部ll伸展的下伸展部，該下部包括可從上部的元件13伸縮地伸展的中間第三元件14和可從該中間元件14伸縮地伸展的下伸展元件或基腳元件15，從而使得測杆10可以從圖1和2的收縮位置伸展到圖3的完整伸展的位置。元件14和15優選也是空心的方橫截面，並由鋁或其他剛性材料形成，儘管它們可以是任何其他的截面構型或材料。 如圖1，更清楚地，如圖4和5所示，上部11的外部元件12設置有縱向延伸的細長槽16，該槽16沿著元件13設置在中間位置，指示器或標記17通過槽16例如通過螺紋連接器連接到內部元件13上，所述螺紋連接器突出通過該槽16，使得指示器或標記17和元件13可相對於元件12移動。外部元件12也設置有線性分度標尺18，該線性分度標尺18平行於槽16並延伸大致與槽16相同的長度且與之橫向對齊，使得指示器或標記17可以指向標尺18上的讀數，從而指示器或標記17沿著槽16的位置能夠在標尺18上讀取。在示例的實施方式中，分度標尺18在指示器17的中心或零位19的相對兩側對稱地延伸200mm，該中心或零位19在槽16縱向的中心位置。該標尺標記用於測量指示器或標記17從零位19開始在相對兩側上增加的距離。然而該標尺18和槽16的長度可以增加或減小。
外部元件12還容納有縱向延伸的壓縮彈簧20，也如圖6所示，該壓縮彈簧20連接並作用在外部元件12的端壁21和相鄰的內部元件13的相對端壁22之間，從而施加彈性力於內部元件13上以當不受壓縮時推動該內部元件13到從外部元件12伸出的位置，並彈性地反向移動內部元件13到外部元件12中。然而內部元件13通過彈簧20保持連接到外部元件12上。
翼形螺釘或其他鎖定螺釘23安裝在元件12的相反側上，從而當翼形或鎖定螺釘23在夾緊方向上旋轉時，其將延伸進入元件12以接合內部元件13，用於鎖定內部元件13，使其不相對於外部元件12運動。翼形或鎖定螺釘23上緊以相對於元件12鎖定元件13，從而允許指示器17鎖定在沿著槽16的任何位置，例如在零位19或者在零位19的任一側上。
與元件13互補的可伸展中間元件14可伸縮地接收在元件13的端部，同時基腳元件15與元件14互補並可伸縮地接收在元件14中，如圖7和8所示。中間元件14設置有刻度尺或標尺24，更清楚地如圖9所示，標尺沿著縱向延伸並與元件13協作，通過與元件13的端部的協作指示第一中間元件14和基腳元件15從元件13的延伸程度。在圖1的位置，標尺24隱藏在元件13後面並處於零位，從而當元件14從元件13延伸出時，標尺24提供對該延伸的測量，例如圖3中的尺寸X。 類似於螺釘23的另一個翼形螺釘或其他鎖定螺釘25設置在元件13上，以使中間元件14能夠鎖定在相對於元件13想要的伸展位置，並通過其上的刻度尺或標尺24指示。
第二可伸展元件或基腳元件15也設置有標尺或校準標記26，其在元件15的三個面上刻出多個塊體、磚塊或預存(presto)磚塊的高度，用於為磚塊或塊體鋪設從而在底腳中形成下沉(st印-down)指示所需的水平。另一翼形螺釘或其他鎖定螺釘27設置在可伸展元件14上，當其上緊時，該鎖定螺釘27將第二可伸展元件15鎖定在相對於可伸展元件14想要的伸展位置。 在工地用於建築物時，標記在建築物平面圖上的用於建築物的地面水平根據降低的水平(R.L.)建立，該降低的水平為建築物建立地面水平、建築物的總高度和其他水平提供基準水平。測量員通常會將R. L.放置在路緣石上，其提供了從其進行測量的水平。例如，如果在路緣石上的R. L.是1245mm，而地面板層R. L.要求是1760mm，那麼用於地面板層的R. L.是在R. L.標記上面515mm處。 通過在元件12的縱向上滑動元件13而調整測杆IO，直至指示器17處於零位19，在該位置，元件13通過翼形螺釘23鎖定。下基腳元件15也完全收縮並通過翼形螺釘27鎖定在位。然後測杆10通過將中間元件14從元件13的端部向外滑出而進行調整，從而中間元件14與縮回的基腳15從元件13伸展總的距離"d"，在本例中在刻度尺24上讀數為515mm處，在該位置處元件14通過翼形螺釘25鎖定，如圖10所示。測杆10的基腳放置在R丄.上，且測杆保持在直立位置。然後旋轉雷射水平儀28建立水準，在水平面上建立旋轉雷射束29，其中該雷射束29與直立的測杆10相交。雷射檢測器30放置在測杆10的元件12上，並沿著其運動或滑動，直至光束29被檢測器30檢測到並對中，如在檢測器30的屏幕上所指示的，以使檢測器30與光束29準確地對齊。然後，該雷射檢測器30被鎖定或夾持到元件12上，這確定基準R. L.。 一旦水平如上所述那樣確定，則中間元件14滑回元件13內到達如在標尺24上所示的零伸展位置。收縮的測杆10的底部現在位於地面板層R. L.，因為它收縮進元件13距離"d"(或者在所述特定例子中為515mm)。然後，使用者可以利用測杆10在位於工地任何地方的固定元件上標記地面板層R. L.，這是通過保持測杆10豎直、並使雷射檢測器30與光束29對齊，且在固定元件上作出標記，其中該固定元件不會運動，例如柵欄柱。每天當雷射28重置時，已經預先確定的該標記用於建立地面水平(或地面R.L.)。現在當相對於基準R.L.的地面水平建立後，可以執行多個功能，並可以進行測量，其中對於測杆IO，不從測杆10的固定位置上移動雷射傳感器30，如同上面所述的。
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例如，如果需要邊挖邊填從而在建築工地上建造厚度為100mm的板層(其中墊層沙厚度為50mm)，則板層要構建在其上的挖掘水平需要是在地面R. L.以下150mm。測杆10的中間元件14從元件13伸出150mm，如在標尺24上所指示的，然後通過翼形螺釘25鎖定在元件13上，如圖11所示。然後，將上部11的兩個元件12和13鎖定在一起的翼形螺釘23鬆開，以允許元件13由於通過彈簧20施加的力被退到元件12外面。然後，測杆10的基腳元件15的底部放置於板層將要形成在其上的地面上，外部元件12縱向調整或相對於內部元件13滑動，直至雷射檢測器30接收到光束29，在該位置，標尺18上的指示器17的讀數將指示地面水平是否太高或太低。例如，如果指示器17如圖11所示在零位19以上，這是由於元件12逆著彈簧20向下推壓以將元件13收縮到元件12中時，標尺18上指示的測量值指示地面水平高出挖掘高度多少。如果指示器17在零位19下側，這發生在元件13在彈簧20作用下進一步向元件12外面伸展的時候，在標尺18上的指示器17的讀數指示地面低於挖掘多少。通過讀取這些測量值，可以精確地告訴挖掘者需要挖掘或填充多少高度，用於為在其上構建的墊層沙和板層建立正確的水平。 為了挖掘底腳，確定底腳在板層R.L.下面的深度。例如對於300mm的邊梁和400mm深的底腳，需要地面R. L.下總共700mm的挖掘。這樣中間元件14設置在從元件13延伸700mm處，如在標尺24上所指示的，並鎖定在位。然後，通過鬆開翼形螺釘23從元件12鬆開元件13，以允許元件12在彈簧20的作用下相對於元件13在相反的方向上滑上滑下。然後測杆通過基腳元件15豎直定位在地面上，與光束29對齊的檢測器30和標尺24上的指示器17的讀數將提供挖掘者是否挖掘得太深或不夠深的測量值，如同參見圖11所述的類似的方式。 對於需要使底腳形成臺階的地方，例如在地面傾斜的地方，如圖12所示，根據所需的砌磚體層數，基腳元件15從元件14滑出到標尺15上的標記。在圖10的實施方式中，元件15滑出三個標記，表示三個砌磚體層。然後元件15通過翼形螺釘27鎖定在位，以將其鎖定在需要的高度，上面相對於圖11所述的過程重複進行以確定底腳水平所需的挖掘或填充。 在上述過程中的每一個中，顯而易見的是，無需移動先前在地面R. L.處建立在正確位置上的雷射檢測器30，而在使用傳統測杆時需要沿著測杆調整檢測器30，這將不可避免地導致誤差。 圖13和14示例了根據本發明的測杆31的可選的實施方式，其類似於圖1至9的實施方式，其中類似的構件採用了類似的附圖標記。然而在該例子中，通過設置在元件13端部的螺釘夾子32，內部元件13可鎖定到外部元件12上，例如使指示器17與標尺18上的零位對齊。該分度標尺18設置有兩個部分33和34，它們在零位19的相對側(即在圖13的上方和下方)對稱地延伸。標尺18的部分33和34可以以相反的顏色設置，以能夠更加容易地區分標尺部分。 圖13和14的測杆31還具有包括三個可伸縮伸展的元件35、36和37的伸展部，其中元件35和36各自具有類似於標尺24的縱向伸展的線性標尺38和39，標尺38指示元件35從元件13的伸展，而標尺39指示元件36從元件35的伸展。在本實施方式中，附加的可伸展元件36提供增加的可伸展長度的測杆，這在某些應用中可能需要。元件37包括基腳元件，並標記以磚塊或塊體高度，如在圖1至9的實施方式中的元件15那樣。
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如圖14所示，測杆31還包括在其後側上的標尺40，其在如圖13所示的測杆31定 向中始自元件12頂部的零位41，並在圖14所示的測杆31定向中始自元件12的底部的零 位41。當元件13、35和36完全伸展時，該標尺40沿著每個元件12、13、35和36以連續的 線性刻度延伸。 標尺31可以以與結合圖10至12所述的方式相同的方式以圖13的定向使用。然 而該測杆31還可以從圖13的位置倒轉並倒轉到圖14的位置，以使其能夠用作傳統的測 杆，其中讀自標尺40的測量值或者在元件12上或者在伸展的元件13、35和36中的一個上， 以提供到零位41的距離。 本發明的測杆允許確定板層自路緣石R.L.的所有測量高度、挖掘和填充高度，以 確定挖掘或填充深度和底腳的深度。地面板層下側的沙子水平的準備可以在辦公室中進行 計算，記錄所有這些尺寸的表格可以提供給工地工頭，工地工頭可以將這些發給混凝土工 和挖掘者，以為建築物進行所需的工地準備。 測杆10和31可以在許多其他應用中使用，例如在鋪設管道、開挖溝渠、檢測在完 工的地面板層中是否有變化、放置混凝土、為溼的區域和車庫板層測量下沉，和為輪廓測量 平面圖準備水準時。然而測杆10和31還可以用於許多其他應用中。 本發明的測杆的元件最好是方形或矩形橫截面的鋁擠出件，然而測杆可以由其他 材料構成。測杆還可以與任何形式的雷射或其他水平儀一起使用，例如光學水平儀，其採用 可見標記，該可見標記可以以類似於設置和定位雷射檢測器30的方式沿著測杆10或31定 位並固定在測杆10或31上。 在整個說明書和權利要求書中採用的術語"包括"用於明確所述特徵、所指整體和
組件的存在，而不排除一個或多個其他特徵、整體、組件或其組合的存在。 在通過本發明示例的實施方式給出上述內容的同時，在其上作出的對於本領域技
術人員來說顯而易見的所有的這些改變和變形都將落入到如在後面的權利要求中限定的
本發明的範圍之內。
1權利要求
與具有水平限定設備和目標體的水平測量系統一起使用的測杆，所述測杆包括上部和下伸展部，該上部具有第一細長元件和相對於所述第一細長元件能夠伸展和收縮的第二細長元件；用於選擇性地將所述第一元件鎖定到所述第二元件上的裝置；所述可見指示器適於沿著所述第一元件定位並在一個位置固定在第一元件上從而限定基準水平，在使用中，在所述位置處所述可見指示器與通過所述水平限定設備限定的基準平面對齊；分度標尺，該分度標尺在所述第一元件上並沿第一元件縱向延伸；指示裝置，該指示裝置能夠與所述第二元件一起運動並適於與所述分度標尺協作，由此，當所述第二細長元件相對於所述第一細長元件伸展或收縮時，在所述分度標尺上提供高於或低於所述基準水平的水平的測量值，該下伸展部能夠從所述上部延伸並可選擇性地鎖定在所述上部上。
2. 根據權利要求1所述的測杆，包括當第二元件沒有通過所述鎖定裝置鎖定到第一元 件上時，用於相對於第一元件推動所述第二細長元件朝向伸展位置的裝置。
3. 根據權利要求2所述的測杆，其中第一元件和第二元件互相可伸縮地接合，並且其 中所述推動裝置包括位於第一元件和第二元件之間的彈簧。
4. 根據權利要求3所述的測杆，其中所述第二元件可從所述第一元件伸展並可收縮到 所述第一元件內。
5. 根據權利要求4所述的測杆，其中所述彈簧位於所述第一元件內，在所述第一元件 和第二元件的鄰近端之間，在所述第一元件收縮到所述第二元件中時，所述彈簧被彈性地 壓縮。
6. 根據權利要求1至5中任一項所述的測杆，其中所述第一元件包括鄰近所述分度標 尺的縱向延伸的槽，並且其中所述指示裝置包括通過所述槽連接到所述第二元件上並與所 述第二元件一起能夠沿著所述槽縱向運動的指示器。
7. 根據在前任一權利要求所述的測杆，其中當所述目標體與所述基準平面對齊時，所 述第一元件和第二元件適於沿著所述分度標尺相互運動到所述指示裝置位於中心或零位 的位置，並且其中使用時，當所述第二元件相對於所述第一元件伸展或收縮時，所述指示裝 置從所述中心或零位沿著所述分度標尺在相反方向上移動，以提供自所述中心或零位的所 述測量值。
8. 根據權利要求7所述的測杆，其中所述分度標尺包括一對在所述中心或零位上方和 下方延伸的標尺，並且其中所述標尺對的所述標尺被標記以提供讀數，所述讀數在所述零 位上方和下方線性增加。
9. 根據權利要求8所述的測杆，其中所述對的所述分度標尺被標記以互相區分開。
10. 根據在前任一權利要求所述的測杆，其中所述下伸展部包括標尺，該標尺用於指示 所述下伸展部從所述第二元件的伸展。
11. 根據權利要求io所述的測杆，其中所述下伸展部能夠可伸縮地接收在所述第二元件的下端內。
12. 根據權利要求11所述的測杆，其中所述下伸展部包括至少一個可伸展和收縮的 細長元件，沿著所述至少一個細長元件縱向地延伸的所述標尺，和用於選擇性地鎖定所述 至少一個細長元件以使其不相對於所述第二元件運動的裝置。
13. 根據權利要求11或12所述的測杆，其中所述下伸展部包括細長的可伸展或收縮的基腳，所述基腳標記有多個磚塊或塊體高度。
14. 根據在前任一權利要求所述的測杆，其中所述第一元件和第二元件和所述下伸展 部在與所述標記或指示器相對的所述測杆的一側上設置有分度標尺，因此所述測杆可以倒 轉使用，從而所述第二元件和伸展部可以從所述第一元件向上伸展。
15. 根據在前任一權利要求所述的測杆，其中所述水平測量系統包括雷射水平測量系 統或光學測量系統中的一個，並且其中所述目標體分別包括雷射檢測器或可見標記。
16. 與包括雷射檢測器的水平測量系統一起使用的測杆，所述測杆包括上部，和下伸展 部，該上部具有第一細長元件和相對於所述第一細長元件能夠伸展和收縮的第二細長元件；用於選擇 性地將所述第一元件鎖定到所述第二元件上的裝置；所述雷射檢測器適於沿著所述第一元 件定位並在一個位置固定在第一元件上以限定基準水平，在使用中，在所述位置處所述激 光檢測器與所述水平測量系統的雷射束對齊；分度標尺，該分度標尺在所述第一元件上並 沿第一元件縱向延伸；指示裝置，該指示裝置可與所述第二元件一起運動並適於與所述分 度標尺協作，由此，當所述第二細長元件相對於所述第一細長元件伸展或收縮時，在所述分 度標尺上提供高於或低於所述基準水平的水平的測量值，該下伸展部能夠從所述上部延伸並可選擇性地鎖定在所述上部上。
17. 根據權利要求16所述的測杆，包括當第二元件沒有鎖定到第一元件上時，用於相 對於第一元件推動所述第二細長元件朝向伸展位置的裝置。
18. 根據權利要求17所述的測杆，其中所述第一元件和第二元件互相可伸縮地接合，並且其中所述推動裝置包括位於第一元件和第二元件之間的彈簧。
19. 根據權利要求18所述的測杆，其中所述第一元件包括鄰近所述分度標尺的縱向延 伸的槽，並且其中所述指示裝置包括通過所述槽連接到所述第二元件上並能夠與所述第二 元件一起沿著所述槽縱向運動的指示器或標記。
20. 根據權利要求16至19中任一項所述的測杆，其中當所述雷射檢測器與所述雷射束 對齊時，所述第一元件和第二元件適於沿著所述分度標尺相互運動到所述指示裝置位於中 心或零位的位置，並且其中使用時，當所述第二元件相對於所述第一元件伸展或收縮時，所 述指示裝置從所述中心或零位沿著所述分度標尺在相反方向上移動，以提供自所述中心或 零位的所述測量值。
21. 包括上部和下伸展部的測杆，該上部具有第一細長元件和能夠從所述第一細長元 件的下端伸展和能夠收縮到所述第一細長元件下端內的第二細長元件；用於選擇性地將所 述第一元件鎖定到所述第二元件上的裝置；在所述第一元件上並沿第一元件縱向延伸的分 度標尺；指示裝置，該指示裝置能夠與所述第二元件一起運動並適於與所述分度標尺協作， 由此，當所述第二細長元件相對於所述第一細長元件伸展或收縮時，在所述分度標尺上提 供高於或低於基準水平的水平的測量值，該下伸展部能夠從所述上部延伸並可選擇性地鎖 定在所述上部上。
22. 根據權利要求21所述的測杆，包括當第二元件沒有通過所述鎖定裝置鎖定到第一 元件上時，用於相對於第一元件推動所述第二細長元件朝向伸展位置的裝置。
23. 根據權利要求23所述的測杆，其中所述第一元件和第二元件互相可伸縮地接合， 並且其中所述推動裝置包括位於第一元件和第二元件之間的彈簧。
24. 根據權利要求23所述的測杆，其中所述第二元件能夠從所述第一元件伸展並能夠 收縮到所述第一元件內。
25. 根據權利要求24所述的測杆，其中所述彈簧位於所述第一元件內，在所述第一元 件和第二元件的鄰近端之間，在所述第一元件收縮到所述第二元件時，所述彈簧被彈性地 壓縮。
26. 根據權利要求21至25中任一項所述的測杆，其中所述第一元件包括鄰近所述分度 標尺的縱向延伸的槽，並且其中所述指示裝置包括通過所述槽連接到所述第二元件上並與 所述第二元件一起能夠沿著所述槽縱向運動的指示器。
全文摘要
測杆(10)，具有上部(11)，和在上部的下端並可從其延伸的伸展部(14、15)，該上部(11)包括第一細長元件(12)，該第一細長元件(12)可以在沿其自身的固定位置攜帶雷射水平測量系統的雷射檢測器或者光學測量系統的可見標記，和第二細長元件(13)，該第二細長元件(13)相對於所述第一元件(12)可伸縮地伸展和收縮，在第一元件(12)上的分度標尺(18)和在第二元件上的指示器(17)，該指示器(17)指示第二元件(13)相對於第一元件(12)的伸展或收縮，用於將第二元件(13)從第一元件(11)向外推動的彈簧(20)，第二元件(13)選擇性地鎖定到第一元件上。
文檔編號G01C15/00GK101743452SQ200880024699
公開日2010年6月16日 申請日期2008年7月30日 優先權日2007年8月6日
發明者B·G·斯特芬森 申請人:斯蒂福考股份有限公司