能夠生成用於掃描測試的測試模式控制信號的集成電路的製作方法

2023-04-26 11:05:41 3

能夠生成用於掃描測試的測試模式控制信號的集成電路的製作方法
【專利摘要】本發明提供能夠生成用於通過(例如集成電路中的)掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的方法和集成電路的各種實施例。該集成電路包括測試圖案檢測塊(202)、計數器電路(204)和控制電路(206)。該測試圖案檢測塊經配置以接收檢測圖案(208)，並基於該檢測圖案檢測對應於測試圖案的移位階段的第一圖案和對應於測試圖案的捕捉階段的第二圖案，並基於該圖案的檢測而生成觸發信號。控制電路基於計數狀態生成並控制測試模式控制信號。計數器電路經配置以基於所檢測的圖案，生成對應於移位階段、捕捉階段和時鐘信號(209)中的一種的一個或更多個計數狀態。
【專利說明】能夠生成用於掃描測試的測試模式控制信號的集成電路

【技術領域】
[0001]本發明涉及集成電路的掃描控制。

【背景技術】
[0002]根據示例方案，所製造的電路被測試，以便驗證所製造電路內的邏輯門的輸入端或輸出端未由於不可預見情況(例如，諸如短路)在操作期間被卡(或保持)在固定值(例如，邏輯O或邏輯I)。為了減輕上述問題，所製造的電路要經受掃描測試。掃描測試在包括組合部件和時序部件的集成電路上執行。時序部件可以包括一個或更多個存儲元件(例如，觸發器)的序列。在掃描測試期間，構成集成電路的時序部件的存儲元件被耦合或連接成掃描鏈，並且測試矢量通過在集成電路上提供的一個或更多個輸入測試引腳傳送到掃描鏈。集成電路被置於評估模式(例如，捕捉階段)，以便更多個一個或更多個存儲元件的一個或更多個輸入和狀態被評估，並且在評估模式中獲得的對應響應矢量通過一個或更多個輸出測試引腳被移出。響應矢量中的比特值與預期的輸出進行比較，以便確定集成電路中的故障狀況。


【發明內容】

[0003]在此公開能夠生成用於通過集成電路中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的若干示例方法和集成電路。該集成電路包括測試圖案檢測塊，計數器電路和控制電路。該測試圖案檢測塊經配置以接收檢測圖案並基於檢測圖案檢測對應於測試圖案的移位階段的第一圖案和對應於測試圖案的捕捉階段的第二圖案。該測試圖案檢測塊還經配置以基於第一和第二圖案中的至少一個圖案的檢測生成觸發信號。計數器電路經配置以基於所檢測的圖案生成(I)對應於移位階段和時鐘信號的一個或更多個計數狀態，和(2)對應於捕捉階段和時鐘信號的一個或更多個計數狀態。控制電路與測試圖案檢測塊耦合，並經配置以接收觸發信號並基於對應於移位階段的一個或更多個計數狀態和對應於捕捉階段的一個或更多個計數狀態生成和控制測試模式控制信號。
[0004]該控制電路經進一步配置以執行(I)和(2)中的至少一個，其中(I)如果計數狀態是移位開始計數狀態和捕捉結束計數狀態中的一個，則斷言測試模式控制信號，以及(2)如果計數狀態是捕捉開始計數狀態和移位結束計數狀態中的一個，則去斷言該測試模式控制信號。該計數器電路包括寄存器塊和一個或更多個計數器。該寄存器塊經配置以存儲移位開始計數狀態、捕捉開始計數狀態、移位結束計數狀態和捕捉結束計數狀態中的至少一個。與寄存器塊耦合的一個或更多個計數器經配置以生成對應於移位階段的從移位開始計數狀態到移位結束計數狀態的一個或更多個計數狀態，並生成對應於捕捉階段的從捕捉開始計數狀態到捕捉結束計數狀態的一個或更多個計數狀態。
[0005]此外，在一個實施例中，提供能夠生成用於通過集成電路中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的集成電路。集成電路包括測試圖案檢測塊，計數器電路和控制電路。測試圖案檢測塊經配置以接收檢測圖案，基於該檢測圖案檢測對應於該測試圖案的第一移位階段的圖案，並基於該測試圖案生成觸發信號。計數器電路包括圖案計數器和一個或更多個計數器。圖案計數器經配置在檢測到第一移位階段時被觸發，並生成一個或更多個計數狀態，所述一個或更多個計數狀態對應於從對應於第一移位階段和隨後移位階段中的一個的移位開始計數狀態到對應於捕捉階段的捕捉結束計數狀態之間的預定數目的轉換。該一個或更多個計數器經配置以生成對應於隨後移位階段和捕捉階段的計數狀態。控制電路與計數器電路和測試圖案檢測塊耦合，並經配置以接收觸發信號和基於對應於第一移位階段的一個或更多個計數狀態和對應於一個或更多個隨後移位階段和一個或更多個捕捉階段的計數狀態，生成和控制測試模式控制信號。
[0006]此外，在一個實施例中，提供生成用於通過集成電路中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的方法。該方法包括檢測對應於測試圖案的移位階段的第一圖案或對應於移位階段的第一圖案和對應於測試圖案的捕捉階段的第二圖案中的一個圖案。對應於移位階段和捕捉階段中的每個的一個或更多個計數狀態在圖案檢測時通過計數器電路生成。對應於移位階段的一個或更多個計數狀態包括移位開始計數狀態與移位結束計數狀態之間的計數狀態。該移位開始計數狀態與對應於移位階段的時鐘信號的周期數關聯。對應於捕捉階段的一個或更多個計數狀態包括在捕捉開始計數狀態與捕捉結束計數狀態之間的計數狀態，該捕捉開始計數狀態與對應於捕捉階段的時鐘信號的周期數關聯。該測試模式控制信號基於對應於移位階段的一個或更多個計數狀態和對應於捕捉階段的一個或更多個計數狀態生成並隨後被控制。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]圖1A示出根據一個實施例的用於實施所公開的技術的各個實施例的示例環境的框圖；
[0008]圖1B不出根據一個實施例的時鐘信號、測試模式控制信號、掃描數據輸入信號和掃描數據輸出信號的示例波形；
[0009]圖2示出根據一個實施例的能夠生成用於通過集成電路中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的示例集成電路；
[0010]圖3A示出根據一個實施例的能夠生成用於通過集成電路中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的第一示例集成電路；
[0011]圖3B示出根據一個實施例的圖3A的集成電路操作的過程流的示例表示；
[0012]圖4A示出根據一個實施例的能夠生成用於通過集成電路中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的第二示例集成電路；
[0013]圖4B示出根據一個實施例的圖4A的集成電路操作的過程流的示例表示；
[0014]圖5A示出根據一個實施例的能夠生成用於通過集成電路中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的第三示例集成電路；
[0015]圖5B示出根據一個實施例的圖5A的集成電路操作的過程流的示例表示；
[0016]圖6示出根據另一個實施例的圖5A的集成電路操作的過程流的示例表示；
[0017]圖7A示出根據一個實施例的示例集成電路，其包括能夠在掃描測試期間控制移位階段的一組觸發器；
[0018]圖7B示出根據一個實施例的圖7A的集成電路操作的過程流的示例表示；以及
[0019]圖8示出根據一個實施例的生成用於通過集成電路中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的方法的流程圖。
[0020]除非特別聲明，在描述中所涉及的附圖不被理解為按比例繪製，並且這類附圖本質上僅是示例。

【具體實施方式】
[0021]根據示例方案，在集成電路掃描測試期間，一個或更多個測試矢量被發送到與該集成電路關聯的掃描鏈中。一個或更多個測試矢量通過一組引腳從測試儀以一個或更多個測試圖案的形式被發送。該組引腳包括掃描數據輸入引腳、掃描數據輸出引腳、時鐘信號引腳和掃描使能引腳。該掃描數據輸入引腳和掃描數據輸出引腳同時起作用，使得在對應於前面圖案的掃描數據輸出信號從掃描鏈被送出時，對應於新測試圖案的掃描數據輸入信號被發送到該掃描鏈中。該掃描使引腳能夠在掃描測試期間提供移位階段(在該階段掃描使引腳能夠被斷言)與捕捉階段(在該階段掃描使引腳能夠被去斷言)之間的區別。在移位階段期間，以測試圖案形式的掃描數據通過使用時鐘信號被移入和移出掃描鏈，以及在捕捉階段期間，集成電路對掃描數據的響應通過使用功能時鐘在該掃描鏈中被捕捉。對於掃描鏈中的給定數量的存儲元件和時鐘信號的給定時鐘序列，測試模式使能信號(例如，與掃描使能引腳關聯的掃描使能信號)與時鐘信號的時鐘周期數量具有固定的關係。因此，掃描使能引腳的斷言和去斷言對於給定類型的給定自動測試圖案生成(ATPG)運行中的各種圖案是規範的。
[0022]結果，來自測試儀和掃描使能引腳的每個周期基礎上的測試模式控制信號的動態控制是無關緊要的。在減少的引腳數量測試中，其中集成電路必須通過一小組引腳測試，該集成電路向測試儀提供受限的引腳，並且一些功能輸入端和輸出端被呈現為不可用。而且，根據測試圖案，在移位操作結束後和在捕捉操作期間，掃描數據輸入引腳和掃描數據輸出引腳的狀態保持不變，或還可以在移位操作結束與捕捉操作結束期間改變。此外，專用裝置級引腳(例如掃描使能引腳)在掃描測試期間必須從測試儀驅動(例如，受控)，從而導致資源不必要的消耗。而且，測試儀的輸入/輸出信道速率可以限制掃描使能引腳可以被控制的速度，以及測試圖案可以被移入和移出集成電路的速度。在基於事件驅動的直接存儲器訪問測試儀架構的情況下，移位階段(例如，掃描數據使用時鐘信號移入和移出掃描鏈)與捕捉階段(例如，使用功能時鐘在掃描鏈中捕捉的集成電路響應)之間的切換產生移入掃描鏈的最後數據與測試模式控制信號的去斷言之間以及捕捉時鐘的最後應用與測試模式控制信號的斷言之間的死循環。基於事件驅動的直接存儲器訪問測試儀架構利用附加循環以從移位階段切換到捕捉階段以及同樣從捕捉階段切換到移位階段。不過，所公開的技術的各個實施例提供能夠(I)生成用於通過集成電路中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號和(2)克服這些和其他障礙並提供附加好處的方法和集成電路。
[0023]下列描述和附圖呈現在各個不同實施例中可以實踐或以其他方式實施的所公開的技術。不過，需要指出，所公開的技術的範圍並不局限於本文公開的任一個實施例或所有實施例。實際上，可以去除、替換、補充或改變所公開的實施例的裝置、特徵、操作、過程、特性或其它特質中的一個或更多個。
[0024]圖1A示出用於實施各個示例實施例的環境。如圖1A所示，測試儀(102)通過多個通信路徑(例如，(112)、(114)、(116)、(118)和(120))與集成電路(104)關聯或與其耦合。需要指出，集成電路(104)可以是片上系統(SoC)。集成電路(104)包括解壓縮器
(106)、掃描鏈(108)和壓縮器(110)。掃描鏈(108)包括一個或更多個存儲元件(例如，觸發器)。在移入一個或更多個測試矢量和移出一個或更多個響應矢量期間，該一個或更多個存儲元件可以耦合或連接為移位寄存器。在掃描測試期間，測試儀(102)在輸入路徑
(112)上以壓縮形式向解壓縮器(106)提供一個或更多個測試矢量，並在輸出路徑(114)上從壓縮器(110)接收壓縮形式的一個或更多個響應矢量，所述一個或更多個響應矢量表示捕捉的掃描測試結果。所述一個或更多個響應矢量包含在測試矢量移入完成時或之後(例如，在捕捉階段期間)的待測試集成電路(104)的組合邏輯的評估結果(例如，響應位)。測試儀(102)可以將一個或更多個響應矢量中的比特值與一個或更多個期望值比較，以便確定集成電路(104)中的故障。測試儀(102)在路徑(116)上向集成電路(104)提供測試模式控制信號和通過路徑(118)向集成電路(104)提供一個或更多個時鐘，在掃描測試期間，該一個或更多個時鐘協調集成電路(104)的操作。測試儀(102)還可以提供配置數據以指定一個或更多個時鐘的配置，其中所述配置數據可用於通過輸出路徑(120)在集成電路(104)中生成控制信號。
[0025]解壓縮器(106)經配置解壓縮在路徑(112)上接收的一個或更多個測試矢量並以未壓縮形式向掃描鏈(108)提供一個或更多個測試矢量。壓縮器(110)經配置以壓縮響應矢量並通過輸出路徑(120)向測試儀(102)提供相應壓縮的一個或更多個響應矢量。解壓縮器(106)和壓縮器(110)可基於組合和/或時序邏輯電路使用各種方案進行實施。集成電路(104)缺乏解壓縮器(106)和壓縮器(110)，並且測試儀(102)經配置直接驅動掃描鏈(108)。集成電路(104)可以包含各種附加元件(例如，諸如組合邏輯元件和相應電路系統(例如，測試控制器))以便在內部生成可在掃描測試期間涉及的操作協調期間使用的各種時鐘和控制信號。
[0026]時鐘信號可以基於從測試儀(102)接收的時鐘信號生成。需要指出，路徑(112)和(120)可以包含/表示多個信號線(例如，多個信號線的每個信號線在一定時間傳送單比特位)，因此，集成電路(104)可以包含連接到多個信號線或與其耦合的對應數量的引腳。在示例方案中，一個或更多個測試圖案從測試儀(102)通過一組引腳被施加到集成電路(104)中，該組引腳可以被實施以使集成電路(104)經受掃描測試。該組引腳包括掃描數據輸入引腳、掃描數據輸出引腳和時鐘信號引腳。該組引腳可用於生成和傳送控制信號，該控制信號可在掃描測試期間涉及的操作協調期間使用。在掃描測試期間生成的各種控制信號在圖1B中示出。
[0027]圖1B示出根據一個實施例的時鐘信號(122)、測試模式控制信號(124)、掃描數據輸入信號(126)和掃描數據輸出信號(128)的不例波形。掃描數據輸入信號(126)和掃描數據輸出信號(128)被同時實施，以確保在對應於前面測試圖案的掃描數據輸出信號(128)被移出掃描鏈(108)時，新測試圖案同時被移入掃描鏈(108)。需要指出，術語「測試模式控制信號」被解釋為是指用於在掃描測試期間控制測試圖案的移位階段和捕捉階段通過所公開的技術的集成電路在內部生成的信號，和/或用於配置各種內部寄存器的信號，所述各種內部寄存器控制時鐘和/或用於控制掃描鏈的輸入和輸出以用於掃描鏈的選擇性操作。測試模式控制信號(124)的示例可以包括，但不限於，用於在掃描測試期間控制測試圖案的移位階段和捕捉階段的掃描使能信號，以及加載使能信號，其用於配置用於控制每個掃描鏈的時鐘和/或控制每個掃描鏈的輸入和輸出的各種內部寄存器，以用於掃描鏈(108)的選擇性操作從而改善可控性和啟用觀測。掃描使能信號在移位階段和捕捉階段期間具有用於每個測試圖案的固定行為，以及加載使能信號在掃描測試期間在向掃描鏈(108)施加一個或更多個測試圖案期間，啟用內部寄存器的加載用於各種控制，並作為移位操作的一部分為一個或更多個測試圖案操作固定周期數。測試模式控制信號(124)提供集成電路(例如，集成電路(104))中移位階段(例如，在其期間測試模式控制信號(124)被斷言的移位階段(130)和(134))與捕捉階段(例如，在其期間測試模式控制信號(124)被去斷言的(132))之間的區別，並且還幫助控制施加斷言測試模式控制信號或去斷言測試模式控制到掃描鏈(108)。
[0028]在移位階段期間(例如，移位階段(130)和(134))，測試圖案被加載到掃描鏈
(108)中，並且測試響應從掃描鏈(108)被卸載。在構成掃描鏈(108)的存儲元件的正常操作模式期間，通過響應於在移位階段期間加載的測試圖案的掃描鏈(108)生成的一個或更多個響應矢量在捕捉階段(例如，(132))期間被捕捉。如圖1B所示，對於掃描鏈中的給定數量的觸發器和給定的測試圖案，在掃描使能信號上的測試模式控制信號(124)與時鐘信號(122)的時鐘周期數具有固定的關係。雖然在圖1B中示出波形表示一個捕捉時鐘(例如，在捕捉階段(132)中)，多個捕捉時鐘可以被包括用於各種測試圖案類型，例如堵塞故障ATPG圖案可以包括一個捕捉時鐘，轉換故障ATPG圖案可以包括兩個捕捉時鐘，以及時序ATPG圖案可以包括更多個捕捉時鐘。測試模式控制信號(124)還可以改變例如在推出捕捉轉換故障ATPG圖案的兩個捕捉時鐘之前的狀態，在第一捕捉時鐘與第二捕捉時鐘之間的狀態，以及以各種其他方式改變用於各種測試圖案類型的連續捕捉時鐘之間的狀態(即，可以被去斷目)。
[0029]圖2示出根據一個實施例的能夠生成用於通過集成電路(200)中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的第一示例集成電路(200)。集成電路(200)包括測試圖案檢測塊(202)、計數器電路(204)和控制電路(206)。測試圖案檢測塊(202)經配置以接收檢測圖案(208)。控制電路(206)和計數器電路(204)通過時鐘信號(209)操作。在移位階段和捕捉階段期間，從測試儀(例如，圖1A的測試儀(102))接收時鐘信號(209)(例如，圖1B的時鐘信號(122))。時鐘信號(209)在捕捉階段期間，通過使用例如鎖相環(例如，在集成電路(200)中或除此以外在與集成電路(200)通信耦合的裝置裝置中)在內部生成。檢測圖案(208)包括表示測試圖案的移位階段的開始和/或測試圖案的捕捉階段的開始的信息。例如，圖案8』 hAA可以指示移位階段的開始，以及圖案8』 h55可以指示捕捉階段的開始。測試圖案檢測塊(202)經配置以基於檢測圖案(208)，檢測對應於測試圖案的移位階段的開始的第一圖案(例如，8』hAA)和對應於測試圖案的捕捉階段的開始的第二圖案(例如，8』h55)。該測試圖案包括測試矢量和指示時鐘信號(209)的時鐘周期數的信息，所述時鐘信號對應於掃描測試期間的每個移位階段和每個捕捉階段。測試圖案檢測塊(202)基於在集成電路(200)的掃描數據輸入引腳的比特組合，檢測第一圖案和第二圖案。
[0030]測試圖案檢測塊(202)可以利用單檢測圖案來檢測整個測試圖案集的移位階段的開始和捕捉階段的開始。測試圖案(208)可以通過可變數目的輸入信道被發送到測試圖案檢測塊(202)。例如，圖案AA可以作為01010101通過例如一個周期八比特總線、兩個周期四比特總線(例如，在一個周期中的0101、以及在隨後的周期中的0101)、四個周期兩比特總線(例如，四個周期中的每個周期中的01)以及八個周期一比特總線發送。
[0031]在一個實施例中，如本文所述，測試圖案檢測塊(202)、計數器電路(204)和控制電路(206)中的一個或更多個可以體現為專門經配置執行若干操作或其組合的專用集成電路(ASIC)或現場可編程門陣列(FPGA)。在一個實施例中，測試圖案檢測塊(202)、計數器電路(204)和控制電路(206)中的一個或更多個還可以包括存儲器裝置(例如，高速緩存器)、計時裝置(例如，實時時鐘(RTC))、可配置邏輯塊(CLB)陣列、可編程輸入/輸出塊(1B)陣列和/或附加電路系統或數據傳輸信道。CLB和1B可以通過可編程互連結構彼此互連或耦合。
[0032]在一個實施例中，測試圖案檢測塊(202)、計數器電路(204)和控制電路(206)中的一個或更多個可以通過將配置數據流(例如，比特流)加載到與存儲器裝置關聯的內部配置存儲器單元中來進行編程，其中這種配置數據可以包括各種配置的限定。配置數據還可以從外部存儲器(例如，可編程只讀存儲器(PROM))讀取或通過外部裝置寫入到集成電路(200)中。接著，個別存儲器單元的集體狀態確定FPGA的功能。圖2的集成電路(200)的示例電路實施方式在圖3A中示出。
[0033]圖3A示出根據一個實施例的能夠生成用於通過集成電路(300)中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的第一示例集成電路(300)。該測試模式控制信號的示例包括，但不限於，掃描使能信號和加載使能信號。集成電路(300)包括測試圖案檢測塊(302)、計數器電路(304)和控制電路(306)。測試圖案檢測塊(302)、計數器電路(304)和控制電路(306)基本類似於圖2的測試圖案檢測塊(202)、計數器電路(204)和控制電路(206)。測試圖案檢測塊(302)經配置以接收檢測圖案(308)。檢測圖案(308)包括表示測試圖案的移位階段的開始和/或該測試圖案的捕捉階段的開始的信息。測試圖案可以包括測試矢量和指示在掃描測試期間對應於一個或更多個移位階段和一個或更多個捕捉階段的時鐘信號(309)的時鐘周期數的信息，以及指示在掃描測試期間對應於一個或更多個移位階段的時鐘信號(309)的時鐘周期數的信息。
[0034]當測試圖案指示對應於一個或更多個移位階段和一個或更多個捕捉階段的時鐘信號(309)的時鐘周期數時，移位階段和捕捉階段通過掃描使能信號區分。當該測試圖案單獨指示一個或更多個移位階段時，移位階段通過加載使能信號識別。指示一個或更多個捕捉階段和移位階段的測試圖案和單獨指示一個或更多個移位階段的測試圖案通過使用匹配的測試模式控制以優先的次序進行選擇。在移位階段和捕捉階段期間，從測試儀(例如，圖1A的(102))接收時鐘信號(309)(例如，圖1B的時鐘信號(122))。時鐘信號(309)可以在捕捉階段期間，使用例如鎖相環(例如，在集成電路(300)中或以其他方式在與集成電路(300)通信耦合的裝置中)在內部生成。測試圖案檢測塊(302)還經配置以基於檢測圖案(308)，檢測對應於測試圖案的移位階段的開始的第一圖案(例如，8』hAA)和對應於該測試圖案的捕捉階段的開始的第二圖案(例如，8』 h55)。
[0035]測試圖案檢測塊(302)基於在掃描數據輸入引腳的比特組合檢測第一圖案和第二圖案。測試圖案檢測塊(302)包括第一測試圖案塊(310)，其經配置以檢測對應於測試圖案的移位階段的第一圖案，以及第二測試圖案塊(312)，其經配置以檢測對應於該測試圖案的捕捉階段的第二圖案。測試圖案檢測塊(302)經配置以基於第一圖案和第二圖案的檢測生成觸發信號(例如，(314)和(316))。第一測試圖案塊(310)檢測第一圖案(例如，諸如8』hAA)，其指示移位階段的開始並生成觸發信號(314)，以及第二測試圖案塊(312)檢測第二圖案(例如，諸如8』h55)，其指示捕捉階段的開始並生成觸發信號(316)。
[0036]觸發信號(例如，(314)和(316))被傳送到控制電路(306)，其進而通過控制電路(306)觸發計數器電路(304)。計數器電路(304)經配置以基於所檢測的圖案生成一個或更多個計數狀態。計數器電路(304)生成對應於移位階段和時鐘信號(309)的一個或更多個計數狀態，以及對應於捕捉階段和時鐘信號(309)的一個或更多個計數狀態。計數器電路(304)包括寄存器塊(318)、第一計數器(320)和第二計數器(321)。寄存器塊(318)包括經配置以通過時鐘信號(309)和復位信號(319)操作的一個或更多個寄存器。寄存器塊(318)經配置以存儲移位開始計數狀態、捕捉開始計數狀態、移位結束計數狀態和捕捉結束計數狀態中的至少一個。
[0037]移位開始計數狀態與移位結束計數狀態之間的持續時間對應於用於移位階段的測試模式控制信號保持被斷言的持續時間，並且也對應於掃描測試期間移位操作必須被執行的時鐘信號(309)的周期數。該持續時間可以對應於根據持續時間掃描鏈的最大長度。捕捉開始計數狀態與捕捉結束計數狀態之間的持續時間對應於捕捉階段的測試模式控制信號保持被去斷言的持續時間，也對應於掃描測試期間捕捉操作必須被執行的時鐘信號(309)的周期數。集成電路(300)還包括與寄存器塊(318)通信關聯或耦合的測試接口((323))，並且測試接口((323))經配置以控制寄存器塊(318)，並基於測試圖案改變移位開始計數狀態、捕捉開始計數狀態、移位結束計數狀態和捕捉結束計數中的至少一個。測試接口((323))的示例包括，但不限於，聯合測試行動組(JTAG)接口和嵌入式內核測試接口。第一計數器(320)和第二計數器(321)與寄存器塊(318)耦合。測試儀的時鐘信號(309)被第一計數器(320)和第二計數器(321)用於移位和捕捉操作。可供選擇地，測試儀的時鐘信號(309)被用於第一計數器(320)對移位操作計時，以及高速內部生成的時鐘信號(例如，使用鎖相環生成的)被用於第二計數器(321)對捕捉運行計時。
[0038]第一計數器(320)經配置以生成一個或更多個計數狀態，其對應於從移位開始計數狀態到移位結束計數狀態(例如，零計數)的移位階段。第二計數器(321)經配置以生成一個或更多個計數狀態，其對應於從捕捉開始計數狀態到捕捉結束計數狀態(例如，零計數)的捕捉階段。第一計數器(320)和第二計數器(321)可以包括減計數器。減計數器可以包括，但不限於，八比特減計數器。控制電路(306)與測試圖案檢測塊(302)耦合，以便被安置，從而從測試圖案檢測塊(302)接收一個或更多個觸發信號(例如，(314)和(316))。控制電路(306)與計數器電路(304)耦合，使得包括移位結束計數狀態或捕捉結束計數狀態的一個或更多個計數狀態被饋入控制電路(306)，以便觸發控制電路(306)。控制電路(306)包括一個或更多個選擇塊(例如，選擇塊(322)和(324))以及一個或更多個觸發器(例如，D 類觸發器(326)、(328)、(330)和(332))。
[0039]選擇塊的示例包括但不限於多路復用器。一個或更多個選擇塊(例如，(322)和(324))中的每個選擇塊經配置以從測試圖案檢測塊(302)接收觸發信號(例如，(314)和(316))以及從計數器電路(304)接收對應於一個或更多個計數狀態的信號(((315))和((317)))。在一個實施例中，第一選擇塊(322)經配置以接收對應於第一計數器(320)的移位結束計數狀態的信號((315))並在接收到信號((315))時或隨後被去激活，並且第二選擇塊(324)經配置以接收對應於第二計數器(321)的捕捉結束計數狀態的信號((317))並在接收到信號((317))時或隨後被去激活。
[0040]在一個實施例中，每個觸發器(例如，觸發器(326)、(328)、(330)和(332))通過時鐘信號(309)和復位信號(319)操作。在接收到觸發信號(例如，觸發信號(314)和(316))時或隨後，每個選擇塊(例如，選擇塊(322)和(324))觸發一個或更多個觸發器(例如，觸發器(326)、(328)、(330)和(332))，以生成一個或更多個計數使能信號(例如，信號(340)和(342))，以便通過計數器電路(304)觸發一個或更多個計數狀態的生成。控制電路(306)經配置以基於對應於移位階段的一個或更多個計數狀態和對應於捕捉階段的一個或更多個計數狀態，生成和控制測試模式控制信號。如果計數狀態是移位開始計數狀態和捕捉結束計數狀態中的一個，控制電路(306)經配置以執行測試模式控制信號的斷言。
[0041]控制電路(306)經配置以生成使能同步信號(344)，基於該使能同步信號(344)，斷言的測試模式控制信號通過掃描使能生成邏輯生成。如果計數狀態是捕捉開始計數狀態和移位結束計數狀態中的一個，控制電路(306)還經配置以執行測試模式控制信號的去斷言。控制電路(306)經配置以生成使能同步捕捉信號(346)，基於該使能同步捕捉信號(346)，去斷言的測試模式控制信號通過掃描使能生成邏輯生成。
[0042]圖3B示出根據一個實施例的圖3A的集成電路(300)操作的過程流的示例表示。在圖3B中，集成電路(300)的掃描測試的多個狀態由塊(350)-(356)表示。多個操作狀態包括，但不限於，初始化狀態(350)、空閒狀態(352)、移位操作(354)和捕捉操作(356)。在一個實施例中，在初始化狀態(350)期間，集成電路(300)的操作(或掃描測試)被初始化。在空閒狀態(352)期間，在移位階段或捕捉階段的開始之前，在掃描測試中發生一個或更多個等待周期。在測試圖案檢測塊(302)檢測到(例如，請參閱(360))對應於測試圖案(308)的移位階段的第一圖案時或隨後，移位操作開始(例如，請參閱(356))。在移位操作(356)期間，控制電路(306)經配置以生成計數使能信號(340)從而觸發計數器電路(304)，並且還經配置以生成使能同步信號(344)和基於使能同步信號(344)的斷言的測試模式控制信號。在計數器電路(304)被觸發時，計數器電路(304)生成對應於移位階段的一個或更多個計數狀態。需要指出，在通過計數器電路(304)生成的一個或更多個計數狀態的持續時間內，該測試模式控制信號保持斷言。第一計數器(320)在對應於測試圖案(308)的移位階段的圖案的檢測時或隨後被觸發，並且第一計數器(320)開始生成一個或更多個計數狀態(例如，在每個時鐘周期，開始遞減從移位開始計數狀態到移位結束計數狀態的計數狀態)。
[0043]第一計數器(320)改變計數狀態(例如，通過從移位開始計數狀態減計數)直到第一計數器(320)的計數狀態達到移位結束計數狀態(例如，零計數)。在第一計數器(320)的計數狀態達到移位結束計數狀態時或隨後，移位操作(356)結束(如(362)所示)，並且集成電路(300)的掃描測試恢復到空閒狀態(352)。在測試圖案檢測塊(302)檢測到(如(364)所示)對應於測試圖案的捕捉階段的第二圖案時或隨後，在(354)，捕捉開始開始，並且控制電路(306)生成計數使能信號(342)以觸發計數器電路(304)，並且還生成使能同步捕捉信號(346)，以及基於使能同步捕捉信號(346)生成去斷言的測試模式控制信號。在被觸發時或隨後，計數器電路(304)生成對應於捕捉階段的計數狀態。在對應於捕捉階段的一個或更多個計數狀態的持續時間內，該測試模式控制信號保持去斷言。第二計數器(321)被計數使能信號(342)觸發，並且在觸發第二計數器(321)時或隨後，生成一個或更多個計數狀態(例如，在每個時鐘周期，遞減從捕捉開始計數狀態到捕捉結束計數狀態的計數狀態)。
[0044]第二計數器(321)改變其計數狀態(例如，通過從捕捉開始計數狀態減計數)直到第二計數器(321)的計數狀態達到捕捉結束計數狀態(例如，零計數)。在達到捕捉結束計數狀態時或隨後，捕捉操作(354)結束(如(366)所示)，並且集成電路(300)恢復到空閒狀態(352)。在某些實施例中，計數器電路(304)可以包括單個計數器，其用於執行本文參照圖3A描述的第一計數器(320)和第二計數器(321)的單獨或組合功能。
[0045]在某些實施例中，所公開的技術的集成電路可以包括一個或更多個等待計數器，其經配置以在移位階段和捕捉階段之前生成一個或更多個等待周期，以便啟用特定周期數的通道，例如，用於掃描使能信號生成邏輯，使其在後續移位階段開始前穩定，用於內部時鐘控制器邏輯初始化並獲得狀態，在該狀態，內部生成的全速捕捉脈衝在後續捕捉階段開始前是可用的。而且，某些測試圖案可以實施不同數量的全速捕捉脈衝；例如，測試圖案(例如，阻塞故障圖案)可以實施一個全速捕捉脈衝，並且測試圖案(例如，標準轉換延遲故障和路徑延遲故障圖案)可以實施兩個全速捕捉脈衝。後一類的某些測試圖案具有大於兩個的「時序深度」，其中需要多於兩個的全速捕捉脈衝。所公開的技術的集成電路允許提供可變數量的全速捕捉脈衝。在一個實施例中，集成電路包括一個或更多個等待計數器，其經配置以提供固定數量的全速捕捉脈衝。在一個或更多個實施例中，測試圖案檢測塊可以代替等待計數器，以基於圖案檢測值提供可變數量的全速捕捉脈衝。包括等待計數器的示例集成電路在圖4A-4B中描述。
[0046]圖4A示出根據一個實施例的能夠生成用於通過集成電路(400)中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的第二示例集成電路(400)。集成電路(400)包括測試圖案檢測塊(402)、計數器電路(404)和控制電路(406)。測試圖案檢測塊(402)經配置以接收檢測圖案(408)。檢測圖案(408)基本類似於圖3A的檢測圖案(308)。從測試儀(例如，圖1A的測試儀(102))接收(例如，圖1B的)時鐘信號(410)。時鐘信號(410)可以通過使用例如鎖相環(例如，在集成電路(400)中或以其他方式在與集成電路(400)通信耦合的裝置中)在集成電路(300)中在內部生成。測試圖案檢測塊(402)經配置以檢測對應於測試圖案的移位階段的開始的圖案(例如，8』hAA)。該測試圖案基本類似於本文參照圖3A描述的測試圖案。測試圖案檢測塊(402)基於在掃描數據輸入引腳的比特組合檢測圖案。
[0047]測試圖案檢測塊(402)經配置以基於所述圖案的檢測生成觸發信號(例如，(412))。觸發信號((412))被傳送到控制電路(406)，以便進而通過控制電路(406)觸發計數器電路(404)。計數器電路(404)經配置以基於所檢測的移位圖案生成一個或更多個計數狀態。在一個實施例中，計數器電路(404)生成對應於移位階段和時鐘信號(410)的一個或更多個計數狀態，以及對應於捕捉階段和時鐘信號(410)的一個或更多個計數狀態，以準備其控制通過掃描使能信號提供的測試圖案。在另一個實施例中，計數器電路(404)生成對應於移位階段和時鐘信號(410)的一個或更多個計數狀態，以準備其控制通過加載使能信號提供的測試圖案。計數器電路(404)包括寄存器塊(414)、第一計數器(416)、第二計數器(418)和等待計數器(420)。為了說明的目的，【具體實施方式】指的是等待計數器；但是需要指出，本文公開的方法和集成電路的範圍並不局限於等待計數器的實施方式，而是可以擴展到包括多於一個等待計數器的組合。
[0048]寄存器塊(414)包括通過時鐘信號(410)和復位信號(419)操作的一個或更多個寄存器。而且，第一計數器(416)、第二計數器(418)和等待計數器(420)中的每個通過時鐘信號(410)和復位信號(419)操作。寄存器塊(414)經配置以存儲移位開始計數狀態、捕捉開始計數狀態、移位結束計數狀態、捕捉結束計數狀態和指示等待周期數量的預定計數狀態值中的至少一個。移位開始計數狀態與移位結束計數狀態之間的持續時間對應於移位階段的測試模式控制信號保持斷言的持續時間，並且捕捉開始計數狀態與捕捉結束計數狀態之間的持續時間對應於捕捉階段的測試模式控制信號保持去斷言的持續時間。移位開始計數狀態可以對應於根據持續時間掃描鏈的最大長度。捕捉開始計數狀態對應於捕捉階段的測試模式控制信號保持去斷言的持續時間。集成電路(400)還包括與寄存器塊(414)通信關聯或耦合的測試接口((421))，以便被安置，從而控制寄存器塊(414)，並基於測試圖案改變移位開始計數狀態、捕捉開始計數狀態、移位結束計數狀態和捕捉結束計數狀態中的至少一個。測試接口((421))的示例包括但不限於JTAG接口和嵌入式內核測試接口。
[0049]第一計數器(416)和第二計數器418與寄存器塊(414)耦合。測試儀(例如，圖1A的測試儀(102))的時鐘信號(410)用於第一計數器(416)和第二計數器418對移位和捕捉操作計時。可供選擇地，在一個實施例中，測試儀的時鐘信號(410)被用於第一計數器(416)對移位操作計時，並且高速內部生成的時鐘信號(例如，使用鎖相環生成的)被用於第二計數器(418)對捕捉操作計時。
[0050]第一計數器(416)經配置以生成一個或更多個計數狀態，其對應於從移位開始計數狀態到移位結束計數狀態(例如，零計數)的移位階段。在檢測到對應於移位階段開始的圖案時或隨後，第一計數器(416)基於檢測圖案(408)生成一個或更多個計數狀態。第二計數器418經配置以生成一個或更多個計數狀態，其對應於從捕捉開始計數狀態到捕捉結束計數狀態(例如，零計數)的捕捉階段。第一計數器(416)和第二計數器418可以包括減計數器。減計數器可以包括但不限於八比特減計數器。第一計數器(416)與等待計數器(420)耦合，使得等待計數器(420)被對應於移位結束計數狀態(例如，請參閱信號(413))的信號觸發，以便在捕捉階段之前生成對應於一個或更多個等待周期的計數狀態。等待計數器(420)被耦合到寄存器塊(414)，以檢索寄存器塊(414)的預定計數狀態值，指示等待周期數量的預定計數狀態值在等待計數器(420)致動時生成。指示等待周期數的信息被包括在檢測圖案中。在這類實施例中，檢測圖案可以包括指示等待周期數的第一組圖案和指示捕捉階段的開始的第二組圖案。在一個或更多個等待周期完成時或隨後，等待計數器(420)觸發控制電路(406)(例如，請參閱信號(415))以進而觸發第二計數器418，從而生成對應於捕捉階段的一個或更多個計數狀態。第二計數器418生成從捕捉開始計數狀態到捕捉結束計數狀態(例如，零計數)的一個或更多個計數狀態。
[0051]控制電路(406)與測試圖案檢測塊(402)耦合，以便被安置，從而在檢測到對應於移位階段的開始的圖案(例如，8』hAA)時或隨後從測試圖案檢測塊(402)接收觸發信號(例如，(412))。控制電路(406)包括一個或更多個選擇塊(例如，選擇塊(422)、(424)和(425))以及一個或更多個觸發器(例如，D類觸發器(426)、(428)、(430)和(432))。選擇塊(例如，選擇塊(422)、(424)和(425))的示例可以包括但不限於多路復用器。選擇塊(422)經配置以接收來自測試圖案檢測塊(402)的觸發信號(412)和對應於第一計數器(416)的一個或更多個計數狀態的信號(413)。
[0052]每個觸發器(例如，觸發器(426)、(428)、(430)和(432))通過時鐘信號(410)和復位信號(419)操作。在接收到觸發信號(412)時或隨後，第一選擇塊(422)觸發觸發器(426)和(428)。在被觸發時或隨後，觸發器(426)和(428) —致操作，以生成使能信號(436)以及使能同步信號(438)，其中所述使能信號(436)觸發第一計數器(416)以生成對應於移位階段的一個或更多個計數狀態，所述使能同步信號(438)可用於通過測試模式控制信號生成邏輯生成斷言的測試模式控制信號。在接收到移位結束計數狀態(例如，請參閱(413))時或隨後，在選擇塊(422)，觸發器(例如，觸發器(426)、(428)、(430)和(432))被去斷目，使能同步信號(438)獲得低電平，並由此，測試模式控制信號被去斷目。第二選擇塊(424)接收使能同步信號(438)和對應於等待計數器(420)的一個或更多個計數狀態的信號(415)。在使能同步信號(438)獲得指示移位階段的結束的低電平(例如當使能同步信號(438)例如從邏輯I轉換到邏輯O時)時或隨後，第二選擇塊(424)觸發觸發器(430)，以生成計數使能信號(442)，其觸發第二計數器418以便生成一個或更多個計數狀態。
[0053]在被觸發時或隨後，第二計數器418生成從捕捉開始計數狀態開始到捕捉結束計數狀態的一個或更多個計數狀態(例如，在每個時鐘周期，遞減從捕捉開始計數狀態到捕捉結束計數狀態的計數狀態)。而且，第三選擇塊(425)接收使能信號(442)和對應於第二計數器418的一個或更多個計數狀態(例如，請參閱(417))的信號。在接收到使能信號(442)和對應於來自第二計數器418的一個或更多個計數狀態的信號(417)時或隨後，第三選擇塊(425)觸發觸發器(432)，以生成使能同步捕捉信號(444)，其用於通過測試模式控制信號生成邏輯生成去斷言的測試模式控制信號。在接收到對應於捕捉結束計數狀態的信號(417)時或隨後，第三選擇塊(425)去激活觸發器(432)，並因此，使能同步捕捉信號(444)獲得導致測試模式控制信號去斷言的低電平。
[0054]圖4B示出根據實施例的圖4A的集成電路(400)操作的過程流的示例表示。在圖4B中，集成電路(400)的掃描測試的多個狀態由塊(450)-(458)表示。多個操作狀態包括但不限於初始化狀態(450)、空閒狀態(452)、移位操作(456)、準備捕捉操作(456)和捕捉操作(456)。在一個實施例中，在初始化狀態(450)期間，集成電路(400)的掃描測試通過從測試儀(例如，圖1A的測試儀(102))接收時鐘信號(410)被初始化。在空閒狀態(452)期間，在移位階段或捕捉階段的開始之前，掃描測試中存在一個或更多個等待周期。在測試圖案檢測塊(402)檢測到(例如，請參閱(460))對應於測試圖案的移位階段的圖案時或隨後，移位操作開始(例如，請參閱(454))。在移位操作(454)期間，計數器電路(404)開始生成對應於移位階段的計數狀態。
[0055]控制電路(406)生成計數使能信號(436)以便觸發計數器電路404，並且控制電路(406)還生成使能同步信號(438)和基於使能同步信號(438)的斷言的測試模式控制信號。第一計數器(416)在檢測到對應於測試圖案的移位階段的圖案時或隨後被觸發，並且在第一計數器(416)被觸發時，第一計數器(416)檢索寄存器塊(414)的移位開始計數狀態，並生成對應於該移位階段的一個或更多個計數狀態(例如，在每個時鐘周期，第一計數器(416)遞減從移位開始計數狀態到移位結束計數狀態的計數狀態)。一個或更多個計數狀態從移位開始計數狀態的開始生成。需要指出，在通過第一計數器416生成的一個或更多個計數狀態的持續時間內，該測試模式控制信號保持斷言。
[0056]第一計數器(416)改變其計數狀態(例如，通過從移位開始計數狀態減計數)直到第一計數器(416)的計數狀態達到移位結束計數狀態(例如，零計數)。在第一計數器(416)的計數狀態達到移位結束計數狀態(例如，請參閱圖4A中的信號(413))時或隨後，移位操作(454)結束(如(462)所示)，測試模式控制信號被去斷言，並且集成電路(400)執行準備捕捉操作(如(456)所示)。在準備捕捉操作(456)期間，等待計數器(420)被觸發。在被觸發時或隨後，等待計數器(420)生成對應於一個或更多個等待周期的一個或更多個計數狀態。在完成一個或更多個等待周期(例如，請參閱圖4A中的信號(415))時或隨後，第二計數器418被觸發，並且捕捉運行(如(458)所示)在(466)處開始。
[0057]在捕捉操作(458)期間，第二計數器418從寄存器塊(414)檢索捕捉開始計數狀態，並生成對應於捕捉階段的一個或更多個計數狀態(例如，在每個時鐘周期，遞減從捕捉開始計數狀態到捕捉結束計數狀態的計數狀態)。控制電路(406)生成計數使能信號(442)觸發計數器電路(404)，並且還生成使能同步捕捉信號(444)和基於使能同步捕捉信號(444)的去斷言的測試模式控制信號。第二計數器418改變計數狀態(例如，通過從捕捉開始計數狀態減計數)直到第二計數器418的計數狀態達到捕捉結束計數狀態。在第二計數器418的計數狀態達到捕捉結束計數狀態時或隨後，捕捉操作結束(如466所示)，並且集成電路(400)恢復到空閒狀態(452)。所公開的技術的集成電路可以經配置以基於檢測對應於第一移位階段圖案操作，並且針對後續移位階段和捕捉階段，該集成電路可以基於通過各個計數器生成的計數狀態迭代操作，並且這類集成電路在圖5A到圖6中進一步描述。
[0058]圖5A示出根據一個實施例的能夠生成用於通過集成電路(500)中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的第三示例集成電路(500)。集成電路(500)包括測試圖案檢測塊(502)、計數器電路(504)和控制電路(506)。測試圖案檢測塊(502)經配置以接收檢測圖案(508)。檢測圖案(508)基本類似於圖3A的檢測圖案(308)。從測試儀(例如，圖1A的測試儀(102))接收時鐘信號510 (例如，圖1B的時鐘信號122)。時鐘信號(510)可以在捕捉階段期間，通過使用例如鎖相環(例如，在集成電路(500)中或以其他方式在與集成電路(500)通信耦合的裝置中)在內部生成。測試圖案檢測塊(502)經配置以檢測對應於測試圖案的第一移位階段的開始的圖案(例如，8』hAA)。該測試圖案基本類似於本文參照圖3A描述的測試圖案。測試圖案檢測塊(502)基於在掃描數據輸入引腳的比特組合檢測圖案。
[0059]測試圖案檢測塊(502)對圖案的檢測觸發控制電路(506)，這進而觸發計數器電路(504)。在被觸發時或隨後，計數器電路(504)經配置以生成一個或更多個計數狀態。計數器電路(504)經配置以生成對應於移位階段和時鐘信號(510)的一個或更多個計數狀態，以及對應於捕捉階段和時鐘信號(510)或內部生成時鐘信號的一個或更多個計數狀態。計數器電路(504)包括寄存器塊(514)、第一計數器(516)、第二計數器(518)、第一等待計數器(520)和第二等待計數器(522)。在一個實施例中，寄存器塊(514)、第一計數器(516)、第二計數器(518)、第一等待計數器(520)和第二計數器(522)中的每個通過時鐘信號(510)和復位信號(519)操作。為了說明的目的，【具體實施方式】指的是等待計數器；但是需要指出，本文公開的方法和集成電路的範圍並不局限於等待計數器的實施，而是其範圍可以擴展到包括多於一個等待計數器的組合。
[0060]寄存器塊(514)包括一個或更多個寄存器。寄存器塊(514)經配置以存儲移位開始計數狀態、捕捉開始計數狀態、移位結束計數狀態、捕捉結束計數狀態和指示等待周期數量和持續時間的預定計數狀態值中的至少一個。移位開始計數狀態與移位結束計數狀態之間的持續時間對應於移位階段的測試模式控制信號保持斷言的持續時間。該持續時間可以對應於根據持續時間掃描鏈的最大長度。捕捉開始計數狀態與捕捉結束計數狀態之間的持續時間對應於捕捉階段的測試模式控制信號保持去斷言的持續時間。集成電路(500)還包括與寄存器塊(514)通信關聯或耦合的測試接口(521)，並且測試接口(521)經配置以控制寄存器塊(514)，並基於測試圖案改變移位開始計數狀態、捕捉開始計數狀態、移位結束計數狀態和捕捉結束計數中的至少一個。測試接口(521)的示例包括但不限於JTAG接口和嵌入式內核測試接口。
[0061]第一計數器(516)和第二計數器(518)與寄存器塊(514)耦合，以便分別從該寄存器塊中檢索移位開始計數狀態和捕捉開始計數狀態。測試儀的時鐘信號(510)被第一計數器(516)和第二計數器(518)用於移位和捕捉操作。可供選擇地，在一個實施例中，測試儀的時鐘信號(510)被用於第一計數器(516)對移位操作計時，以及高速內部生成的時鐘信號(例如，使用鎖相環生成的)被用於第二計數器(518)對捕捉運行計時。
[0062]第一計數器(516)經配置以生成一個或更多個計數狀態，其對應於從移位開始計數狀態到移位結束計數狀態(例如，零計數)的移位階段。在檢測到對應於測試圖案的第一移位階段的開始的圖案時或隨後以及測試圖案的捕捉階段的結束時或隨後，第一計數器(516)生成一個或更多個計數狀態。第二計數器(518)經配置以生成對應於測試圖案的一個或更多個捕捉階段的一個或更多個計數狀態。第二計數器(518)經配置以生成從捕捉開始計數狀態到捕捉結束計數狀態(例如，零計數)的一個或更多個計數狀態。第一計數器(516)和第二計數器(518)可以包括減計數器。該減計數器可以包括但不限於八比特減計數器。
[0063]第一等待計數器(520)經配置以在移位階段的開始前，生成對應於一個或更多個等待周期的一個或更多個計數狀態。第二等待計數器(522)經配置以在捕捉階段的開始前，生成對應於一個或更多個等待周期的一個或更多個計數狀態。第一等待計數器(520)和第二等待計數器(522)與寄存器塊(514)耦合，並經配置以在被觸發時、被觸發前或被觸發後，從寄存器塊(514)檢索指示等待周期的數量和持續時間的預定計數狀態值。寄存器塊(514)可以為第一等待計數器(520)和第二等待計數器(522)存儲不同的計數狀態值。集成電路(500)附加包括圖案計數器529，其經配置以生成一個或更多個計數狀態，所述一個或更多個計數狀態對應於從對應於測試圖案的移位階段的移位開始計數狀態到對應於測試圖案的捕捉階段的捕捉結束計數狀態的預定數量的轉換。該預定數量的轉換指示在掃描測試期間施加到掃描鏈的預定數量的測試圖案。圖案計數器529對施加到掃描鏈的測試圖案的數量計數。每個測試圖案可以包括移位階段和捕捉階段。寄存器塊(514)存儲圖案計數器529的初始計數狀態，其指示在掃描測試期間通過掃描鏈可施加的最大測試圖案數。圖案計數器529寄存器塊(514)檢索初始計數狀態，並生成從初始計數狀態開始的一個或更多個計數狀態。
[0064]第一等待計數器(520)與控制電路(506)耦合，使得第一等待計數器(520)在檢測到對應於測試圖案的第一移位階段的圖案時或隨後被觸發。在被觸發時或隨後，第一等待計數器(520)生成對應於一個或更多個等待周期的一個或更多個計數狀態。在完成一個或更多個等待周期(例如，請參閱(513))時或隨後，第一等待計數器(520)觸發第一計數器(516)，以生成對應於移位階段的一個或更多個計數狀態。在被觸發時或隨後，第一計數器(516)寄存器塊(514)檢索移位開始計數狀態，並例如通過從移位開始計數狀態開始並繼續到移位結束計數狀態(例如，請參照(515))(例如，零計數)，生成對應於該移位階段的一個或更多個計數狀態。第一計數器(516)的移位結束計數狀態(例如，請參閱(515))觸發第二等待計數器(522)，以在捕捉階段之前，生成一個或更多個等待周期。
[0065]在完成第二等待計數器(522)的一個或更多個等待周期(例如，請參閱(517))時或隨後，第二計數器(518)被觸發。在被觸發時或隨後，第二計數器(518)生成對應於捕捉階段的一個或更多個計數狀態。第二計數器(518)生成從捕捉開始計數狀態開始並繼續到捕捉結束計數狀態(例如，零計數)的計數狀態。第二計數器(518)的捕捉結束計數狀態(例如，請參閱(523))導致被初始化到初始計數值的圖案計數器529的觸發，該初始計數值指示從對應於測試圖案的移位階段的移位開始計數狀態到對應於測試圖案的捕捉階段的捕捉結束計數狀態的預定數量的允許轉換。在被觸發時或隨後，圖案計數器(521)改變一個計數狀態。計數狀態的改變可以是遞減。在完成圖案計數器529的計數狀態(例如，請參閱(546))改變時或隨後，第一計數器(516)被再次觸發，以生成對應於後續移位階段的一個或更多個計數狀態。圖案計數器529經配置以觸發第一計數器(516)，用於從對應於測試圖案的移位階段的移位開始計數狀態到對應於測試圖案的捕捉階段的捕捉結束計數狀態的預定數量的轉換。在一個實施例中，在完成預定數量的轉換時或隨後，測試圖案塊502被觸發(例如，請參閱(549))，以便檢測後續移位階段。
[0066]測試圖案檢測塊(502)與控制電路(506)耦合，並經配置以在檢測到對應於測試圖案的第一移位階段的開始的圖案時或隨後，觸發控制電路(506)，進而觸發計數器電路(504)。控制電路(506)包括一個或更多個選擇塊(例如，選擇塊(524)、(525)、(526)和(527))以及一個或更多個觸發器(例如，D類觸發器(528)、(530)、(532)和(534))。觸發器(例如，觸發器(528)、(530)、(532)和(534))通過時鐘信號(510)和復位信號(519)操作。第一選擇塊(524)經配置以接收來自測試圖案檢測塊(502)的觸發信號(512)和第一等待計數器(520)的一個或更多個計數狀態(例如，請參閱(513))。在接收到觸發信號(512)時或隨後,第一選擇塊(524)觸發觸發器(528)以生成使能信號(538),使能信號(538)觸發第一等待計數器(520)以在第一移位階段之前，生成對應於一個或更多個等待周期的一個或更多個計數狀態。一個或更多個等待周期(例如，請參閱(513))的完成觸發第一計數器(516)。在被觸發時或隨後，第一計數器(516)例如通過從移位開始計數狀態開始並繼續到移位結束計數狀態(例如，請參照(515))，生成對應於第一移位階段的一個或更多個計數狀態。
[0067]而且，第一計數器(516)的觸發進而觸發第二選擇塊(525)，這觸發觸發器(530)以生成使能同步信號(540)，並且斷言的測試模式控制信號通過測試模式控制信號生成邏輯基於使能同步信號(540)生成。第一計數器(516)的移位結束計數狀態(例如，請參閱(515))去激活第二選擇塊(525)，這進而促使使能同步信號(540)獲得導致測試模式控制信號去斷言的低狀態(例如，通過從邏輯I轉換到邏輯O)。第三選擇塊(526)經配置以接收使能同步信號(540)以及第二等待計數器(522)的一個或更多個計數狀態(例如，請參閱(517))。在使能同步信號(540)從邏輯I變化到邏輯O時或隨後，第三選擇塊(526)被觸發。在被觸發時或隨後，第三選擇塊(526)進而觸發觸發器(532)以生成使能捕捉信號(542)。使能捕捉信號(542)觸發第二等待計數器(522)，以在捕捉階段之前，生成對應於一個或更多個等待周期的一個或更多個計數狀態。
[0068]第二等待計數器(522)的一個或更多個等待周期(例如，請參閱(517))的完成觸發第二計數器(518)。在被觸發時或隨後，第二計數器(518)生成對應於捕捉階段的一個或更多個計數狀態。而且，第二計數器(518)的一個或更多個計數狀態(例如，請參閱(523))導致第四選擇塊(527)的觸發，以便進而觸發觸發器(534)以生成使能同步捕捉信號(544)。去斷言的測試模式控制信號通過測試模式控制信號生成邏輯基於使能同步捕捉信號(544)生成。第二計數器(518)的捕捉結束計數狀態(例如，請參閱(523))去激活選擇塊(527)，其進而去激活觸發器(534)並觸發第一等待計數器(520)，以在後續移位階段之前，生成一個或更多個等待周期。捕捉結束計數狀態觸發圖案計數器529，其使集成電路(500)能夠以循環的方式操作預定數量的轉換。
[0069]圖5B不出根據一個實施例的圖5A的集成電路(500)操作的過程流的不例表不。在圖5B中，集成電路(500)的掃描測試的多個狀態由塊(550)-(562)表示。多個操作狀態包括但不限於初始化狀態(550)、空閒狀態(552)、準備移位操作(554)、移位操作(556)、準備捕捉操作(558)、捕捉允許(560)和測試圖案計數操作(562)。在一個實施例中，在初始化狀態(550)期間，集成電路(500)的操作通過從測試儀(例如，圖1A的(102))接收時鐘信號(510)被初始化。在空閒狀態(552)期間，在檢測到第一移位階段之前，存在一個或更多個等待周期。在測試圖案檢測塊(502)檢測對應於測試圖案的第一移位階段的圖案(例如，請參閱(564))時或隨後，集成電路(500)準備移位(例如，請參閱(554))。
[0070]在準備移位操作(554)期間，第一等待計數器(520)被觸發，以生成一個或更多個等待周期。在完成一個或更多個等待周期時或隨後，移位操作開始(例如，請參閱(556))。在移位操作(556)期間，第一計數器(516)被觸發生成對應於第一移位階段的一個或更多個計數狀態(例如，以在每個時鐘周期，遞減從移位開始計數狀態到移位結束計數狀態的計數狀態)，並且生成斷言測試模式控制信號，如圖5A所示。在通過第一計數器(516)生成的一個或更多個計數狀態的持續時間內，該測試模式控制信號保持斷言。在第一計數器(516)的計數狀態達到移位結束計數狀態時或隨後，移位操作結束(如(568)所示)。在(558)，捕捉操作的準備被執行，以便準備捕捉階段。捕捉運行的準備(558)還包括通過第二等待計數器(522)生成一個或更多個等待周期。
[0071]在完成一個或更多個等待周期時或隨後，捕捉操作開始(例如，請參閱(570))。在(560)，通過觸發第二計數器(518)，捕捉操作被執行，如本文在前面參照圖5A所解釋的。而且，在捕捉操作期間(例如，請參閱(560))，生成去斷言的測試模式控制信號。在生成捕捉結束計數狀態時或隨後，捕捉操作(560)結束(例如，請參閱(574))。在第二計數器(518)的計數狀態達到捕捉結束計數狀態時或隨後，圖案計數器529的計數狀態改變(例如，請參閱(562)) —個計數狀態。如果圖案計數器529不保持對應於預定數量的轉換的最小計數狀態(例如，零計數)，操作(554)、(556)、(558)和(560)被執行預定數量的轉換。在完成預定數量的轉換(例如，請參閱574)時或隨後，該過程在(550)被再次初始化。
[0072]圖6示出根據另一個實施例的圖5A的集成電路(500)操作的過程流的示例表示。在圖6中，集成電路(500)的掃描測試的多個狀態由塊(650)-(656)表示。多個操作狀態包括但不限於初始化狀態￠50)、空閒狀態￠52)、測試圖案計數操作(654)和迭代移位到捕捉操作￠56)。在一個實施例中，在初始化狀態￠50)期間，集成電路(500)的掃描測試通過從測試儀(例如，圖1A的(102))接收時鐘信號(510)被初始化。在空閒狀態(652)期間，在檢測到第一移位階段之前，存在一個或更多個等待周期。
[0073]在測試圖案檢測塊(502)檢測到(例如，請參閱￠58))對應於測試圖案的第一移位階段的圖案時或隨後，圖案計數器改變計數狀態(例如，請參閱￠54)) —個計數狀態，其指示一個測試圖案的施加(例如，包括一個移位階段和一個捕捉階段的測試圖案)。在圖案計數器的計數狀態改變一個計數狀態時或隨後，移位和捕捉操作被執行(例如，請參閱(656))，如本文參照圖5所述。通過在每次這類轉換結束處將圖案計數器的計數狀態改變一個計數狀態，從對應於測試圖案的第一移位階段和後續移位階段中的一個移位階段的移位開始計數狀態到對應於測試圖案(如(656)所示)的捕捉階段的捕捉結束計數狀態的轉換被迭代執行預定數量的轉換(例如，預定數量的測試圖案)。
[0074]掃描測試可以包括操作STUMPS 結構(Self-Test Using MISR and PRPGStructures 即使用 MISR 和 PRPG 結構的自測試，其中 MISR 是 multiple input signatureregister即多輸入特徵寄存器，以及PRPG是pseudo-random pattern generator即偽隨機圖案發生器)。在一個實施例中，為了減少掃描測試期間的測試時間，掃描壓縮可用於增加內部STUMPS的數量，同時減少STUMPS的長度，增加內部移位頻率和減少移位階段與捕捉階段之間的空閒時間。在另一個實施例中，一個或更多個內部STUMPS可以通過組合掃描壓縮邏輯和/或時序掃描壓縮邏輯驅動。組合掃描壓縮邏輯和/或時序掃描壓縮邏輯驅動的一個或更多個內部STUMPS可以包括可選的MISR和PRPG元件。此外，在一個實施例中，一個或更多個觸發器可以被置於掃描輸入引腳和掃描輸出引腳上，以便支持更高頻率的掃描移位操作。除了在掃描使能信號的控制下將測試圖案驅動到掃描鏈中以外，相同組的觸發器還可以用於在加載使能信號的控制下，將替換的圖案驅動到用於時鐘和掃描控制的內部寄存器中，並且還可以用於驅動檢測圖案用於檢測移位階段的開始。
[0075]在掃描輸入引腳處的觸發器可以在移位階段結束時被初始化，並且該觸發器中的測試圖案可以在將當前測試圖案傳遞出掃描鏈並準備向該掃描鏈施加後續測試圖案期間使用。在該觸發器中的測試圖案必須在兩個連續移位操作之間被保留。不過，指示移位階段的開始的檢測圖案可以在兩個測試圖案之間出現。在此情況下，在該觸發器中的測試圖案被幹擾，從而破壞該測試圖案。為了減輕上面提到的問題，在前面的掃描測試周期期間被移到觸發器的輸入端的測試圖案在後續測試周期期間被保留和再使用。在一個實施例中，檢測圖案和測試圖案通過不同組的觸發器傳遞，並且預定的延遲圖案的檢測和移位階段的初始化之後被引入，以保留和再使用以前存儲的測試圖案。結果，在該檢測圖案施加期間，該檢測圖案的施加不幹擾觸發器的狀態。包括觸發器的示例集成電路在圖7A中描述。
[0076]圖7A示出根據一個實施例的示例集成電路(700)，其包括能夠在掃描測試期間控制移位階段的一個或更多個觸發器。集成電路(700)包括第一組觸發器(702)和第二組觸發器(704)、測試圖案檢測塊(706)、STUMP(708)、第一選擇塊(710)，以及第二選擇塊(712)。測試圖案檢測塊(706)可以基本類似於和圖2的測試圖案檢測塊(202)，並且可以如本文參照圖3A、4A和5A所描述的各種方式實施。
[0077]第一組觸發器(702)通過第一時鐘信號(714)操作，以及第二組觸發器通過第二時鐘信號(716)操作。第一選擇塊(710)經配置以接收檢測圖案(718)，以及第二選擇塊(712)經配置以接收測試圖案(717)。在一個實施例中，第一選擇塊(710)和第二選擇塊(712)中的每個經配置以接收使能信號和使能同步信號(719)的組合，並在接收到該使能信號和使能同步信號(719)的組合時被觸發。使能信號和使能同步信號(719)的組合可以通過基本類似於圖2的控制電路(206)的控制電路生成。第一選擇塊(710)確保測試模式控制信號在移位階段的開始之前被斷言高。從測試儀(例如，圖1A的(102))接收第一時鐘信號(714)(例如，圖1B的時鐘信號(122))。測試圖案檢測塊(706)經配置以通過第一組觸發器(702)接收檢測圖案(718)，以便基於檢測圖案(718)檢測對應於測試圖案(717)的第一移位階段的開始的圖案。第一組觸發器(702)在接收到檢測圖案(718)之後和在測試圖案檢測塊(706)檢測到對應於移位階段的圖案時生成第一預定延遲。
[0078]第二選擇塊(712)控制測試圖案(717)通過第二組觸發器(704)移入STUMP (708)中。第二組觸發器(704)將對應於先前移位階段的測試圖案存儲第二預定延遲時間，並在完成第二預定延遲時使能該移位階段的初始化。在接收到使能信號和使能同步信號(718)時或隨後，第二選擇塊(712)通過第二組觸發器(704)將測試圖案(717)傳送到STUMP(708)中。將測試圖案(717)傳送到STUMP(708)中的第二預定延遲從而確保在移位操作的開始之前，測試模式控制信號被斷言高。圖7A的集成電路(700)的操作在此參照7B描述。
[0079]圖7B示出根據一個實施例的圖7A的集成電路(700)操作的過程流的示例表示。在圖7B中，多個操作狀態由塊(720)-(726)表示。多個操作狀態包括但不限於選擇(720)、準備移位(722)、移位操作(724)和捕捉操作(726)。在一個實施例中，在選擇(720)期間，第一組觸發器(702)或STUMP(706)中的一個被選擇用於接收時鐘信號。在選擇第一組觸發器(702)時或隨後，包括指示移位階段的信息的檢測圖案(718)在通過第一組管線觸發器(702)生成的第一預定延遲之後被移入測試圖案檢測塊(706)中，並且對應於移位階段的圖案基於檢測圖案(718)被檢測(例如，請參閱(728))。在檢測到圖案時或隨後(例如，請參閱(722))，移位操作的準備開始，並且第二預定延遲通過第二組管線觸發器(704)被引入。在完成第二預定延遲時或隨後，STUMP(706)被選擇(請參閱(720))，並且第二組觸發器(704)將測試圖案(717)傳送到STUMP(706)中，以初始化後續移位階段(例如，請參閱730)。在(724)，移位操作被執行，緊隨其後的是在(726)的捕捉操作。移位操作和捕捉操作如同本文參照圖3A到5B所描述的。
[0080]圖8示出根據一個實施例的生成用於通過集成電路中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的方法(800)的流程圖。測試模式控制信號可以包括，但不限於，控制測試圖案的移位階段和捕捉階段的掃描使能信號，以及加載使能信號，其用於控制到集成電路內的掃描鏈(例如，圖1A的掃描鏈(108))的時鐘並且控制掃描鏈的輸入端和輸出端以用於該掃描鏈的選擇性運行。方法(800)開始於操作(802)。在操作(802)，基於檢測圖案，執行對應於測試圖案的移位階段的第一圖案的檢測(例如，使用圖2的測試圖案檢測塊(202))或執行對應於測試圖案的移位階段的第一圖案的檢測和對應於測試圖案的捕捉階段的第二圖案的檢測(例如，使用圖2的測試圖案檢測塊(202))。在一個實施例中，第一圖案(例如，8』hAA)和第二圖案(例如，8』h55)在檢測圖案中被檢測。檢測圖案包括指示測試圖案的移位階段的開始和/或測試圖案的捕捉階段的開始的信息。測試圖案包括測試矢量和指示時鐘信號的時鐘周期數的信息，所述時鐘信號對應於掃描測試期間的每個移位階段和每個捕捉階段。在一個實施例中，在操作(804)，在檢測到第一和第二圖案中的至少一個圖案時或隨後，對應於移位階段的一個或更多個計數狀態或對應於捕捉階段的一個或更多個計數狀態通過計數器電路(例如，圖3A的計數器電路(304)、圖4A的(404)、圖5A的(504))生成(例如，使用本文參照圖3A、4A和5A描述的一個或更多個計數器)。
[0081]對應於移位階段的一個或更多個計數狀態在檢測到第一圖案時或隨後生成，並且對應於捕捉階段的一個或更多個計數狀態在檢測到第二圖案時或隨後生成。對應於移位階段的一個或更多個計數狀態包括移位開始計數狀態與移位結束計數狀態之間的計數狀態。移位開始計數狀態與移位結束計數狀態之間的持續時間與對應於移位階段的時鐘信號的周期數關聯。對應於捕捉階段的一個或更多個計數狀態包括捕捉開始計數狀態與捕捉結束計數狀態之間的計數狀態。捕捉開始計數狀態與捕捉結束計數狀態之間的持續時間與對應於捕捉階段的時鐘信號的周期數關聯。在一個實施例中，在操作(806)中，測試模式控制信號基於對應於移位階段的一個或更多個計數狀態和對應於捕捉階段的一個或更多個計數狀態生成並隨後被控制。測試模式控制信號的生成和控制在本文參照圖3A-7B進行描述。
[0082]在一個實施例中，在檢測到對應於移位階段的圖案時，第一計數器的計數狀態生成為移位開始計數狀態。如果第一計數器的計數狀態是第一預定計數狀態，測試模式控制信號被斷言。在掃描測試的移位階段期間，第一計數器的計數狀態從移位開始計數狀態改變到移位結束計數狀態。如果第一計數器的計數狀態被改變到移位結束計數狀態，則測試模式控制信號被去斷言。如果第一計數器的計數狀態是移位結束計數狀態，計數器電路的等待計數器的一個或更多個計數狀態對應於一個或更多個等待周期生成。在一個或更多個等待周期結束後，計數器電路的第二計數器的計數狀態生成為捕捉開始計數狀態。在捕捉階段期間，第二計數器的計數狀態從捕捉開始計數狀態改變到捕捉結束計數狀態，並且這個實施例在本文參照圖4A-4B進行描述。
[0083]在一個實施例中，對於對應於從對應於測試圖案的移位階段的移位開始計數狀態到對應於測試圖案的捕捉階段的捕捉結束計數狀態之間的預定數量的轉換的一個或更多個計數狀態，對應於第一等待周期的第一等待計數器的一個或更多個計數狀態在檢測到對應於第一移位階段的圖案和圖案計數器的計數狀態改變一個計數狀態中的一個時生成。在第一等待周期結束後，計數器電路的第一計數器的計數狀態生成為移位開始計數狀態。如果第一計數器的計數狀態是移位開始計數狀態，則測試模式控制信號被斷言。第一計數器的計數狀態從移位開始計數狀態改變到移位結束計數狀態。如果第一計數器的計數狀態被改變到移位結束計數狀態，則測試模式控制信號被去斷言。如果第一計數器的計數狀態是移位結束計數狀態，則生成對應於第二等待周期的第二等待計數器的一個或更多個計數狀態。在第二等待周期結束後，計數器電路的第二計數器的計數狀態生成為捕捉開始計數狀態。在掃描測試的捕捉階段期間，第二計數器的計數狀態從捕捉開始計數狀態改變到捕捉結束計數狀態。對應於從對應於測試圖案的移位階段的移位開始計數狀態到對應於測試圖案的捕捉階段的捕捉結束計數狀態之間的預定數量的轉換的計數器電路的圖案計數器的一個或更多個計數狀態改變一個計數狀態，並且這個實施例在本文參照圖5A-5B進行描述。
[0084]此外，在一個實施例中，對於對應於從對應於測試圖案的第一移位階段和後續移位階段中的一個移位階段的移位開始計數狀態到對應於測試圖案的捕捉階段的捕捉結束計數狀態之間的預定數量的轉換的一個或更多個計數狀態，在檢測到第一移位階段和先前捕捉階段結束中的一個時，計數器電路的圖案計數器的一個或更多個計數狀態改變一個計數狀態。在將圖案計數器的一個或更多個計數狀態改變一個計數狀態時，計數器電路的第一計數器的計數狀態生成為移位開始計數狀態。如果第一計數器的計數狀態是移位開始計數狀態，則測試模式控制信號被斷言。在掃描測試的移位階段期間，第一計數器的計數狀態從移位開始計數狀態改變到移位結束計數狀態。如果第一計數器的計數狀態被改變到移位結束計數狀態，則測試模式控制信號被去斷言。在掃描測試的捕捉階段期間，計數器電路的第二計數器的計數狀態從捕捉開始計數狀態改變到捕捉結束計數狀態，並且這個實施例在本文參照圖6進行描述。
[0085]本文公開的一個或更多個示例實施例的優點包括在集成電路內附加電路的使用，以用於在施加掃描圖案期間，內部掃描使能生成和控制。所公開的技術通過釋放引腳使能較高的多點測試，並消除在集成電路與基於事件驅動直接存儲器存取架構的測試儀之間的數據傳遞期間，使一個或更多個測試儀受控引腳和測試數據同步的死循環的需要。所公開的技術不僅具有基於事件驅動的直接存儲器存取測試儀架構的好處，而且所有功能基於數據傳遞的測試儀使用利用直接存儲器存取架構刷新的存儲器。
[0086]通過使用基於硬體電路系統(例如，基於互補金屬氧化物半導體(CMOS)的邏輯線路)的邏輯，和/或硬體和軟體(例如，體現在機器可讀介質中)的任何組合，各個裝置、模塊、分析器發生器等可以被實現和操作。例如，各種電氣結構可以通過使用電晶體、邏輯門、和電氣電路(例如，ASIC電路系統和/或數位訊號處理器(DSP)電路系統)體現。而且，在各個實施例中離散和單獨描述的和示出的電路可以與其他系統、模塊組合或集成。
[0087]本領域的技術人員應當明白，在本發明權利要求保護的範圍內，可以對上述示例實施例做出修改，並且許多其他的實施例也是可能的。
【權利要求】
1.一種能夠生成用於通過集成電路中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的集成電路，所述集成電路包括: 測試圖案檢測塊，其經配置以: 接收檢測圖案； 基於所述檢測圖案，執行對應於測試圖案的移位階段的第一圖案的檢測和對應於所述測試圖案的捕捉階段的第二圖案的檢測；並且 基於所述第一和第二圖案中的至少一個圖案的檢測而生成觸發信號； 控制電路，其耦合到所述測試圖案檢測塊，所述控制電路經配置以接收所述觸發信號並基於對應於所述移位階段的一個或更多個計數狀態和對應於所述捕捉階段的一個或更多個計數狀態生成和控制所述測試模式控制信號；以及 計數器電路，其耦合到所述控制電路，所述計數器電路經配置以基於所述第一和第二圖案中的至少一個圖案，生成對應於所述移位階段和時鐘信號的一個或更多個計數狀態以及對應於所述捕捉階段和所述時鐘信號的一個或更多個計數狀態。
2.根據權利要求1所述的集成電路，其中所述控制電路經進一步配置以執行下列中的至少一個: 在所述計數器電路的計數狀態是移位開始計數狀態和捕捉結束計數狀態中的一種狀態時，斷言所述測試模式控制信號；並且 在所述計數狀態是捕捉開始計數狀態和移位結束計數狀態中的一種狀態時，去斷言所述測試模式控制信號。
3.根據權利要求2所述的集成電路，其中所述計數器電路包括耦合到所述控制電路的寄存器塊，所述寄存器塊經配置以存儲所述移位開始計數狀態、所述移位結束計數狀態、所述捕捉開始計數狀態以及所述捕捉結束計數狀態中的至少一個。
4.根據權利要求3所述的集成電路，其中所述計數器電路進一步包括與所述寄存器塊耦合的一個或更多個計數器，其經配置以: 生成對應於從所述移位開始計數狀態到所述移位結束計數狀態的所述移位階段的所述一個或更多個計數狀態；並且 生成對應於從所述捕捉開始計數狀態到所述捕捉結束計數狀態的所述捕捉階段的所述一個或更多個計數狀態。
5.根據權利要求3所述的集成電路，其中所述計數器電路進一步包括: 第一計數器，其經配置以生成從所述移位開始計數狀態到所述移位結束計數狀態的所述一個或更多個計數狀態； 第二計數器，其經配置以生成從所述捕捉開始計數狀態到所述捕捉結束計數狀態的所述一個或更多個計數狀態；以及 一個或更多個計數器，其經配置以在所述移位階段的開始前生成對應於一個或更多個等待周期的一個或更多個計數狀態，以及在所述捕捉階段的開始前生成對應於一個或更多個等待周期的一個或更多個計數狀態。
6.根據權利要求5所述的集成電路，其中所述計數器電路進一步包括圖案計數器，其經配置以生成一個或更多個計數狀態，所述一個或更多個計數狀態對應於從對應於所述測試圖案的所述移位階段的所述移位開始計數狀態到對應於所述測試圖案的所述捕捉階段的所述捕捉結束計數狀態的預定數量的轉換。
7.根據權利要求1所述的集成電路，其進一步包括: 第一組觸發器，其與所述測試圖案檢測塊耦合，所述第一組觸發器經配置以在檢測到對應於所述移位階段的所述第一圖案時生成第一預定延遲；以及 第二組觸發器，其與所述掃描鏈耦合，所述第二組觸發器用於將對應於先前移位階段的測試圖案存儲第二預定延遲時間，並使得在完成所述第二預定延遲時使能所述移位階段的初始化。
8.根據權利要求1所述的集成電路，其進一步包括與所述寄存器塊通信關聯或耦合的測試接口，所述測試接口控制所述寄存器塊，並基於所述測試圖案改變移位開始計數狀態、捕捉開始計數狀態、移位結束計數狀態和捕捉結束計數中的至少一個。
9.根據權利要求1所述的集成電路，其中所述測試模式控制信號包括用於控制所述測試圖案的所述移位階段和所述捕捉階段的掃描使能信號和用於控制所述掃描鏈的操作的加載使能信號中的一個。
10.一種能夠生成用於通過集成電路中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的集成電路，所述集成電路包括: 測試圖案檢測塊，其經配置以: 接收檢測圖案； 基於所述檢測圖案，執行對應於所述測試圖案的第一移位階段的圖案的檢測；並且 基於所述圖案的檢測，生成觸發信號； 控制電路，其耦合到所述測試圖案檢測塊，所述控制電路經配置以接收所述觸發信號並基於對應於所述第一移位階段的一個或更多個計數狀態和對應於後續移位階段和捕捉階段的一個或更多個計數狀態而生成和控制所述測試模式控制信號；以及 計數器電路，其耦合到所述控制電路，所述計數器電路包括: 圖案計數器，其經配置以在檢測到所述第一移位階段時被觸發，所述圖案計數器經配置以生成一個或更多個計數狀態，所述一個或更多個計數狀態對應於從對應於所述測試圖案的所述第一移位階段和後續移位階段中的一個移位階段的移位開始計數狀態到對應於所述測試圖案的捕捉階段的捕捉結束計數狀態的預定數量的轉換，以及 一個或更多個計數器，其與所述圖案計數器耦合，所述一個或更多個計數器經配置以生成對應於所述第一移位階段、所述後續移位階段和所述捕捉階段的一個或更多個計數狀態。
11.根據權利要求10所述的集成電路，其中所述控制電路經進一步配置以執行下列中的至少一個: 在所述計數器電路的計數狀態是所述移位開始計數狀態和捕捉結束計數狀態中的一種狀態時，斷言所述測試模式控制信號；並且 在所述計數狀態是捕捉開始計數狀態和移位結束計數狀態中的一種狀態時，去斷言所述測試模式控制信號。
12.根據權利要求10所述的集成電路，其中所述計數器電路包括: 寄存器塊，其經配置以存儲所述移位開始計數狀態、所述捕捉開始計數狀態、所述移位結束計數狀態和所述捕捉結束計數狀態中的至少一個。
13.根據權利要求12所述的集成電路，其中所述計數器電路進一步包括: 一個或更多個計數器，其經配置以生成一個或更多個計數狀態，所述一個或更多個計數狀態對應於在所述第一移位階段和後續移位階段中的一個的開始前的一個或更多個等待周期以及在所述捕捉階段的開始前的一個或更多個等待周期，其中所述測試模式控制信號的生成進一步基於所述一個或更多個計數器的所述一個或更多個計數狀態。
14.根據權利要求10所述的集成電路，其進一步包括: 第一組觸發器，其與所述測試圖案檢測塊耦合，所述第一組觸發器經配置以在檢測到對應於所述移位階段的所述圖案時生成第一預定延遲；以及 第二組觸發器，其與所述掃描鏈耦合，所述第二組觸發器用於將對應於先前移位階段的測試圖案存儲第二預定延遲時間，並在完成所述第二預定延遲時使能所述移位階段的初始化。
15.根據權利要求10所述的集成電路，其進一步包括與所述寄存器塊通信關聯或耦合的測試接口，所述測試接口控制所述寄存器塊，並基於所述測試圖案改變所述移位開始計數狀態、所述捕捉開始計數狀態、所述移位結束計數狀態和捕捉結束計數中的至少一個。
16.根據權利要求10所述的集成電路，其中所述測試模式控制信號包括用於控制所述測試圖案的所述移位階段和所述捕捉階段的掃描使能信號和用於控制所述掃描鏈的操作的加載使能信號中的一個。
17.—種生成用於通過集成電路中的掃描鏈進行掃描測試的測試模式控制信號的方法，所述方法包括: 基於檢測圖案，執行下列檢測中的一個:對應於測試圖案的移位階段的第一圖案的檢測，以及所述第一圖案和對應於所述測試圖案的捕捉階段的第二圖案的檢測； 在檢測到所述第一和第二圖案時，通過計數器電路生成對應於所述移位階段的一個或更多個計數狀態和對應於所述捕捉階段的所述一個或更多個計數狀態，對應於所述移位階段的一個或更多個計數狀態包括移位開始計數狀態與移位結束計數狀態之間的計數狀態，所述移位開始計數狀態與對應於所述移位階段的時鐘信號的周期數關聯，對應於所述捕捉階段的所述一個或更多個計數狀態包括捕捉開始計數狀態與捕捉結束計數狀態之間的計數狀態，並且所述捕捉開始計數狀態與對應於所述捕捉階段的時鐘信號的周期數關聯；並且 基於對應於所述移位階段的所述一個或更多個計數狀態和對應於所述捕捉階段的所述一個或更多個計數狀態，生成並隨後控制所述測試模式控制信號。
18.根據權利要求17所述的方法，其進一步包括迭代執行: 在檢測到對應於所述移位階段的所述第一圖案時，生成所述計數器電路的第一計數器的計數狀態作為所述移位開始計數狀態； 如果所述第一計數器的所述計數狀態是所述移位結束計數狀態，則斷言所述測試模式控制信號； 在所述掃描測試的所述移位階段期間，將所述第一計數器的一個或更多個計數狀態從所述移位開始計數狀態改變到移位結束計數狀態； 如果所述第一計數器的所述計數狀態被改變到所述移位結束計數狀態，則去斷言所述測試模式控制信號； 在所述第一計數器的所述計數狀態是所述移位結束計數狀態時，生成對應於一個或更多個等待周期的所述計數器電路的等待計數器的一個或更多個計數狀態； 在所述一個或更多個等待周期的結束後，生成所述計數器電路的第二計數器的計數狀態作為捕捉開始計數狀態；並且 在所述捕捉階段期間，將所述第二計數器的所述計數狀態從所述捕捉開始計數狀態改變到所述捕捉結束計數狀態。
19.根據權利要求17所述的方法，其進一步包括迭代執行一個或更多個計數狀態，所述一個或更多個計數狀態對應於:從對應於所述測試圖案的所述移位階段的所述移位開始計數狀態到對應於所述測試圖案的所述捕捉階段的所述捕捉結束計數狀態之間的預定數量的轉換: 在檢測到對應於第一移位階段的所述圖案和將圖案計數器的計數狀態改變一個計數狀態之中的一個發生時，生成對應於第一等待周期的第一等待計數器的一個或更多個計數狀態； 在所述第一等待周期結束後，生成所述計數器電路的第一計數器的計數狀態作為移位開始計數狀態； 如果所述第一計數器的所述計數狀態是所述移位開始計數狀態，則斷言所述測試模式控制信號； 將所述第一計數器的所述計數狀態從所述移位開始計數狀態改變到所述移位結束計數狀態； 如果所述第一計數器的所述計數狀態被改變到所述移位結束計數狀態，則去斷言所述測試模式控制信號； 在所述計數狀態是所述移位結束計數狀態時，生成對應於第二等待周期的第二等待計數器的一個或更多個計數狀態； 在所述第二等待周期結束後，生成所述計數器電路的第二計數器的計數狀態作為捕捉開始計數狀態； 在所述掃描測試的所述捕捉階段期間，將所述第二計數器的所述計數狀態從所述捕捉開始計數狀態改變到所述捕捉結束計數狀態；並且 將所述計數器電路的圖案計數器的一個或更多個計數狀態改變一個計數狀態，所述一個或更多個計數狀態對應於從所述測試圖案的所述移位階段的所述移位開始計數狀態到所述測試圖案的所述捕捉階段的所述捕捉結束計數狀態的預定數量的轉換。
20.根據權利要求17所述的方法，其進一步包括迭代執行一個或更多個計數狀態，所述一個或更多個計數狀態對應於從對應於所述測試圖案的所述移位階段的所述移位開始計數狀態到對應於所述測試圖案的所述捕捉階段的所述捕捉結束計數的預定數量的轉換: 在檢測到第一移位階段和前面的捕捉階段結束中的一個時，將對應於所述預定數量的轉換的所述計數器電路的圖案計數器的一個或更多個計數狀態改變一個計數狀態； 在所述一個或更多個計數狀態改變一個計數狀態時，生成所述計數器電路的第一計數器的計數狀態作為移位開始計數狀態； 如果所述第一計數器的所述計數狀態是所述移位開始計數狀態，則斷言所述測試模式控制信號； 在所述掃描測試的所述移位階段期間，將所述第一計數器的所述計數狀態從所述移位開始計數狀態改變到所述移位結束計數狀態； 如果所述第一計數器的所述計數狀態被改變到所述移位結束計數狀態，則去斷言所述測試模式控制信號；並且 在所述掃描測試的所述捕捉階段期間，將所述計數器電路的第二計數器的所述計數狀態從所述捕捉開始計數狀態改變到所述捕捉結束計數狀態。
【文檔編號】G01R31/3185GK104321655SQ201380022743
【公開日】2015年1月28日 申請日期:2013年5月10日 優先權日:2012年5月14日
【發明者】R·米塔爾, P·薩巴瑞瓦, P·納拉亞南, R·A·帕瑞克基 申請人:德克薩斯儀器股份有限公司, 德克薩斯儀器日本有限公司