一種用於測量兩物體接近次數的開關的製作方法
2023-11-06 15:05:57
專利名稱：一種用於測量兩物體接近次數的開關的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種用於測量兩物體接近次數的開關，適用於各領域中測量兩物體的接近次數，屬於測量技術領域。
背景技術：
現有的接近開關，一般使用鐵質金屬作為接近靶，存在抗電磁幹擾能力差且感應距離過短的缺點。
發明內容
本實用新型的目的是發明一種抗電磁幹擾能力強和感應距離長的用於測量兩物體接近次數的開關。
為實現以上目的，本實用新型的技術方案是提供一種用於測量兩物體接近次數的開關，其特徵在於，在一個物體上設有磁鐵接近靶，在另一個物體上設有一個接近開關；所述的接近開關由感應線圈L1、電位器RP1、三極體Q1、Q2、二極體D1及電阻、電容組成，VCC通過電阻R3、三極體Q2和電阻R5與「地」形成一個迴路，VCC通過電感L1、電容C1、電容C2、三極體Q1、電阻R2和電阻R5與「地」形成第二個迴路，VCC通過電位器RP1、電阻R1和電阻R5與「地」形成第三個迴路。
所述的感應線圈L1中設有鈷基金屬。
本實用新型利用鈷基金屬的特性，將其做為接近開關感應線圈的磁芯，採用磁鐵做為接近靶，從而大大增強了抗電磁幹擾能力，同時可以通過選擇強磁材料做為接近靶達到增大感應距離的目的，當磁鐵接近靶距離接近開關較遠時，如大於20mm，由於鈷基金屬的特性使得L1與電容C1、C2形成振蕩，三極體Q1的發射極輸出電壓使得三極體Q2導通，反之，則不導通，從而測出兩物體接近次數。
本實用新型的優點是測試時抗電磁幹擾能力強和感應距離長。
圖1為一種用於測量兩物體接近次數的開關結構示意圖；
圖2為接近開關和磁鐵接近靶的示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖和實施例對本實用新型作進一步說明。
實施例如圖1所示，為一種用於測量兩物體接近次數的開關結構示意圖，所述的接近開關2由感應線圈L1、電位器RP1、三極體Q1、Q2、二極體D1及電阻、電容組成，感應線圈L1中設有鈷基金屬，VCC通過電阻R3、三極體Q2和電阻R5與「地」形成一個迴路，VCC通過電感L1、電容C1、電容C2、三極體Q1、電阻R2和電阻R5與「地」形成第二個迴路，VCC通過電位器RP1、電阻R1和電阻R5與「地」形成第三個迴路。
如圖2所示，為接近開關和磁鐵接近靶的示意圖，所述用於測量兩物體接近次數的開關由磁鐵接近靶1和接近開關2組成，在一個物體上安裝磁鐵接近靶1，在另一個物體上安裝一個接近開關2，當磁鐵接近靶距離接近開關較遠時，如大於20mm，由於鈷基金屬的特性使得L1與電容C1、C2形成振蕩，三極體Q1的發射極輸出電壓使得三極體Q2導通；當磁鐵接近靶1距離接近開關2較近時如小於20mm，由於磁鐵的作用破壞了L1與電容C1、C2的振蕩特性，Q1與Q2被關斷，VCC僅由電位器RP1、電阻R1和電阻R5與「地」形成迴路，此時電阻R5輸出的電流比較小，從而可以測量兩個物體的接近次數。
由於利用鈷基金屬的特性，並採用磁鐵做為接近靶，可以大大增強抗電磁幹擾能力，同時可以通過選擇強磁材料做為接近靶達到增大感應距離的目的。
權利要求1.一種用於測量兩物體接近次數的開關，其特徵在於，在一個物體上設有磁鐵接近靶(1)，在另一個物體上設有一個接近開關(2)；所述的接近開關(2)由感應線圈L1、電位器RP1、三極體Q1、Q2、二極體D1及電阻、電容組成，VCC通過電阻R3、三極體Q2和電阻R5與「地」形成一個迴路，VCC通過電感L1、電容C1、電容C2、三極體Q1、電阻R2和電阻R5與「地」形成第二個迴路，VCC通過電位器RP1、電阻R1和電阻R5與「地」形成第三個迴路。
2.根據權利要求1所述的一種用於測量兩物體接近次數的開關，其特徵在於，所述的感應線圈L1中設有鈷基金屬。
專利摘要本實用新型涉及一種用於測量兩物體接近次數的開關，其特徵在於，在一個物體上設有磁鐵接近靶，在另一個物體上設有一個接近開關；所述的接近開關由感應線圈L1、電位器RP1、三極體Q1、Q2、二極體D1及電阻、電容組成，VCC通過電阻R3、三極體Q2和電阻R5與「地」形成一個迴路，VCC通過電感L1、電容C1、電容C2、三極體Q1、電阻R2和電阻R5與「地」形成第二個迴路，VCC通過電位器RP1、電阻R1和電阻R5與「地」形成第三個迴路。由於利用鈷基金屬的特性，並採用磁鐵做為接近靶，可以大大增強抗電磁幹擾能力，同時可以通過選擇強磁材料做為接近靶達到增大感應距離的目的。
文檔編號H03K17/95GK2874929SQ20052004730
公開日2007年2月28日 申請日期2005年12月8日 優先權日2005年12月8日
發明者袁建新, 邱善樂 申請人:上海神開科技工程有限公司