一種校準參數的方法及設備的製作方法
2023-07-20 16:39:11 3
專利名稱：一種校準參數的方法及設備的製作方法
技術領域：
本發明涉及晶片參數校準技術領域，尤其涉及一種校準參數的方法及設備。
背景技術：
在大量的燒錄晶片中，當需要不固定參數吋，由於過多的人工操作會產生標準不一、環境及條件不同等問題，燒錄到晶片中的參數可能不一定適合該晶片，無法更好的發揮晶片的性能，導致晶片不能正常工作。
發明內容
本發明實施例提供了一種校準參數的方法及設備，用於對配置參數進行校準，能夠得到有效的參數，使得參數更準確，穩定。
本發明實施例中的校準參數的方法包括將初始配置參數及外部代碼發送給晶片；發送軟重啟命令給晶片，使得晶片軟重啟，運行在初始配置參數及外部代碼的環境下；對預置的數據類型進行採樣，得到採樣數據；對採樣數據進行處理，得到有效參數。本發明實施例中的校準參數的設備包括第一發送單元，用於將初始配置參數及外部代碼發送給晶片；第二發送單元，用於在第一發送單元向晶片發送初始配置參數及外部代碼之後，發送軟重啟命令給晶片，使得晶片軟重啟，運行在初始配置參數及外部代碼的環境下；採樣單元，用於在第二發送單元發送軟重啟命令之後，對預置的數據類型進行採樣，得到採樣數據；處理單元，用於在採樣單元採樣後，對採樣數據進行處理，得到有效參數。從以上技術方案可以看出，本發明實施例具有以下優點校準參數的設備將初始配置參數及外部代碼發送給晶片之後，將發送軟啟動命令給該晶片，使得晶片軟重啟，運行在初始配置參數及外部代碼的環境下，再對預置的數據類型進行採樣，得到採樣數據，且對採樣數據進行處於，得到有效數據，能夠得到有效的參數，使得參數更加準確、穩定，且減少了人工幹預，提高生產效率。
圖I為本發明實施例中一種校準參數的方法的ー個示意圖；圖2為本發明實施例中一種校準參數的方法的另ー示意圖；圖3為本發明實施例中校準參數的設備的ー個示意圖；圖4為本發明實施例中校準參數的設備的另ー示意圖。
具體實施例方式本發明實施例提供了一種校準參數的方法及設備，用於對配置參數進行校準，得到更加準確及穩定的參數，同時減少人工幹預，提高生產效率。
請參閱圖1，為本發明實施例中校準參數的方法的實施例，包括101、將初始配置參數及外部代碼發送給晶片；在本發明實施例中，校準參數的設備啟動之後，將初始化基本參數，井根據該基本參數生成初始配置參數，同時選擇選擇需要進行校準的晶片的地址。在本發明實施例中，校準參數的設備將初始配置參數及晶片的外部代碼發送給晶片。需要說明的是，在本發明實施例中，校準參數的設備可以是任意的可執行本發明技術方案的設備，例如可以是觸控設備。102、發送軟重啟命令給晶片，使得晶片軟重啟，運行在初始配置參數及外部代碼的環境下；
在本發明實施例中，校準參數的設備在將初始配置參數及外部代碼發送給晶片之後，還將發送軟重啟命令給晶片，晶片根據接收到的軟重啟命令進行軟重啟，使得晶片能夠運行在初始配置參數及外部代碼的環境下。103、對預置的數據類型進行採樣，得到採樣數據；在本發明實施例中，晶片軟重啟之後，校準參數的設備將對預置的數據類型進行採樣，得到採樣數據。其中，預置的數據類型可以由用戶根據需要進行設置，例如，可以是時鐘參數，且還可設置數據的長度，例如可以是無符號整形的32bit長的數據。需要說明的，在本發明實施例中，校準參數設備可按照預置的採樣間隔和採樣次數對該預置的數據類型進行採樣，得到採樣數據。104、對採樣數據進行處理，得到有效參數。在本發明實施例中，校準參數的設備對採樣的數據進行處理，得到有效參數，該有效參數的準確性高，且更加穩定，同時避免了人工幹預，可有效提高生產效率。為了更好的理解本發明實施例中的校準參數的方法，請參閱圖2，為本發明實施例中一種校準參數的方法的實施例，包括201、發送私有命令給晶片，使得晶片處於私有命令模式；在本發明實施例中，校準參數的設備啟動之後，將初始化基本參數，並根據該基本參數生成初始配置參數，同時選擇選擇需要進行校準的晶片的地址。在本發明實施例中，校準參數的設備在將初始配置參數及晶片的外部代碼發送給晶片之前，將發送私有命令給晶片，使得晶片處於私有命令模式。202、將初始配置參數及外部代碼按預置的大小劃分為數據包，設置數據包的序列號;在本發明實施例中，晶片處於私有命令模式之後，校準參數的設備將初始配置參數及外部代碼按預置的大小劃分為數據包，設置數據包的序列號。需要說明的是，初始配置參數及外部代碼的數據包的劃分是分別進行的，例如，可先將初始配置參數劃分為數據包並配置序列號之後再將外部代碼劃分為數據包並設置序列號，在實際應用中可根據具體的需要設置數據包的劃分順序，此處不做限定。在本發明實施例中，劃分的數據包的大小可根據需要進行設置，例如，可將初始配置參數及外部代碼以128byte為單位進行劃分，劃分的128byte的數據再加上2byte的序列號及2byte的校驗碼構成一個數據包。203、對數據包進行CRC校驗，將得到的校驗碼保存至對應的數據包中；在本發明實施例中，校準參數的設備還將對數據包進行循環冗餘校驗碼(CyclicRedundancy Check, CRC)校驗,並將得到的校驗碼保存至對應的數據包中。204、發送包含校驗碼及序列號的數據包給晶片；在本發明實施例中，校準參數的設備將保存了數據包序列及校驗碼的數據包發送給晶片，晶片在接收到數據包之後，將按照數據包中包含的序列號對數據包進行重組，且還將對數據包進行CRC校驗，將得到的CRC校驗碼與已保存在數據包中的校驗碼進行比對，若相同，則數據包的傳輸正確，若不同，則說明數據包在傳輸過程中數據出現錯誤，能夠有效的確保數據傳輸的正確性。205、發送軟重啟命令給晶片，使得晶片軟重啟，運行在初始配置參數及外部代碼 的環境下；在本發明實施例中，校準參數的設備在將數據包發送給晶片之後，將發送軟重啟命令給晶片，使得晶片啟動軟重啟操作，且晶片軟重啟後將運行在初始配置參數及外部代碼的環境下。206、發送退出命令給晶片，使得晶片退出私有命令模式；在本發明實施例中，晶片在軟重啟之後，將進行參數的校準，校準參數的設備在對預置類型的參數進行校準之前，將發送退出命令給晶片，晶片接收到該退出命令後，將退出私有命令模式。207、對預置的數據類型進行採樣，得到採樣數據；208、計算採樣數據的平均值；209、將平均值按照預置的轉換算法轉換成有效參數；在本發明實施例中，步驟207至步驟209即為校準參數的過程，具體包括校準參數的設備可按照預置的採樣間隔及採樣次數對預置的數據類型進行採樣，得到採樣數據，並將計算採樣數據的平均值，將該平均值按照預置的轉換算法轉換成有效數據，其中該預置的轉換算法可以是(10000*12*1000)*10/(simple Value*5);在上述算法中，simple Value即為採樣數據的平均值。210、根據有效參數更新初始配置參數；211、利用更新後的初始配置參數對晶片進行量產。在本發明實施例中，得到預置的數據類型的有效參數之後，校準參數的設備將根據該有效參數更新初始配置參數，並利用更新後的配置參數對晶片進行量產，將更新後的初始配置參數及外部代碼寫入晶片的一次性可編程(One Time Programable, OTP)中。在本發明實施例中，校準參數的設備通過將初始配置參數及外部代碼劃分為數據包，並進行CRC校驗及設置數據包的序列號，能夠使得數據的傳輸更加的安全準確，同吋，利用校準參數的設備對預置類型的參數進行採樣及數據轉換實現數據的校準，使得得到的有效參數更加準確穩定，且能有有效的避免人工幹預，以提高生產效率。請參閱圖3，為本發明實施例中校準參數的設備的實施例，包括第一發送單元301，用於將初始配置參數及外部代碼發送給晶片；
第二發送單元302，用於在第一發送單元301向所述晶片發送初始配置參數及外部代碼之後，發送軟重啟命令給所述晶片，使得所述晶片軟重啟，運行在所述初始配置參數及外部代碼的環境下；採樣單元303，用於在所述第二發送單元302發送軟重啟命令之後，對預置的數據類型進行採樣，得到採樣數據；處理單元304，用於在所述採樣単元303採樣後，對所述採樣數據進行處理，得到有效參數。在本發明實施例中，第一發送單元301將初始配置參數及外部代碼發送給晶片；接著第二發送單元302發送軟重啟命令給所述晶片，使得所述晶片軟重啟，運行在所述初始配置參數及外部代碼的環境下；晶片軟重啟之後，採樣單元303對預置的數據類型進行採樣，得到採樣數據；最後，處理單元304對採樣數據進行處理，得到有效參數。在本發明實施例中，校準參數的設備對採樣的數據進行處理，得到有效參數，該有 效參數的準確性高，且更加穩定，同時避免了人工幹預，可有效提高生產效率。為了更好的理解本發明實施例中的校準參數的設備，請參閱圖4，為本發明實施例中校準參數的設備的實施例，包括如圖3所示實施例中的第一發送單元301、第二發送單元302、採樣單元303、處理単元304，且與圖3所示實施例中描述的內容相似，此處不再贅述。其中，第一發送單元301包括劃分單元401，用於將所述初始配置參數及外部代碼按預置的大小劃分為數據包，設置所述數據包的序列號；校驗單元402，用於在所述劃分単元對劃分的數據包設置序列號之後，對所述數據包進行循環冗餘校驗碼CRC校驗，將得到的校驗碼保存至對應的數據包中；數據包發送単元403，用於在所述校驗単元將所述校驗碼保存至對應的數據包之後，發送包含所述校驗碼及所述序列號的數據包給所述晶片。其中，處理單元304包括計算單元404，用於計算所述採樣數據的平均值；轉換單元405，用於將所述平均值按照預置的轉換算法轉換成有效參數。在本發明實施例中，校準參數的設備還包括第三發送單元406，用於在所述第一發送單元301之前發送私有命令給所述晶片，使得所述晶片處於私有命令模式；第四發送單元407，用於在所述第二發送單元302發送軟重啟命令之後發送退出命令給所述晶片，使得所述晶片退出私有命令模式；更新単元408，用於在所述處理単元304獲得有效參數之後，根據所述有效參數更新所述初始配置參數；量產單元409，用於在所述更新単元408更新所述初始配置參數之後，利用更新後的初始配置參數對所述晶片進行量產。在本發明實施例中，第三發送單元在發送私有命令給晶片，使得晶片處於私有命令模式，接著第一發送單元301中的劃分單元401將初始配置參數及外部代碼按預置的大小劃分為數據包，設置數據包的序列號；接著校驗單元402對數據包進行循環冗餘校驗碼CRC校驗，將得到的校驗碼保存至對應的數據包中；再由數據包發送単元403發送包含校驗碼及序列號的數據包給晶片。接著第二發送單元302發送軟重啟命令給所述晶片，使得所述晶片軟重啟，運行在所述初始配置參數及外部代碼的環境下；晶片軟重啟之後，第四發送単元407發送退出命令給晶片，使得晶片退出私有命令模式，接著，採樣單元303對預置的數據類型進行採樣，得到採樣數據；並由處理單元304中的計算單元404計算採樣數據的平均值；接著，轉換單元405將平均值按照預置的轉換算法轉換成有效參數。得到有效參數之後，更新単元408根據所述有效參數更新所述初始配置參數；最後，量產單元409利用更新後的初始配置參數對晶片進行量產。在本發明實施例中，校準參數的設備通過將初始配置參數及外部代碼劃分為數據包，並進行CRC校驗及設置數據包的序列號，能夠使得數據的傳輸更加的安全準確，同吋，利用校準參數的設備對預置類型的參數進行採樣及數據轉換實現數據的校準，使得得到的有效參數更加準確穩定，且能有有效的避免人工幹預，以提高生產效率。本領域普通技術人員可以理解實現上述實施例方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來指令相關的硬體完成，所述的程序可以存儲於ー種計算機可讀存儲介質中，上 述提到的存儲介質可以是只讀存儲器，磁碟或光碟等。以上對本發明所提供的一種校準參數的方法及設備進行了詳細介紹，對於本領域的一般技術人員，依據本發明實施例的思想，在具體實施方式
及應用範圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內容不應理解為對本發明的限制。
權利要求
1.一種校準參數的方法,其特徵在於,包括 將初始配置參數及外部代碼發送給晶片； 發送軟重啟命令給所述晶片，使得所述晶片軟重啟，運行在所述初始配置參數及外部代碼的環境下； 對預置的數據類型進行採樣，得到採樣數據； 對所述採樣數據進行處理，得到有效參數。
2.根據權利要求I所述的方法，其特徵在於，所述將初始配置參數及外部代碼發送給晶片包括 將所述初始配置參數及外部代碼按預置的大小劃分為數據包，設置所述數據包的序列號; 對所述數據包進行循環冗餘校驗碼CRC校驗，將得到的校驗碼保存至對應的數據包中； 發送包含所述校驗碼及所述序列號的數據包給所述晶片。
3.根據權利要求I或2所述的方法，其特徵在於，所述將所述初始配置參數及外部代碼發送給晶片之前還包括 發送私有命令給所述晶片，使得所述晶片處於私有命令模式。
4.根據權利要求3所述的方法，其特徵在幹，所述發送軟重啟命令給所述晶片之後還包括 發送退出命令給所述晶片，使得所述晶片退出私有命令模式。
5.根據權利要求I所述的方法，其特徵在於，所述對採樣數據進行處理，得到有效參數包括 計算所述採樣數據的平均值； 將所述平均值按照預置的轉換算法轉換成有效參數。
6.根據權利要求5所述的方法，其特徵在於，所述對採樣數據進行處理，得到有效參數之後還包括 根據所述有效參數更新所述初始配置參數； 利用更新後的初始配置參數對所述晶片進行量產。
7.ー種校準參數的設備，其特徵在於，包括 第一發送單元，用於將初始配置參數及外部代碼發送給晶片； 第二發送單元，用於在第一發送單元向所述晶片發送初始配置參數及外部代碼之後，發送軟重啟命令給所述晶片，使得所述晶片軟重啟，運行在所述初始配置參數及外部代碼的環境下； 採樣單元，用於在所述第二發送單元發送軟重啟命令之後，對預置的數據類型進行採樣，得到採樣數據； 處理單元，用於在所述採樣単元採樣後，對所述採樣數據進行處理，得到有效參數。
8.根據權利要求7所述的校準參數的設備，其特徵在於，所述第一發送單元，包括 劃分單元，用於將所述初始配置參數及外部代碼按預置的大小劃分為數據包，設置所述數據包的序列號； 校驗單元，用於在所述劃分単元對劃分的數據包設置序列號之後，對所述數據包進行循環冗餘校驗碼CRC校驗，將得到的校驗碼保存至對應的數據包中； 數據包發送単元，用於在所述校驗単元將所述校驗碼保存至對應的數據包之後，發送包含所述校驗碼及所述序列號的數據包給所述晶片。
9.根據權利要求7所述的校準參數的設備，其特徵在於，所述處理単元包括 計算單元，用於計算所述採樣數據的平均值； 轉換單元，用於將所述平均值按照預置的轉換算法轉換成有效參數。
10.根據權利要求7至9任意一項所述的校準參數的設備，其特徵在於，所述設備還包括 第三發送單元，用於在所述第一發送單元之前發送私有命令給所述晶片，使得所述晶片處於私有命令模式； 第四發送單元，用於在所述第二發送單元之後發送退出命令給所述晶片，使得所述晶片退出私有命令模式； 更新単元，用於在所述處理單元獲得有效參數之後，根據所述有效參數更新所述初始配置參數； 量產單元，用於在所述更新単元更新所述初始配置參數之後，利用更新後的初始配置參數對所述晶片進行量產。
全文摘要
本發明實施例公開了一種校準參數的方法及設備，用於對預置類型的參數進行校準。本發明實施例方法包括將初始配置參數及外部代碼發送給晶片；發送軟重啟命令給晶片，使得晶片軟重啟，運行在初始配置參數及外部代碼的環境下；對預置的數據類型進行採樣，得到採樣數據；對採樣數據進行處理，得到有效參數，使得參數更加準確、穩定，且減少了人工幹預，提高生產效率。
文檔編號G06F9/445GK102866899SQ20121025755
公開日2013年1月9日 申請日期2012年7月24日 優先權日2012年7月24日
發明者胡家安, 劉尚林, 羅源坤 申請人:深圳芯邦科技股份有限公司