分析器具供給裝置的製作方法
2023-08-08 21:41:46 3
專利名稱：分析器具供給裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種從容納多個分析器具的容納部單個地取出分析器具並送到目的部位的分析器具供給裝置。
背景技術：
尿液的檢查是通過例如，用光學方法觀察將尿液浸透於試片的試劑墊時的顯色來進行的。在試劑墊上顯色的觀察是通過例如，將試片送到在試劑墊上滴加尿液的部位以後，再將試片送到測光部位來進行的。而將試片供給到滴加尿液的部位是使用例如試片供給裝置進行的(參照專利文獻1和專利文獻2)。
作為試片供給裝置，有例如圖21和圖22A所示的裝置。如圖所示試片供給裝置9，其結構使得能夠從容納多片試片90A、90B的容納部91中，利用可移動體92逐片地取出試片90A並進行輸送。在容納部91中設有檔板93，以使多片試片90A、90B不能同時從容納部91中被取出。在可移動體92上設有能夠容納一片試片90A的槽92a。
如圖22A所示，在試片供給裝置9中，通過將可移動體92的槽92a定位在與容納部91相對應的部位，將試片90A容納在槽92a中。在可移動體92從此狀態下向A方向移動的情況下，如圖22B和圖22C所示，從容納部91中取出試片90A。此時，在容納部91中，位於容納在槽92a中試片90A上方的試片90B，被擋板93擋住，只從容納部91中取出容納在槽92a中的試片90A。如上所述取出的試片90A，通過使可移動體92向方向A移動，將其供給到目的部位，例如光學測量部位。
但是，由於試片90A、90B通常都是許多片同時保存在瓶子中，因此在保存狀態較差的情況下，一部分試片90A、90B會發生塑性變形而彎曲(參照圖23的符號90A』)。如在圖23中所示，在將彎曲的試片90A』容納在可移動體92的槽92a中的情況下，試片90A』不能完全地容納在槽92a中，使試片90A』的一部分從槽92a中突出。在此狀態下，當使可移動體92向方向A移動的情況下，試片90A』會在從槽92a突出的部分與擋板93發生幹涉，將試片90A』從槽92a中撬出。因此，用試片供給裝置9，不能將彎曲的試片90A』從容納部91中取出。從而，因在容納部91中混有彎曲的試片90A』，使得在試片供給裝置9中，試片90A、90A』、90B的取出比率(對於執行取出次數的成功取出次數)降低，產生在單位時間內取出的試片90A、90A』、90B的片數減少的問題。
專利文獻1特開平11-118808號公報專利文獻2特開2000-35433號公報發明內容本發明的目的是，在從容納多個分析器具的容納部逐個取出分析器具，並將其送到目的部位的分析器具供給裝置中，即使在容納部中含有彎曲的分析器具的情況下，也能夠在單位時間內從容納部取出多個分析器具而不降低從容納部取出分析器具的效率。
由本發明提供的分析器具供給裝置，包括用來容納多個分析器具的容納部和具有用來保持容納在此容納部中的分析器具之一的凹入部分的可移動體，且在將分析器具保持在上述凹入部分的狀態下，通過使上述可移動體相對於上述容納部相對運動，從上述容納部中逐一取出上述分析器具，其中，上述容納部具有，用於在使上述可移動體相對於上述容納部進行相對運動時，與位於保持在上述凹入部分中的分析器具上方的分析器具相干涉，並使上述凹入部分有選擇地保持一片分析器具的幹涉部件，上述幹涉部件構成為，在將彎曲的分析器具保持在上述凹入部分的狀態下，當上述可移動體相對於上述容納部進行相對運動時，通過在修正該分析器具的彎曲的狀態下將改分析器具保持在上述凹入部分中，而將該試片從上述容納部中取出。
幹涉部件，具有在例如與垂直方向相交的方向(例如水平方向)上擴展，同時用來與位於容納在凹入部分中的分析器具上方的分析器具相干涉的板狀部分。
凹入部分形成為在例如與分析器具輸送方向垂直的方向上延伸。在此情況下，用來與位於容納在板狀部分的凹入部分中的分析器具上方的分析器具相干涉的幹涉邊緣，優選具有相對於凹入部分的延伸方向非平行的部分，例如，具有相對於凹入部分延伸方向傾斜的直線狀部分或曲線狀部分。
幹涉部件，也可具有向與垂直方向相交的方向上突出，且用來與位於容納在凹入部分中的分析器具上方的分析器具相干涉的多個幹涉要素。
多個幹涉要素中的至少一部分幹涉要素，例如其突出量不同。凹入部分在與分析器具的輸送方向相垂直的方向上延伸形成的情況下，優選多個幹涉要素中的至少一部分幹涉要素，從其前端到上述凹入部分的最短距離不同，例如，相對於凹入部分的延伸方向排列設置成傾斜的直線狀或大致直線狀，或者排列設置成曲線狀或大致呈曲線狀。
在幹涉部件具有在與上述輸送方向相交的方向(例如水平方向)上擴展的板狀部分的情況下，多個幹涉要素通過在上述板狀部分上形成切口來進行設置。
多個幹涉要素也可以通過固定多個銷釘來進行設置。
幹涉部件也可以具有向下突出的多個銷釘。在此情況下，當凹入部分在與上述輸送方向垂直的方向上延伸時，在此，多個銷釘中的至少一部分銷釘，從其前端到凹入部分的最短距離不同，例如，相對於凹入部分的延伸方向排列設置成傾斜的直線狀或大致直線狀，或者排列設置成曲線狀或大致呈曲線狀。
可移動體通過例如在水平方向上移動或轉動，從容納部中取出分析器具。
圖1是對表示涉及本發明的試片供給裝置一個例子進行透視描述的整體斜視圖。
圖2是表示用來說明在圖1中所示的試片供給裝置動作的主要部分的斷面圖。
圖3A是表示用來說明在圖1中所示的試片供給裝置動作的主要部分的斜視圖，圖3B是表示用來說明在圖1中所示的試片供給裝置動作的主要部分斷面圖。
圖4A是表示用來說明在圖1中所示的試片供給裝置動作的主要部分的斜視圖，圖4B是表示用來說明在圖1中所示的試片供給裝置動作的主要部分斷面圖。
圖5A是表示用來說明在圖1中所示的試片供給裝置動作的主要部分的斜視圖，圖5B是表示用來說明在圖1中所示的試片供給裝置動作的主要部分斷面圖。
圖6是表示刮平部件另一個例子的斜視圖。
圖7是表示刮平部件另一個例子的斜視圖。
圖8是表示刮平部件另一個例子的斜視圖。
圖9是表示刮平部件另一個例子的斜視圖。
圖10是表示刮平部件另一個例子的斜視圖。
圖11是表示刮平部件另一個例子的斜視圖。
圖12是表示刮平部件另一個例子的斜視圖。
圖13是表示刮平部件另一個例子的斜視圖。
圖14是表示刮平部件另一個例子的斜視圖。
圖15是表示刮平部件另一個例子的斜視圖。
圖16是表示刮平部件另一個例子的斜視圖。
圖17是表示刮平部件另一個例子的斜視圖。
圖18是圖17沿著XVIII-XVIII直線的斷面圖。
圖19是在圖17和圖18中所示的刮平部件的平面圖。
圖20是表示試片供給裝置另一個例子的斜視圖。
圖21是表示歷來的試片供給裝置一個例子的斜視圖。
圖22是用來說明在圖21中所示的試片供給裝置動作的斷面圖。
圖23是用來說明在圖21中所示的試片供給裝置課題的斜視圖。
具體實施例方式
圖1所示的試片供給裝置1是，組裝在例如分析裝置中，或與分析裝置連接使用的，如圖2A～圖2C及圖3A所示，將試片2A、2A』、2B向A1方向輸送，將例如試片2A、2A』、2B供給到光學測量部位。此試片供給裝置1供給在短紙條狀的基材20上形成有多個試劑墊的試片2A、2A』、2B，包括可移動體3和容納部4。
如圖1所示，可移動體3具有用來容納試片2A、2B的凹入部分30，與容納部4在A1和A2方向上進行相對運動。凹入部分30形成與試片2A、2B的外觀形狀相對應的尺寸，並在與A1、A2方向垂直的方向B1、B2上延伸。通過使可移動體3在A1、A2方向上移動，如圖2A所示，使該凹入部分30在如圖2A所示接近容納部4內部的狀態，和如圖2C所示相對於容納部4露出的狀態之間進行選擇。可移動體3向A1、A2方向的移動，通過例如從圖外的電機等驅動源供給動力來進行。
如圖1和圖2A所示，容納部4用來容納多個試片2A、2B，具有構成容納部4側壁的本體部分40。容納部4還具有刮平部件41和下部開口42。
刮平部件41用於，在從容納部4中取出試片2A、2B時，不能使多片試片2A、2B同時取出。此刮平部件41具有使刮平功能片44從與本體部分40接合的安裝片43向A2方向伸出的形態。刮平功能片44形成A1、A2方向的尺寸趨向B2的方向連續減小的板狀。即，刮平功能片44具有相對於可移動體3的凹入部分30所延伸的方向非平行的幹涉面44a。幹涉面44a用於，在使可移動體3在A1方向上移動而使凹入部分30位於容納部4的外部時，與位於容納在凹入部分30中的試片2A正上方的試片2B幹涉，從其正上方除去試片2B。即，試片供給裝置1，通過將試片2A容納在凹入部分30中，而僅使試片2A從刮平功能片44的下方通過，將試片2A取出到容納部4的外部。
下部開口42用於使容納在容納部4中的試片2A、2B與可移動體3接觸，並剛好由可移動體3封住。在此下部開口42上，A1方向一側的邊緣實質上由幹涉面44a來限定的。
下面參照圖2A～圖2C，對於在試片供給裝置1中試片的取出和運送的動作進行說明。
如圖2A所示，在試片供給裝置1中，通過使可移動體3的凹入部分30位於與容納部4相對應的部位上，將容納試片2A容納在凹入部分30中。如圖2B和圖2C所示，在使可移動體3由此狀態向A1方向移動的情況下，位於容納在凹入部分中的試片2A上方的試片2B，與刮平功能片44的幹涉面44a相干涉而被刮平。另一方面，容納在凹入部分30中的試片2A不與幹涉面44a相干涉，利用可移動體3向A1方向的移動而從刮平功能片44的下方通過，從容納部4中取出。如此取出的試片2A，通過可移動體3進一步向A1方向移動，供給到目的部位，例如光學測量部位。
如上所述，當試片2A、2B保存在瓶子中時會發生彎曲，在容納部4中會混有彎曲的試片2A』。在此情況下，如圖3A和圖3B所示，會將彎曲的試片2A』容納在凹入部分30中。在試片供給裝置1中，即使有彎曲的試片2A』，也會如圖3～圖5所示，通過使可移動體3向A1方向移動，將容納在凹入部分30中的試片2A』從容納部4中取出，可以將該試片2A』供給到光學測量部位等目的部位。
更具體說，如圖3A和圖3B所示，在使試片2A』容納在凹入部分30中的狀態下，例如試片2A』的一部分形成從凹入部分30的上方突出的狀態。在此狀態下，當使可移動體3向A1方向移動時，如圖4A和圖4B所示，試片2A』被容納在凹入部分30中的部分，位於刮平功能片44的下方。在使可移動體3從此狀態向A1方向移動的情況下，如圖5A和圖5B所示，利用刮平功能片44向試片2A』施加向下的壓力，使試片2A』上從凹入部分30突出的部分變得平坦並容納在凹入部分30中，可使整個試片2A』從刮平功能片44的下方通過。由此，即使在試片供給裝置1中含有彎曲的試片2A』，也能夠取出到容納部4的外部。
在如圖所示的例子中，只說明了彎曲的試片2A』在B1方向一側的端部容納在凹入部分30中，而在B2方向一側的端部從凹入部分30上方突出的情況。但是，在彎曲的試片2A』在B2方向一側的端部容納在凹入部分30中，而在B1方向一側的端部從凹入部分30上方突出的情況下，則由刮平功能片44將試片2A』從凹入部分30中撬出。但是，在反覆地嘗試中，試片2A』內外顛倒，形成試片2A』在B1方向一側的端部容納在凹入部分30中的狀態。因此，在試片供給裝置1中，無論試片2A』是處於彎曲狀態還是處於容納在凹入部分30中的狀態，通過多次嘗試總能夠確實地將試片2A』取出。另外，在由刮平功能片44將試片2A』從凹入部分30中撬出的結構中，能夠以較高的概率使試片2A』內外顛倒。由此，在試片供給裝置1中，能夠減少用來取出彎曲試片2A』的嘗試的次數。
如上所述，由於即使在試片供給裝置1中含有彎曲試片2A』，也能夠確實地從容納部4中取出，所以即使在容納部4中混有彎曲試片2A』，也可以極力緩解試片2A、2A』、2B的低下的取出概率，能夠確保在單位時間內從容納部4中取出多片試片2A、2A』、2B。
在試片供給裝置1中，刮平部件41的幹涉面44a形成傾斜的平面，但刮平部件的結構可以進行各種變更。例如，刮平部件也可以如圖6～圖13所示構成。
如圖6所示刮平部件5A，其幹涉面50由平行平面50a和傾斜平面50b組合而成。圖7所示刮平部件5B，其幹涉面51由兩個傾斜平面51a組合而成，中間部分向A2方向突出成為一個彎折面。圖8所示刮平部件5C，其幹涉面52由兩個傾斜平面52a組合而成，其中間部分形成向A1方向凹陷的彎折面。圖9所示刮平部件5D，其幹涉面53由多個傾斜平面53a組合形成波動狀的彎折面。圖10所示刮平部件5E的幹涉面54形成B1一側的端部向A2方向突出的曲面。圖11所示刮平部件5F的幹涉面55形成中間部分向A2方向突出的凸曲面。圖12所示刮平部件5G的幹涉面56形成中間部分向A1方向凹陷的凹曲面。而圖13所示刮平部件5H的幹涉面57形成波動狀的凹凸曲面。
另外，在容納部中的刮平部件，也可形成如圖14A～圖14E、圖15A～圖15D、圖16A～圖16E和圖17～圖19所示形狀。
圖14A～圖14E和圖15A～圖15D所示刮平部件6A～6I，在刮平功能片60A～60I上，在B1，B2方向上並列地形成向A1、A2方向延伸的多個切口61A～61I。由此，使刮平部件6A～6I具有向A2方向突出的多個幹涉要素62A～62I。
而且，圖14A～圖14E所示刮平部件6A～6E是，在圖1、圖6～圖9所示形狀的刮平功能片上設置多個切口61A～61E形成的，而圖15A～圖15D所示刮平部件6F～6I是，在如圖10～圖13所示形狀的刮平功能片上設置多個切口61F～61I形成的。
當然，在刮平功能片上設置切口的位置、個數和大小以及設置切口之前刮平功能片的形狀，並不限於如上所述的例子，在能夠實現本發明目的的範圍內可以進行各種各樣的變更。
圖16A～圖16E所示的刮平部件7A～7E為，在安裝片71A～71E上，向A2方向突出，且在B1、B2方向上並排固定多個銷釘70A～70E。多個銷釘70A～70E的前端形成半球狀。
在圖所示刮平部件7A～7E中，多個銷釘70A～70E中的至少一部分銷釘70A～70E在A1、A2方向上的前端的位置不同。多個銷釘70A～70E的配置大致與圖14A～圖14E所示幹涉要素62A～62E的配置一致。
當然，多個銷釘的配置也可以採用與圖15A～圖15D所示多個幹涉要素62F～62I的前端同樣或類似的布局，在能夠實現本發明目的的範圍內也可以採用其它的配置。
如圖17～圖19所示刮平部件8，將多個銷釘80從安裝片81向下突出固定。
多個銷釘80與位於容納在可移動體3的凹入部分30中的試片正上方的試片相干涉，用來從其正上面除去試片。安裝片81用來將多個銷釘80固定在容納部4的本體部分40上，具有固定在容納部4的本體部分40中壁45上的直立部分82和用來固定多個銷釘83的水平部分83。
水平部分83與圖1所示刮平部件41的刮平功能片44是同樣的，形成使A1、A2方向上的尺寸趨向B2方向連續減小的板狀。在此水平部分83上，沿著A2方向一側的邊緣設有多個銷釘82。即，如圖19中所明確顯示的那樣，將多個銷釘80配置成，在B1、B2方向上傾斜的直線。
當然，也可以將多個銷釘設置成，沿如圖6～圖13所示刮平部件5A～5H中A2方向一側的邊緣的布局，在能夠實現本發明目的的範圍內，也可以採用其它的配置。
如圖20所示，本發明也可以適用於，通過轉動旋轉體3』從容納部4中取出試片的試片供給裝置1』。在圖20中，試片供給裝置1』的刮平部件的幹涉面形成傾斜平面，但幹涉面的形狀可以採用參照圖6～圖13進行說明的形狀，而作為刮平部件也可以採用參照圖14～圖19進行說明的形狀。當然，作為在試片供給裝置1』中的刮平部件，在能夠實現本發明目的的範圍內，也可以採用其它的形狀。
權利要求
1.一種分析器具供給裝置，其特徵在於，包括用來容納多個分析器具的容納部和具有用來保持容納在此容納部中的分析器具中之一的凹入部分的可移動體，且在將分析器具保持在所述凹入部分的狀態下，通過使所述可移動體相對於所述容納部相對運動，從所述容納部中逐一取出所述分析器具；其中，所述容納部具有，用於在使所述可移動體相對於所述容納部進行相對運動時，與位於保持在所述凹入部分中的分析器具上方的分析器具相干涉，並使所述凹入部分有選擇地保持一片分析器具的幹涉部件；所述幹涉部件構成為，在將彎曲的分析器具保持在所述凹入部分的狀態下，當所述可移動體相對於所述容納部進行相對運動時，通過在修正該分析器具的彎曲的狀態下將該分析器具保持在所述凹入部分中，而將該試片從所述容納部中取出。
2.如權利要求1所述分析器具供給裝置，其特徵在於所述幹涉部件具有在與垂直方向相交的方向上擴展，同時用來與位於容納在所述凹入部分中的分析器具上方的分析器具相干涉的板狀部分。
3.如權利要求2所述分析器具供給裝置，其特徵在於所述板狀部分在水平方向上擴展。
4.如權利要求2所述分析器具供給裝置，其特徵在於所述凹入部分形成為在與所述分析器具輸送方向相垂直的方向上延伸，用來與位於容納在所述板狀部分的所述凹入部分中的分析器具上方的分析器具相干涉的幹涉邊緣，具有相對於所述凹入部分的延伸方向非平行的部分。
5.如權利要求4所述分析器具供給裝置，其特徵在於所述幹涉邊緣具有相對於所述凹入部分的延伸方向傾斜的直線狀部分或曲線狀部分。
6.如權利要求1所述分析器具供給裝置，其特徵在於所述幹涉部件具有向與垂直方向相交的方向上突出，且用來與位於容納在所述凹入部分中的分析器具上方的分析器具相干涉的多個幹涉要素。
7.如權利要求6所述分析器具供給裝置，其特徵在於所述多個幹涉要素中的至少一部分幹涉要素，其突出量不同。
8.如權利要求6所述分析器具供給裝置，其特徵在於所述凹入部分形成為在與所述分析器具的輸送方向垂直的方向上延伸；所述多個幹涉要素中的至少一部分幹涉要素配置為從其前端到所述凹入部分的最短距離不同。
9.如權利要求8所述分析器具供給裝置，其特徵在於所述至少一部分的幹涉要素配置成相對於所述凹入部分延伸的方向呈傾斜的直線狀或大致直線狀，或者曲線狀或大致呈曲線狀排列。
10.如權利要求6所述分析器具供給裝置，其特徵在於所述幹涉部件具有在與所述輸送方向相交的方向上擴展的板狀部分，所述多個幹涉要素通過在所述板狀部分上形成多個切口進行設置。
11.如權利要求10所述分析器具供給裝置，其特徵在於所述板狀部分形成為在水平方向上擴展。
12.如權利要求6所述分析器具供給裝置，其特徵在於所述多個幹涉要素通過固定多個銷釘進行設置。
13.如權利要求1所述分析器具供給裝置，其特徵在於所述凹入部分在與所述分析器具的輸送方向垂直的方向上延伸，所述幹涉部件具有向下突出的多個銷釘，而且，所述多個銷釘中的至少一部分銷釘配置為從其前端到所述凹入部分的最短距離不同。
14.如權利要求13所述分析器具供給裝置，其特徵在於所述至少一部分的銷釘配置成相對於所述凹入部分延伸的方向呈傾斜的直線狀或大致直線狀，或者曲線狀或大致呈曲線狀排列。
15.如權利要求1所述分析器具供給裝置，其特徵在於所述可移動體構成為通過在水平方向上移動從所述容納部中取出分析器具。
16.如權利要求1所述分析器具供給裝置，其特徵在於所述可移動體構成為通過轉動從所述容納部中取出分析器具。
全文摘要
本發明涉及一種分析器具供給裝置(1)，包括用來容納多個分析器具的容納部(4)和用來在將分析器具保持在凹入部分(30)的狀態下，通過使其相對於容納部(4)進行相對運動，而將分析器具從容納部(4)中取出的可移動體(3)。容納部(4)具有在使可移動體(3)相對於容納部(4)相對運動時用來與被保持在容納部(4)的凹入部分(30)中的分析器具上方的分析器具相干涉的幹涉部件(41)。幹涉部件(41)構成為，在分析器具被保持在凹入部分(30)中的狀態下，通過相對於容納部(4)的相對運動，能夠在將該分析器具的彎曲糾正的狀態下，將處於被保持在凹入部分(30)中狀態下的該分析器具從容納部(4)中取出。
文檔編號G01N1/00GK1871520SQ20048003117
公開日2006年11月29日 申請日期2004年10月19日 優先權日2003年10月22日
發明者村田康人 申請人:愛科來株式會社