串行印表機的製作方法

2023-06-04 17:04:46 1

專利名稱：串行印表機的製作方法
技術領域：
本發明一般涉及串行印表機，更具體地，涉及含有同步信號發生電路的串行印表機，該同步信號發生電路用於使裝有列印頭的滑架移動與記錄頭的記錄動作同步。
串行印表機執行一個記錄(列印)動作時，使安裝有記錄裝置的列印頭的滑架在記錄媒體上移動。然而，如果由於某種影響而使滑架速度波動時，則記錄結果表現為濃度分散，尤其是在彩色印表機中，問題在於色彩對準中出現偏差。
避免這些問題的迄今已知的方法之一涉及這些步驟檢測安裝有記錄裝置的滑架相對於設備主體的移動量，以及同步於該檢測結果而經過記錄裝置執行一個記錄動作。
更具體地，將一個線性編碼器的定標部分固定到設備主體上。將相對於該定標部分移動的滑架安裝到線性編碼器的檢測部分。另一方面，來自該檢測部分的輸出信號被放大，之後被取到滑架之外。記錄信號同步於該放大信號而產生，因而避免了列印濃度的分散和色彩對準的偏差。
參照附圖解釋現有技術的一個例子。圖44是常規舉例中同步信號發生電路配置的線路圖。線性編碼器的定標部分被安裝在滑架內部並固定到設備主體。線性編碼器的檢測部分101通過檢測定標部分檢測滑架相對於設備主體的相對移動位置。檢測部分101由基於磁阻效應而動作的MR元件組成，該檢測部分與一對磁檢測元件102、103安裝在一起。該檢測部分101也與安裝在滑架上的基底5相連，如圖中虛線所示。如公知，連接到該基底5的是構成恆流電路的放大器104和105，用於放大檢測信號的放大器106，以及比較器107。輸出信號303因而被輸出。然後，將用於測定基準電壓的可變電阻158連接到比較器107，並封裝在基底5上。因此，其調節在滑架上進行。
現在解釋如此構造的電路的工作。磁檢測元件的102、103分別由恆流電路104和105供以恆流。磁樣事先在固定於設備主體的線性編碼器的定標部分上以固定間隔記錄下來。檢測部分101沿定標部分移動。隨著這種移動，檢測元件102、103的電阻值發生變化。電阻值的變化被檢測為電壓的改變並由放大器106進行放大。放大後的信號輸入到比較器107的一個輸入端。該比較器107將放大的信號與由調節可變電阻158而預置的並輸入比較器107的另一輸入端的基準電壓相比較。然後獲得輸出信號303，作為同步信號。
再者，檢測設備和電路系統，由於高度依賴於溫度，列印/記錄結果會受到有害影響。這將根據附圖詳細解釋。圖45A顯示了基準電壓與輸入到比較器107的信號之間的關係。圖45B結合圖45A說明了比較器107的輸出信號303的脈衝波形圖。如圖中所描繪的，比較器107的輸入信號301的波形近似於正弦波，以固定周期變化。
另一方面，由於獲得了基準電壓作為閾值，在比較器的脈衝形輸出信號303中顯現出輸入信號301和基準電壓302之間的差值，從圖中能夠理解，表現為輸出信號的佔空變化。如果記錄/列印動作同步於該輸出信號303而執行，則引起濃度分散和輸出圖象中的刻線(ruled-line)偏差。這導致記錄質量明顯下降。
圖46A和46B解釋了記錄動作，顯示了如何驅動與上述輸出信號303同步的記錄裝置在記錄媒體上記錄點D。如圖所示，可以看到在點D之間的間距P是變化的，則記錄結果是產生濃度分散。尤其在彩色印表機中，這造成色彩對準中出現偏差。
如上所述，在常規設備中，記錄/列印動作與輸出信號同步進行。因此，輸出信號脈波形中的佔空變化直接導致列印結果質量的下降。
再者，在常規設備中，用於限制輸出信號脈衝波形中的佔空變化的裝置取決於電路元件本身的穩定性。這樣，必須使用昂貴的部件。這又引入了成本增加的問題。
於是，當從不同觀點檢測常規實例時，根據檢測裝置和電路系統，溫度依賴程度高，在現有技術例中也是如此。因而在列印/記錄結果中能夠造成有害影響。圖47的圖表說明了溫度對MR元件磁阻效應率的依賴特性。圖48的圖表顯示了溫度關於MR元件的電阻值的依賴特性。該MR元件的輸出由下式表達Vs＝K×(△ρ/ρ)×R×i其中K是常量，△ρ/ρ是磁阻效應率，R是電阻，i則額定電流。
由前式表示的並示於圖47、48的MR元件具有很大的溫度依賴特性，因此，其輸出變為如圖17所示。
以下是對在線性編碼器中使用的MR元件的情形下動作的解釋。圖49A是說明基準電壓302與輸入比較器107的信號301之間關係的波形圖。圖49B是在建立如圖49A所示關係時獲得的同步輸出信號303的波形圖。比較器107的輸入信號301的波形假定近似於正弦波形，如圖所示以固定周期變化。
另一方面，由於獲得了基準電壓302作為閾值，在比較器的輸出信號303中，顯現出輸入信號301和基準電壓302之間的差值，從圖45A和45B中能夠理解，表現為輸出信號的佔空變化。如果記錄/列印動作同步於該輸出信號303而執地，則引起濃度分散和輸出圖象的刻線偏差。這導致記錄質量明顯下降。鑑於此，如已在圖46A和46B中所解釋的，可以看到點D之間的間距P發生變化，則在記錄結果中產生濃度分散。尤其在彩色印表機中，這可能造成色彩對準中出現偏差。
本發明的第一個目的在於提供一種能夠抑制佔空變化的串行印表機。
本發明的第二個目的在於提供一種能夠避免因噪聲進入同步信號產生電路而產生的計數錯誤的串行印表機。
本發明的第三個目的在於提供一種能夠在大溫度範圍內獲得完美記錄結果的串行印表機。
本發明的第四個目的在於提供一種能夠調節基準電壓以獲得理想基準電壓的串行印表機。
本發明的第五個目的在於提供一種能夠在滑架的整個移動範圍內、即使磁線性編碼器的定標部分與檢測部分的MR元件之間的間隙不固定時也能獲得理想基準電壓的串行印表機。
下面結合附圖進行說明之後，本發明的其他目的和優點將會更明顯。
圖1是說明根據本發明的串行印表機的主要部分的透視圖;
圖2顯示了本發明的第一實施例中用於從圖1所示的印表機的編碼器產生同步信號的塊控制電路;
圖3是充分說明圖2所示同步信號發生電路的線路圖;
圖4顯示了圖2所示的佔空變化抑制裝置的塊控制電路;
圖5是圖4所示的佔空變化抑制裝置的監測裝置的流程圖;
圖6是圖4所示的佔空變化抑制裝置的檢測裝置的流程圖;
圖7是圖4所示的佔空變化抑制裝置的控制裝置的流程圖;
圖8A和8B圖示了圖2所示控制電路的輸出和列印點;
圖9顯示了本發明第二實施例的佔空變化抑制裝置的塊控制電圖10是說明圖9所示的佔空變化抑制裝置的主要部分的線路圖;
圖11是圖9所示佔空變化抑制裝置的監測裝置的時序圖;
圖12圖示了本發明第三實施例中圖2所示的佔空變化抑制裝置的塊控制電路;
圖13詳細顯示本發明第四實施例中圖2所示的同步信號發生電路的線路圖;
圖14顯示了圖13所示的溫度補償電路的塊控制電路;
圖15A顯示了溫度與比較器的理想基準電壓的關係;
圖15B顯示了溫度與圖14所示的溫度測量部分的輸出電壓之間的關係;
圖15C顯示了基準電壓的設定值與溫度測量部分的基準電壓(存儲於圖14所示的存儲器中)之間的關係;
圖15D說明了溫度與圖14所示存儲器的數據給定的基準電壓之間的關係;
圖16A圖示了圖14所示比較器的輸出信號的波形圖;
圖16B是將基準電壓設定值寫入圖14所示存儲器的寫入動作的流程圖;
圖16C是圖14所示比較器的基準電壓的設定動作的流程圖;
圖17顯示了溫度與MR元件輸出之間的關係;
圖18A是說明本發明第五實施例中如圖13所示的溫度補償電路的線路圖;
圖18B是說明圖18A所示的溫度補償電路的另一例子的線路圖;
圖19A顯示了基準電壓與圖13所示的比較器的輸入信號之間的關係;
圖19B是圖13所示比較器的輸出信號的波形圖;
圖20是詳細說明本發明第六實施例中圖2所示的同步信號發生電路的線路圖;
圖21是詳細說明本發明第七實施例的同步信號發生電路的線路圖;
圖22詳細說明了圖21所示的計數器部分的電路;
圖23A-23I是圖22所示的計數器電路的各個部分的時序圖;
圖24是說明本發明的第八實施例中為代替圖21所示計數器而設置的噪聲濾波電路的線路圖;
圖25A-25C是圖24所示噪聲濾波電路各部分的時序圖;
圖26說明了圖1所示印表機的塊控制電路;
圖27詳細說明了圖26所示位置計數器的電路;
圖28是詳細說明圖26所示的佔空檢測電路的線路圖;
圖29顯示了滑架移動速度;
圖30是圖26所示控制電路的流程圖;
圖31是接續圖30的流程圖;
圖32中的流程圖接續圖30;
圖33中的流程圖顯示了圖31所示流程圖的控制內容更改後的各步;
圖34圖示了本發明第十一實施例中圖1所示印表機的塊控制電路;
圖35中的流程圖顯示了圖34所示比較器的基準電壓的初始調整程序;
圖36A是圖35所示流程圖中步驟S221-S223的流程圖;
圖36B是圖36A中流程圖步驟S222的詳細流程圖;
圖37圖示了圖34所示比較器的輸入波形;
圖38圖示了本發明第十二實施例中圖34所示比較器的輸入波形;
圖39中的流程圖說明了本發明第十三實施例中圖34所示比較器的基準電壓的初始調整程序;
圖40是顯示圖34所示比較器的輸入、基準電壓和輸出之間關係的時序圖;
圖41是圖34所示控制電路的一行列印序列的流程圖;
圖42A和42B中的解釋性時序圖顯示了圖34所示比較器的基準電壓的變化;
圖43圖示了本發明第十四實施例中圖1所示印表機的塊控制電路;
圖44圖示了常規的同步信號發生電路的線路圖;
圖45A和45B顯示了圖44所示同步信號發生電路的輸入和輸出信號波形;
圖46A和46B中的解釋示了基於圖44所示的同步信號發生電路的記錄動作;
圖47顯示了溫度與磁阻效應率的關係;
圖48顯示了溫度與MR元件的電阻值之間的關係;以及圖49A和49B是圖44所示同步信號產生電路的各個部分的時序圖。
參照


本發明最佳實施例。
圖1是說明本發明串行印表機的主要部分與記錄媒體的透視圖。參照圖1，虛線所指的滑架1基於噴墨記錄方法安裝有記錄部分1h。另一方面，滑架1由導軸構件11引導，在導軸構件外表面形成有螺槽。嚙合部分(未示出)隨著導軸構件11的旋轉而與螺槽平行。因而，滑架1在圖示箭頭方向上相對於繞在壓紙捲筒12外表面上的記錄紙13而往復運動。點D以間距P記錄在記錄紙(記錄媒體)13上，從而形成圖象或字符。所謂的串行印表機是以這種方式構造的。
如此構造的滑架1引入有一個編碼器以獲得同步信號。該編碼器是磁線性編碼器。以下是其結構。磁樣(magneticpattern)以相應於比如180點/英寸(dpi)或360dpi的列印間距密度記錄在線表面所形成的磁基底上。線性編碼器的定標部分501被固定在設備主體100上。另一方面，由MR元件等組成的磁頭502被固定在滑架1的內部。因而隨著滑架1的移動能夠進行位置檢測。
再者，用於從磁頭內的MR元件取出輸出信號的軟性印刷線路板503與磁頭502連接起來。連接部分504連接到連接器(未示出)，從而連接到安裝於滑架1上的基底5，如圖中虛線所示。
〔第一實施例〕圖2是本發明第一實施例的基本框圖。圖中215所指的本發明的佔空變化抑制裝置由佔空監測裝置215a、檢測裝置215b和控制裝置215c組成。佔空變化抑制裝置215c的控制輸出被傳送到直流電壓源211的基準電壓302的控制輸入。基準電壓302用於輸出產生關於輸入信號301的閾值，輸入信號301從檢測部分101經放大部分106輸入到比較器107。因而基準電壓302相對於輸出信號的空得以穩定。
圖3和4是基於框圖(圖2)的線路舉例。參照圖3，檢測部分101設置有磁檢測元件(MR元件)102和103。線性編碼器的定標部分的著磁部分由磁檢測元件102和103掃描。磁檢測元件中磁阻的變化根據基底5的線路而檢測到。基底5的電路中的恆流電源104、105提供適當的偏置達到一個電平，以便檢測經過MR元件的負信號。由檢測部分101對線性編碼器的定標部分的磁特性的檢驗結果接近於正弦波，並被傳輸到放大部分106。該正弦波利用基準電壓302作為閾值而被轉換成脈衝輸出。為其設置比較器107並輸出一個輸出信號303。對該輸出信號303的脈衝佔空進行比較和檢查。在控制電路基底4上構造的佔空變化抑制裝置(將在下文說明)產生輸入數據信號150，以使佔空比率為50%。輸入數據信號150被傳送到D/A轉換器149。D/A轉換器149將定義為數字值的輸入數據信號轉換為模擬值的控制電壓信號151。控制電壓信號151輸入到由電晶體Q111和Q112組成的直流電壓源。直流電壓源211根據控制電壓信號151產生具有適當電壓值的基準電壓302。基準電壓302輸入到比較器107的一個輸入端。
圖4是上述佔空變化抑制裝置的電路框圖。圖4中705代表微分電路，由比較器來的輸出信號303輸入其中，用於檢測輸出信號303的電平切換。微處理器701控制各個功能部件的動作。計數器702測量輸出脈衝寬度(換言之，即佔空度)。緩衝區703暫時存儲計數器702的計數值。存儲器704存儲一個控制算法和一個閾值表。
圖5中的流程圖顯示了佔空變化抑制裝置中的監測裝置的動作。首次開始時，當輸出信號303的電平切換時，微分電路705向微處理器(MPU)701發送一個觸發輸出(步驟S1)。MPU701接收到觸發輸出並復位計數器702(步驟S2)之後，使計數器702開始計數用以測量輸出信號的脈衝寬度(步驟S3)。經過一段時間後，輸出信號303的電平被反轉。當電平反轉時，微分電路705產生觸發輸出(步驟S4)。此時，MPU701向緩衝區703輸出計數器702的計數值。與此同時，MPU偶然識別到計數值的數據已被輸入到緩衝區703。動作返回步驟S2。然後重複上述相同的步驟，從而監測輸出脈衝的佔空度。
圖6是佔空變化抑制裝置中檢測裝置的動作的流程圖。開始時，設定系統，清空緩衝區703的內容(步驟S11)。在帶有列印動作輸出信號303上升(或下降)時從微分電路705輸出一個觸發(步驟S12)。MPU701檢測到該觸發，並將計數器702的計數值傳送到緩衝區703(步驟S13)。MPU701檢測到緩衝區703的一個值已被更新。佔空是在MPU701中檢測的。因此，將其數據從緩衝區703中取入(步驟S14)。注意，如果MPU701對於數據傳送控制總是斷開的，則可將數據從計數器傳送到微處理器內部分的寄存器而不必利用緩衝區703。接著，MPU701在完成對脈衝進行一個周期的測量之後，判斷是否已檢測了兩個值，即「高」電平寬度(圖8A和8B中的Th)和「低」電平寬度(圖8A和8B中的Tl)，這兩個值用於計算佔空度(步驟S15)。如果未檢測到這兩個值，則返回步驟S12。如果已檢測，則進入下步S16。然後，在剛剛獲得兩個比較值時，在MPU701中計算兩個值的差，並比較寬度(步驟S16)。
圖7是說明佔空變化抑制裝置中控制裝置的動作的流程圖。MPU701根據從上述檢測裝置和監測裝置獲得的比較值訪問存儲器704(步驟S21)。MPU701然後參照閾值(步驟S22)。圖8A和8B中的信號303的寬度Th和Tl由MPU701作為計數值數據的項取入。MPU701比較寬度大小。如果佔空比發生變化，並且當Th＞Tl時，需要降低基準電壓302。當Th＜Tl時，需要增加基準電壓。即，控制基準電壓，使得佔空比收斂在50%(即大約使Th＝Tl)。通過與系統確定的閾值相比較判斷Th-Tl之間量的關係是否需要進行數據150的修改(步驟S23)。結果是，如果識別出需要修改，則從存儲器704得到最優基準電壓控制表(步驟S24)。校正值數據輸出到D/A轉換器149(步驟S26)。另一方面，當閾值在允許範圍內下降，並且不需要修改時，則保持校正值數據150的當前值(步驟S25)。
在上述控制下，輸出信號303得以控制，使得脈衝寬度Th、Tl基本保持一致(即，佔空比為50%)，如圖8A中輸出電壓波形所示脈衝157。如圖8B所示，列印輸出(點)D的間距P是一致的。
〔第二實施例〕根據第一實施例，輸出信號303的脈衝佔空比的監測涉及計數器和系統時鐘的使用，其中輸出脈衝「H(高)」和「L(低)」次數得以測量。根據第二實施例，「高」電平和「低」電平寬度之間的比較值作為在抑制佔空變化方面的電功比率而獲得，此時利用另一種方法而不是上述方法將佔空比保持在50%。佔空監測部分由分離部件組成。
圖9是第二實施例中佔空變化限制裝置的線路圖。圖9中801代表的功率積分器通常累積與輸出信號303的脈衝寬度Th、Tl的長度成比例的電功率。低通濾波器LPF802a、802b從功率積分器801取得電荷電功作為直流部分。電壓控制振蕩器803a(VCO1)、803b(VCO2)分別根據來自低通濾波器802a、802b的輸出電壓改變其振蕩頻率。相位比較器805比較電壓控制振蕩器803a、803b的輸出頻率的相位，並以電壓變化形式輸出相位抖動。在上述結構下，輸出信號303的佔空變化被輸出，並作為相位比較器805的電壓波動。即，輸出信號303的脈衝寬度「ThI」、「Tl」由功率積分器監測。當識別到時，佔空變化作為輸出電壓的變化進行檢測。這作為電壓變化進行檢測，因此經過傳輸濾波器804與下級控制信號電壓匹配。基準電壓302由電壓控制恆壓源806控制，該電壓用作電壓控制恆壓源806的控制電壓。
圖10是圖9中佔空變化限制裝置中從功率積分器801到相位比較器805範圍內的線路圖。在此解釋該電路的結構和動作。基於電晶體Q1-Q3和電容C1、C2組成的結構，對於輸出脈衝303的一個「高」時間(即一個Th-時間)，電荷積累於電容C1中。對於輸出脈衝303的一個「低」時間(即一個Tl-時間)，電荷積累在電容C2中。電容C1、C2中積累的電荷流經低通濾波器LPF802a和802b，它們分別由電容C11、電阻R12、R13以及電容C12、電阻R11、R14組成。電荷作為直流電勢傳輸到VCO(電壓控制振蕩器)803a、803b。但在該實施例中，VOC803a由電晶體Q22、Q23、Q27、Q28組成的恆流源和由電晶體Q41、Q42、Q43、Q44組成的施密特觸發電路構成。VCO803b也是由電晶體Q20、Q21、Q24、Q25組成的恆流源與由電晶體Q31、Q32、Q33、Q34組成的施密特觸發電路構成。來自這些VCO的兩個輸出被輸入到由電晶體Q51-Q58組成的相位比較器805中。該相位比較器805的輸出經過一個由R61、R62、C61組成的LPF傳送到轉換濾波器804中(見圖9，但未示於圖10)。該輸出接著傳送到電壓控制恆壓源806(見圖9，但未示於圖10)。
圖11圖示了佔空變化抑制裝置的傳送塊打開情況下，當佔空變化抑制裝置的佔空變化監測裝置電路開啟時的波形。當假定脈衝產生閾值電平的基準電壓302隨輸入信號301的波形而波動時，輸出信號303的波形的「高」、「低」電平寬度「Th」、「Tl」發生變化。該脈衝寬度信息通過功率積分器801和LPF802a和802b被轉換成電勢Vd1和Vd2。電勢分別輸入到VCO803a和803b。圖11中，Vd1對應於Tl，而Vd2對應於Th。當基準電壓302未由輸入信號302的波形峰一峰值等分時，則產生電勢Vd1和Vd2之間的差值。在此假設VCO803a和803b的特性相同，則在這些VCO中產生的並由其輸出的振蕩頻率中造成散射。因此在相位比較器805的輸入中產生相位差φ。該圖中，控制環路是打開的，從而不產生相位跟蹤。另外，當處於打開狀態時，輸出302有一個在50%量級上的佔空比，並因此該輸出302處於一個相當高(far)的電平。此時，各個VCO本身的輸出頻率完全不同，並且因此相位比較器805的輸出不能指示一個正確的值。電壓源806通過閉合控制環得以控制，以致相位比較器805的輸出一直為φ0。輸出信號303的波形因而能夠保持在佔空比為50%。電壓源806由相位比較器805精確控制。為此，作為傳輸濾波器804的傳輸功能，相應於相位比較器805的輸出特性以線性或非線性形式給定任意函數。
本發明中在利用了使用線性編碼器的輸出的印表機列印控制的情況下，即使在滑架加速或減速期間執行列印操作時，輸出信號脈衝303的頻率也在加速或減速的程度上波動。然而，如果「Th」、「Tl」的脈衝佔空比不變，則在功率積分器801的下一級得到差值輸出，並輸入到VCO。因此相位比較器805的輸出不受任何影響。
〔第三實施例〕在第二實施例中，根據輸出信號脈衝寬度「Th」、「Tl」對電功率進行積分。利用相位比較器和VCO監測到佔空變化。然而，如圖12所示，功率積分器801的輸出電壓由減法器(電壓比較器)901進行比較。即使通過控制基準電壓302也能夠獲得輸出脈衝的佔空率為50%，使其之間的差值為0。
〔第四實施例〕圖13是第四實施例的線路圖。檢測部分101以相同於第一至第三實施例的方法裝入磁頭502。同時，檢測部分101由磁檢測元件102、103構成，它們基於MR(磁阻)效應而動作。磁檢測元件102、103同樣連接到放大器104、105上，這些放大器構成恆流電路。放大器104、105再連接到用於放大檢測信號的放大器106以及比較器107上。根據第四實施例，在檢測部分101內部設置有溫度測量部分160，其組成元件的阻值如熱敏電阻一樣隨溫度而變化。該元件中，當恆流流入其中時，溫度變化被檢測為電壓的波動。該溫度測量部分160連接到補償器159上，用於補償磁檢測元件102、103的溫度特性。補償器159被構造為根據溫度測量部分160的輸出電壓設定和輸出比較器107的基準電壓。
圖14顯示了補償器159的內部電路。如圖14所示，該補償器159包括一個A/D轉換器601、一個存儲器602和一個D/A轉換器603。如圖15C所示，存儲器602事先存儲對應於溫度測量部分160的輸出電壓Vo的補償器107的基準電壓Vs數據。在此，圖15A的圖形顯示了理想基準電壓與溫度的關係。圖15B的圖形顯示了溫度測量部分輸出電壓與溫度之間的關係。圖15D的圖形顯示了由存儲器數據給定的基準電壓與溫度之間的關係。即，存儲器事先存儲在某溫度下獲得與溫度測量部分的輸出電壓相應的理想基準電壓值。如下文將解釋的該值被用作比較器的基準電壓。
A/D轉換器601實現測量電路部分160的輸出電壓的A/D(從模擬到數字)轉換。補償器159從存儲器602讀取對應於轉換值的數據。然後，數據在D/A轉換器603中進行D/A(數字至模擬)轉換並輸出作為比較器107的基準電壓。從而消除了由於溫度變化而引起的影響。給出了一個溫度為Tk時的例子，並且溫度測量部分160的輸出電壓為Vok，該值經過A/D轉換器601輸入到存儲器602。相應於該電壓Vok的基準電壓Vsk(數字值)從存儲器602輸出。該數字值的基準電壓Vsk在D/A轉換器603中進行模擬轉換。之後，轉換後的結果輸入到比較器107。
圖16A顯示了比較器的輸出信號。圖16B中的流程圖顯示了將基準電壓的設定值寫入存儲器的動作，該動作在傳遞之前執行。圖16C的流程圖顯示了在傳遞之後設定基準電壓的動作。
如圖16A所示，Th表示輸出信號303的脈衝保持為「高」(即，「高」電平時的脈衝寬度)的時間。Tl表示輸出信號303保持為「低」(即，「低」電平時的脈衝寬度)的時間。從圖16B所示動作中，在測量脈衝佔空比的同時，經過D/A轉換器順序地設定基準電壓。當佔空比剛剛下降至預定範圍內時，設定結束。由於基準電壓是自動設定的，所以Th和Tl之間的差值等於一預定值，或在其範圍之內。對於這種設定，滑架在步驟S31中移動。動作進行至下一步驟S32。在為步中測量隨著滑架的移動而輸出的輸出信號303的脈衝的Th、Tl。在步驟S33判斷Th減去Tl後的絕對值是否等於或小於預定值Ttyp。如果小於或等於該預定值，則斷定出現了適當基準電壓。因而不需要調整。從而動作進入到步驟S34，其中溫度測量部分的輸出電壓傳送到補償器。在步驟S35中，將溫度的設定值(實際上是溫度測量部分的輸出電壓)和基準電壓的設定值存入存儲器。在步驟S36，滑架返回到原始位置，從而完成調節。
另一方面，如果在步驟S33中差值超過預定值Ttyp，則動作進入步驟S37。在其中判斷是否Th＞Tl。當Th＞Tl時，在步驟S38增加輸入到D/A轉換器的基準電壓的設定值。另外，當Th＜Tl時，在步驟S39減小輸入到D/A轉換器的基準電壓的設定值。動作返回到步驟S32，以設定適當的基準電壓。當等於或小於該預定的Ttyp時，動作結束。
圖16C所示的數據根據上述步驟存儲在存儲器中。注意，圖17顯示了MR元件輸出與溫度之間的關係，對應於圖15A。
圖16C顯示了在圖16B中已解釋的將基準電壓的設定值寫入存儲器的動作之後，在交付的產品中設定基準電壓的動作。在步驟S41中，獲得溫度測量部分的輸入電壓。在步驟S41中得到的輸出電壓在步驟S42進行A/D轉換。存儲於存儲器的基準電壓設定值被讀出並得到D/A轉換。從而設定基準電壓。以下是設定所用的實際產品的基準電壓的設定方法。例如，圖15B所示從溫度Tk到溫度Tk+1範圍內，溫度測量部分的輸出電壓Vok被輸入到補償器的A/D轉換器601(見圖14)。相應於A/D轉換器輸出的基準電壓Vsk從存儲器62中讀出並經過D/A轉換器603作為基準電壓輸出。
在此，如果減少Tk和Tk+1之間的間隔以增加數據，則可得到圖15A所示的理想基準電壓的近似。再者，圖16B的16C中的動作能夠容易地由諸如計數器功能、比較器功能等的TTL半導體的組件或者利用微機等的軟體實現。
另外，當利用公共ROM的而不根據每個串行印表機執行調節時，所要求的精度稍有下降。然而，傳送時的調節是不必的。另外，利用ROM能夠降低成本。再有，如果在產品做出後修改磁頭的定義，則設備僅僅修改ROM即可。
〔第五實施例〕根據第四實施例，在補償器109中利用了A/D轉換器、D/A轉換器和存儲器。本發明第五實施例中，補償器109不限於這些元件，還可以利用OP放大器或類似元件。注意在前例中能夠獲得極高精度的列印，而成本增加。另外，後者通過稍微降低必要的精度，可通過利用廉價部件而降低成本。此外，排除了對CPU控制的需要，從而設備在安裝時無任何限制。
以下解釋利用OP放大器設定基準電壓的方法。假定溫度測量部分的輸出電壓(表示於圖15B中)接近於圖15A所示的理想基準電壓。則由OP放大器進行放大，以獲得期望的倍數因子。圖18A所示為該列下的補償器109。該補償器表現為所謂的非反相放大電路，其中放大度數在Rf與Rs的比率上得到調整。
〔第六實施例〕在如圖19A和19B所示的第四和第五實施例中，通過改變比較器的基準電壓302的方法消除佔空變化。本發明並不限於此，還可以採用改變磁檢測元件的輸出信號的方法。本實施例由圖20所示電路構成。此情形下，補償器159將溫度測量部分160的輸出反相，並且根據該信號，對磁檢測元件的信號進行放大。圖18B圖示了此情形下的補償器159。該補償器可以是所謂的反相放大電路，由OP放大器和微分放大器電路組成，其中輸出調節到Rf與Rs的比率值。
如上所述，本發明第一至第六實施例提供了這樣一種結構，其中監測列印同步信號脈衝波形的佔空比，並根據其結果控制同步輸出產生基準電壓。這樣，由於同步輸出始終穩定，則可獲得能夠進行高質量列印的串行印表機。
獲得能夠抑制因溫度變化而產生的佔空變化的串行印表機是可行的。
〔第七實施例〕圖21是說明根據本發明的同步信號發生電路的構成的線路圖。線性編碼器的定標部分安裝在圖1所示的滑架內，並固定到設備主體上。線性編碼器的檢測部分101通過檢測定標部分檢測滑架相對於設備主體的移動位置。檢測部分101由MR元件構成，該元件基於磁阻效應而動作。檢測部分101整體上設置有一對磁檢測元件102、103。該檢測部分101同樣與安裝在滑架上的基底5相連，圖中虛線所指為基底。用於構成恆流電路的放大器104、105和用於放大檢測信號的放大器106以及比較器107都連接到基底5上。從而輸出輸出信號303。該輸出信號輸入到計數器部分7。注意用於確定基準電壓的可變電阻158連接到該比較器107上;這些元件封裝在基底5上;並且在滑架上進行調節。
圖22詳示了圖21所示計數器部分7的電路。由觸發器組成的分頻器A109根據比較器107的輸出進行二分頻。另一方面，振蕩器113的輸出信號輸入到分頻器B114。分頻器A109、B114和振蕩器113的各個輸出信號分別經過門110、111、112、115、116、117和119輸入到加/回數計數器I115和加/回數計數器J116，比如TTL等。
現在參照圖21、22和23解釋該電路的動作。磁檢測元件102、103通過放大器104、105提供恆流，每個放大器組成恆流電路。磁頭502沿如圖1所示的線性編碼器的定標部分501移動。磁檢測元件102、103的阻值隨其移動而變化。其變化檢測為電壓的波動。由放大器106放大的信號輸入到比較器107的一個輸入端。比較器的輸出信號303(圖23A)利用圖22的分頻器109被轉換成「高」和「低」時鐘(圖23B)。短於分頻器A109的輸出信號的脈衝(圖23D)從振蕩器113中產生。當分頻器A109的輸出信號處於「高」電平時，分頻器A114的輸出信號(圖23C)的時鐘數通過各自門110、111、112、115、116和117加到加/回數計數器115。當分頻器A109的輸出信號處於「低」平時，振蕩器113的輸出信號的時鐘數從加/回數計數器I115開始迴轉計數。此時，振蕩器113的時鐘頻率是分頻器B114的輸出信號的時鐘頻率的兩倍。因而，如圖23E所示，加/回數計數器115迴轉計數(計數值減小至0)，所用時間為加法時間的一半。另外，如圖23F所示，當分頻器A109的輸出信號處於「低」電平時，加/回數計數器J118處於加過程，而輸出信號處於「高」電平時，J118處於迴轉計數過程。
如上所述，計數器I、J在執行完加法之後迴轉計數。當計數值為0時，計數器I、J以「低」電平設置脈動時鐘輸出信號。當計數器I、J中任何一個產生脈動時鐘輸出時，門123將該輸出反相，如圖23G所示。反相後的輸出輸出到JK觸發器124的一個輸入端k。
另一方面，D觸發器119、120和門121向JK觸發器124的一個輸入端J輸出一個信號，它假設在比較器的輸出信號108升起時為「高」電平，如圖23H所示，而在振蕩器113的一個時鐘後為「低」電平。
JK觸發器124輸出一個信號，如圖23I所示，該信號在門121為上升時為「高」電平，而在門123上升時為「低」電平。
這樣，JK觸發器能夠輸出佔空比為50%的時鐘。注意在該實施例中，TTL191逐一用於計數器中，然而，如果設置了二或更多級，則佔空比接近50%。作為一個充分的例子利用了兩級TTL191，並且振蕩器的時鐘設置為500ns的數量級。比較器輸出信號的時鐘大約為160μs的數量級。因此，分頻器B的輸出信號的1μs的時鐘能夠被計數160次。計數器能夠計數到8位(256)，這是足夠的。這些門的延遲大約為10ns的數量級，因而對於500ns而言這是可忽略的。假設計數值波動±1，則佔空比為50±0.3125%。而且，能夠根據誤差數量預置時鐘。如果要求較高的精度，則可通過增加振蕩器的頻率而將計數器多級化。注意，實施例中的電路和組件(計數器、分頻器等)是以舉例方式設置的，然而如果功能相同則實施例不必限於這些組件。
根據第七實施例，本發明面向用於設定佔空比為50%的計數器。然而，在下述第八實施例中，用噪聲濾波電路取代了計數器。
〔第八實施例〕圖24示出了噪聲濾波電路的一個例子。D觸發器201、202和門203、204、205是檢測比較器的輸出信號303的前沿和後沿並產生脈衝的電路。注意，三個門203、204、205(與門電路、與非門電路、以及或門電路)可由單獨一片EX-NOR(「同」)電路代替。但為簡化函數，這裡用了三個門電路。延遲電路206可簡單地由多級串聯D觸發器來實現。但是，延遲電路206要求有一個大於噪聲脈衝寬度的延遲時間。如果圖25A所示的比較器輸出信號出現，則可從延遲電路206中得到圖25C所示的脈衝。D觸發器207在該脈衝的一個上升沿鎖定比較器的輸出信號，且輸出該輸出信號(圖25B)。根據上述電路就可濾掉噪聲。
注意，圖24所示的電路只給出了一個例子，也可採用其他電路。例如，可採用下列設置。用T觸發器代替D觸發器207，門205的輸出由計數器來計數。僅在奇數的情況下(低級1比特輸出假設為高電平)，脈衝才發送給T觸發器。
如上述討論，根據本發明的第七和第八個實施例，要提供測量同步輸出信號波長的計數器部分，而同步輸出信號脈衝波形的佔空比設為50%。這樣便有可能獲得能高質量列印的串行印表機。
進一步提供一種能適當地進入同步信號發生電路的濾噪聲的濾波電路。所得到的串行印表機能得到同步信號輸出脈衝，而沒有噪聲引起的計數錯誤。
〔第九實施例〕圖26是第九個實施例的基本框圖。在圖26中，磁頭502閱讀定標部分的磁樣，並轉換成電信號。磁頭502由MR元件組成。磁頭502輸出一個波形近似正弦波的準正弦波信號，它相對定標部分有個相對運動。該輸出信號有兩個輸出，假設為第一相位和第二相位，互相之間相移90°，用於檢測滑架的運動方向。恆流電路312提供給磁頭502一個恆定電流。放大器311將磁頭信號放大到一個預定的幅度。502，301和302所指的這些部件通常安裝在滑架上的基底5上(見圖1)。
比較器313把放大器311的輸出信號轉換成脈衝信號。比較器313的基電壓(基準電壓)由D/A轉換器314的輸出給出。基電壓是一個根據以後將提到的控制器319的指令的自由變量。位置計數器315計算顯示滑架相對於來自第一相位脈衝信號和第二相位脈衝之間的相位超前滯後關係的以及第二相位脈衝數的定標部分的位置信息。佔空檢測電路316檢測第一和第二相位脈衝信號的佔空時間。設在基底5的合適的位置(最好接近磁頭)的熱敏元件317用於測量這部分的溫度。A/D轉換器318把熱敏元件317的輸出電壓轉換成數字值。控制器319由CPU、ROM、RAM、I/O埠和計時電路組成。I/O埠用於向或從D/A轉換器314位置計數器315、佔空檢測電路316和A/D轉換器318輸入和輸出。另外，計時電路用於產生中斷處理的計時信號。
圖27示出了位置計數器的具體電路的一個例子。參照圖27，數字400代表D-FF，401表示增-減計數器。第一和第二相位脈衝信號的相位這間相移90°。根據它們之間的相位超前-滯後關係。可知道滑架的移動方向。由D-FF檢測相位超前-滯後關係。輸出連到增-減輸入端。例如，計算第二(或第一)相位脈衝的數目，當滑架以某一個方向移動時，脈衝數就增加。而且滑架以相反的方向移動時，脈衝數就減少。滑架當前的位置因而從增-減計數器的計數中得到。
另外，始位傳感器402包括光中斷器的使用。當滑架在始位時，來自光中斷器的光發射元件的入射到光接收元件上的被截止。然後，發出一信號清除增-減計數器401上的輸入，從而使增-減計數器清零。因此，增-減計數器401所記的數值指示了滑架始位的距離，即滑架位置。
圖28示出了佔空檢測電路316的一個具體的例子。圖28所示的電路檢測一個假定相位的相位脈衝佔空時間，其實，對於檢測假定另一相位的脈衝信號，也可準備類似該電路的其他電路(雖然圖26中沒有說明，但為了得到假定另一相位的脈衝信號，可準備另一套磁頭502、放大器311、恆流電路312和比較器313;如前面解釋的，來自兩個比較器的脈衝信號被輸入位置計數器315)。
脈衝信號首先用第一級D-FF裝置521與時鐘電路520的時鐘周期同步。所選的時鐘周期快於滑架運動輸出的脈衝信號的周期。一般來說，脈衝信號周期在0.1ms的數量級(＝10KHz)。時鐘周期的選擇範圍在幾百ns到幾μs(幾百千赫茲到幾兆赫茲)之間。時鐘電路500可以被獨立地提供。但通常，當分頻率或適當分頻時，可用控制器319中的CPU時鐘。
與門電路522在D-FF521的一個輸出和時鐘電路的一個輸出之間做邏輯積。其結果由有預定比特數的計數器523計數。在脈衝信號為「高」狀態期間，連續計數。更準確地說，僅當脈衝信號為「高」電平時，「與」電路522允許時鐘通過。計數器523計數時鐘數目。當脈衝信號的邏輯改變時，即當變「低」時，計數器523的內容傳送到具有一預定比特數的D鎖存電路507中，此時與通過D-FF524和「與」電路505的時鐘輸出的下一個前沿同步。也就是說，當脈衝信號變「低」時，D-FF521的輸出Q變「高」。D-FF524的輸出Q置「高」，下一個時鐘輸出通過「與」電路505輸入到D-鎖存器507的時鐘輸入端。結果，計數器523的內容被轉移到D鎖存器507。
之後，當時鐘輸出變「低」時時計數器523的內容由D-FF524和一個負邏輯與電路506清除。換句話說，如上所述，當脈衝信號假設為「低」電平時，D-FF521的輸出Q端變「高」，因此D-FF524的Q輸出端變為「低」。由於這個原因，當時鐘輸出變「低」時，負邏輯與電路506的輸出變「低」。這個「低」輸出被輸入到計數器的清除端，從而使計數器523清零。這裡，負邏輯與電路506的「低」輸出也輸入到D-FF524的清零輸入端，從而使D-FF524自身清零。D鎖存電路607的內容在計數器523下一個計數動作完成之前是不更新的(直到下一個脈衝信號「高」過程計數動作結束後，脈衝信號假設為「低」時)。這樣，就測量了脈衝信號「高」程的時間間隔。
同樣，脈衝信號「低」程的時間間隔可通過「與」電路509、計數器510、D-FF512、負邏輯與電路513和D鎖存電路514來測量。
控制器319能在任意時刻閱讀D鎖存電路507、514的內容和最近的脈衝信號的「高」、「低」程的時間間隔。佔空比可簡單地從下列公式中得出佔空比＝「高」程/(「高」程+「低」程)下面根據上述電路給出在佔空比中限制波動的控制方法的說明。
從電源接通狀態開始說明。與接通電源時，D/A轉換器314的輸出電壓設定一適當的初始值。接下來，滑架移動而不執行任何記錄(列印)動作。此時，比較器313的脈衝信號輸出的佔空比得一合適的值。如果脈衝信號被輸出，由於對位置計數器315沒有影響，輸出是沒有問題的。而後，位置計數器315的內容在預定的間隔被確認。滑架驅動電機受比如PWM控制方法控制，以使滑架以恆定的速度運動。在預定間隔的這一動作的執行可很容易地根據包括控制器319中CPU的中斷處理功能在內的軟體方法來實現。移動速度也可用計數器內容之差除以每個間隔的間隔時間來計算。
圖29示了滑架的移動速度。從圖中明顯看出，滑架速度逐漸增加，當達到一目標速度時，就基本上以一恆定的速度移動。滑架在移動一預定距離後，逐漸減速，而後停止。現在，當滑架在有效電平上達到恆定的運動速度時，佔空檢測電路316讀出佔空時間並計算出佔空比。然後，D/A轉換器314的輸出(輸入到比較器313的基準電壓)根據上述結果而變化。如果佔空比在這一狀態達不到大約50%，則重新計算佔空比，且改變D/A轉換器314的輸出。重複上述步驟，直到佔空比基本上達到50%。當佔空比達到大致50%時，滑架返回始位。此時，即A/D轉換器318輸出時的溫度被讀出並存在控制器319的RAM中。注意，滑架回到始位後，進入備用動作。
佔空比可在每個脈衝信號計算一次。但實際上即使離散地計算也是沒有問題的。因此，當產生前面提到的中斷處理時，可同時讀佔空檢測電路316和位置計數器的內容。此外，如圖29所示，很難使滑架的移動速度完全恆定。因此，要取幾次測量的平均值，並根據這一均值進行調節。這一方式優於在每次佔空比精細地調節輸入到比較器的基準電壓(D/A轉換器314的輸出)。
下面將討論在記錄(列印)動作時的操作。在記錄動作中，滑架總在移動。除去圖29中所示的運動開始時間和運動停止時間，滑架都是以恆定速度運動的。因此，在該恆速運動期間，每進行一次中斷處理，就執行一次基準電壓的調整。因而脈衝信號的佔空比保持在大致50%上。此時，在D/A轉換器314的輸出已變化之後，讀出溫度並存在控制器的RAM中。注意，即使滑架不是因記錄動作而移動，也可以執行相同的步驟。
下面解釋備用狀態(即，脫機)的操作。在預定間隔監測溫度信息。當D/A轉換器314的輸出被改變時，該溫度信息和以前所存的溫度信息相比較。如果溫度差是一預定值或大於預定值，則執行與接通電源時執行的一系列相同的操作。
圖30-32是流程圖，其中重新安排了上面解釋的控制內容。下面將參閱這些流程圖解釋說明控制的內容。但由於主要操作已經在上面描述了，這裡只給出概要。
參閱圖30-32，接通電源後，D/A轉換器314給定一初始值(S101步)。接下來，滑架被移動(S102步)步並且等待直到滑架達到恆定速度(S103步)。達到該恆速後，參考圖28的解釋，計算佔空比(S104步)。
判斷所計算的佔空比是否大於或小於或基本上等於50%(即，在50%±3%的範圍內)(S105步)。如果大於50%，則D/A轉換器314的輸出增加(S108步)。而如果小於，則D/A轉換器314的輸出就減小(S107步)。之後，操作返回S102步。重複S102-S108或S107步，直到佔空比達到大約50%。
在S105步中，如判斷佔空比基本上為50%，滑架則返回始位(S106步)。接下來，A/D轉轉換器讀出溫度(S109步)並存到控制器的RAM中(S110步)。注意，滑架在始位上進入備用狀態。
接下來判斷在記錄操作或備用狀態中記錄操作指示是否給出(S111步)。在記錄操作的情況下，判斷滑架是否以恆定速度運動(S112步)。如不是以恆定速度，則重複S111、S112步操作，直到達到恆定速度。當達到恆定速度時，計算佔空比(S113步)。判斷佔空比是否大於、小於或等於大約50%(S114步)。如果大於50%，D/A轉換器的輸出增加(S115步)。而若小於50%，則D/A轉換器314的輸出減小(S116步)。接下來，A/D轉換器318讀出溫度值(S117步)並存入控制器的RAM中(S118步)。注意，如在S114步中佔空比判斷為基本上是50%，則回到S111步操作。
如果滑架在S111步中判斷為備用狀態，則A/D轉換器318在預定間隔讀出溫度值(S119步)。接下來判斷此時的溫度讀數與上一時刻溫度讀數的差值是否小於一預定值(S120步)。如小於預定值，則返回S111步操作。而若大於預定值，則滑架移動(S121步)，並等待直到滑架達到一恆定速度(S122步)。然後計算佔空比(S123步)。
接下來，判斷計算所得的佔空比是否大於或小於或等於大致50%(S124步)。如果大於50%，則D/A轉換器的輸出增加(S127步)。而如小於50%，則D/A轉換器314的輸出減小(S126步)。而後返回S121步操作。重複S121-S127或S126步，直到佔空比達到大約50%。
在S124步中，如果佔空比判斷為大約50%(即，在50%±3%範圍中)，則滑架回到始位(S125步)。然後，A/D轉換器318讀出溫度值(S128步)並存入控制器的RAM中(S129步)。注意，滑架在始位上進入備用狀態。
〔第十實施例〕在上面討論的實施例中，在備用狀態期間，當溫差大於預定值時，滑架則如從S120、S121步中所了解的那樣將自動移動。但是一些有困難的情況需要考慮。例如，當用戶在備有狀態期間更換用於記錄的墨水盒時不希望滑架自動開始移動。為了避免這一麻煩，用一可能的測量來改變設計，使僅在電源斷開時，允許更換墨水盒。但在一些情況中，這種測量不能依賴於裝置結構進行。
這種情形下，根據本實施例，備用狀態做如下修改。當試圖完成一事件(例如，記錄操作重新開始)以移動滑架時，控制器319判斷滑架是否要被移動。如果不是，滑架回到備用狀態阻止滑架移動。此外，只有當滑架要被移動時，才開始執行與進入電源接通狀態的一系列相同的操作。
圖33是一個流程圖，其中上述說明中修改的控制內容被重新安排。參看圖33，如果在S111步中判斷為備用狀態，還要判斷移動滑架的事件是否要發生(S150步)。如果事件未發生，則返回S111步操作。而如果判斷事件發生，則A/D轉換器318讀出溫度值(S151步)。再判斷此時的讀出溫度與上一時刻讀出溫度的差是否小於一預定值(S152步)。如果溫度差小於預定值，則返回S111步操作。若大於預定值，則繼續執行S121步。然後執行與接通電源狀態相同的S122-125，126或127步操作的控制。
根據本實施例，備用狀態的滑架絕不是以不受控的方式運動(即，如果記錄操作命令沒有移動滑架，就不會進入移動滑架的S121步)。因此可能避免在更換墨水盒時發生的麻煩。
如上面討論的，根據本發明第九和第十個實施例，當滑架在電源接通狀態達到恆定運動速度時，事先控制把佔空比設定在50%。因此，就可很快得到高精確度的佔空比。即使當換到記錄操作時，記錄操作在佔空比為50%時也可很容易地完成，從開始就提供一個理想的列印結果。除此之外，在記錄操作中，當滑架達到恆定運動速度時，也進行控制使佔空比一直在50%。因此，該佔空比在記錄操作期間總是保持在50%。
此外，考慮到包括磁頭在內的位置檢測電路的溫度特性(由於溫度變化引起的佔空比變化)，如果即使在備用狀態溫差增加，也要完成使佔空比保持在50%的控制。因此，不僅在記錄(列印)操作期間，也在備用狀態保持脈衝信號的佔空比總是大約50%是可行的。當換到記錄操作時，記錄操作能在佔空比為50%時很快地執行。此外，實現能在很寬的溫度範圍內甚至溫度波動在使用處理中獲得完美的記錄(列印)結果的串行印表機是可能的。
〔第十一實施例〕下面將討論本發明的第十一個實施例。
圖34是一個框圖，說明了圖1所示的串行印表機電路配置例。參閱圖34，磁線性編碼器的定標部分安裝在滑架中，並固定在設備主體上，該磁線性編碼器包括用磁化在定標部分的通過檢測信息以檢測滑架相對運動位置的檢測部分101。該檢測部分101包括由MR元件組成，根據磁阻效應動作的磁檢測元件102、103。檢測部分101連到安裝在滑架上的滑架基底5上(如圖1虛線所示)。該滑架基底5包括恆流電路104及用於微分放大由檢測元件檢測到的相應信號的微分放大器106。輸出信號Ao(或108)是從微分放大器106輸出的。
印表機控制電路基底4包括一個用於A/D轉換輸出信號Ao的A/D轉換器132和一個用於通過比較輸出信號Ao和一基準電壓而產生有脈衝波形的計數器脈衝A(或131步)的比較器130。該印表機控制電路基底4還包括一個用於產生被定義為比較器130一端的輸入信號的基準電壓Vref(或140)的D/A轉換器134以及用於計數計數器脈衝A的計數器/計時器133。該印表機控制電路基底4還包括一個控制系統的CPU135、一個用作存儲裝置的EEP-ROM136，一個ROM137、RAM138和一個用作CPU135的數據、地址和控制信號總線的CPU總線139。注意，CPU135包括被虛線圍住的一些或全部部件。
接下來將解釋如此構成的電路的工作。磁檢測元件102、103分別通過恆流電路104、105提供恆定的電流。磁樣事先在磁線性編碼器的定標部分501以固定間隔磁化(見圖1)，定標部分固定到設備主體上。當檢測部分沿定標部分501移動時，磁檢測元件102、103的阻值發生變化。阻值的變化被檢測為電壓的波動。在經過微分放大器106放大後，放大的信號被輸入比較器130的一個輸入端。
從微分放大器106發出的輸出信號Ao是準正弦波並且在比較器130中與從D/A轉換器134輸出的基準電壓Vref相比較。從而獲得計數器脈衝A作為同步信號。計數脈衝A輸入到計數器/計時器133並在其中計數。計數值代表滑架的位置。注意，CPU135控制系統並通過CPU總線139傳送EEPROM136、ROM137和RAM138的數據。CPU135也控制A/D轉換器132、計數器/計時器133和D/A轉換器134。CPU135還控制串行印表機的其他功能(例如，主控多種電機的接口功能、列印操作等)。
如上所述，從磁線性編碼器的檢測部分獲得的輸出信號Ao是準正弦波。因此需要用轉換器130把輸出信號轉換成由數位訊號(脈衝波形)表示的計數器脈衝A。另一方面，輸入到比較器用於轉換並與輸出信號Ao相比較的基準電壓Vref最好是輸出信號Ao的平均值。由於這個原因，需要進行初始調節以使基準電壓Vref成為輸出信號Ao的平均值。
下面是參照流程圖35的基準電壓Vref的初始調節過程的解釋。
參閱圖35，滑架開始移動(S221步)。來自線性編碼器的計數器脈衝此時還沒有被正確輸出，因此移動速度不知道。而用以前得到的最小力矩，以根據如滑架和導軸構件這樣的機械部分改變裝載。CPU發出一個以某一速度移動滑架的指令，使滑架運動不要太快。而後，檢測來自微分放大器106的輸出信號Ao。輸出到D/A轉換器134的是這樣一個數字值，其輸出信號Ao的平均值成為其準電壓Vref(S222步)。接下來，滑架返回到初始位置(S223步)。這些步S222，S223在圖36A中示出。
再下來將根據圖36B更詳細地說明S222步的內容。開始，預置為輸出信號Ao的測量值n(1或大於1的整數)在計數器中進行初始化。同時，Ao的加法區Asum被清零(S211步)。然後，數據Ao由A/D轉換器132進行A/D轉換且存在於RAM138中(S212步)。接下來，計數器數值減小，同時Ao被加到Asum中(S213步)。再判斷計數器是否為0(S214步)。如不為0，則重複S212步，如為0，則繼續S215步。也就是說，重複S212，S213步，直到計數器為0。在S214步中，當計數器為零時，滑架停止運動(S215步)。再下來，Asum除以測量值n以獲得Ao的平均值Aare(S216步)。接下來在D/A轉換器114中設定這樣的數字值，以建立Vref＝Aare(S217步)。最後，EEPROM116在S218步中存入數字值。
Vref的這一系列初始調節通常在串行印表機出廠前進行。但當一段時間後輸出Ao變化很大時，Vref初始調節的程序可以包括在使用時，打開電源後的初始化程序中。如前所述，在串行印表機接通電源後的初始化序列中，存在EEPROM中的數字值被送到D/A轉換器中。
再下來，滑架再次移動(S224步)。而後將執行S225-S227步。這些步驟構成滑架速度控制環路。為了具體些，檢測滑架速度(S225步)。判斷滑架速度是否被同步(S226步)。如果不同步，則調節滑架速度(S227步)，返回S225步操作，再次檢測滑架速度。判斷滑架速度是否被同步，重複S255-S227步，直到滑架速度被同步。同步時，繼續下步操作，即S228步。
這裡，S227步中的滑架速度調節包括從計數器/計時器中讀出計數脈衝A的計數值。調節滑架速度以建立下列關係式1，其中A/D轉換器的採樣周期Ts用MR元件的輸出Ao的周期來表示Ts＝TAO/2m(m是1或大於1的整數)…(1)注意，圖37示出了建立的關係式1的一個例子。
這種情況下，當Ts是可變化的時，只能改變Ts以建立關係式1而不改變TAO，即，不改變滑架的移動速度。
在接下來的S228步中，在Ts間隔中測量n次Ao，這樣來計算平均值Aare。這一步S228和已藉助圖36B說明的S211-S218步相同，但要求測量值n應滿足下列關係式2n＝k·2m…(2)(其中m和關係式1中的m相同，且k是大於等於1的整數)。圖37還示出了建立的關係式2的一個例子。在圖37的例子中，m＝2，k＝2且n＝8。
測量進行n次的平均值Aare等於Ao的DC分量。為了這一目的，採樣要在Ao的相位改變180°時進行。從圖37的例子中可以理解點271-273、272-274、275-277和276-278的值相對於Ao的DC電平的偏移誤差。
最後，滑架返回(S229步)，完成Vref的初始調節。
〔第十二實施例〕接下來，將參閱圖38討論第十二個實施例。基準電壓的初始調節序列和圖35相同。本實施例可用於這樣一種情況，採樣周期Ts不能小於MR元件的輸出Ao的周期TAO，即滑架的移動速度不能減小。就是測量平均值Aare的誤差可通過把上述關係式1、2修改成下面的關係式(1′)、(2′)來減小Ts＝TAO(1/2+m)(m是1或大於1的整數) …(1′)n＝2k(k是1或大於1的整數) …(2′)圖38示出了當m＝1，k＝2，且n＝4時的一個例子。點281-282和283-284的值相互分離。
如上所述，根據本發明的第十一和第十二個實施例，滑架的運動速度和A/D轉換器相對於MR元件輸出的採樣周期同步。加到Vref初始調節序列的是產生一個從滑架運動速度和採樣周期中產生的次數給定值的採樣序列。從而獲得計數器脈衝，其中佔空比大致為50%。由於MR元件輸出隨時間推移發生變化引起的計數器脈衝波形的變化能夠被限制。作為由串行印表機記錄結果的濃度分散從而受到抑制。
〔第十三實施例〕下面將描述本發明的第十三個實施例。圖39是顯示根據本發明的串行印表機的基準電壓Vref初始調節方法的流程圖(Vref的初始調節3)。注意，串行印表機的硬體與圖1和34中所示相同，其說明這裡不於贅述。
參閱圖39，首先執行上面描述過的Vref初始化調節2的步驟(圖35所示的S221-S229步)(S231步)。
然後設置區號為1，即區號被初始化(S232步)。滑架開始移動(S233步)。Ao的累加計數器和加法區Asum被初始化(S234步)。接下來，A/D轉換器測量電壓Ao的值(S235步)，累加計數器增加(增加1)，此外，Ao被加到Asum(S236步)。通過計數器/計時器檢測滑架的位置(S237步)。
接下來，判斷滑架的位置是否到達下一個區(S238步)。注意，這裡的區表示當滑架的移動範圍被事先以一個間隔分區時的一個單位。上述區號表示每個區上的一個序號，隨滑架的移動而增加。在S238中，如果判定滑架的位置沒有到達下一區，就重複S232-S237步，直到達到下一區。
在S238步中，判斷滑架位置到達下一區時，用Asum除以累加計數器的值以計算平均值Aare(S239步)。接著，對應於當前區號的數字值存在EEPROM的一個區域中。這一數字值被置入D/A轉換器中作為滑架位置的平均值Aare，該位置是由所得的當前區號所指示的，即該數字值作為其準電壓Vref(S240步)。接著，區號增加，或換句話說被更新(S241步)。再判斷更新的區號是否大於預定的最後區號(＝滑架位置的分割數)(S242步)。
在S242步中，如果判斷當前區號不大於最後區號，則重複S234-S242步，直到當前區號大於最後區號止。用這種方式，每區的平均值Aare被存入EEPROM的每個相應的區域中。然後，在S242步中，如果判斷當前區號大於最後區號，滑架停止移動(S243步)，返回到原始位置(S244步)。
下面將參照圖40的時序圖說明圖39所示的流程圖。圖40所示的時序圖給出了滑架位置與微分放大器106的輸出信號Ao、定義為Ao的DC分量的理想基準電壓Vref、本例中的理想計數器脈衝A(a)、當Ao在整個滑架的移動範圍內的平均值為Vref時的計數器脈衝A(b)和當Ao的一個區內平均值為Vref時的計數器脈衝A(c)之間的關係。本實施例示出了滑架移動範圍分為4個區的情況。
在圖39的S231步中，雖然計數器脈衝A不能得到圖40中A(b)所示的理想波形，但對滑架位置的分區來說所得的A已足夠了。一個區可設置為大於計數器脈衝A的周期(例，360dpi)，一個區界的位置精確度也可設定低於列印處理中所需的滑架的位置檢測精度。因此，計數器脈衝A在S231步結束時不會很精確。
區號在S232步中進行初始化。在S232步中滑架開始移動，在S234步中，A的加法區Asum被初始化。在S235-S238中，對Ao進行周期性採樣，直到滑架位置超過當前區號的範圍，且在Asum中進行加法。這樣就存在S239步中得到了當前區號中Ao的平均值Aare。在S240步中，對應於本區號的數字值存在EEPROM的一個區域中，這一數字值置入D/A轉換器中，使Vref＝Vare。區號在S241中增值，在S242步中，把當前區號和一預定的最後區號(圖40中的實施例為4)比較。噹噹前區號不超過最後區號時，重複S234-S242步。設在D/A轉換器中的數字值因此被存到EEPROM中，每區中Ao的平均值為Vref。在所有區中的數字值Vref都存入EEPROM之後，滑架在S243步停止，在S244中返回原始位置。
圖40(C)示出了Vref根據滑架位置分段變化時的計數器脈衝A，所以Ao的區內平均值為Vref。當Vref是整個滑架移動範圍內的平均值Ao時，和波形(b)相比，波形(c)更接近理想波形(a)。
此外，區號可設為一個優選值，它取決於Ao的DC分量中的波動量以及EEPROM中的允許區域。例如，如果Ao的DC分量的波動量很大，且當EEPROM有足夠空的區域時，區數最好也很大(較細分區)。一般來說，各區最好是相等的空間，也可設置成不相等的空間，如果EEPROM的某些區域允許的話。這種情況下，需要把滑架在區界處的位置也存入EEPROM。在Ao的DC分量局部波動的例子中，這也是有效的。
現參閱圖41說明本發明的第十三個實施全中的列印操作。如上面所論述的，滑架的移動範圍被分成區，且在每個區中設定基準電壓Vref。因此需要相應的列印操作。圖41示出了這種情形中列印一行的流程圖。在這個流程圖中，S251-S252步和S258-S260步是根據本發明第十三個實施例所加的，其他步驟均和圖36A所示相同。
注意圖41，在S251步中，1被設為區號，即，區號被初始化。在S252步中，對應於區號1的基準電壓Vref被設置到D/A轉換器中。S253步中，滑架開始移動。滑架速度在S254-S256步構成的迴路中設定為一預定速度。更準確地說，滑架速度在S254中被檢測。在S255步中判斷滑架速度是否為一預定速度。如果不是預定速度，則在S256步中控制滑架速度。該操作後返回S254步。重複S254-S256步。直到達到預定速度為止。接著，在S257步中，在預定位置上進行列印。
接著，在S258步中，檢測滑架位置。S259-S261步是檢測滑架在哪個區，如果超過區界，則根據區號重置基準電壓Vref。
接下來在S262步中，判斷一行列印是否完成。如果沒有完成，則重複S257-S262步。如已完成，則滑架在S264步中停止運動。在S256步執行換行。
注意，圖41的流程圖中的S251、S259、S260可根據雙向列印做以下修改S251步區號←對應於當前滑架位置的區號。
S259步以前區？S260步區號←區號-1如圖42A所示，Vref在區界處的分段變化劇烈，且引起計數器脈衝A中產生噪聲。這種情況中，如圖42B所示，Vref的變化可由在D/A轉換器中分離地進行多次設定來加以修正。
〔第十四實施例〕現參閱圖43說明根據本發明的列印的第十四個實施例。圖43是第十四個實施例的線路圖。圖43所示的電路與圖34相比增加一個數據選擇器142。其他配置相同，因此以下說明著重於數據選擇器142。和其他配置相關的部分已做過說明，因此這裡略去。
D/A轉換器為多個區設定的並已從CPU135中寫下的數據由數據選擇器142根據來自計數器/計時器133的選擇器信號143進行選擇。所選的數據被設定在D/A轉換器134中。從而執行Vref相應於滑架位置的設定，而不用根據軟體增加負載，即根據圖41所示的單線列印流程中除S251-S252步和S258-S261步以外的流程。
如圖39的實施例中每個區中的Vref的數字數據和列印操作前的初始狀態一樣是在列印操作前事先設定在數據選擇器142中的。同時，計數器/計時器133連到數據選擇器142上，從而使對應於每個區的高階多比特滑架位置計數器數據以選擇信號143的形式從計數器/計時器133傳送到數據選擇器142。例如，當區除數設為4時，選擇信號143需要2或3個比特就足夠了。
當滑架在進入列印操作之後移動時，計數器/計數器133中的滑架位置計數器相應地做增減計數，其結果是選擇器信號143變化。分給D/A轉換器134的Vref的一項數字數據144通過數據選擇器142而變化。注意，數據選擇器142可構造成能存儲多項數據，在選擇器信號的幫助下選擇一項數據並輸出。因此，可安排數據選擇器包括比如使用雙埠RAM，選擇器信號被連到一個埠的地址上。
此外，如圖42A所描繪的，在Vref的分段變化在區界處很陡並在計數器脈衝A引起噪聲的情況下，D/A轉換器134的一個輸出140可經過一低通濾波器(未示出)輸入到比較器110。
如上所述，提供事先測量並存儲相應於滑架位置的基準電壓Vref的軟體。也提供在列印操作期間實時選擇所存儲的對應於滑架位置的基準電壓Vref。因此，有可能獲得在整個滑架移動範圍內展示很好狀態且定義為比較輸出的計數器脈衝，既使當輸入到比較器的微分放大器的輸出由於滑架位置而發生很大變化時，也是可實現的。因此，可提高滑架位置檢測的準確性。由串行印表機記錄的記錄質量也能改善。
而且，當佔空比為50%時，計數器脈衝的波形可近似為理想波形。因此可提供足夠的容限抑制微分放大器輸出隨時間推移發生變化，從而使減小列印質量隨時間推移的下降程度成為可能。這說明行基準電壓Vref的初始調節序列的頻率可以減小，改善了用戶在操作中的感覺。
顯然在本發明中，可根據本發明，在不脫離本發明精神和範圍之內，構成不同的工作模式。除了受後面所附的權利要求的限制而外，本發明不受具體工作模式的限制。
權利要求
1.一種串行印表機，包括一個在設備主體上往復移動的滑架；一個安裝在所述滑架上的記錄裝置，用於當與所述滑架的運動同步時進行記錄；一個由所述設備主體提供的線性編碼器的定標部分；一個安裝在所述滑架上的所述線性編碼器的檢測部分，所述檢測部分將被用於檢測所述定標部分的位置；一個同步信號發生裝置，通過比較來自所述檢測部分的檢測信號和一基準電壓來產生一個作為同步信號的脈衝輸出；以及一個調節裝置，用於當所述同步信號發生裝置產生的脈衝輸出的佔空度波動時，調節脈衝輸出的佔空度。
2.根據權利要求1所述的串行印表機，其中所述調節裝置進行控制，使由所述同步信號發生裝置產生的脈衝輸出的佔空比達到50%。
3.根據權利要求2所述的串行印表機，其中所述調節裝置包括一個佔空比為50%的輸出信號的計數器，該佔空比是由測量所述同步信號發生裝置產生的脈衝輸出的波形的波長而得到的。
4.根據權利要求3所述的串行印表機，其中所述計數包括一個分頻器裝置，用於對來自所述同步發生電路裝置的輸出信號的脈衝波形進行2分頻，並輸出一個一周期有一脈衝寬度的第一信號;一個第二信號發生裝置，用於當第一信號在「高」和「低」電平時，在第一信號脈衝寬度的一半處產生一個第二信號;一個第三信號發生裝置，用於在所述第一信號為「高」電平的前沿時刻和所述第一信號為「低」電平的後沿時刻產生一個第三信號;以及第四信號發生裝置，用於根據來自所述第二和第三發生裝置的第二和第三信號產生一個佔空比為50%的第四信號，該信號具有與第二和第三信號之間的間隔相對應的脈衝寬度。
5.根據權利要求1所述的串行印表機，其中所述調節裝置包括一個監測裝置，用於計數輸出信號的脈衝「高」電平寬度和「低」電平寬度;一個檢測裝置，用於檢測從所述監測裝置獲得的脈衝「高」電平計數值和「低」電平計數值之間的差，並輸出差值信號;以及一個控制裝置，用於根據所述的檢測裝置發出的差值信號控制基準電壓。
6.根據權利要求1所述的串行印表機，其中所述調節裝置包括一個功率積分器，用於對輸出信號的脈衝的「高」電平寬度和「低」電平寬度之間的電功率進行積分;以及一個電壓比較器，用於比較由所述積分器獲得的各個電壓並輸出它們之間的一個差值，根據從所述電壓比較器輸出的差值控制基準電壓。
7.一種串行印表機，包括一個在設備主體上往復移動的滑架;一個安裝在滑架上的記錄裝置，用於在記錄裝置與所述滑架的運動同步時，進行記錄;一個線性編碼器的定標部分，設置在設備主體上;一個安裝在所述滑架上的所述線性編碼器的檢測部分，所述檢測部分用來檢測所述定標部分的位置;一個同步信號發生裝置，用於通過比較來自檢測部分的檢測信號與基準電壓而產生一個脈衝輸出，作為同步信號;以及一個噪聲濾波裝置，用於濾去有可能進入所述同步信號發生裝置的噪聲。
8.根據權利要求7所述的串行印表機，其中所述噪聲濾波裝置包括一個脈衝發生電路，用於在來自所述同步發生電路裝置的輸出信號的前沿時刻和後沿時刻產生脈衝;一個延遲電路，用於延遲來自所述脈衝發生電路的脈衝以及一個用於在所述延遲電路中的延遲脈衝上長時鎖存並輸出來自所述同步發生電路裝置的輸出信號的電路。
9.一種串行印表機，包括一個在設備主體上往復移動的滑架;一個安裝在滑架上，用於在記錄裝置與所述滑架的運動同步時進行記錄的記錄裝置;一個線性編碼器的並設置在設備主體的定標部分;一個安裝在所述滑架上的所述線性編碼器的檢測部分，所述檢測部分用來檢測所述定標部分的位置;一個用於產生基準電壓的基準電壓發生裝置;一個同步信號發生裝置，用於通過比較來自檢測部分的檢測信號和來自基準電壓發生裝置的一個基準電壓而產生一個脈衝輸出，作為同步信號;一個溫度測量裝置，用於測量所述檢測部分的溫度並產生一個溫度信號;以及一個補償裝置，用於根據來自所述溫度測量裝置的溫度信號進行調節，實現對所述基準電壓發生裝置的基準電壓的溫度補償。
10.根據權利要求9所述的串行印表機，其中所述補償裝置包括一個存儲器，用於存儲對應於溫度信號的每個值的一個適當的基準電壓。
11.根據權利要求10所述的串行印表機，其中所述補償裝置還包括一個A/D轉換器，用於把溫度信號作為電壓進行A/D轉換;和一個D/A轉換器，用於D/A轉換所述存儲器的輸出信號。
12.根據權利要求10所述的串行印表機，其中在每個溫度所述存儲器存儲一個電壓值，即來自所述同步發生電路裝置的輸出信號脈衝的「高」電平寬度和「低」電平寬度之差。
13.根據權利要求10所述的串行印表機，其中所述補償裝置包括一個OP放大器，用於完成以一預定倍數因子的放大，其輸入為來自所述溫度測量部分的溫度信號，輸出一個適當的基準電壓。
14.根據權利要求10所述的串行印表機，其中所述補償裝置包括一個第一OP放大器，用於把來自所述溫度測量部分的溫度信號的輸入以一預定的倍數因子放大;和一個第二OP放大器，用於把輸入的所述第一OP放大器的輸出和所述測量部分的輸出以一預定的倍數因子進行微分放大。
15.一種串行印表機，包括一個在設備主體上往復移動的滑架;一個安裝在滑架上，用於在記錄裝置與所述滑架的運動同步時進行記錄的記錄裝置;一個線性編碼器的設置在設備主體上的定標部分;一個安裝在所述滑架上的所述線性編碼器的檢測部分，所述檢測部分用來檢測所述定標部分的位置;一個比較裝置，用於把來自所述檢測部分的檢測信號與一基電壓相比較，並產生一個脈衝輸出;一個基電壓變化裝置，用於使基電壓變化;一個溫度測量裝置，用於測量所述檢測部分的溫度並產生一個溫度信號;一個存儲部分，用於存儲所述溫度測量裝置的測量結果;一個速度控制裝置，用於根據所述比較裝置的脈衝輸出控制滑架的移動速度;以及一個佔空比檢測裝置，用於當滑架移動速度變為恆定時，檢測所述比較裝置的脈衝輸出的佔空比。
16.根據權利要求15所述的串行印表機，其中所述比較裝置的基電壓根據所述佔空比檢測裝置的檢測結果調節使佔空比大致為50%。
17.根據權利要求16所述的串行印表機，其中當調節所述比較裝置的基電壓時，所述溫度測量裝置測出一個溫度值並將其存入所述存儲器中。
18.一種串行印表機，包括一個在設備主體上往復移動的滑架;一個安裝在滑架上，用於在記錄裝置與所述滑架的運動同步時進行記錄的記錄裝置;一個線性編碼器的設置在所述設備主體上的定標部分;一個安裝在所述滑架上的所述線性編碼器的檢測部分，所述檢測部分用來檢測所述定標部分的位置;一個同步信號發生裝置，用於通過比較來自檢測部分的檢測信號和一個基準電壓而產生一個脈衝輸出，作為同步信號;以及一個初始調節裝置，用於對輸入所述同步信號發生裝置的基準電壓實行初始調節，其中所述初始調節裝置包括一個速度同步裝置，用於滑架移動速度和採樣輸出信號的一個採樣周期同步;一個測量裝置，用於根據所述速度同步裝置已使滑架移動速度與採樣輸出信號的採樣用周期同步後，對輸出信號值進行預定次數的測量;以及一個以對所述測量裝置中獲得的值取平均來獲得基準電壓的裝置。
19.根據權利要求18所述的串行印表機，其中所述速度同步裝置用於建立這樣的關係式Ts＝TAO/2m(m是大於或等於1的整數)n＝k·2m(m與上述公式中的m相同，k是大於或等於1的整數)其中TAO是輸出信號的周期，Ts是採樣周期，n是測量數。
20.一個串行印表機，包括一個在設備主體往復移動的滑架;一個安裝在滑架上，用於在與所述滑架的運動同步時進行記錄的記錄裝置;一個線性編碼器的設備在所述設備主體上的定標部分;一個安裝在所述滑架上的所述線性編碼器的檢測部分，所述檢測部分用來檢測所述定標部分的位置;一個同步信號發生裝置，用於通過比較來自檢測部分的檢測信號和一個基準電壓而產生一個脈衝輸出作為同步信號;以及一個初始調節裝置，用於對輸入所述同步信號發生裝置的基準電壓實行初始調節，其中所述初始調節裝置包括一個移動範圍分區裝置，用於把滑架的移動範圍分成若干區，以及一個基準電壓計算裝置，用於通過所述移動範圍分區裝置計算與分區處理相關的每個區的基準電壓。
21.根據權利要求20所述的串行印表機，還包括一個速度控制裝置，用於在所述移動範圍分區裝置把滑架的移動範圍分區之前控制滑架的速度。
22.根據權利要求20所述的串行印表機，其中所述基準電壓計算裝置包括一個測量裝置，用於根據每區的採樣對輸出信號值測量一預定次數，以及一個通過對從所述測量裝置中獲得的值用採樣數取平均來獲得基準電壓的裝置。
23.一種串行印表機，還包括一個列印裝置，用於根據每區的基準電壓實行單行列印。
24.根據權利要求20所述的串行印表機，還包括一個D/A轉換器，用於對從所述基準電壓初始調節裝置中得到的基準電壓進行D/A轉換，並把轉換結果輸入所述同步信號發生電路的所述比較裝置。
全文摘要
一種串行印表機，用於當記錄裝置與滑架的移動同步時，利用記錄裝置執行一個記錄。該滑架能在設備主體上往復移動並安裝有記錄裝置。線性編碼器的位置由檢測裝置檢測。來自該檢測部分的檢測信號與一基準電壓相比較，並產生作為同步信號的脈衝輸出。調節該脈衝輸出的佔空時間以獲得一個良好的記錄結果。
文檔編號B41J19/20GK1087736SQ931172
公開日1994年6月8日 申請日期1993年8月31日 優先權日1992年8月31日
發明者平井雄一, 鐮田雅史, 松本正史, 鈴木範之 申請人:佳能株式會社