測量光波波長裝置的製作方法
2023-10-11 19:20:04 2
專利名稱:測量光波波長裝置的製作方法
技術領域:
本實用新型屬於一種測量儀器上的部件,主要用來測量等厚幹涉的光波波長。
背景技術:
目前,沒有一種固定的測量等厚幹涉的光波波長的裝置,想測量的話,需要現組合測量部件,操作複雜,可調性差。
發明內容
本實用新型提供一種測量光波波長裝置,解決了現有技術操作複雜,可調性差等問題。本實用新型採取的具體技術方案是蓋3通過螺釘5與座4固定連接,並將兩塊平板1固定在一起,螺釘2與蓋3螺紋連接。使用時,通過調整螺釘2壓緊兩塊平板1,使兩塊平板之間的夾角達到所要求的角度範圍內時就會產生一組平行的等厚涉平紋,通過顯微鏡測量兩個條紋的距離,通過計算得到波長。
本實用新型的優點在於結構簡單,使用、操作方便,可調性好。
附圖為本實用新型的結構示意圖。
具體實施方式
蓋3通過螺釘5與座4固定連接,並將兩塊平板1固定在一起,螺釘2與蓋3螺紋連接。
權利要求1.一種測量光波波長裝置,其特特在於蓋(3)通過螺釘(5)與座(4)固定連接,並將兩塊平板(1)固定在一起,螺釘(2)與蓋(3)螺紋連接。
專利摘要本實用新型涉及一種測量光波波長裝置,屬於一種測量儀器上的部件,主要用來測量等厚幹涉的光波波長。蓋3通過螺釘5與座4固定連接,並將兩塊平板1固定在一起,螺釘2與蓋3螺紋連接。優點在於結構簡單,使用、操作方便,可調性好。
文檔編號G01J9/02GK2645057SQ0325194
公開日2004年9月29日 申請日期2003年7月10日 優先權日2003年7月10日
發明者於立偉 申請人:長春第一光學有限公司