電子衍射物相鑑定儀的製作方法

2023-10-26 04:04:07 2

專利名稱：電子衍射物相鑑定儀的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種可根據電子衍射花樣進行物相鑑定的儀器。
在電子衍射物相鑑定中，現今常用的方法均需人工對電子衍射花樣進行較多的測量、計算、查表等工作，煩瑣、費時。在藉助於計算機進行物相鑑定時，也要先通過人工從電子衍射花樣中測出足夠的數據，然後再逐一輸入計算機中，當待定相較多時，這部分工作也較費時、乏味。
鑑於現有技術存在的問題，本實用新型的目的在於提供一種省事快速、操作簡單、費用低廉的電子衍射物相鑑定儀。
本實用新型根據電子衍射物相鑑定的d(晶面間距)值法原理設計。它由基板、絲位片(即細絲定位片)、絲位片插槽、斑距片(即衍射斑點至中心斑點距離標記片)、上滑動槽、下滑動槽、細絲及彈性元件所組成，主要由硬質薄片製作。基板有一個雙層邊緣，兩層之間有一定間隙。該邊緣由較長的雙層直邊緣與較短的雙層齒狀邊緣相交成鈍角連接組成，後者相對於前者朝基板內側偏斜。有八根或八根以上的柔韌細絲，一端均被固定在基板正面與雙層邊緣有一定距離的同一點上，另一端都繞過雙層邊緣與固定在基板背面的彈性元件相連，由此使基板正面的各細絲因受拉而保持繃直狀態。絲位片插槽與雙層邊緣鄰接，它在雙層齒狀邊緣的一端有一開口，可供絲位片插入。每一件電子衍射物相鑑定儀均配有各種物相的絲位片。各物相絲位片的一個邊緣都有數量與細絲相同並與低指數衍射斑點一一對應的V形缺口，以及一個對應於中心斑點的「000」標記。所有這些缺口的尖端及「000」標記均排到列於同一直線上。從各缺口尖端到「000」標記的距離，等於相應物相前八個或更多的各低指數倒易矢量g經過一定倍數λL放大後的長度。該邊緣以V形缺口為界的各段均平行於各V形缺口尖端連成的直線，但不處在同一直線上，而是隨著與「000」標記距離的增加逐級接近V形缺口的尖端，使該邊緣成為階梯狀，同時每個V形缺口內的兩個斜邊緣一長一短。物相鑑定時需要將絲位片插入絲位片插槽中，在這一過程中V形缺口按相應斑點指數先高后低的順序進入雙層邊緣的間隙中。如果事先已將各細絲處在雙層邊緣上的彎折段，分別置於雙層齒狀邊緣的一個齒間缺口內，則各細絲的這一段都將能受到一個V形缺口內的長邊緣的推動，並且隨著其沿雙層齒狀邊緣的前移而逐步進入到相應V形缺口的尖端。當絲位片被推入到其插槽的最終位置時，刻於基板正面且一端位於細絲固定點的直線(「000」直線)，其另一端將準確地與絲位片的「000」標記重合，同時它又與各細絲交成不同的銳角。在抽出絲位片時，雙層邊緣上各細絲位置的變化與插入時相反，最終又各處於雙層齒狀邊緣的一個齒間缺口內，因而為再次插入絲位片創造了條件。每個絲位片上均標註有相應物相的名稱、晶體結構類型、點陣參數、相應絲位片的λL值以及各V形缺口所對應的指數hkl。基板正面還有平行於「000」直線的滑動槽，其一端與外相通使斑距片能由外推入其內或由其內取出。斑距片上有一個帶有中心斑點「000」標記的楔形直邊緣，用於標出衍射花樣中的各斑點至中心斑點距離的標記。當斑距片裝入滑動槽內時，其楔形直邊緣上的「000」標記總能與基板正面的「000」直線保持重合。若有某一物相的絲位片插入絲位片插槽的最終位置，無論斑距片移動到何處，其楔形直邊緣與各細絲的交點到其「000」標記的各長度，均分別等於相應物相在某一λL值下形成的衍射花樣中的一個衍射斑點到中心斑點的距離。
本實用新型中不同物相的各絲位片可按同一λL值製作，還可以分別按兩個或更多個不同的λL值製作。前一種方案的物相鑑定儀上還有一個平行於基板「000」直線的λL標尺。後一種方案將各物相絲位片要取的最高指數的g值按其值大小劃分為兩個或更多個範圍，每個範圍內的各物相絲位片取同一λL值，最高指數的g值越大，相應範圍內各物相絲位片所取的λL值越小。後一種物相鑑定儀還有兩個或更多個平行於基板「000」直線的λL標尺，它們適合於與不同λL值的絲位片配合使用。
本實用新型的斑距片的楔形直邊可製成長度標尺，在需要時能讀出各衍射斑點標記到中心斑點的距離。
本實用新型的物相鑑定方法及步驟如下1.拍攝出λL相同的已知相(如基體相)和待定相的幾個低指數晶帶的電子衍射花樣照片；2.將斑距片先後放在上述各電子衍射花樣照片上，在其「000」標記與衍射花樣的中心斑點重合的情況下繞中心斑點轉動，並在其楔形直邊緣與各低指數衍射斑點相遇處作出標記。為了便於區分待定相與已知相的標記及事後將標記抹去，兩種相的標記可分別採用不同顏色的水彩筆畫出或用鉛筆畫出不同的符號表示；3.將已知相的絲位片插入絲位片插槽；4.將斑距片推入滑動槽並移到使已知相的所有斑點標記都能與一根細絲重合的位置。此時斑距片楔形直邊緣在λL標尺上的讀數即為已知相的衍射花樣的λL值；5.根據樣品的化學成分、熱處理工藝等條件判斷待定相的可能種類後，將相應物相的絲位片換入到絲位片插槽內。如果該絲位片標註的λL值與已知相絲位片上的相同，此時斑距片保持原位不動，否則需按適用於待定相絲位片的λL標尺，將斑距片移動到與更換絲位片前相同的λL值處；6.如果待定相的每個斑點標記都能與細絲一一重合，則可按絲位片上標註的物相名稱確定持相種類。反之，若待定相的多個斑點標記不能與細絲重合或接近，則可否定前面對待定物相種類的判斷。然後再重複步驟「5」和「6」，直至待定相得到正確的鑑定。
若在物相鑑定前已知λL值，則不需使用已知相的衍射花樣，只要在斑距片楔形直邊緣作出待定相衍射花樣斑點標記後，將斑距片按已知的λL值推入滑動槽的相應位置再進行步驟「5」和「6」即可。
由上述鑑定方法可見，本實用新型可根據各電子衍射斑點到中心斑點的距離，通過非常簡單的操作即可直接鑑別物相。此外，還可按絲位片上的指數標定出各衍射斑點指數。它完全免去常用方法中的測量、計算、查ASTM卡片等煩瑣、費時的工作。另外，由於它的結構簡單、用料少、尺寸小，故還具有費用低，便於攜帶等優點。
以下結合附

圖1至3所示的實施例，對本實用新型作具體描述。
圖1是電子衍射物相鑑定議的透視圖，其中的絲位片未推到最終位置；圖2表示某一物相絲位片的透視圖；圖3是打開後蓋的電子衍射物相鑑定儀背面透視圖(未插入絲位片)。
圖1為本實用新型中的一種物相鑑定儀，主要由硬塑料製成。其基板[3]右邊為雙層邊緣，由雙層直邊緣[7]與朝基板內側偏斜的雙層齒狀邊緣[14]相連組成。八根尼龍絲[2]的一端都被固定在基板正面「000」直線[10]左端的同一點上，另一端都饒過雙層邊緣與固定在基板背面的細小彈簧[17]或橡皮筋相連(如圖3所示)，這使得基板正面的尼龍絲因受拉而保持繃直狀態。絲位片插槽[8]位於基板右側與雙層邊緣鄰接，其下端為絲位片[13]的插入口。圖2為某一物相的絲位片，其左邊緣為階梯狀並有八個V形缺口[15]，每個V形缺口分別對應於前八個低指數衍射斑點中的一個斑點，相應的指數[9]標在它們的右邊，越靠下方指數越低。最低指數的V形缺口下方有一個「000」標記[11]，再下方標註有物相名稱、晶體結構類型、點陣參數、相應絲位片的λL值[12]。該實施例將不同物相按低指數中的第八個g值的大小，以某個值(例如g＝8nm-1)為界分為兩類，小於該值的各物相絲位片按較大的λL值(例如16mm·nm)確定各V形缺口尖端的位置，反之則按較小的λL值(例如8mm·nm)來確定。絲位片插槽空著時，各尼龍絲在雙層邊緣上的彎折均分別位於雙層齒狀邊緣的一個齒間缺口內(如圖3所示)。物相鑑定時，絲位片按V形缺口指數先高后低的順序插入絲位片插槽中。在這一過程中，雙層齒狀邊緣上的各尼龍絲按離絲位片插槽口最遠至最近的順序，分別能受到絲位片上的第一個(即指數最高的)、第二個、第三個、……、第八個V形缺口內的長邊的前推，當這些尼龍絲順雙層齒狀邊緣移至雙層直邊緣(如圖1所示)時，便處於V形缺口的尖端。抽出絲位片時，各尼龍絲的位置變化與插入時相反，每根尼龍絲都能分別在雙層齒狀邊緣的一齒間缺口處脫離絲位片的V形缺口而恢復到原位。基板的正面還有上滑動槽[6]和下滑動槽[1]。下滑動槽同時又是由透明有機玻璃製成的兩個λL標尺。上方的λL標尺根據λL值較大(例如16mm·nm)的絲位片製作，下方的一個則按λL值較小(例如8 mm·nm)的絲位片製得。兩滑動槽的左端都與外相同，可由該通口推入斑距片[5]。斑距片上有一楔形直邊緣[4]，用於按電子衍射花樣標出各衍射斑點至中心斑點距離的標記，其面上的中心斑點「000」標記為永久性標記，當斑距片推入上滑動槽和下滑動槽時，該標記與基板上的「000」直線重合。該物相鑑定儀的背面還有一個可揭開的後蓋[16]。
權利要求1.一種電子衍射物相鑑定儀，特別適合於根據電子衍射花樣鑑別物相，其特徵在於(1.1)在基板[3]上有一個雙層邊緣，兩層之間有一定間隙，該邊緣由雙層直邊緣[7]與雙層齒狀邊緣[14]相交成鈍角連接組成，後者相對於前者朝基板內側偏斜，有八根或八根以上的柔韌細絲[2]，一端均被固定在基板的正面的同一點上，另一端都饒過雙層邊緣與固定在基板背面的彈性元件[17]相連，在雙層邊緣一側有絲位片插槽[8]，基板的正面還有上滑動槽[6]和下滑動槽[1]，(1.2)有一個兩端分別插入上滑動槽和下滑動槽內並可移動的斑距片[5]，(1.3)還配有各種物相的絲位片[13]，各絲位片的一個邊緣上有數量與柔韌細絲相同並與衍射斑點一一對應的V形缺口[15]以及一個對應於中心斑點的「000」標記[11]，在該邊緣上，以V形缺口為分界的各段為不在同一直線上的直邊緣，形似階梯。
2.按權利要求1所述的物相鑑定儀，其特徵在於所說的各物相絲位片[13]均按同一λL值製作，在平行於斑距片[5]可移動的方向上有一個適用於這些絲位片的λL標尺。
3.按權利要求1所述的物相鑑定儀，其特徵在於所說的不同物相的絲位片[13]分別按兩個或兩個以上的λL值製作，在平行於斑距片[5]可移動的方向上，有兩個或兩個以上分別適用於這些不同λL值絲位片的λL標尺。
4.按權利要求1所述的物相鑑定儀，其特徵在於所說的斑距片[5]的一個邊緣為楔形邊緣[4]並有長度標尺刻度。
專利摘要本實用新型可根據電子衍射花樣鑑別物相,其方法簡便快速,結構簡單,設計合理,外觀尺寸小。它有一塊帶有雙層邊緣的基板,多根細絲的一端固定在基板正面,各細絲的另一端均繞過雙層邊緣與基板背面的彈性元件相連。在雙層邊緣鄰近處的絲位片插槽可插入各種物相的絲位片,各絲位片邊緣的多個V形缺口可使各細絲在雙層邊緣處按需要分開。基板正面還有λL標尺、滑動槽和一個可沿滑動槽移動的斑距片。
文檔編號G01N23/20GK2288438SQ96212820
公開日1998年8月19日 申請日期1996年5月23日 優先權日1996年5月23日
發明者任遙遙 申請人:任遙遙