顯示面板及其檢測方法
2023-10-06 14:43:34
專利名稱：顯示面板及其檢測方法
技術領域：
本發明屬於顯示面板檢測技術領域，具體涉及一種顯示面板及其檢測方法。
背景技術：
在液晶顯示面板(IXD)、有機發光二極體顯示面板(OLED)等顯示面板中，有源驅動的應用越來越普遍，而有源驅動主要通過薄膜電晶體陣列(TFT)基板實現。如圖I所示，薄膜電晶體陣列基板9上設有多根相互交叉形成網格的柵極線(GateLine)(圖中未示出)和數據線2(Data Line)，柵極線和數據線2的每個交叉點限定一個薄膜電晶體，薄膜電晶體陣列基板9上還設有與柵極線平行的公共電極線1(C0M Line)。其中，各引線(柵極線、數據線2、公共電極線I)在交叉點被絕緣層隔開，且每條引線的輸入 端11、21均與各自的驅動晶片19、29(Driver IC)相連，從而可分別傳遞各自的信號。薄膜電晶體陣列基板9的側面連接柔性線路板7 (FPC)，柔性線路板7遠離薄膜電晶體陣列基板9的一側連接印刷線路板8 (PCB)，上述各驅動晶片19、29可分別設在柔性線路板7上(C0F方式，Chip On Film Type),也可設在薄膜電晶體陣列基板8上(C0G方式，Chip On GlassType)ο在顯示面板中，薄膜電晶體陣列基板9是與另一基板(如彩膜基板或有機發光二極體陣列基板等)組裝在一起的，薄膜電晶體陣列基板9的顯示區91 (即引線1、2相互交叉而形成有薄膜電晶體陣列的區域)被另一基板擋住，而各引線輸入端11、12則可暴露在外。當顯示面板出現顯示不良時，可能是由各引線1、2的故障引起的，因此引線1、2的檢測是顯示面板檢測的重要組成部分。現有的顯示面板檢測(以對公共電極線I的檢測為例)主要採取以下方法用檢測探針(Pin)接觸公共電極線的末端12 (即遠離公共電極驅動晶片19的一端，其超出顯示區91外)，從而接收由公共電極驅動晶片19發出並經公共電極線I傳遞的驅動信號，通過分析該信號檢測公共電極線I是否有故障。發明人發現現有技術中至少存在如下問題顯示面板中薄膜電晶體陣列基板9已經與另一基板組裝在一起，其顯示區91被另一基板擋住，檢測探針只能接觸超出顯示區91的公共電極線末端12，因此只能檢測出整根公共電極線I是否有故障，但無法對公共電極線I進行分區段的檢測，也就不能確定公共電極線I的故障出在什麼位置，由此降低了不良解析的效率和準確性。
發明內容
本發明所要解決的技術問題包括，針對現有技術中無法對顯示面板的引線進行分區段檢測的問題，提供一種可對引線進行分區段檢測的顯示面板檢測方法。解決本發明技術問題所採用的技術方案是一種顯示面板檢測方法，所述顯示面板包括設有多根相互交叉的第一引線和第二引線的薄膜電晶體陣列基板，所述第一引線的輸入端連接第一驅動晶片，第二引線的輸入端連接第二驅動晶片；所述顯示面板引線檢測方法包括將待測第一引線與檢測用第二引線在二者的交叉點導通，並在位於所述檢測用第二引線輸入端中的阻斷點阻斷檢測用第二引線內的信號傳輸；從位於所述檢測用第二引線輸入端中或與檢測用第二引線輸入端相連的檢測點採集檢測信號，所述檢測點或檢測點與第二引線的連接點比所述阻斷點遠離第二驅動晶片。其中，「檢測點或檢測點與第二引線的連接點比阻斷點遠離第二驅動晶片」是指從各點在第二引線上的連接順序來看，檢測點(或連接點)在第二引線上的位置比阻斷點離第二驅動晶片更遠；而非指它們與第二驅動晶片間的空間位置關係。或者說，從第二驅動晶片發出的信號應當先到達阻斷點後才能到達檢測點，而來自顯示區中的第二引線的檢測信號應先到達檢測點後才能到達阻斷點；這是為了使阻斷點既可阻斷來自第二驅動晶片的幹擾信號，又不會妨礙第二弓I線中檢測信號的傳遞。·
同時，以下敘述的「遠離」的意義均與上述概念相同，都是指各點在引線上的順序，而非空間位置關係。本發明的顯示面板檢測方法中，先將待測第一引線與檢測用第二引線導通，並切斷由第二驅動晶片向檢測用第二引線發出的信號，因此由第一驅動晶片發出並進入待測第一引線的信號會經過待測第一引線與檢測用第二引線的交叉點傳入檢測用第二引線輸入端，故可在第二引線輸入端採集信號進行檢測；也就是說，本發明實際上利用檢測用第二引線來傳遞待測第一引線的信號，而由於每根第一引線都與多根第二引線在不同位置相交，因此只要選擇不同的第二引線作為檢測用第二引線，即可對第一引線的不同位置進行檢測，從而實現了對引線的分區段檢測，由此提高了不良解析的效率和準確性。優選的是，所述顯示面板還包括位於所述薄膜電晶體陣列基板側面的印刷線路板；所述檢測用第二引線輸入端至少部分位於所述印刷線路板上，所述阻斷點為位於所述印刷線路板上的開關結構。優選的是，所述顯示面板還包括位於所述薄膜電晶體陣列基板側面的印刷線路板；所述檢測點為位於所述印刷線路板上的觸點。優選的是，所述將待測第一引線與檢測用第二引線在二者的交叉點導通包括用雷射將待測第一引線與檢測用第二引線的交叉點焊接導通。優選的是，在所述從檢測點採集檢測信號之前，還包括切斷所述待測第一引線，所述切斷的位置比待測第一引線與檢測用第二引線的交叉點更遠離待測第一引線輸入端；和/或切斷所述檢測用第二引線，所述切斷的位置比檢測用第二引線與待測第一引線的交叉點更遠離檢測用第二引線輸入端。進一步優選的是，切斷所述待測第一引線包括用雷射切斷所述待測第一引線；和/或切斷所述檢測用第二引線包括用雷射切斷所述檢測用第二引線。優選的是，所述第一引線為公共電極線，所述第二引線為數據線；或所述第一引線為數據線，所述第二引線為公共電極線；或所述第一引線為柵極線，所述第二引線為數據線；或所述第一引線為數據線，所述第二引線為柵極線。
本發明所要解決的技術問題還包括，針對現有技術中無法對顯示面板的引線進行分區段檢測的問題，提供一種可對引線進行分區段檢測的顯示面板。解決本發明技術問題所採用的技術方案是一種顯示面板，包括設有多根相互交叉的第一引線和第二引線的薄膜電晶體陣列基板，所述第一引線的輸入端連接第一驅動晶片，所述第二引線的輸入端連接第二驅動晶片；位於所述薄膜電晶體陣列基板側面的印刷線路板；其中，至少部分所述第二引線為檢測用第二引線，所述檢測用第二引線的輸入端至少部分位於所述印刷線路板上；
所述印刷線路板上的檢測用第二引線輸入端中設有用於阻斷檢測用第二引線中信號傳輸的開關結構；所述印刷線路板上設有觸點，所述觸點位於檢測用第二引線輸入端中或與檢測用第二引線輸入端相連，且所述觸點或觸點與檢測用第二引線的連接點比所述開關結構遠離第二驅動晶片。由於本發明的顯示面板中具有檢測用第二引線，而檢測用第二引線的輸入端部分位於印刷線路板上，且該檢測用第二引線輸入端中設有開關結構和觸點，因此在用上述方法檢測本顯示面板時，可直接利用開關結構阻斷引線中的信號傳輸，並利用觸點進行檢測，從而方便的實現對引線的分區段檢測。優選的是，所述顯示面板還包括連接在所述薄膜電晶體陣列基板側面的柔性線路板；所述第二驅動晶片位於所述柔性線路板上，所述印刷線路板連接在所述柔性線路板遠離薄膜電晶體陣列基板的一側。優選的是，所述開關結構為O跳變電阻、劃線電阻器、三極體、螺絲開關中的任意一種。優選的是，所述第一引線為公共電極線，所述第二引線為數據線；或所述第一引線為數據線，所述第二引線為公共電極線；或所述第一引線為柵極線，所述第二引線為數據線；或所述第一引線為數據線，所述第二引線為柵極線。優選的是,所述顯示面板為液晶顯示面板或有機發光二極體顯示面板。
圖I為現有的顯示面板的薄膜電晶體陣列基板的俯視結構示意圖；圖2為本發明實施例2的顯示面板檢測方法在進行檢測時的薄膜電晶體陣列基板的俯視結構示意圖；圖3為本發明實施例2的顯示面板檢測方法在進行檢測時的薄膜電晶體陣列基板的局部俯視結構示意圖(部分引線未示出)；圖4為本發明實施例2的另一種顯示面板檢測方法在進行檢測時的薄膜電晶體陣列基板的局部俯視結構示意圖(部分引線未示出)；圖5為本發明的另一種顯示面板檢測方法在進行檢測時的薄膜電晶體陣列基板的俯視結構示意圖；其中附圖標記為1、公共電極線；11、公共電極線輸入端；12、公共電極線末端；13、待測公共電極線；131、待測公共電極線輸入端；19、公共電極驅動晶片；2、數據線；21、數據線輸入端；23、檢測用數據線 ；231、檢測用數據線輸入端；29、數據驅動晶片；51、交叉點；52、阻斷點；53、檢測點；531、連接點；54、切斷點；7、柔性線路板；8、印刷線路板；9、薄膜電晶體陣列基板；91、顯示區。
具體實施例方式為使本領域技術人員更好地理解本發明的技術方案，下面結合附圖和具體實施方式
對本發明作進一步詳細描述。實施例I :本實施例提供一種顯示面板檢測方法。其中顯示面板包括設有多根相互交叉的第一引線和第二引線的薄膜電晶體陣列基板，所述第一引線的輸入端連接第一驅動晶片，第二引線的輸入端連接第二驅動晶片。所述顯示面板引線檢測方法具體包括將待測第一引線與檢測用第二引線在二者的交叉點導通，並在位於檢測用第二引線輸入端中的阻斷點阻斷檢測用第二引線內的信號傳輸；從位於檢測用第二引線輸入端中或與檢測用第二引線輸入端相連的檢測點採集檢測信號，所述檢測點或檢測點與第二引線的連接點比所述阻斷點遠離第二驅動晶片。本實施例的顯示面板檢測方法中，先將待測第一引線與檢測用第二引線導通，並切斷由第二驅動晶片向檢測用第二引線發出的信號，因此由第一驅動晶片發出並進入待測第一引線的信號會經過待測第一引線與檢測用第二引線的交叉點傳入檢測用第二引線輸入端，故可在第二引線輸入端採集信號進行檢測；也就是說，本實施例實際上利用檢測用第二引線來傳遞待測第一引線的信號，而由於每根第一引線都與多根第二引線在不同位置相交，因此只要選擇不同的第二引線作為檢測用第二引線，即可對第一引線的不同位置進行檢測，從而實現了對引線的分區段檢測，由此提高了不良解析的效率和準確性。實施例2 本實施例提供一種顯示面板，包括設有多根相互交叉的第一引線和第二引線的薄膜電晶體陣列基板，所述第一引線的輸入端連接第一驅動晶片，所述第二引線的輸入端連接第二驅動晶片；位於所述薄膜電晶體陣列基板側面的印刷線路板。其中，至少部分所述第二引線為檢測用第二引線，所述檢測用第二引線的輸入端至少部分位於所述印刷線路板上；所述印刷線路板上的檢測用第二引線輸入端中設有用於阻斷檢測用第二引線中信號傳輸的開關結構；所述印刷線路板上設有觸點，所述觸點位於檢測用第二引線輸入端中或與檢測用第二引線輸入端相連，且所述觸點或觸點與檢測用第二引線的連接點比所述開關結構遠離第二驅動晶片。由於本實施例的顯示面板中具有檢測用第二引線，而檢測用第二引線的輸入端部分位於印刷線路板上，且該檢測用第二引線輸入端中設有開關結構和觸點，因此在用上述方法檢測本顯示面板時，可直接利用開關結構阻斷引線中的信號傳輸，並利用觸點進行檢測，從而方便的實現對弓I線的分區段檢測。優選的是，所述第一引線為公共電極線，所述第二引線為數據線；或所述第一引線為數據線，所述第二引線為公共電極線；或所述第一引線為柵極線，所述第二引線為數據線；或所述第一引線為數據線，所述第二引線為柵極線。優選的是,所述顯示面板為液晶顯示面板或有機發光二極體顯示面板。實施例3 如圖2至圖4所示，本實施例提供一種顯示面板及其檢測方法。其中，本實施的顯示面板優選為液晶顯示面板或有機發光二極體顯示面板，其包 括薄膜電晶體陣列基板9 ;連接在薄膜電晶體陣列基板9側面的柔性線路板7 ;連接在柔性線路板7遠離薄膜電晶體陣列基板9 一側的印刷線路板8。本實施例中，以薄膜電晶體陣列基板9的左側和右側分別設有柔性線路板7和印刷線路板8為例子，當然，其他類型的柔性線路板7和印刷線路板8設置方法也是可行的(例如對於雙向進線的方式，則薄膜電晶體陣列基板9的四面均設有柔性線路板7和印刷線路板8)。薄膜電晶體陣列基板9上設有相互交叉而形成網格裝的公共電極線I (即第一引線)和數據線2 (即第二引線)，公共電極線輸入端11連接公共電極驅動晶片19 (即第一驅動晶片)，數據線輸入端21連接數據驅動晶片29(第二驅動晶片)；公共電極驅動晶片19和數據驅動晶片29分別位於薄膜電晶體陣列基板9左側和上側的柔性線路板7上。其中，各引線輸入端11、21是指引線1、2中超出顯示區91外而用於與驅動晶片19、29相連的部分。本實施例中，以各驅動晶片19、29均位於柔性線路板7上為例子；但顯然，如果採取驅動晶片19、29直接位於薄膜電晶體陣列基板9上的方式也是可行的。根據型號不同，每個顯示面板中可具有多個驅動晶片19、29，而每個驅動晶片可連接多根引線1、2(可多達數百根)，但為了清楚，附圖中只示意性的示出了部分驅動晶片19、29和引線1、2。數據線2中有部分為檢測用數據線23。在對公共電極線I進行檢測時，通過選擇不同的檢測用數據線23，即可對公共電極線I的不同位置進行分區段檢測；因此，檢測用數據線23的設置可根據檢測的需要進行。例如，在與一個數據驅動晶片29相連的數據線2(通常有數十至上百根)中，可有一根或數根(本實施例中以兩根為例)為檢測用數據線23 ;這樣一方面檢測用數據線23在空間上的間隔距離不會很大，可以滿足對公共電極線I進行分區段檢測的要求，同時檢測用數據線23的數量又不太多，故對布線設計、製備工藝、產品成本等不會產生過大影響。如圖2至圖4所示，與其他數據線2不同，檢測用數據線輸入端231不是直接從數據驅動晶片29的進入薄膜電晶體陣列基板9，而是先進入印刷線路板8，之後從印刷線路板8中經柔性線路板7再返回薄膜電晶體陣列基板9中，也就是說，檢測用數據線輸入端231至少有一部分位於印刷線路板8上。在檢測用數據線輸入端231位於印刷線路板8上的部分中，設有阻斷點52，該阻斷點52優選為開關結構，用於阻斷檢測用數據線23中的信號傳輸，以防止數據驅動晶片29的信號對檢測產生影響。優選的，開關結構為O跳變電阻、劃線電阻器、三極體、螺絲開關中的任意一種。其中，O跳變電阻通常相當於一段導線，只要將其取下即可起到阻斷信號的作用；而將劃線電阻器的阻值可調，只要將其阻值調大，即可實質上阻斷信號的傳輸(或者說使信號極其微小)；而三極體、螺絲開關都為公知形式的開關，在此不再詳細描述。當然，該開關結構也可採用其他的已知形式，只要其能夠阻斷檢測用數據線23中的數據傳輸即可。同時，印刷線路板8上還設有檢測點53，該檢測點53用於檢測信號的採集，其優選為觸點(即一塊面積較大的金屬片)的形式，從而方便檢測探針與其接觸。該觸點用於與檢測探針接觸以採集信號，因此，其可如圖3所示直接設在檢測用數據線輸入端231中，也可如圖4所示通過接線與檢測用數據線輸入端231相連(其與檢測用數據線輸入端231的連接點531可位於柔性線路板7上)。顯然，該觸點的位置或觸點與檢測用數據線輸入端231的連接點531的位置應比上述開關結構更遠離數據驅動晶片29，也就是說，由數據驅動晶片29發出的信號，應當先經過開關結構後才能達到觸點或觸點與檢測用數據線輸入端231的連接點531，從而保證從檢測點53採集的信號不受數據驅動晶片29發出的信號的影響。·
其中，開關結構、觸點之所以優選設在印刷線路板8上，是因為如果將它們設在薄膜電晶體陣列基板9上，則現有的已經成熟的薄膜電晶體陣列基板9結構和製備工藝都會發生變化，並由此帶來成本的升高和效率的降低；而柔性線路板7因其特殊的性質，難以在其上有效的形成開關結構、觸點等。當然，本實施例的顯示面板中還應包括與薄膜電晶體陣列基板9組裝在一起的另一基板，且薄膜電晶體陣列基板9上還應設有與公共電極線I平行的柵極線，且柵極線也應連接柵極驅動晶片；但因這些結構和本實施例的檢測方法沒有直接關係，故均未在圖中示出。同時，本實施例的顯示面板還可進行許多變化。例如，開關結構、觸點等也可設在薄膜電晶體陣列基板9上；觸點與檢測用數據線輸入端231的連接點531也可設在印刷線路板8或薄膜電晶體陣列基板9上等。本實施的對上述顯示面板進行檢測的方法包括S01、將待測公共電極線13與檢測用數據線23在二者的交叉點51導通；也就是說，使待測公共電極線13與檢測用數據線23電連接，從而使待測公共電極線13中的信號可傳入檢測用數據線23中。優選的，上述的導通具體為通過雷射將待測公共電極線13與檢測用數據線23的交叉點51焊接導通。之所以使用雷射焊接方式，是因為雷射可穿過與薄膜電晶體陣列基板9組裝在一起的另一基板，故不用拆卸顯示面板即可實現焊接。而使用雷射將引線焊接在一起的技術是已知的，故在此不再詳細描述。S02、在位於檢測用數據線輸入端231中的阻斷點52阻斷檢測用數據線23內的信號傳輸；也就是說，阻斷由數據驅動晶片29發送給檢測用數據線23的信號，以免其對檢測
產生影響。優選的，阻斷點52為上述的位於印刷線路板8上的開關結構，此時直接斷開開關即可阻斷檢測用數據線23內的信號傳輸。當然，如果阻斷點52處沒有開關結構，則也可通過針扎、雷射切斷等方式在阻斷點52處將檢測用數據線23斷開。
S03、優選的，切斷待測公共電極線13，切斷的位置比待測公共電極線13與檢測用數據線23的交叉點51更遠離待測公共電極線輸入端131 ;和/或切斷檢測用數據線23，切斷的位置比檢測用數據線23與待測公共電極線13的交叉點51更遠離檢測用數據線輸入端231 ;也就是說，優選可在比待測公共電極線13與檢測用數據線23的交叉點51 (即導通點)更遠離各自驅動晶片19、29的位置將待測公共電極線13與檢測用數據線23切斷。顯然，如果沒有切斷點54，則在進行檢測時，引線13、23中不用進行信號傳輸的部分(即待測公共電極線13在交叉點51右側部分和檢測用數據線23在交叉點51下側的部分)也會帶電，而這部分引線13、23帶電會對檢測結果產生不良影響，為了減少這種影響，使檢測信號更加準確，故優選在上述切斷點54處切斷引線13、23。當然，為了達到最好的避免引線13、23帶電的效果，切斷點54與交叉點51間的距離越近越好。優選的，上述切斷引線13、23的方式具體為用雷射切斷待測公共電極線13和/或
檢測用數據線23。使用雷射將引線切斷的技術是已知的，故在此不再詳細描述。顯然，以上的SOI、S02、S03步驟均是為了形成檢測所需的結構，也就是它們均是進行檢測前的準備步驟，因此它們並無必然的先後關係，本實施例中SOI、S02、S03步驟的順序只是作為一個具體例子，而這三步驟的實際執行順序可以任意調換。S04、從位於檢測用數據線輸入端231中或與檢測用數據線輸入端231相連的檢測點53採集檢測信號，檢測點53或檢測點53與數據線2的連接點531比阻斷點52遠離第二驅動晶片；此時，由公共電極驅動晶片19發出的信號會經由待測公共電極線13從交叉點51傳入檢測用數據線23，因此在檢測用數據線輸入端231即可採集到由公共電極驅動晶片19發出的信號，從而判斷待測公共電極線13的狀況，達到檢測目的。優選的，當印刷線路板8上具有上述觸點時，可使檢測探針與觸點接觸，從而接收檢測信號。當然，如果檢測點53處沒有觸點，而直接用檢測探針接觸檢測用數據線輸入端231以採集信號，也是可行的。顯然，雖然本實施例中以通過數據線2對公共電極線I進行檢測為例子，但本實施例的顯示面板檢測方法也可用於檢測其他引線；例如，也可通過公共電極線I對數據線2進行檢測；或者通過柵極線對數據線2進行檢測；或者通過數據線2對柵極線進行檢測等。由於這些不同的檢測方法只是弓I線選擇不同，而其實質相似，故在此不再逐一描述。上述實施例的顯示面板中，檢測用數據線輸入端231部分位於印刷線路板8上；但顯然，對於現有的常規顯示面板，也可採用上述實施例的方法進行檢測；其檢測方式如圖5所示，直接將阻斷點52和檢測點53設置在柔性線路板7上(或薄膜電晶體陣列基板9上)，當然，由於柔性線路板7的性質，此時難以在阻斷點52和檢測點53形成開關結構和觸點，但是仍可通過用針扎斷阻斷點52以及直接用檢測探針接觸檢測點53的方式實現檢測。可以理解的是，以上實施方式僅僅是為了說明本發明的原理而採用的示例性實施方式，然而本發明並不局限於此。對於本領域內的普通技術人員而言，在不脫離本發明的精神和實質的情況下，可以做出各種變型和改進，這些變型和改進也視為本發明的保護範圍。
權利要求
1.一種顯示面板檢測方法，所述顯示面板包括設有多根相互交叉的第一引線和第二引線的薄膜電晶體陣列基板，所述第一引線的輸入端連接第一驅動晶片，第二引線的輸入端連接第二驅動晶片，其特徵在於，所述顯示面板引線檢測方法包括 將待測第一引線與檢測用第二引線在二者的交叉點導通，並在位於所述檢測用第二引線輸入端中的阻斷點阻斷檢測用第二引線內的信號傳輸； 從位於所述檢測用第二引線輸入端中或與檢測用第二引線輸入端相連的檢測點採集檢測信號，所述檢測點或檢測點與第二引線的連接點比所述阻斷點遠離第二驅動晶片。
2.根據權利要求I所述的顯示面板檢測方法，其特徵在於，所述顯示面板還包括位於所述薄膜電晶體陣列基板側面的印刷線路板； 所述檢測用第二引線輸入端至少部分位於所述印刷線路板上，所述阻斷點為位於所述印刷線路板上的開關結構。
所述檢測點為位於所述印刷線路板上的觸點。
3.根據權利要求I或2所述的顯示面板檢測方法，其特徵在於，所述將待測第一引線與檢測用第二引線在二者的交叉點導通包括 用雷射將待測第一引線與檢測用第二引線的交叉點焊接導通。
4.根據權利要求I或2所述的顯示面板檢測方法，其特徵在於，在從檢測點採集檢測信號之前，還包括 切斷所述待測第一引線，所述切斷的位置比待測第一引線與檢測用第二引線的交叉點更遠離所述待測第一引線輸入端； 和/或 切斷所述檢測用第二引線，所述切斷的位置比檢測用第二引線與待測第一引線的交叉點更遠離所述檢測用第二引線輸入端。
5.根據權利要求4所述的顯示面板檢測方法，其特徵在於， 切斷所述待測第一引線包括用雷射切斷所述待測第一引線； 和/或 切斷所述檢測用第二引線包括用雷射切斷所述檢測用第二引線。
6.根據權利要求I或2中任意一項所述的顯示面板檢測方法，其特徵在於， 所述第一引線為公共電極線，所述第二引線為數據線； 或 所述第一引線為數據線，所述第二引線為公共電極線； 或 所述第一引線為柵極線，所述第二引線為數據線； 或 所述第一引線為數據線，所述第二引線為柵極線。
7.—種顯不面板,包括 設有多根相互交叉的第一引線和第二引線的薄膜電晶體陣列基板，所述第一引線的輸入端連接第一驅動晶片，所述第二引線的輸入端連接第二驅動晶片； 位於所述薄膜電晶體陣列基板側面的印刷線路板； 其特徵在於，至少部分所述第二引線為檢測用第二引線，所述檢測用第二引線的輸入端至少部分位於所述印刷線路板上； 所述印刷線路板上的檢測用第二引線輸入端中設有用於阻斷檢測用第二引線中信號傳輸的開關結構； 所述印刷線路板上設有觸點，所述觸點位於檢測用第二引線輸入端中或與檢測用第二引線輸入端相連，且所述觸點或觸點與檢測用第二引線的連接點比所述開關結構遠離第二驅動晶片。
8.根據權利要求7所述的顯示面板，其特徵在於，還包括連接在所述薄膜電晶體陣列基板側面的柔性線路板； 所述第二驅動晶片位於所述柔性線路板上，所述印刷線路板連接在所述柔性線路板遠離薄膜電晶體陣列基板的一側。
9.根據權利要求7或8所述的顯示面板，其特徵在於， 所述開關結構為O跳變電阻、劃線電阻器、三極體、螺絲開關中的任意一種。
10.根據權利要求7或8所述的顯示面板，其特徵在於， 所述第一引線為公共電極線，所述第二引線為數據線； 或 所述第一引線為數據線，所述第二引線為公共電極線； 或 所述第一引線為柵極線，所述第二引線為數據線； 或 所述第一引線為數據線，所述第二引線為柵極線。
全文摘要
本發明提供一種顯示面板及其檢測方法，屬於顯示面板檢測技術領域，其可解決現有技術中無法對顯示面板的引線進行分區段檢測的問題。顯示面板包括設有多根相互交叉的第一引線和第二引線的薄膜電晶體陣列基板，第一引線的輸入端連接第一驅動晶片，第二引線的輸入端連接第二驅動晶片。而顯示面板引線檢測方法包括將待測第一引線與檢測用第二引線在二者的交叉點導通，並在位於檢測用第二引線輸入端中的阻斷點阻斷檢測用第二引線內的信號傳輸；從位於檢測用第二引線輸入端中或與檢測用第二引線輸入端相連的檢測點採集檢測信號，該檢測點或檢測點與第二引線的連接點比阻斷點遠離第二驅動晶片。本發明可用於液晶顯示面板或有機發光二極體顯示面板中。
文檔編號G09G3/00GK102945647SQ20121039487
公開日2013年2月27日 申請日期2012年10月17日 優先權日2012年10月17日
發明者胡海琛, 郤玉生 申請人:京東方科技集團股份有限公司, 北京京東方顯示技術有限公司