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一種用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀的製作方法

2023-10-26 23:17:37

專利名稱:一種用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀的製作方法
技術領域:
—種用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀技術領域[0001]本實用新型涉一種顏色檢測儀器,尤其涉及的是一種用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀。
背景技術:
[0002]色差儀,廣泛應用於塑膠、印刷、油漆油墨、紡織服裝等行業的顏色管理領域,根據 CIE色空間的Lab,Lch原理,測量顯示出樣品與被測樣品的色差Λ E以及Λ Lab值。由於一般的色差儀,其測量口徑是非密封的。當採用這種色差儀測量粉末或膏狀體時,很可能導致粉末或膏狀體進入到色差儀內部,損壞色差儀,汙染色差儀積分球內壁,使得測量結果不準確從而產生較大誤差。[0003]現有技術中,當使用色差儀測量粉末或膏狀體顏色時,一般採用一塊玻璃將粉末或膏狀體壓平,再將色差儀測量口徑放置在玻璃上正對被測物體進行測量。雖然玻璃是無色透明的,不會改變物體表面的顏色,但由於玻璃表面非常光滑,會改變物體表面的光澤度,然而粉末或膏狀體的光澤度會對測量結果產生很大影響,從而導致測量結果不準確,誤差較大。[0004]如圖I所示,採用上述測量方式,入射光會有很大一部分沒有經過被測物體表面反射,而直接被玻璃鏡面反射至積分球內。這部分光對顏色的判定有顯著的影響,並且由於粉末或膏狀體的緊實程度會對測量結果產生很大影響,當採用玻璃壓平粉末或膏狀體的測量方式時,尤其是當被測量粉末或膏狀體的顆粒比較大或者塑性比較強時,粉末或膏狀體不同的緊實程度對粉末或膏狀體表面顏色會產生顯著的影響。再者,若所測量的粉末或膏狀體厚度較薄或具有一定透明度,粉末或膏狀體承載器皿的顏色也會對測量產生一定的影響。[0005]因此,現有技術還有待於改進和發展。實用新型內容[0006]鑑於上述現有技術的不足,本實用新型的目的在於提供一種用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,通過在積分球下端設置一用於將測量口徑封閉的石英玻璃,可以測量粉末或膏狀體,其結構簡單,測量結果準確。[0007]本實用新型的技術方案如下[0008]一種用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,包括從上到下依次設置的光源、半透半反鏡和積分球,所述光源和半透半反鏡設置在同一個光路通道上,其中,其還包括設置在所述積分球下端的測量口處、用於將測量口徑封閉的石英玻璃,設置在所述積分球內壁的第一消光漆層;所述第一消光漆層在所述積分球內壁的設置位置對應所述光源的入射光線經石英玻璃反射後的反射光線的投射區域。[0009]所述的用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,其中,在積分球內壁的第一消光漆層以外區域設置有一層高漫反射塗料層。[0010]所述的用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,其中,其還包括用於納置粉末或膏狀體的測量套件,所述測量套件嵌套卡合在所述色差儀的測量口上,並在所述測量套件的表面設置有第二消光漆層。所述的用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,其中,所述測量套件包括一盒體,設置在所述盒體內的用於納置粉末或膏狀體的凹腔;所述凹腔的高度小於所述盒體的高度,並在凹腔的表面還設置有第三消光漆層。所述的用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,其中,所述盒體為圓形盒體。所述的用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,其中,在所述盒體上端的內壁還設置有三個凸起。所述的用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,其中,所述凹腔為圓形凹腔。本實用新型所提供的一種用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,由於採用了設置在所述積分球下端的測量口處、用於將測量口徑封閉的石英玻璃,設置在所述積分球內壁的第一消光漆層;所述第一消光漆層在所述積分球內壁的設置位置對應所述光源的入射光線經石英玻璃反射後的反射光線的投射區域;使得當經石英玻璃直接鏡面反射後的反射光線反射到第一消光漆層所在的投射區域的時候,其能量被第一消光漆層吸收,只有投射到積分球其它部分的光線才會參與系統的測量,即光路只測量漫反射光線,降低了誤差,並且本實用新型提供的色差儀其結構簡單,還避免了粉末或膏狀體在測量時進入色差儀內部汙染積分球內壁,使得測量結果更準確。

圖I為現有技術中採用玻璃壓平粉末或膏狀體的測量方式的結構示意圖。圖2為本實用新型一種用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀的較佳實施例結構示意圖。圖3為本實用新型測量套件的較佳實施例結構示意圖。
具體實施方式
本實用新型提供一種用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,為使本實用新型的目的、技術方案及效果更加清楚、明確,以下參照附圖並舉實例對本實用新型進一步詳細說明。應當理解,此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型,並不用於限定本實用新型。請參閱圖2,圖2為本實用新型一種用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀的較佳實施例結構示意圖。所述色差儀包括光源110、半透半反鏡120和積分球130。所述光源110、半透半反鏡120和積分球130從上到下依次設置,並在同一個光路通道上。本實施例中所述色差儀的設計採用「8/d」的測量結構,即所述光源110發出的光線經半透半反鏡120後進入積分球130的入射光線的入射方向和被測表面法線方向形成的入射角度為8度。所述色差儀還包括設置在所述積分球130下端的測量口處的石英玻璃140和設置在所述積分球130內壁的第一消光漆層131,所述石英玻璃140用於將色差儀的測量口徑封閉。所述色差儀的積分球130下端與石英玻璃140可通過螺絲螺接,還可以通過其他方式連接。此處不做限制。所述第一消光漆層131的位置設置在所述積分球130內壁對應所述光源110的入射光線經石英玻璃140反射後的反射光線的投射區域,即在入射光線經石英玻璃140反射後的反射光線投射在積分球130內壁上對應的投射區域還塗覆有一層可見光光譜範圍內反射率較低的第一消光漆層131。所述第一消光漆層131在可見光光譜範圍內反射率較低,即鏡面反射的反射光線投射到該處設置有第一消光漆層131的積分球130內壁的投射區域的時候,其能量被塗料吸收,不會參與系統的測量。[0022]進一步地,在積分球130內壁除第一消光漆層131以外的其他區域塗覆蓋有一層高漫反射塗料層132。採用上述結構,只有投射到積分球高漫反射塗料層132的光線參與系統的測量,即光路只測量漫反射光線,使得測量結果更加準確。[0023]本實用新型提供的色差儀,由於底面的石英玻璃140改變了物體表面光澤,使得有一部分光沒有經過被測物體表面的反射和漫反射就直接通過石英玻璃140的鏡面反射至積分球130內,通過在8度角度的入射光線經石英玻璃140直接鏡面反射的反射光線投射在積分球130上的投射區域用可見光光譜範圍內反射率較低的第一消光漆層131進行塗覆,將直接鏡面反射的反射光線去除,並且在積分球130除第一消光漆層131以外區域採用高漫反射塗料進行塗覆,使得測量時只檢測該物體表面的漫射光,其結構簡單,測量誤差小,結果更加準確。[0024]將被測表面的反射光去除,通過檢測該物體表面的漫射光來實現顏色的檢測,這種檢測方法稱為「SCE」,即去除反射光的測量方式。採用本實用新型提供的色差儀,可以對任意物體表面進行SCE方式的測量。譬如、在對很多高光澤物體表面進行測量時,即使不覆蓋石英玻璃,其表面的光澤也非常強,如汽車漆面等。當對這種物體表面進行測量時,其自身的光澤也會對測量產生很大的影響。而本實用新型提供的色差儀同樣適合對這類高光澤物體表面進行測量,其測量結果準確,誤差較小。[0025]請參閱圖3,本實用新型還提供了一種測量套件180,所述測量套件180用於納置粉末或膏狀體。所述測量套件180嵌套卡合在所述色差儀的測量口上,並且在測量套件180 的表面還塗覆有第二消光漆層(圖3中未示出),避免了測量套件本身對顏色測量造成影響。 所述測量套件180的表面包括全部表面,即全部塗覆有一層消光漆層。[0026]優選地,所述測量套件180包括一盒體181,設置在所述盒體181內的凹腔182,所述凹腔182用於納置粉末或膏狀體,並且所述凹腔182的高度要小於盒體181的高度,在凹腔182的全部表面設置有第三消光漆層(圖3中未示出),作用與上相同。所述盒體181由 ABS工程塑料製成,具有較好的強度,為圓形盒體,所述盒體181可根據需要進行設計,此處不做限制。所述凹腔182用矽膠製成,為圓形凹腔,其形狀可根據設計需要進行設計。[0027]進一步地,在盒體181內壁上還設置有至少兩個凸起183。較佳地,如圖3所示,所述盒體181上設置有3個凸起183。所述色差儀的測量口與所述測量套件180通過所述凸起183旋轉卡合。並且所述凹腔182的高度要小於盒體181的高度,在嵌套連接時,所述石英玻璃140伸入盒體181內,並與凹腔182的上表面表面接觸。[0028]本實用新型提供的測量套件,所述凹腔182提供了一定容積的體積,在測量時,可以將粉末或膏狀體以自然狀態填充在凹腔182內,當粉末或膏狀體面超過凹腔182上表面後,用工具將多餘粉末或膏狀體刮掉。然後將色差儀測試口置於粉末或膏狀體表面進行測量。由於石英玻璃140與凹腔182上表面表面接觸,色差儀在測量時不會對粉末或膏狀體產生壓力導致粉末或膏狀體的緊實程度發生變化,從而不會影響顏色測量。並且,由於對粉末或膏狀體的測試套件全部表面塗覆了消光漆層,在測量具有一定透明度的粉末或膏狀體時,測量套件本身的顏色也不會對測量產生影響。本實用新型所提供的一種用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,由於採用了包括從上到下依次設置的光源、半透半反鏡和積分球,所述光源和半透半反鏡設置在同一個光路通道上,其中,其還包括設置在所述積分球下端的測量口處、用於將測量口徑封閉的石英玻璃,設置在所述積分球內壁的第一消光漆層;所述第一消光漆層在所述積分球內壁的設置位置對應所述光源的入射光線經石英玻璃反射後的反射光線的投射區域;在積分球內壁的第一消光漆層以外區域設置有一層高漫反射塗料層;避免了粉末或膏狀體進入色差儀內部汙染積分球內壁,防止測量結果不準確從而產生較大誤差,還將入射光線經石英玻璃直接鏡面反射後的反射光線去除,從而避免其對測量產生影響,使得測量結果更加準確。本實用新型還提供了一種用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀配套的測量套件,由於採用了盒體和設置在盒體內用於納置粉末或膏狀體的凹腔,使得色差儀在測量時不會對粉末或膏狀體產生壓力導致粉末或膏狀體的緊實程度發生變化,從而避免了對測量結果產生影響,並且在盒體全部表面塗覆第二消光漆層,在凹腔全部表面塗覆有第三消光漆層,使得測量套件本身的顏色不會對測量產生影響,提高了測量的準確性。應當理解的是,本實用新型的應用不限於上述的舉例,對本領域普通技術人員來說,可以根據上述說明加以改進或變換,所有這些改進和變換都應屬於本實用新型所附權利要求的保護範圍。
權利要求1.一種用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,包括從上到下依次設置的光源、半透半反鏡和積分球,所述光源和半透半反鏡設置在同一個光路通道上,其特徵在於,其還包括設置在所述積分球下端測量口處的用於將測量口徑封閉的石英玻璃,設置在所述積分球內壁的第一消光漆層;所述第一消光漆層在所述積分球內壁的設置位置對應所述光源的入射光線經石英玻璃反射後的反射光線的投射區域。
2.根據權利要求I所述的用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,其特徵在於,在積分球內壁的第一消光漆層以外區域設置有一層高漫反射塗料層。
3.根據權利要求I所述的用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,其特徵在於,其還包括用於納置粉末或膏狀體的測量套件,所述測量套件嵌套卡合在所述色差儀的測量口上,並在所述測量套件的表面設置有第二消光漆層。
4.根據權利要求3所述的用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,其特徵在於,所述測量套件包括一盒體,設置在所述盒體內的用於納置粉末或膏狀體的凹腔;所述凹腔的高度小於所述盒體的高度,並在凹腔的表面還設置有第三消光漆層。
5.根據權利要求4所述的用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,其特徵在於,所述盒體為圓形盒體。
6.根據權利要求5所述的用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,其特徵在於,在所述盒體上端的內壁還設置有三個凸起。
7.根據權利要求4所述的用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,其特徵在於,所述凹腔為圓形凹腔。
專利摘要本實用新型公開了一種用於測量粉末或膏狀體顏色的色差儀,由於採用了設置在所述積分球下端的測量口處、用於將測量口徑封閉的石英玻璃,設置在所述積分球內壁的第一消光漆層;所述第一消光漆層在所述積分球內壁的設置位置對應所述光源的入射光線經石英玻璃直接鏡面反射後的反射光線的投射區域;使得當經石英玻璃反射後的反射光線反射到第一消光漆層所在的投射區域的時候,其能量被第一消光漆層吸收,只有投射到積分球其它部分的光線才會參與系統的測量,即光路只測量漫反射光線,降低了誤差,並且本實用新型提供的色差儀其結構簡單,還避免了粉末或膏狀體在測量時進入色差儀內部汙染積分球內壁,使得測量結果更準確。
文檔編號G01J3/02GK202814547SQ20122036223
公開日2013年3月20日 申請日期2012年7月25日 優先權日2012年7月25日
發明者王堅, 袁琨 申請人:深圳漢譜光彩科技有限公司

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