一種用於直流開關試驗的合成試驗迴路的製作方法

2023-10-11 23:58:34

專利名稱：一種用於直流開關試驗的合成試驗迴路的製作方法
技術領域：
本發明屬於直流輸電用高壓直流開關試驗技術領域，涉及一種直流開關開斷性能檢測的試驗迴路，尤其是一種應用於直流開關開斷或轉換直流電流試驗的合成試驗迴路。
背景技術：
直流斷路器是特高壓直流輸電工程換流站的重要設備之一，其主要作用是改變直流系統的運行方式，或清除直流側出現的故障，即當系統出現故障時，用直流開關開斷或轉換直流電流。為了證明直流開關具有該能力，在實驗室用試驗來驗證其開斷性能。直流開關開斷性能檢測的試驗迴路是模擬直流開關在系統中實際運行工況的迴路，試驗電流可以由電網或發電機經整流而得到，由於直流開關開斷電流後要承受高電壓， 直流電源的電壓必須達到要求的電壓值，因此要建成這樣的試驗迴路，投資是非常大的。實驗室一般不會採用這種方法搭建試驗迴路，而是用等價性較高的替代試驗迴路進行試驗。
發明內容本發明的目的在於克服上述現有技術的缺點，提供一種用於直流開關試驗的合成試驗迴路，該試驗迴路採用等價替代的方式，有效替代現有投資巨大的試驗迴路，使試驗成本降低。本發明的目的是通過以下技術方案來解決的該種用於直流開關試驗的合成試驗迴路，包括電流源和電壓源，還包括有第一、二輔助開關，第一、二磁位計；所述電壓源的輸出端並聯有直流開關和第一磁位計的串聯電路，所述第一磁位計的低電位接地；所述第一、二輔助開關和第二磁位計串聯後與直流開關和第一磁位計的串聯電路並聯；所述第一、二輔助開關之間連接至電流源輸出的高電位端， 所述第二磁位計連接至電流源輸出端的低電位上。上述電流源由低頻振蕩迴路、合閘開關、避雷器、保護球組成；所述低頻振蕩迴路的輸出端與合閘開關和避雷器連接成迴路，所述保護球一端通過合閘開關接在低頻振蕩迴路輸出端的高電位上，保護球的另一端接地；所述避雷器的兩端為電流源的輸出端。上述電壓源包括有依次串聯成迴路的電容器、調頻電容、調頻電阻、電抗器和點火球，所述調頻電阻和電抗器之間還連接有阻容分壓器的一端，所述阻容分壓器另一端接地； 所述調頻電容和調頻電阻的串聯電路兩端為電壓源輸出端。本實用新型用待用電流源和電壓源以及相關的實驗電路實現了直流開關的合成試驗迴路，該試驗迴路在能夠保證試驗項目穩定工作的情況下，不僅結構簡單，而且採用了等價替代的方式，通過使用低頻振蕩迴路代替直流電源，其有效節約了實驗室投資。

圖1為本實用新型的合成試驗迴路原理圖。
具體實施方式

以下結合附圖對本發明做進一步詳細描述合成試驗迴路具體實施方式
參見圖1所示，這種用於直流開關試驗的合成試驗迴路，包括電流源，電壓源，第一、二輔助開關Π(1、Π(2以及第一、二磁位計CT1、CT2。其中電壓源的輸出端並聯有直流開關SP和第一磁位計CTl的串聯電路，第一磁位計CTl的低電位接地；第一、二輔助開關πα、FK2和第二磁位計CT2串聯後與直流開關SP和第一磁位計CTl 的串聯電路並聯；第一、二輔助開關πα、π(2之間連接至電流源輸出的高電位端，第二磁位計CT2連接至電流源輸出端的低電位上。本實用新型的電流源由低頻振蕩迴路、合閘開關ΗΚ、避雷器P、保護球DQl組成。其中低頻振蕩迴路的輸出端與合閘開關HK和避雷器P連接成迴路，保護球DQl —端通過合閘開關HK接在低頻振蕩迴路輸出端的高電位上，保護球DQl的另一端接地；避雷器P的兩端為電流源的輸出端。本實用新型的電壓源包括有依次串聯成迴路的電容器C、調頻電容Ctl、調頻電阻 R0>電抗器L和點火球DQ2，調頻電阻Rtl和電抗器L之間還連接有阻容分壓器U的一端，阻容分壓器U另一端接地；調頻電容Ctl和調頻電阻Rtl的串聯電路兩端為電壓源輸出端。以下說明本實用新型的工作過程本實用新型的合成試驗僅對直流開關的主斷口進行合成試驗，不帶輔助振蕩迴路。各開關和各迴路動作時序如下1)初始狀態電壓迴路主電容器C預先充電；第二輔助開關Π(2處於分閘狀態，第一輔助開關πα、直流開關sp處於合閘狀態。2)當試驗電流Il達到額定值時分直流開關SP。3)在直流開關SP斷口幾乎分到位時(根據直接試驗確定)，合第二輔助開關Π(2、 分第一輔助開關πα，同時觸發點火球DQ2火花間隙，當直流開關SP上的電流降低到零時， 直流開關SP開斷，同時恢復電壓加到直流開關SP上。
權利要求1.一種用於直流開關試驗的合成試驗迴路，包括電流源和電壓源，其特徵在於還包括有第一、二、輔助開關(πα、1 ，第一、二磁位計(CT1、CD)；所述電壓源的輸出端並聯有直流開關(SP)和第一磁位計(CTl)的串聯電路，所述第一磁位計(CTl)的低電位接地； 所述第一、二輔助開關(πα、π^)和第二磁位計(CT2)串聯後與直流開關(sp)和第一磁位計(CTi)的串聯電路並聯；所述第一、二輔助開關(πα、π(2)之間連接至電流源輸出的高電位端，所述第二磁位計(CD)連接至電流源輸出端的低電位上。
2.根據權利要求1所述的用於直流開關試驗的合成試驗迴路，其特徵在於所述電流源由低頻振蕩迴路、合閘開關(HK)、避雷器(P)、保護球(DQl)組成；所述低頻振蕩迴路的輸出端與合閘開關(HK)和避雷器⑵連接成迴路，所述保護球(DQl) —端通過合閘開關(HK) 接在低頻振蕩迴路輸出端的高電位上，保護球(DQl)的另一端接地；所述避雷器⑵的兩端為電流源的輸出端。
3.根據權利要求1所述的用於直流開關試驗的合成試驗迴路，其特徵在於所述電壓源包括有依次串聯成迴路的電容器(C)、調頻電容(Ctl)、調頻電阻00、電抗器(L)和點火球(DQ2)，所述調頻電阻(Rtl)和電抗器(L)之間還連接有阻容分壓器(U)的一端，所述阻容分壓器(U)另一端接地；所述調頻電容(Ctl)和調頻電阻(Rtl)的串聯電路兩端為電壓源輸出端。
專利摘要本實用新型涉及一種用於直流開關試驗的合成試驗迴路，包括電流源和電壓源，還包括有第一、二輔助開關，第一、二磁位計；電壓源的輸出端並聯有待測直流開關和第一磁位計的串聯電路，第一磁位計的低電位接地；第一、二輔助開關和第二磁位計串聯後與待測直流開關和第一磁位計的串聯電路並聯；第一、二輔助開關之間連接至電流源輸出的高電位端，第二磁位計連接至電流源輸出端的低電位上。本實用新型用待用電流源和電壓源以及相關的實驗電路實現了直流開關的合成試驗迴路，該試驗迴路在能夠保證試驗項目穩定工作的情況下，不僅結構簡單，而且採用了等價替代的方式，通過使用低頻振蕩迴路代替直流電源，其有效節約了實驗室投資。
文檔編號G01R31/327GK201935987SQ20102067717
公開日2011年8月17日 申請日期2010年12月23日 優先權日2010年12月23日
發明者劉樸, 洪深, 那虎 申請人:中國西電電氣股份有限公司