多種針高的連接器的自動檢測機構的製作方法
2023-10-21 04:42:17 4
本發明涉及檢測技術領域，尤其涉及一種多種針高的連接器的自動檢測機構。
背景技術：
印製電路板(Printed Circuit Board)簡稱PCB板，在生產過程中，必須檢測PCB板與PCB板上的連接器之間是否連接良好，有沒有開短路問題，以判斷其是否合格。通常採用TestJet測試技術進行檢測。TestJet是安捷倫推出的ICT(在線)測試的設計，其主要目的在於檢測安裝於PCB板上的電子零件與PCB板之間的連接品質(即PCB板與零件針腳是否連接良好，有沒有開短路問題)。連接器也是其中的電子零件之一。現有的連接器的TestJet檢測結構如圖1所示，測試設備通過測試設備探針28及導線27輪流發送微弱信號到測試治具上的連接到PCB板9的ICT測試探針26。連接器上的各個針腳51透過PCB板9上的布線接通了上述微弱信號。如發生焊接開路的狀況時，連接器上的針腳51將無法傳輸上述的微弱信號，否則TestJet的感應片3'將感應到的微弱信號透過放大器6予以放大後再傳回到測試設備。由於信號微弱，感應片3'必須非常靠近連接器的針腳51才能有效的完成相應的測試需求。
但是，現有的測試結構存在的問題是：只能對具有單一高度的針腳的連接器進行檢測，對具有不同高度的針腳的連接器進行檢測時，較高的針腳擋住了感應片3'，使得較低的針腳無法靠近感應片3'，導致感應片3'無法感應到微弱信號。因此，有必要開發一種針對多種針高的連接器進行檢測的裝置。
技術實現要素：
本發明的目的在於提出一種多種針高的連接器的自動檢測機構，能夠實現對具有多種針腳高度的連接器進行檢測，檢測效率高，檢測結果可靠。
為達此目的，本發明採用以下技術方案：
一種多種針高的連接器的自動檢測機構，用於對PCB板上的連接器進行檢測，包括上模座、下模座及驅動所述上模座上下運動的驅動裝置；PCB板固定於所述下模座；還包括：固定於所述上模座的底面的固定座，所述固定座連接有用於導引所述連接器的針腳穿入的導引層，所述導引層與所述固定座之間設置有多層的感應板；每層所述感應板的底面均塗覆有絕緣保護層，相鄰的兩層所述感應板之間通過導線串聯連接；所述感應板電連接有放大器；所述針腳穿過所述導引層與所述絕緣保護層接觸，且不同高度的所述針腳與不同層高的所述感應板的所述絕緣保護層接觸。
進一步地，所述導引層開設有與所述針腳對應排列的導向孔，所述針腳穿過所述導向孔後與對應的所述感應板的所述絕緣保護層接觸。
更進一步地，位於下方的所述感應板開設有與所述導向孔對應的通孔，所述針腳依次穿過所述導向孔及所述通孔後與鄰接於該感應板上方的另一個所述感應板的所述絕緣保護層接觸。
更進一步地，所述通孔的內徑略大於所述導向孔的內徑。
進一步地，所述固定座與頂層的所述感應板之間設置有緩衝層。
進一步地，所述絕緣層的厚度為1μm～2μm。
本發明的有益效果為：本發明提出的一種多種針高的連接器的自動檢測機構，克服了現有的TestJet檢測治具只能測試具有單一高度的針腳的連接器的困擾，通過讓不同高度的針腳與對應的感應板的絕緣防護層接觸，使每一個針腳與感應板之間僅隔一層絕緣防護層，保證感應板能夠感應到每一個針腳傳輸的微弱信號，從而實現多種針高的連接器的檢測，檢測效率高，檢測結果可靠。
附圖說明
圖1是現有的連接器的TestJet檢測結構的示意圖；
圖2是本發明提供的多種針高的連接器的自動檢測機構的示意圖；
圖3是本發明提供的多種針高的連接器的自動檢測機構的實施方式之一的示意圖。
圖中：1-固定座；2-導引層；21-導向孔；3-感應板；3'-感應片；31-通孔；3a-底層感應板；3b-中層感應板；3c-高層感應板；4-緩衝層；5-連接器；51-針腳；51a-低針腳；51b-中針腳；51c-高針腳；6-放大器；7-探針；8-絕緣保護層；9-PCB板；91-信號傳輸線；10-信號來源；26-ICT測試探針，27-導線；28-測試設備探針。
具體實施方式
下面結合附圖並通過具體實施方式來進一步說明本發明的技術方案。
如圖2至3所示，一種多種針高的連接器的自動檢測機構，用於對PCB板9上的連接器5進行檢測，包括上模座、下模座及驅動上模座上下運動的驅動裝置；PCB板固定於下模座；還包括：固定於所述上模座的底面的包括：固定座1，固定座1連接有用於導引連接器5的針腳51穿入的導引層2，導引層2與固定座1之間設置有多層的感應板3；每層感應板3的底面均塗覆有絕緣保護層8，相鄰的兩層感應板3之間通過導線串聯連接；感應板3電連接有放大器6；針腳51穿過導引層2與絕緣保護層8接觸，且不同高度的針腳51與不同層高的感應板3的絕緣保護層8接觸。
通過該多種針高的連接器的自動檢測機構，讓不同高度的針腳51與對應的感應板3的絕緣保護層8接觸，使每一個針腳51與感應板3之間僅隔一層絕緣防護層，保證感應板3能夠感應到每一個針腳51傳輸的微弱信號，從而實現多種針高的連接器5的TestJet檢測，檢測效率高，檢測結果可靠。
該多種針高的連接器的自動檢測機構中，導引層2開設有與針腳51對應排列的導向孔21，針腳51穿過導向孔21後與對應的感應板3的絕緣保護層8接觸，使待測針腳51能最大可能的接近感應板3，以達到測試的最佳效果。
該多種針高的連接器的自動檢測機構中，位於下方的感應板3開設有與導向孔21對應的通孔31，針腳51依次穿過導向孔21及通孔31後與鄰接於該感應板3上方的另一個感應板3的絕緣保護層8的底面接觸。其中，導向孔21的內徑與針腳51的外徑相適應，通孔31的內徑略大於導向孔21的內徑，以避免針腳51插入通孔31時發生折彎受損，同時避免與下層的感應板3接觸而導致短路。
該多種針高的連接器的自動檢測機構中，固定座1與頂層的感應板3之間設置有緩衝層4，緩衝層4可為海綿、塑橡膠製品、或彈簧等緩衝構件，以減緩與連接器5連接時的緩衝力。
該多種針高的連接器的自動檢測機構中，絕緣層8的厚度為1μm～2μm。優選地，該絕緣保護層8為絕緣膠。
作為本方案的一個實施例，如圖3所示，針腳51按高度分為三類：低針腳51a、中針腳51b及高針腳51c，感應板3設置有3層，分別為底層感應板3a、中層感應板3b及高層感應板3c，高層感應板3c與緩衝層4貼合連接，底層感應板3a與導引層2貼合連接。底層感應板3a及中層感應板3b均開設有與導向孔21上下對應的通孔31。低針腳51a穿過導向孔21與底層感應板3a的絕緣保護層8a的底面接觸，中針腳51b依次穿過導向孔21及底層感應板3a的通孔31與中層感應板3b的絕緣保護層8b的底面接觸，而長針腳51c依次穿過導向孔21、底層感應板3a的通孔31及中層感應板3b的通孔31與高層感應板3c的絕緣保護層8c的底面接觸。
檢測時，驅動機構驅動上模座向下移動，以使該檢測機構與PCB板9上的連接器5連接，連接器5的針腳51穿過導引層2與對應的感應板3的絕緣保護層8接觸。信號來源10產生測試信號，經PCB板9上的信號傳輸線91輸送至連接器5的針腳51，通過感應板3感應與其對應的針腳51的信號，並經過放大器6進行放大處理，再經與放大器6連接的探針7傳輸至測試系統，從而判斷該連接器5是否合格。
以上結合具體實施例描述了本發明的技術原理。這些描述只是為了解釋本發明的原理，而不能以任何方式解釋為對本發明保護範圍的限制。基於此處的解釋，本領域的技術人員不需要付出創造性的勞動即可聯想到本發明的其它具體實施方式，這些方式都將落入本發明的保護範圍之內。