用於射頻集成電路晶片的測試裝置的製作方法
2023-10-07 05:30:29 1
專利名稱：用於射頻集成電路晶片的測試裝置的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種用於射頻集成電路晶片的測試裝置，該裝置設置測試平臺和雙穩壓件機構，測試平臺上設有測試單元，測試單元包括測試基座、微帶電路板、射頻同軸連接器。
背景技術：
中國專利2006100052497公開了一種微波陶瓷元器件檢測夾具與裝置及其檢測方法，該專利的微波共面波導測試夾具設有波導底座、高頻印刷電路板和緊固件，在高頻印刷電路板上設有短路開路校準通道、匹配校準通道、並聯檢測通道和串聯檢測通道，被測元件放置於並聯檢測通道的內導體上，通過探針與並聯檢測通道外導體形成並接迴路；串聯檢測通道用於測試被測元器件的諧振峰，通過探針緊壓被測元器件與串聯檢測通道內導體的斷面緊密接觸，所述的微波共面波導測試夾具還包括樣品定位片、檢測探針架和8對SMA接頭；該專利的檢測夾具的檢測電路為高頻印刷電路板，樣品定位片上的固定被測元件樣品的樣品槽很難滿足微波元件多樣化的要求。隨著射頻微波在生產生活的各個領域運用的越來越廣泛，各行業對射頻器件的體積和性能的要求也越來越高。在保證器件性能的前提下，將一些複雜功能的射頻電路封裝成一個射頻集成電路晶片的運用越來越普遍。射頻集成電路晶片有多個引腳，對其檢測時需要保證晶片的每個引腳與所對應的檢測電路精密連接，同時避免在檢測時晶片內各射頻功能電路的射頻信號相互幹擾。因此，需要提出一種用於射頻集成電路晶片的測試裝置。
發明內容
本實用新型的目的在於提供一種用於射頻集成電路晶片的測試裝置，該裝置設置測試平臺和雙穩壓件機構，測試平臺上設有測試單元，測試單元包括測試基座、可更換的晶片定位板、微帶電路板、射頻同軸連接器。本實用新型能實現對射頻集成電路晶片的精確定位和壓接，並能避免晶片內各射頻功能電路的射頻信號相互幹擾，影響檢測結果的精度。本實用新型的目的是由下述技術方案實現的:一種用於射頻集成電路晶片的測試裝置，有一個底座板，所述底座板上設置測試平臺和雙穩壓件機構，所述測試平臺上設有測試單元，該測試單元有一個測試基座，所述測試基座頂面中心設置可更換的晶片定位板，所述晶片定位板上設有晶片安置孔；所述測試基座頂部圍繞所述晶片定位板設有多個微帶電路板安置槽，所述微帶電路板安置槽內設置微帶電路板，所述微帶電路板包括微帶線和介質板；所述測試基座周面上設置多個射頻同軸連接器，每一個所述微帶電路板對應設置一個射頻同軸連接器，所述微帶電路板中的微帶線的一端與所對應的射頻同軸連接器連接，所述微帶電路板中的微帶線的另一端延伸至所述晶片安置孔內所對應的晶片管腳位置；所述雙穩壓件機構中有一個豎直機架，該豎直機架上設置兩條豎嚮導柱，所述兩條豎嚮導柱中部安裝一個升降臺板，該升降臺板底面設置彈性壓杆；所述升降臺板的頂面設置豎向頂杆，所述豎向頂杆通過導向套與所述豎直機架中部安裝；所述豎直機架頂部設置叉型懸架，所述叉型懸架上安裝一個自鎖曲柄，該自鎖曲柄的底端通過鉸軸與所述叉型懸架鉸接，所述豎向頂杆的頂端通過兩個擺動連接板與所述自鎖曲柄的中部鉸軸連接。本實用新型與現有技術相比具有如下優點:1、本實用新型操作方便，使用時只需將被測射頻集成電路晶片放入晶片定位板的晶片安置孔內，將本實用新型連入測量系統中即可。2、本實用新型可以根據被測射頻集成電路晶片的尺寸、形狀等設計配套的晶片定位板，根據被測射頻集成電路晶片的要求更換配套的晶片定位板即可，適用性廣。3、本實用新型採用壓接的方式固定被測射頻集成電路晶片，不需要另外的固定或者焊接，並且保證了被測射頻集成電路晶片固定良好，一方面是對被測射頻集成電路晶片的無損傷測量，另一方面適用於大批量產品的測量。4、本實用新型能實現對射頻集成電路晶片的精確定位和壓接。以下結合附圖及實施例對本實用新型作進一步說明。
圖1、本實用新型的整體結構示意圖；圖2、本實用新型中的測試基座的結構不意圖；圖3、本實用新型中的晶片定位板的結構示意圖；圖4、本實用新型中的另一晶片定位板的結構示意圖；圖5、本實用新型中的微帶電路板示意圖；圖6、用於本實用新型的測試系統的示意圖。
具體實施方式
實施例一:參見圖1一圖5，本實用新型的測試裝置，有一個底座板I,所述底座板上設置測試平臺2和雙穩壓件機構，所述測試平臺上設有測試單元3，該測試單元有一個測試基座4，所述測試基座頂面中心設置可更換的晶片定位板5，所述晶片定位板上設有晶片安置孔6 ;所述測試基座頂部圍繞所述晶片定位板設有多個微帶電路板安置槽7，所述微帶電路板安置槽內設置微帶電路板8，所述微帶電路板包括微帶線9和介質板10 ;所述測試基座周面上設置多個射頻同軸連接器11，每一個所述微帶電路板對應設置一個射頻同軸連接器，所述微帶電路板中的微帶線的一端與所對應的射頻同軸連接器連接，所述微帶電路板中的微帶線的另一端延伸至所述晶片安置孔內所對應的晶片管腳位置；所述雙穩壓件機構中有一個豎直機架12，該豎直機架上設置兩條豎嚮導柱13，所述兩條豎嚮導柱中部安裝一個升降臺板14，該升降臺板底面設置彈性壓杆15 ;所述升降臺板的頂面設置豎向頂杆16，所述豎向頂杆通過導向套17與所述豎直機架中部安裝；所述豎直機架頂部設置叉型懸架18，所述叉型懸架上安裝一個自鎖曲柄19，該自鎖曲柄的底端通過鉸軸與所述叉型懸架鉸接，所述豎向頂杆的頂端通過兩個擺動連接板20與所述自鎖曲柄的中部鉸軸連接。參見圖1、圖2,在本實施例中，所述底座板I是一平板，其上設置測試平臺2和雙穩壓件機構，測試平臺底部設有四個支撐柱21，支撐柱上端與所述測試平臺固定連接，支撐柱下端與所述底座板固定連接。[0020]參見圖1、圖2，在本實施例中，所述的測試單元3有一個測試基座4，該測試基座上、下兩個端面是八邊形，其周面由八個矩形面圍成；測試基座採用黃銅材料加工而成。所述測試基座頂面中心設置可更換的晶片定位板5，所述晶片定位板上設有晶片安置孔6。所述測試基座頂部圍繞所述晶片定位板設有九個微帶電路板安置槽7，所述微帶電路板安置槽內設置微帶電路板8，所述微帶電路板包括微帶線9和介質板10 ;所述測試基座周面上設置九個射頻同軸連接器11，每一個所述微帶電路板對應設置一個射頻同軸連接器；射頻同軸連接器可以是SMA型連接器，也可以是K型連接器，本實施例中的射頻同軸連接器為SMA型連接器，射頻同軸連接器包括外殼、中間介質和芯頭，屬於現有技術。所述微帶電路板中的微帶線的一端與所對應的射頻同軸連接器連接，所述微帶電路板中的微帶線的另一端延伸至所述晶片安置孔內所對應的晶片管腳位置；微帶線採用在電路板上光刻工藝生成，微帶線寬度是0.3毫米，為了保證系統50歐姆阻抗，電路板厚度僅有0.162毫米(電路板材料:羅傑斯板材，R4350，介電常數3.48，厚度0.162mm)。實施測量時微帶線的起始端(電路板外緣端)和射頻同軸連接器的芯頭連接，其末端(電路板中心端)逐漸變窄；九條微帶線的末端均指向測試基座頂面的中心位置，與被測射頻集成電路晶片的引腳接觸相連。參見圖3，在本實施例中，所述晶片定位板5是一塊凸字形的平板，其上設有三個定位孔22，測試基座上對應設有三個緊固孔23，晶片定位板通過螺釘與所述測試基座定位安裝；晶片安置孔6是一個與被測射頻集成電路晶片外形尺寸相匹配的矩形通孔。本實用新型可以根據被測射頻集成電路晶片的尺寸、形狀等設計配套的晶片定位板，根據被測射頻集成電路晶片的要求更換配套的晶片定位板即可，適用性廣。圖4顯示了另一種結構的晶片定位板。參見圖1，本實施例中，雙穩壓件機構中有一個豎直機架12，該豎直機架上設置兩條豎嚮導柱13，兩條豎嚮導柱的上端與該豎直機架固定，兩條豎嚮導柱的下端與所述底座板固定；所述兩條豎嚮導柱中部安裝一個升降臺板14，升降臺板呈水平設置，該升降臺板底面設置彈性壓杆15，彈性壓杆是塑料圓柱體，其上設置常規的螺旋彈簧機構，當彈性壓杆底部壓緊射頻集成電路晶片時，彈性壓杆仍然處於彈性狀態，既可以壓緊射頻集成電路晶片，又能防止損壞射頻集成電路晶片。所述升降臺板的頂面設置豎向頂杆16，所述豎向頂杆通過導向套17與所述豎直機架中部安裝；所述豎直機架頂部設置叉型懸架18，所述叉型懸架上安裝一個自鎖曲 柄19，該自鎖曲柄的底端通過鉸軸與所述叉型懸架鉸接，所述豎向頂杆的頂端通過兩個擺動連接板20與所述自鎖曲柄的中部鉸軸連接。在操作雙穩壓件機構時，自鎖曲柄的上部可以用作操作手柄。參見圖1，雙穩壓件機構有兩個穩定的狀態，一個是待機狀態，另一個是壓緊工作狀態。推動操作手柄順時針旋轉就可以使雙穩壓件機構進入待機狀態，此時，升降臺板處於上升位置，彈性壓杆與測試單元脫離接觸。推動操作手柄逆時針旋轉就可以使雙穩壓件機構進入壓緊工作狀態，此時，升降臺板處於下降位置，彈性壓杆與測試單元上的射頻集成電路晶片壓緊接觸。射頻集成電路晶片與微帶電路板的連接不受人為因素影響。參見圖1、圖6，本實用新型具體的應用如下:A、將測試單元連接到測試系統，啟動網絡分析儀進行校準作業，採集並保存校準數據；測試系統包括網絡分析儀、供電電路、電源。測試系統、網絡分析儀屬於現有技術，不進行描述。[0026]B、將測試單元安裝到本實用新型中，選擇與被測射頻集成電路晶片配套的晶片定位板，將晶片定位板通過螺釘定位安裝在測試單元的測試基座的頂面中心，將射頻集成電路晶片放置到晶片定位板的晶片安置孔內，推動操作手柄使雙穩壓件機構進入壓緊工作狀態，啟動網絡分析儀， 對射頻集成電路晶片進行測試作業，採集並保存數據。
權利要求1.一種用於射頻集成電路晶片的測試裝置，有一個底座板，其特徵在於:所述底座板上設置測試平臺和雙穩壓件機構，所述測試平臺上設有測試單元，該測試單元有一個測試基座，所述測試基座頂面中心設置可更換的晶片定位板，所述晶片定位板上設有晶片安置孔；所述測試基座頂部圍繞所述晶片定位板設有多個微帶電路板安置槽，所述微帶電路板安置槽內設置微帶電路板，所述微帶電路板包括微帶線和介質板；所述測試基座周面上設置多個射頻同軸連接器，每一個所述微帶電路板對應設置一個射頻同軸連接器，所述微帶電路板中的微帶線的一端與所對應的射頻同軸連接器連接，所述微帶電路板中的微帶線的另一端延伸至所述晶片安置孔內所對應的晶片管腳位置；所述雙穩壓件機構中有一個豎直機架，該豎直機架上設置兩條豎嚮導柱，所述兩條豎嚮導柱中部安裝一個升降臺板，該升降臺板底面設置彈性壓杆；所述升降臺板的頂面設置豎向頂杆，所述豎向頂杆通過導向套與所述豎直機架中部安裝；所述豎直機架頂部設置叉型懸架，所述叉型懸架上安裝一個自鎖曲柄，該自鎖曲柄的底端通過鉸軸與所述叉型懸架鉸接，所述豎向頂杆的頂端通過兩個擺動連接板與所述自鎖 曲柄的中部鉸軸連接。
專利摘要本實用新型涉及一種用於射頻集成電路晶片的測試裝置，有一個底座板，底座板上設置測試平臺和雙穩壓件機構，測試平臺上設有測試單元，該測試單元有一個測試基座，測試基座頂面中心設置可更換的晶片定位板，晶片定位板上設有晶片安置孔；測試基座頂部圍繞所述晶片定位板設有多個微帶電路板安置槽，微帶電路板安置槽內設置微帶電路板；測試基座周面上設置多個射頻同軸連接器，每一個所述微帶電路板對應設置一個射頻同軸連接器；雙穩壓件機構中有一個豎直機架，該豎直機架上設置兩條豎嚮導柱，兩條豎嚮導柱中部安裝一個升降臺板，該升降臺板底面設置彈性壓杆；豎直機架頂部設置叉型懸架，叉型懸架上安裝一個自鎖曲柄。本實用新型操作方便，能實現對射頻集成電路晶片的精確定位和壓接。
文檔編號G01R31/28GK203117381SQ20132011517
公開日2013年8月7日 申請日期2013年3月14日 優先權日2012年12月7日
發明者劉強, 何川 申請人:北京中微普業科技有限公司