一種集成電路測試系統的反相裝置的製作方法

2023-10-08 05:19:29 3

專利名稱：一種集成電路測試系統的反相裝置的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種反相裝置，具體涉及一種集成電路測試系統的反相裝置。
背景技術：
在集成電路測試領域，測試系統的組合形式多種多樣，一般有並行雙工位、四工位 和串行雙工位、四工位測試，最基本的為單工位測試；但是任何一種組合形式的測試系統， 都存在通訊幹擾，還有許多測試廠考慮測試成本的因素，幾乎每個封測廠的測試機品種和 機械手品種至少會有四種以上，每臺測試機和機械手的整體不一樣，為了測試不同的產品， 測試機和機械手之間每隔一段時間會有新的組合，每臺測試機的接觸阻抗和驅動能力不一 樣，因此就會出現每次新的組合出現通訊中的瞬間幹擾信號故障。

實用新型內容本實用新型的目的是提供一種集成電路測試系統的反相裝置，它能將測試機和機 械手所有埠的TTL信號任意更改，滿足測試機和機械手對TTL電平的需求；提高驅動電 流，有效消除通訊中的幹擾信號，使測試結果可靠準確。本實用新型集成電路測試系統的反相裝置的目的是通過以下技術方案實現的一 種集成電路測試系統的反相裝置，包括由前板、後板、頂蓋、底蓋及兩側板組成的箱體；還包 括一印製電路板及安裝在印製電路板上的測試電路。所述的測試電路包括測試機連接器、機械手連接器、反相驅動電路、隔離電路及撥 碼開關電路。所述的撥碼開關電路的輸入端與測試機連接器連接，撥碼開關電路的輸出端與反 相驅動電路的輸入端連接，反相驅動電路的輸出端與機械手連接器連接；所述的隔離電路 串接在測試機連接器與機械手連接器的電源Vcc (埠 13)之間。上述的集成電路測試系統的反相裝置，其中，所述的反相驅動電路包括兩個反相 器集成電路晶片，每個反相器集成電路晶片包括六個反相器；所述的反相驅動電路的各輸 入端與撥碼開關電路的各輸出端對應連接，反相驅動電路的各輸出端與機械手連接器的各 端對應連接。上述的集成電路測試系統的反相裝置，其中，所述的撥碼開關電路包括多個撥碼 開關，所述的撥碼開關的多個輸入端中每兩個相鄰的埠分別連接，該並接埠與測試機 連接器的相應埠連接，所述的撥碼開關的多個輸出端中每兩個相鄰的埠分別與反相驅 動電路的反相器的輸入端和輸出端連接。上述的集成電路測試系統的反相裝置，其中，所述的隔離電路包括一光電耦合器； 所述的光電耦合器的埠 1及埠 2與測試機連接器的電源Vcc連接，光電耦合器的埠 3與機械手連接器的電源Vcc (埠 13)連接。上述的集成電路測試系統的反相裝置，其中，所述的集成電路測試系統的反相裝 置還包括一保護電阻R1，所述的保護電阻R1串接在光電耦合器埠 4與接地端之間。
3[0011]上述的集成電路測試系統的反相裝置，其中，還包括偏置電阻R2和R3，所述的偏 置電阻R2串接在測試機連接器的埠 4與接地埠之間；所述的偏置電阻R3串接在機械 手連接器的埠 4與電源Vcc (埠 13)之間。上述的集成電路測試系統的反相裝置，其中，所述的箱體的前板設有測試機連接 器安裝孔，所述的測試機連接器對應設置在箱體前板的測試機連接器安裝孔內；所述的箱 體的後板設有機械手連接器安裝孔，所述的機械手連接器對應設置在箱體後板的機械手連 接器安裝孔內；所述的箱體頂蓋上設有四個撥碼開關安裝孔，所述的四個撥碼開關分別對 應設置在撥碼開關安裝孔內；所述的箱體底蓋上設有兩個印製電路板安裝孔，所述的印製 電路板通過螺絲及印製電路板安裝孔固定在底蓋上。本實用新型集成電路測試系統的反相裝置由於採用了上述方案，使之與現有技術 相比，具有以下的優點和積極效果1、本實用新型集成電路測試系統的反相裝置由於採用了反相驅動電路，能提高驅 動電流及信號反相。2、本實用新型集成電路測試系統的反相裝置由於採用了隔離電路，防止信號幹 擾，使電壓相當穩定，保護電路晶片及使用安全。3、本實用新型集成電路測試系統的反相裝置由於提高了電流的驅動能力和抗幹 擾能力，使各種新舊型號的各種測試機與機械手的通訊安全可靠。4、本實用新型集成電路測試系統的反相裝置外觀簡潔美觀、成本低、體積小，製作 方法簡單，易操作，易於普及應用。

圖1是本實用新型集成電路測試系統的反相裝置的正視圖。圖2是本實用新型集成電路測試系統的反相裝置的後視圖。圖3是本實用新型集成電路測試系統的反相裝置的俯視圖。圖4是本實用新型集成電路測試系統的反相裝置的仰視圖。圖5是本實用新型集成電路測試系統的反相裝置的電路原理圖。
具體實施方式
請參見附圖1所示，並結合附圖2、附圖3及附圖4所示，本實用新型集成電路測 試系統的反相裝置包括由前板11、後板12、頂蓋13、底蓋14及兩側板(圖中未示出)組成 的箱體1、一印製電路板(圖中未示出)及安裝在印製電路板上的測試電路2 ；箱體1的前 板11設有測試機連接器安裝孔111，箱體1的後板12設有機械手連接器安裝孔121，箱體 1的頂蓋13上設有四個撥碼開關安裝孔131，箱體1的底蓋14上設有兩個印製電路板安裝 孔141，測試機連接器21對應設置在箱體1的測試機連接器安裝孔111內，機械手連接器 22對應設置在箱體1的機械手連接器安裝孔121內。請參見附圖5所示，測試電路2包括測試機連接器21、機械手連接器22、反相驅動 電路23、隔離電路24及撥碼開關電路25 ；還包括偏置電阻R2和R3，偏置電阻R2串接測試 機連接器21的接地埠(埠 14)與埠 4之間；偏置電阻R3串接在機械手連接器22的 電源Vcc (埠 14)與埠 4之間；撥碼開關電路25的輸入端與測試機連接器21連接，撥碼開關電路25的輸出端與反相驅動電路23的輸入端連接，反相驅動電路23的輸出端與機 械手連接器22連接。在本實施例中，反相驅動電路23包括兩個反相器集成電路晶片U1及 U2,每個反相器集成電路晶片包括六個反相器U1-1/6至Ul-6/6、U21-6至U2-6/6 ；反相驅 動電路23的輸入端與撥碼開關電路25的輸出端連接，反相驅動電路23的輸出端與機械手 連接器22對應連接。撥碼開關電路25包括多個撥碼開關，撥碼開關的多個輸入端中每兩 個相鄰的埠分別連接，該並接埠與測試機連接器21的相應埠連接，撥碼開關的多個 輸出端中每兩個相鄰的埠分別與反相驅動電路23的反相器的輸入端和輸出端連接。隔 離電路24包括一光電耦合器及一保護電阻R1，保護電阻R1串接在光電耦合器埠 4與接 地端之間；光電耦合器的埠 1及埠 2連接測試機連接器21的電源Vcc(埠 13)，光電 耦合器的埠 3連接到機械手連接器21的電源Vcc (埠 13)。 測試機連接器21的埠 14及機械手連接器22的埠 14為接地端，測試機連接 器21的埠 4並接反相器U2-3/6的輸出端與偏置電阻R2的一端，反相器U2-3/6的輸出 端與撥碼開關SW4的埠 7連接，反相器U2-3/6的輸入端與撥碼開關SW4的埠 8連接偏 置電阻R2的另一端接地，撥碼開關SW4的埠 5及埠 6並接後與機械手連接器22的端 口 4連接，撥碼開關SW4的埠 3及埠 4並接後與測試機連接器21的埠 7連接，撥碼開 關SW4的埠 10與反相器U2-2/6的輸入端連接，撥碼開關SW4的埠 9與反相器U2-2/6 的輸出端連接，反相器U2-2/6的輸出端與機械手連接器22的埠 7連接，撥碼開關SW4的 埠 1及埠 2並接後與測試機連接器21的埠 8連接，撥碼開關SW4的埠 12與反相 器U2-1/6的輸入端連接，撥碼開關SW4的埠 11與反相器U2-1/6的輸出端連接，反相器 U2-1/6的輸出端與機械手連接器22的埠 8連接；撥碼開關SW3的埠 1及埠 2並接 後與測試機連接器21的埠 20連接，撥碼開關SW3的埠 11與反相器U2-6/6的輸入端 連接，撥碼開關SW3的埠 12與反相器U2-6/6的輸出端連接，反相器U2-6/6的輸出端與 機械手連接器22的埠 20連接，撥碼開關SW3的埠 3及埠 4並接後與測試機連接器 21的埠 21連接，撥碼開關SW3的埠 9與反相器U2-5/6的輸入端連接，撥碼開關SW3 的埠 10與反相器U2-5/6的輸出端連接，反相器U2-5/6的輸出端與機械手連接器22的 埠 21連接，撥碼開關SW3的埠 5及埠 6並接後與測試機連接器21的埠 22連接， 撥碼開關SW3的埠 7與反相器U2-4/6的輸入端連接，撥碼開關SW3的埠 8與反相器 U2-4/6的輸出端連接，反相器U2-4/6的輸出端與機械手連接器22的埠 22連接；撥碼開 關SW1的埠 1及埠 2並接後與測試機連接器21的埠 11連接，撥碼開關SW1的埠 12與反相器U1-6/6的輸入端連接，撥碼開關SW3的埠 11與反相器U1-6/6的輸出端連 接，反相器U1-6/6的輸出端與機械手連接器22的埠 11連接，撥碼開關SW1的埠 3及 埠 4並接後與測試機連接器21的埠 10連接，撥碼開關SW1的埠 10與反相器U1-5/6 的輸入端連接，撥碼開關SW3的埠 9與反相器U1-5/6的輸出端連接，反相器U1-5/6的輸 出端與機械手連接器22的埠 10連接，撥碼開關SW1的埠 5及埠 6並接後與測試機 連接器21的埠 9連接，撥碼開關SW1的埠 8與反相器U1-4/6的輸入端連接，撥碼開關 SW3的埠 7與反相器U1-4/6的輸出端連接，反相器U1-4/6的輸出端與機械手連接器22 的埠 9連接；撥碼開關SW2的埠 1及埠 2並接後與測試機連接器21的埠 25連接， 撥碼開關SW2的埠 12與反相器U1-1/6的輸入端連接，撥碼開關SW2的埠 11與反相 器U1-1/6的輸出端連接，反相器U1-1/6的輸出端與機械手連接器22的埠 25連接，撥碼開關SW2的埠 3及埠 4並接後與測試機連接器21的埠 24連接，撥碼開關SW2的端 口 10與反相器U1-2/6的輸入端連接，撥碼開關SW2的埠 9與反相器U1-2/6的輸出端連 接，反相器U1-2/6的輸出端與機械手連接器22的埠 24連接，撥碼開關SW2的埠 5及 埠 6並接後與測試機連接器21的埠 23連接，撥碼開關SW2的埠 8與反相器U1-3/6 的輸入端連接，撥碼開關SW2的埠 7與反相器U1-3/6的輸出端連接，反相器U1-3/6的輸 出端與機械手連接器22的埠 23連接，光電耦合器的埠 1及埠 2與測試機連接器21 的電源Vcc(埠 13)連接，光電耦合器的埠 3與機械手連接器22的電源Vcc(埠 13) 連接，光電耦合器的埠 4與保護電阻R1的一端連接，保護電阻R1的另一端接地，偏置電 阻R3的一端與機械手連接器22的電源Vcc(埠 13)連接，偏置電阻R3的另一端與機械 手連接器22的埠 4連接。本實用新型集成電路測試系統的反相裝置的製作方法是先製作印製電路板，其 技術要求有三點1)字符絲印用白色，2)板材厚度為1.5mm，銅箔厚度大於等於35um，3)對 印製電路板增添噴錫工藝，以防止氧化和確保焊接良好；再組裝PCBA，元件焊接之前先用 萬用表檢查PCB的基本電器性能，若性能都良好，就按照元件體積從小到大的順序依次焊 接在印製電路板上，焊接時確認元件的極性和安裝的位置是否正確；再用螺絲將印製電路 板固定在箱體內。使用時，將其串聯在測試機與機械手之間，若機械手為並行雙SITE測試， 則每個SITE位用一隻反相器；再設置撥碼開關的位置，即可使用。本實用新型集成電路測試系統的反相裝置的工作原理是將本實用新型串接在 測試機與機械手之間後，先由機械手發出一個開始測試啟動信號(SOT信號)給測試機，測 試機得到SOT信號後馬上對產品進行電性能測試，測試完成後對測試做出判定，並給機械 手發出相應的BIN信號，然後測試機再發出一個產品測試結束信號(EOT信號)給機械手， 即在實際使用中，測試完產品後，測試機判定這個產品是否優良或者不良，不良的情況分為 2-9種不等，一般情況下好產品為BIN信號，其它BIN2-BIN10為不良產品，測試機發出不同 的BIN信號，機械手會根據不同的信號做出不同的反應，把產品放置在不同的地方；以上為 一個周期，然後測試機再發送一個SOT信號給機械手，進入下一個周期。本實用新型集成電路測試系統的反相裝置的使用方法是根據附圖5，測試機連 接器21與外接的測試機的通信埠連接，機械手連接器22與外接的機械手的通信埠連 接，再根據測試機和機械手對高低電平信號的需求再作設置。應用實施例1，若測試機EOT信號發出的是低電平(用示波器觀察，低於0. 7V的為 低電平，高於3. 3V的為高電平)，而機械手也為低電平觸發時，SW2的撥碼開關1和撥碼開 關2的開關設置為撥碼開關1為OFF狀態(即SW1的埠 1和埠 12斷開)，撥碼開關2 為0N狀態(即SW1的埠 2和埠 11連通)；若測試機發出的是低電平，而機械手為高電 平觸發時，SW2的撥碼開關1和撥碼開關2的設置為撥碼開關1為0N狀態(即SW1的端 口 1和埠 12連通)，撥碼開關2為OFF狀態(即SW1的埠 2和埠 11斷開)。應用實施例2，若測試機的Bim發出的是低電平，而機械手也為低電平觸發時， SW2的撥碼開關3和撥碼開關4的設置為撥碼開關3為OFF狀態(即SW3的埠 3和埠 10斷開)，撥碼開關4為0N狀態(即SW4的埠 4和埠 9連通)；若測試機發出的是低 電平，而機械手為高電平觸發時，SW2的撥碼開關3和撥碼開關4的設置為撥碼開關3為 0N狀態(即SW3的埠 3和埠 10連通)，撥碼開關4為OFF狀態(即SW4的埠 4和埠 9斷開)。應用實施例3，若測試機的BIN3發出的是低電平，而機械手也為低電平觸發時， SW2的撥碼開關5和撥碼開關6的設置為撥碼開關5為OFF狀態(即SW5的埠 5和埠 8斷開)，撥碼開關6為ON狀態(即SW6的埠 6和埠 7連通)；若測試機發出的是低電 平，而機械手為高電平觸發時，SW2的撥碼開關5和撥碼開關6的設置為撥碼開關5為ON 狀態(即SW5的埠 5和埠 8連通)，撥碼開關6為OFF狀態(即SW6的埠 5和埠 8 斷開)。其它信號以此類推。綜上所述，本實用新型由於採用了反相驅動電路，能提高驅動電流及信號反相；本 實用新型由於採用了隔離電路，防止信號幹擾，使電壓相當穩定，保護電路晶片及使用安 全；本實用新型由於提高了電流的驅動能力和抗幹擾能力，使各種新舊型號的各種測試機 與機械手的通訊安全可靠；本實用新型外觀簡潔美觀、成本低、體積小，製作方法簡單，易操 作，易於普及應用。
權利要求一種集成電路測試系統的反相裝置，包括由前板、後板、頂蓋、底蓋及兩側板組成的箱體；其特徵在於還包括一印製電路板及安裝在印製電路板上的測試電路；所述的測試電路包括測試機連接器、機械手連接器、反相驅動電路、隔離電路及撥碼開關電路；所述的撥碼開關電路的輸入端與測試機連接器連接，撥碼開關電路的輸出端與反相驅動電路的輸入端連接，反相驅動電路的輸出端與機械手連接器連接；所述的隔離電路串接在測試機連接器與機械手連接器的電源Vcc之間。
2.根據權利要求1所述的集成電路測試系統的反相裝置，其特徵在於所述的反相驅 動電路包括兩個反相器集成電路晶片，每個反相器集成電路晶片包括六個反相器；所述的 反相驅動電路的各輸入端與撥碼開關電路的各輸出端對應連接，反相驅動電路的各輸出端 與機械手連接器的各端對應連接。
3.根據權利要求1所述的集成電路測試系統的反相裝置，其特徵在於所述的撥碼開 關電路包括多個撥碼開關，所述的撥碼開關的多個輸入端中每兩個相鄰的埠分別連接， 該並接埠與測試機連接器的相應埠連接，所述的撥碼開關的多個輸出端中每兩個相鄰 的埠分別與反相驅動電路的反相器的輸入端和輸出端連接。
4.根據權利要求1所述的集成電路測試系統的反相裝置，其特徵在於所述的隔離電 路包括一光電耦合器；所述的光電耦合器的埠 1及埠 2與測試機連接器的電源Vcc連 接，光電耦合器的埠 3與機械手連接器的電源Vcc連接。
5.根據權利要求1所述的集成電路測試系統的反相裝置，其特徵在於所述的集成電 路測試系統的反相裝置還包括一保護電阻R1，所述的保護電阻R1串接在光電耦合器埠 4 與接地端之間。
6.根據權利要求1所述的集成電路測試系統的反相裝置，其特徵在於還包括偏置電 阻R2和R3，所述的偏置電阻R2串接在測試機連接器的埠 4與接地埠之間；所述的偏 置電阻R3串接在機械手連接器的埠 4與電源Vcc之間。
7.根據權利要求1所述的集成電路測試系統的反相裝置，其特徵在於所述的箱體的 前板設有測試機連接器安裝孔，所述的測試機連接器對應設置在箱體前板的測試機連接器 安裝孔內；所述的箱體的後板設有機械手連接器安裝孔，所述的機械手連接器對應設置在 箱體後板的機械手連接器安裝孔內；所述的箱體頂蓋上設有四個撥碼開關安裝孔，所述的 四個撥碼開關分別對應設置在撥碼開關安裝孔內；所述的箱體底蓋上設有兩個印製電路板 安裝孔，所述的印製電路板通過螺絲及印製電路板安裝孔固定在底蓋上。
專利摘要一種集成電路測試系統的反相裝置，包括由前板、後板、頂蓋、底蓋及兩側板組成的箱體、印製電路板及安裝在印製電路板上的測試電路；測試電路包括測試機連接器、機械手連接器、反相驅動電路、隔離電路及撥碼開關電路；撥碼開關電路的輸入端與測試機連接器連接，撥碼開關電路的輸出端與反相驅動電路的輸入端連接，反相驅動電路的輸出端與機械手連接器連接；所述的隔離電路串接在測試機連接器與機械手連接器的電源Vcc之間。本實用新型由於採用了反相驅動電路，能驅動電流及信號；由於採用了隔離電路，防止信號幹擾，使電壓相當穩定，保護電路晶片及使用安全；反相裝置驅動能力和抗幹擾能力強，能解決各種新舊型號的各種測試和機械手的通訊問題。
文檔編號G01R31/28GK201583568SQ200920209400
公開日2010年9月15日 申請日期2009年9月8日 優先權日2009年9月8日
發明者劉若智 申請人:上海芯哲微電子科技有限公司